一種帶漆鋁合金框板的缺陷檢測方法
2023-07-29 18:25:46 1
一種帶漆鋁合金框板的缺陷檢測方法
【專利摘要】一種帶漆鋁合金框板的缺陷檢測方法，所述方法選用與被檢件具有相同材料、相同熱處理狀態和表面狀態的實際合金零件加工製作人工缺陷對比試樣，同時製作一組具有明確厚度的絕緣膜片，進行缺陷檢測時首先測量被檢件的漆膜厚度，然後選擇與被檢件的漆膜厚度相當的絕緣膜片覆蓋於對比試樣上模擬漆膜，再將渦流探傷儀的探頭放在對比試樣上與待檢測缺陷相當的人工缺陷處調節檢測靈敏度，最後利用調好檢測靈敏度的渦流探傷儀對被檢件進行缺陷檢測。本發明利用一組具有明確厚度的絕緣膜片模擬保護層，不僅提高了檢測效率，而且膜片厚度易於控制，從而提高了檢測數據的準確性。
【專利說明】一種帶漆鋁合金框板的缺陷檢測方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種能夠準確檢測帶漆鋁合金框板是否存在開口性裂紋或腐蝕性缺陷的方法，屬於檢測【技術領域】。
【背景技術】
[0002]使用過的鋁合金框板往往會出現開口性裂紋或腐蝕性缺陷，因此在維修過程中需要進行檢測。由於受檢件通常是位於不可拆卸的結構部件上，而且有時位於可達性很差的部位，因此常用渦流檢測法來探測鋁合金框板的使用缺陷。
[0003]渦流檢測法主要用於檢測導電材料表面和近表面缺陷，檢測時不需要去掉保護層，但渦流檢測靈敏度與框板表面覆蓋層的厚度有密切關係，若對比試樣利用噴塗漆層來模擬覆蓋層，那麼，由於噴塗漆層的厚度是固定的，對對比試樣噴不同厚度的漆層既浪費時間又不好掌握厚度，檢測效率低而且效果不佳。
[0004]此外，現有的帶漆渦流檢測技術既沒有確定最小檢出缺陷當量，因此檢測人員不僅無法確定檢測靈敏度，同時也無法保證檢測結果的可靠性。
【發明內容】
[0005]本發明的目的在於針對現有技術之弊端，提供一種檢測效果好、檢測效率高的帶漆鋁合金零件的缺陷檢測方法。
[0006]本發明所述問題是以下述技術方案實現的:
一種帶漆鋁合金框板的缺陷檢測方法，所述方法選用與被檢件具有相同成分材質、相同熱處理工藝和表面形狀的材料製成人工缺陷對比試樣，同時製作一組具有明確厚度的絕緣膜片，進行缺陷檢測時首先測量被檢件的漆膜厚度，然後選擇與被檢件的漆膜厚度相當的絕緣膜片覆蓋於對比試樣上模擬漆膜，再將渦流探傷儀的探頭放在對比試樣上與待檢測缺陷相當的人工缺陷處，調節渦流探傷儀的檢測靈敏度，最後利用調好檢測靈敏度的渦流探傷儀對被檢件進行缺陷檢測。
[0007]上述一種帶漆鋁合金框板的缺陷檢測方法，具體檢測按以下步驟進行:
a.根據被檢對象確定對比試樣
製作一組與被檢件具有相同材料、相同熱處理狀態和表面狀態的實際合金零件加工製作人工裂紋對比試樣，所述對比試樣上排列有多個不同寬度和深度的人工裂紋；
b.製作一組具有明確厚度的絕緣膜片，絕緣膜片的厚度各不相同且均處於被檢件漆膜厚度的變化範圍之內；
c.測量被檢件的漆膜厚度
利用測厚儀對被檢件漆膜的多個測試點進行測量，選擇測量數據中的最大值作為漆膜參照厚度；
d.調節渦流探傷儀的檢測靈敏度
在對比試樣上選擇與需要檢測的最小缺陷具有相同深度和寬度的人工裂紋，在厚度大於漆膜參照厚度的絕緣膜片中選擇厚度最小者覆蓋在選定的人工裂紋上模擬漆膜，將渦流探傷儀的探頭放在絕緣膜片上並對準選定的人工裂紋進行掃查，調節渦流探傷儀的增益值，使缺陷信號清晰可辨，記錄缺陷信號的幅值並將其作為缺陷閾值；
e.缺陷的檢測
保持渦流探傷儀靈敏度的設置，對被檢件進行掃查，若渦流探傷儀顯示的信號幅值等於或超過缺陷閾值，則判斷該被檢件存在開口性裂紋或腐蝕性缺陷。
[0008]上述帶漆鋁合金框板的缺陷檢測方法，在調節渦流探傷儀的檢測靈敏度之前應先將渦流探傷儀的檢測頻率調節到最佳檢測頻率，所述最佳檢測頻率的確定方法是:選用不同的檢測頻率對對比試樣上的與需要檢測的最小缺陷具有相同深度和寬度的人工裂紋進行掃查，記錄各種檢測頻率下缺陷信號的幅值，最後將這些信號的幅值進行比較，缺陷信號幅值最大時的檢測頻率即為最佳檢測頻率。
[0009]上述帶漆鋁合金框板的缺陷檢測方法，將渦流探傷儀能有效檢出的最小缺陷作為需要檢測的最小缺陷，渦流探傷儀能有效檢出的最小缺陷尺寸的確定方法是:將渦流探傷儀的檢測頻率調到最佳檢測頻率，依次對覆蓋有模擬漆膜的對比試樣上的各個人工裂紋進行檢測，能檢出的人工裂紋中尺寸最小的人工裂紋的尺寸即為能有效檢出的最小缺陷尺寸。
[0010]上述帶漆鋁合金框板的缺陷檢測方法，所述方法在確定帶漆檢測時能有效檢出的最小缺陷尺寸後，應用帶自然缺陷的零件對該結果進行實驗驗證。
[0011]上述帶漆鋁合金框板的缺陷檢測方法，所述對比試樣上相鄰人工裂紋的間距不小於 25mm。
[0012]本發明利用一組具有明確厚度的絕緣膜片模擬保護層，不僅提高了檢測效率，而且膜片厚度易於控制，從而提高了檢測數據的準確性。本方法在檢測前首先將檢測頻率調整到最佳，並且確定最小檢出缺陷尺寸，保證了缺陷檢測的靈敏度，提高了檢測數據的可靠性。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0013]下面結合附圖對本發明作進一步說明。
[0014]圖1是本發明結構示意圖；
圖2是阻抗平面裂紋顯示示意圖。
【具體實施方式】
[0015]本發明提供了一種修理件的鋁合金框板帶漆渦流檢測方法，針對修理件產生缺陷的特點，原位帶漆檢測只能採用渦流檢測技術，然而帶漆原位渦流檢測不僅要考慮常規渦流檢測的影響因素，還要考慮帶漆零件漆層厚度對檢測靈敏度的影響，首先根據被檢對象及檢測目的確定該研究項目用對比試樣。其次通過理論分析和實驗，選擇最佳檢測頻率，在此基礎上進一步確定允許帶漆檢測的漆層厚度和帶漆檢測時能有效檢出的最小缺陷當量；再用帶自然缺陷的零件對項目結果進行實驗驗證，最終確定框板帶漆渦流檢測方法。帶漆渦流檢測對比試樣的製作和帶漆渦流檢測最佳頻率的選擇，保證了帶漆渦流檢測的檢測靈敏度，避免了大修拆裝對機體結構的損傷以及破壞的風險，提高了無損檢測的可靠性；相對傳統的機上修理的分解、退漆、探傷、噴漆、裝配等工序，帶漆檢測使維修技術簡單、快捷，減少了勞動強度及修理費用。
[0016]本發明包括以下步驟:
第一步,根據被檢對象確定對比試樣
帶漆原位檢測，被檢部位多為平板形狀，要求檢測的R角曲率半徑較大，採用平板刻槽對比試樣。在實際渦流檢測中，儘量使用與被檢件具有相同基體和特性的實際零件加工製作的對比試樣。
[0017]若不預先設置檢測的缺陷深度，則需要選用一組寬度一定深度不同、寬度不同深度一樣的對比試樣，來確定帶漆渦流檢測方法的最大能力，確定帶漆渦流檢測檢出缺陷的最小尺寸。
[0018]設計加工人工刻槽試樣一組，各試樣加工缺陷參數見表1。
[0019]表1 7075鋁合金人工缺陷對比試樣單位:mm
【權利要求】
1.一種帶漆鋁合金框板的缺陷檢測方法，其特徵是，所述方法選用與被檢件具有相同成分材質、相同熱處理工藝和表面形狀的材料製成人工缺陷對比試樣，同時製作一組具有明確厚度的絕緣膜片，進行缺陷檢測時首先測量被檢件的漆膜厚度，然後選擇與被檢件的漆膜厚度相當的絕緣膜片覆蓋於對比試樣上模擬漆膜，再將渦流探傷儀的探頭放在對比試樣上與待檢測缺陷相當的人工缺陷處，調節渦流探傷儀的檢測靈敏度，最後利用調好檢測靈敏度的渦流探傷儀對被檢件進行缺陷檢測。
2.根據權利要求1所述的一種帶漆鋁合金框板的缺陷檢測方法，其特徵是，具體檢測按以下步驟進行: a.根據被檢對象確定對比試樣 製作一組與被檢件具有相同材料、相同熱處理狀態和表面狀態的實際合金零件加工製作人工裂紋對比試樣，所述對比試樣上排列有多個不同寬度和深度的人工裂紋； b.製作一組具有明確厚度的絕緣膜片，絕緣膜片的厚度各不相同且均處於被檢件漆膜厚度的變化範圍之內； c.測量被檢件的漆膜厚度 利用測厚儀對被檢件漆膜的多個測試點進行測量，選擇測量數據中的最大值作為漆膜參照厚度； d.調節渦流探傷儀的檢測靈敏度 在對比試樣上選擇與需要檢測的最小缺陷具有相同深度和寬度的人工裂紋，在厚度大於漆膜參照厚度的絕緣膜片中選擇厚度最小者覆蓋在選定的人工裂紋上模擬漆膜，將渦流探傷儀的探頭放在絕緣膜片上並對準選定的人工裂紋進行掃查，調節渦流探傷儀的增益值，使缺陷信號清晰可辨，記錄缺陷信號的幅值並將其作為缺陷閾值； e.缺陷的檢測 保持渦流探傷儀靈敏度的設置，對被檢件進行掃查，若渦流探傷儀顯示的信號幅值等於或超過缺陷閾值，則判斷該被檢件存在開口性裂紋或腐蝕性缺陷。
3.根據權利要求2所述的一種帶漆鋁合金框板的缺陷檢測方法，其特徵是，在調節渦流探傷儀的檢測靈敏度之前應先將渦流探傷儀的檢測頻率調節到最佳檢測頻率，所述最佳檢測頻率的確定方法是:選用不同的檢測頻率對對比試樣上的與需要檢測的最小缺陷具有相同深度和寬度的人工裂紋進行掃查，記錄各種檢測頻率下缺陷信號的幅值，最後將這些信號的幅值進行比較，缺陷信號幅值最大時的檢測頻率即為最佳檢測頻率。
4.根據權利要求3所述的一種帶漆鋁合金框板的缺陷檢測方法，其特徵是，將渦流探傷儀能有效檢出的最小缺陷作為需要檢測的最小缺陷，渦流探傷儀能有效檢出的最小缺陷尺寸的確定方法是:將渦流探傷儀的檢測頻率調到最佳檢測頻率，依次對覆蓋有模擬漆膜的對比試樣上的各個人工裂紋進行檢測，能檢出的人工裂紋中尺寸最小的人工裂紋的尺寸即為能有效檢出的最小缺陷尺寸。
5.根據權利要求4所述的一種帶漆鋁合金框板的缺陷檢測方法，其特徵是，所述方法在確定帶漆檢測時能有效檢出的最小缺陷尺寸後，應用帶自然缺陷的零件對該結果進行實驗驗證。
6.根據權利要求5所述的一種帶漆鋁合金框板的缺陷檢測方法，其特徵是，所述對比試樣上相鄰人工裂紋的間距不小於25mm。
【文檔編號】G01N27/90GK103913509SQ201410157605
【公開日】2014年7月9日 申請日期:2014年4月19日 優先權日:2014年4月19日
【發明者】張朝暉, 王曉青, 李紅楓, 喻星星, 晉素梅, 李博航, 鍾創新, 韓龍海, 孟亮, 張秀麗 申請人:中國人民解放軍第五七二一工廠