射線檢測焊縫評價k值的搭接標記物的製作方法
2023-07-14 17:03:51
專利名稱：射線檢測焊縫評價k值的搭接標記物的製作方法
技術領域：
本實用新型屬於x射線檢測焊縫的裝置，具體涉及一種x射
線檢測焊縫用於評價K值的搭接標記。
背景技術：
國內在承壓設備無損檢測中利用鍋爐、壓力容器等設備的焊 接質量，是安全運行的重要保證。射線探傷是檢測焊接內部缺陷 檢驗方法之一 ，射線檢測就是通過投影把具有三維尺寸的試件 (包括其中的缺陷)投射到底片上，轉化為二維尺寸的影像。 由於射線源、物體(含其中缺陷)、膠片三者之間的相對位置、 角度變化，會使底片上的影像與實物尺寸、形狀、位置有所不 同，常見有放大、畸變、重迭、相對位置改變等現象。裂紋是 焊縫中最具危險性的缺陷，由於裂紋寬度很小，它的檢出率與射 線透照角6有關，而e-cos-'K"(透照厚度比),在實際射線探傷 工藝中，往往通過控制K值來達到裂紋檢出率的要求。長期以來， 國內、外在射線照相底片的評定中，尚無可以直觀地檢驗出有效 區段焊縫的透照厚度比K是否符合標準要求的技術，如果K值不 能滿足標準要求，就可能造成對裂紋類危害性缺陷漏檢。
目前國內在進行X射線拍照時，採用T作為搭接標記。在實 際底片拍攝工作中由於機頭偏靶、劃線、現場條件、操作水平、 視覺誤差等因素的影響常常會出現射線束偏移透照區中心，使該 透照中心與被檢區平面的切面不垂直，產生角度偏移、水平偏移、 垂直偏移，這樣底片兩端K值不能滿足工藝設計的規定，此時透 照厚度差就失去了控制，經暗室處理後的底片存在影象失真和底 片兩端的黑度差異增大，甚至會出現"白頭"現象，影響了射線 照相質量，這樣會使有效區段兩端的危害性缺陷漏檢。因此現有 的搭接標記不能反映出所拍攝的底片是否能正確的反映出K值， 也就是所拍著出的底片是否合格。 發明內容本實用新型的目的在於提供一種射線檢測焊縫評價K值的搭 接標記物，以解決上述問題。
本實用新型的技術方案為射線檢測焊縫評價K值的搭接 標記物，它包括指針，與指針同圓心的控制圓環或與指針同圓心 的在同一圓周上均勻分布的凸點，指針與控制圓環之間有間隙或 指針與凸點之間有間隙；指針與控制圓環或指針與凸點是X射線 吸收性能相同或相似的材料。
通過搭接標記物在拍攝時的影像就能直觀的，定性分析所拍 攝的底片是否符合要求，該搭接標記物結構簡單，使用方便。它 是一個全新的用於射線檢測焊縫評價K值的物品。
圖1 射線檢測焊縫評價K值的搭接標記物結構示意圖I 。 圖2 射線檢測焊縫評價K值的搭接標記物結構示意圖II。 圖3 搭接標記物使用放置位置示意圖。 圖4 K值有效評價示意圖。 圖具體實施方式
本實施例用於對本實用新型權利要求的解釋，本發明的保護 範圍並不限於下列實施例。
如圖l所示，該結構為三個同心圓的零件組成(圖2)，指針 l是圓柱形，與指針1同圓心的控制圓環2是環狀，指針l與控 制圓環2設有保持環3 ，保持環3與指針1 、控制圓環2之間為過 盈配合。保持環3的高度不超過控制圓環的高度。指針l的高度 大於控制圓環的高度2，在垂直面內，指針1側邊AC頂A與控 制圓環內環底B之間夾角(即CA與BA之間的夾角)大小與評 價K值的6角相同。指針1與控制圓環2是X射線吸收性能相同 或相似的材料，可以採用鉛或其他適宜的重金屬材料。保持環3 的X射線吸收性能與指針1與控制圓環2的X射線吸收性能相反。 本實施例中指針與控制圓環採用金屬材料或磁性材料。保持環採 用非金屬材料或非磁性材料。本實施例中指針1與控制圓2環採 用磁鐵，保持環3採用工程塑料。
如圖2所示，指針1、控制圓環2和保持環3固定在底板4 上。底底4板上標識有K值以及方向指示箭頭5。
所述指針的高度不超過射線源到被檢工件垂直距離Ll的—1% ,射線源到被檢工件垂直距離Ll依據JB/T 4730.2-2005標準而 定。本實施例中指針為5毫米。
如圖使用時，根據被監測物的要求選擇符合要求的K值搭接 標記物，按標準規定要求位置擺放，將指示箭頭5放置在焊縫的 邊緣5mm搭接定位標記(有效區段透照標記)處(圖3、 4所示)， 此時透明底板4、在4個磁鐵6的作用力下，緊貼在鐵磁性材料 工件表面。當射線束照射到緊貼在工件表面兩邊的指針1和控制 圓環2時，在照相膠片上能產生幾何投影潛影。經暗室處理後， 底片兩端搭接標記處就會出現評價(顯示)K值的搭接標記中指 針的投影長度在控制環邊緣投影圖像，在射線照相底片評定和監 督檢驗時，通過底片兩端評價(顯示)K值的搭接標記的指針1 和控制圓環2投影圖像的相切、相割與否，就可以來評價和監測 射線照相工藝控制的質量。圖中7-中心標記8-焊縫9-底片 10 -射線源11 -搭接標記物
權利要求1、一種射線檢測焊縫評價K值的搭接標記物，其特徵在於它包括指針，與指針同圓心的控制圓環或與指針同圓心的在同一圓周上均勻分布的凸點，指針與控制圓環之間有間隙或指針與凸點之間有間隙；指針與控制圓環或指針與凸點是X射線吸收性能相同或相似的材料。
2、 如權利要求1所述射線檢測焊縫評價K值的搭接標記物， 其特徵在於指針的高度大於控制圓環高度或凸點的高度，在垂直 面內，指針側邊頂與控制圓環內環底之間或指針側邊頂與凸點內 側底的夾角大小與評價K值的6角相同。
3、 如權利要求1或2所述射線檢測焊縫評價K值的搭接標 記物，其特徵在於指針與控制圓環之間設有保持環，保持環與指 針、控制圓環之間為過盈配合，保持環的X射線吸收性能與指針 與控制圓環的X射線吸收性能相反。
4、 如權利要求1或2所述射線檢測焊縫評價K值的搭接標 記物，其特徵在於指針與控制圓環釆用重金屬材料或磁性材料。
5、 如權利要求3所述射線檢測焊縫評價K值的搭接標記物， 其特徵在於保持環採用非金屬材料或非磁性材料。
6、 如權利要求3所述射線檢測焊縫評價K值的搭接標記物， 其特徵在於保持環的高度不超過控制圓環的高度。
7、 如權利要求1或2所述射線檢測焊縫評價K值的搭接標 記物，其特徵在於它還包括與指針、控制圓環、保持環和凸點固 定的底+反。
8、 如權利要求7所述射線檢測焊縫評價K值的搭接標記物， 其特徵在於所述底板上標識有K值以及方向指示箭頭。
9、 如權利要求1所述射線檢測焊縫評價K值的搭接標記物， 其特徵在於所述指針的高度不超過射線源到被檢工件垂直距離 U的1 % 。
專利摘要本實用新型公開了一種射線檢測焊縫評價K值的搭接標記物，它包括指針，與指針同圓心的控制圓環或與指針同圓心的在同一圓周上均勻分布的凸點，指針與控制圓環之間有間隙或指針與凸點之間有間隙；指針與控制圓環或指針與凸點是X射線吸收性能相同或相似的材料。通過搭接標記物在拍攝時的影像就能直觀的，定性分析所拍攝的底片是否符合要求，該搭接標記物結構簡單，使用方便。它是一個全新的用於射線檢測焊縫評價K值的物品。
文檔編號G01N23/02GK201340397SQ200820192408
公開日2009年11月4日 申請日期2008年11月13日 優先權日2008年11月13日
發明者吳開斌, 張敏潔, 張起群, 楊元慶, 陳中榮 申請人:武漢市鍋爐壓力容器檢驗研究所