電子產品開關機老化測試系統的製作方法

2023-05-26 22:38:01

本實用新型涉及開關機老化測試技術領域，特別是涉及一種電子產品開關機老化測試系統。

背景技術：

對電子產品進行開關機老化測試過程中，電源需要按照一定頻率和脈寬開關機，同時產品所處環境溫溼度需要做周期性變化。傳統的老化測試過程中需要使用專用老化機臺進行測試。專用老化機臺中的測試板與恆溫恆溼箱是一體設置的，從而使得設備配置靈活性差，成本較高。並且，傳統的測試過程中，需要手工同時開啟恆溫恆溼箱和電源來實現電源波形和溫溼度曲線的時序對齊，時間誤差較大。並且隨著測試時間的延長，誤差會累積，導致測試末端溫溼度曲線和電源曲線的時序不能精確對齊。

技術實現要素：

基於此，有必要提供一種設備配置靈活性強且成本較低的、能夠實現溫溼度曲線和電源曲線時序精確對齊的電子產品開關機老化測試系統。

一種電子產品開關機老化測試系統，包括：恆溫恆溼箱，用於提供對電子產品進行開關機老化測試所需的具有預設溫溼度變化規律的測試環境；驅動電源，用於提供具有預設電源波形的驅動電源，以驅動恆溫恆溼箱內的待測電子產品進行開關機；所述驅動電源獨立於所述恆溫恆溼箱設置；轉接板，與所述驅動電源連接；所述轉接板用於與至少一個待測電子產品連接；所述轉接板獨立於所述恆溫恆溼箱設置；以及主控板，分別與所述恆溫恆溼箱、所述驅動電源連接；所述主控板與所述恆溫恆溼箱獨立設置；所述主控板用於控制所述恆溫恆溼箱和所述驅動電源同步開啟和關閉。

在其中一個實施例中，所述主控板還用於對所述恆溫恆溼箱內的預設溫溼度變化規律進行調整，以及對所述驅動電源的預設電源波形進行調整。

在其中一個實施例中，所述主控板上設置有單片機，所述單片機為51單片機或者STM32單片機。

在其中一個實施例中，所述主控板通過RS232接口或者RS458接口與所述驅動電源、所述恆溫恆溼箱連接。

在其中一個實施例中，還包括上位機，所述上位機與所述主控板連接，以與所述恆溫恆溼箱、所述驅動電源進行通訊。

在其中一個實施例中，還包括溫度檢測裝置，所述溫度檢測裝置與所述主控板連接，用於對所述恆溫恆溼箱內的溫度進行檢測並輸出給所述主控板；所述主控板用於根據所述溫度檢測裝置檢測到的溫度對所述驅動電源的開關機時序進行調整。

在其中一個實施例中，所述溫度檢測裝置為熱電偶。

在其中一個實施例中，所述主控板還設置有紅外遙控裝置，用於對待測電子產品進行控制。

在其中一個實施例中，所述轉接板上設置有多路連接通道；每一路連接通道對應一個待測電子產品；所述轉接板上還設置有電流採樣電路；所述電流採樣電路用於對每路連接通道上的電流進行採樣並輸出採樣電流給所述主控板。

在其中一個實施例中，所述轉接板上還包括過流保護電路，所述過流保護電路用於對所述電子產品開關機老化測試系統進行過流保護。

上述電子產品開關機老化測試系統，驅動電源、轉接板以及主控板均與恆溫恆溼箱獨立設置，從而可以提高設備配置靈活性。因此，恆溫恆溼箱可以採用現有的各類恆溫恆溼箱來實現，有利於降低系統成本。通過主控板來實現對恆溫恆溼箱以及驅動電源的同步開關控制，能夠確保恆溫恆溼箱內的溫溼度曲線和驅動電源的電源曲線在時序上的精確對齊，進而滿足測試需求。

附圖說明

圖1為一實施例中的電子產品開關機老化測試系統的結構示意圖。

具體實施方式

為了使本實用新型的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本實用新型進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型，並不用於限定本實用新型。

圖1為一實施例中的電子產品開關機老化測試系統的結構示意圖。該電子產品開關機老化測試系統用於對電子產品進行開關機老化測試。在本實施例中，電子產品可以為智能電視、車載多媒體設備、手機、電腦以及投影儀等各類電子設備。該電子產品開關機老化測試系統包括恆溫恆溼箱110、驅動電源120、轉接板130以及主控板140。其中，驅動電源120、轉接板130以及主控板140均獨立於恆溫恆溼箱110設置，從而使得恆溫恆溼箱110的要求較低，採用現有的各類恆溫恆溼箱都能夠適用，有利於降低系統成本。

恆溫恆溼箱110用於提供對電子產品進行開關機老化測試所需的測試環境。在本實施例中，恆溫恆溼箱110提供的測試環境的溫溼度會根據預設溫溼度變化規律而變化，從而滿足測試需求。相對於傳統的專用老化測試機臺而言，將恆溫恆溼箱110與其他測試電路分離，有利於提高設備配置的靈活性且有利於降低成本。

驅動電源120用於提供具有預設電源波形的驅動電源。驅動電源120用於驅動恆溫恆溼箱110內的各待測電子產品進行開關機，以使得其在恆溫恆溼箱110內進行開關機老化測試。驅動電源120可以為可編程電源，也可以為其他電源。驅動電源120可以為直流電，也可以為交流電。

轉接板130與驅動電源120連接。轉接板130用於與恆溫恆溼箱110內的待測電子產品連接。轉接板130上具有多路連接通道。每路連接通道對應一個待測電子產品。在本實施例中，轉接板130上還設置有過流保護電路和電流採樣電路。過流保護電路用於對整個系統進行過流保護。電流採樣電路則用於對每路連接通道中的通道電流進行採樣，並輸出採樣電流給主控板140。主控板140可以根據該採樣電流對電子產品的開關機老化性能進行判斷。具體地，過流保護電路包括保險管，電流採樣電路包括採樣電阻。

主控板140分別與恆溫恆溼箱110以及驅動電源120連接。主控板140用於控制恆溫恆溼箱110和驅動電源120同步開啟和關閉，從而可以確保恆溫恆溼箱110內的溫溼度曲線的時序與驅動電源120的電源曲線的時序的精確對齊，以滿足老化測試過程的需求。主控板140還用於對恆溫恆溼箱110內的預設溫溼度變化規律進行調整，並對驅動電源120的預設電源波形進行調整，從而使得二者均能夠符合測試需求。在本實施例中，主控板140上設置有單片機。單片機可以為51單片機或者STM32單片機。相對於傳統的專用老化測試機臺使用CPLD或FPGA作為主控晶片，採用單片機可以降低系統成本。主控板140上的單片機通過RS232或者RS458接口與驅動電源120以及恆溫恆溼箱110連接。主控板140上還設置有紅外遙控裝置，用於對待測電子產品進行控制。

上述電子產品開關機老化測試系統，驅動電源120、轉接板130以及主控板140均與恆溫恆溼箱110獨立設置，從而可以提高設備配置靈活性。因此，恆溫恆溼箱110可以採用現有的各類恆溫恆溼箱來實現，有利於降低系統成本。通過主控板140來實現對恆溫恆溼箱110以及驅動電源120的同步開關控制，能夠確保恆溫恆溼箱110內的溫溼度曲線和驅動電源120的電源曲線在時序上的精確對齊，進而滿足測試需求。

在本實施例中，上述電子產品開關機老化測試系統還包括上位機150以及溫度檢測裝置160。上位機150通過RS232接口與主控板140上的單片機連接。上位機150用於將各配置參數發送給單片機，從而由單片機對整個測試系統進行控制。上位機150可以通過單片機與驅動電源120以及恆溫恆溼箱110進行通訊，從而確保溫溼度曲線與電源曲線(上下電曲線)在時序上的一致性。

溫度檢測裝置160與主控板140連接，用於對恆溫恆溼箱110內的溫度進行檢測並輸出給主控板140。主控板140根據溫度檢測裝置160檢測到的溫度對驅動電源120的開關機時序進行調整，從而確保電源曲線和溫溼度曲線在時序上的精準對齊。溫度檢測裝置160可以為熱電偶。

以上所述實施例的各技術特徵可以進行任意的組合，為使描述簡潔，未對上述實施例中的各個技術特徵所有可能的組合都進行描述，然而，只要這些技術特徵的組合不存在矛盾，都應當認為是本說明書記載的範圍。

以上所述實施例僅表達了本實用新型的幾種實施方式，其描述較為具體和詳細，但並不能因此而理解為對實用新型專利範圍的限制。應當指出的是，對於本領域的普通技術人員來說，在不脫離本實用新型構思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬於本實用新型的保護範圍。因此，本實用新型專利的保護範圍應以所附權利要求為準。