陶瓷磚質量檢測方法和設備的製作方法
2023-05-27 16:53:56 3
專利名稱：陶瓷磚質量檢測方法和設備的製作方法
技術領域：
本發明涉及陶瓷生產製造領域，更具體地說是陶瓷磚的質量檢測方法 和設備。 背鼓技術
目前，應用於陶瓷磚製備生產線上，陶瓷磚檢測工藝中，大部分是將 被測陶瓷磚送進檢測箱內，通過檢測裝置對陶瓷磚表面進行檢測，通過數 據採集、對比，最後得出檢測結果，在這個工序中，需要有專業人員對其 進行監控，而且存在較多的主觀影響因素，檢測的效率和穩定性都不能適 應現今大規模的陶瓷磚生產，但也有國外有採用機械進行檢測的，其陶瓷 磚通過輸送裝置通過連續的傳送，在傳送過程中，通過探頭進行檢測，但
上述檢測裝置及方法性價比較低，僅能檢測出尺寸及較明顯的缺陷，L大J此， 如何提供 -種性價比高的陶瓷磚檢測設備實現高效、穩定的陶瓷自動檢測 為人們尋求解決的一個問題。
發明內容
本發明的目的就是為了採用一種不同的技術方法而提供的一種不僅 有效滿足使用要求，實現成本較低的陶瓷磚質量檢測方法。
本發明的另 一 個目的是提供一種實現上述質量檢測方法的陶瓷設備。
木發明是採用如下技術解決方案來實現上述目的 一種陶瓷磚質量檢 測方法，其特徵在於它具有以下的工藝步驟-
a、 首先將被測物陶瓷磚進行輸送；
b、 在被測物陶瓷磚輸送到檢測位置時停頓；c、 在檢測位置對被測物陶瓷磚進行數據採集；
d、 輸送被測物陶瓷磚離開檢測位置；
e、 將"F—被測物陶瓷磚輸送到檢測位置，重複b;
〖'、對採集數據進行數據分析處理，並顯示結果，同時將結果作為指 令傳送到相關處理裝置。
本發明的陶瓷磚質量檢測設備，該設備包括設置在機架上的輸送裝 置、數據採集裝置、數據傳輸裝置以及數據處理裝置，其特徵在於所述 陶瓷設備還包括有在數據採集檢測位置使被測物陶瓷磚停頓的停頓裝置。 作為上述方案的進一步說明，所述停頓裝置主要由前擋磚定位機構、 後擋磚定位機構、對中機構、頂磚機構、上限位機構、光電開關支架組成， 前、後擋磚定位機構以及對中機構分別設置在檢測設備的機架上並與被測 物陶瓷磚相接，上限位機構設置在檢測位置的上方，頂磚機構設置在檢測 位置的下方。
所述停頓裝置設置在數據採集檢測位置。 所述前、後擋磚定位機構為設置在檢測位置上的搖臂。 所述停頓裝置為傳感器控制或手動控制或程序控制輸送裝置運行的 控制開關。
所述輸送裝置主要由進磚線架和驅動電機組成，該驅動電機固定在進 磚線架上並通過傳動滾輪與輸送帶連接。
所述數據採集裝置的檢測儀安裝在檢測儀機架上，檢測儀的兩側分別
設置電源筒。
本發明採用上述技術解決方案所能達到的有益效果是本發明採用被 測物輸送到檢測設備的檢測位置上，停頓裝置啟動擋磚機構先將被測物擋
住，對中機構將被測物對中定位，升降臺將被測物瓷磚上升移動到限高機 構設定的位置，將被測物停頓，保證數據採集裝置可以穩定地在被測物表 面進行數據採集，而不受輸送裝置的影響，採集數據完畢，阻擋機構解除 擋住被測物，升降臺下降將被測物放回輸送裝置上輸送到後工序，數據傳 送裝置將採集到的數據輸送到數據處理裝置處理並顯示處理結構，和將處 理結果輸送到需要的裝置上。同時，又將下一被測物輸送到檢測設備的檢 測位置上，形成安全、穩定、高效的檢測。
圖1為本發明的結構示意圖； 圖2為本發明的結構示意圖。
附圖標記說明1、前擋磚定位機構2、檢測儀3、檢測儀機架4、 後擋磚定位機構5、對中機構6、頂磚機構7、上限位機構8、進磚 線架9、光電開關支架10、光電開關支架11、觸控螢幕12、電櫃13、 屯源筒 14、被測物
具體實施例方式
如圖l、圖2所示，本發明陶瓷磚的質量檢測設備包括輸送裝置、數 據採集裝置、數據傳輸裝置以及數據處理裝置，所述輸送裝置主要由進磚 線架8和驅動電機組成，該驅動電機固定在進磚線架8上並通過滾輪與輸 送帶連接，檢測設備的數據採集檢測位置設置停頓裝置，所述停頓裝置主 要由前擋磚定位機構l、後擋磚定位機構4、對中機構5、頂磚機構6、上 限位機構7、光電開關支架9、 IO組成，所述前、後擋磚定位機構以及對 屮機構分別設置在檢測設備的機架上並與被測物陶瓷磚14相接，上限位 機構7設置在檢測位置的上方，該上限位機構7可採用限位杆，頂磚機構6設置在檢測位置的下方，本實施頂磚機構6表現為升降臺，所述數據採
集裝置主要由光源筒13、檢測儀機架3以及安裝在檢測儀機架3上的檢 測儀2組成，檢測儀機架3檢測設備的機架上，電源筒13通過光電開關 支架1、 2設置在檢測儀的兩側，檢測儀的輸出端連接有數據傳輸裝置， 設置在數據處理裝置上的觸控螢幕11和電櫃12與該數據傳輸裝置相連。
本發明的陶瓷磚的質量檢測方法是，首先將放在輸送裝置的被測物瓷 磚輸送到檢測設備的檢測位置上，被測物瓷磚到達檢測位置的檢測裝置的 卜方後停頓，並通過分別設置在檢測位置的端部的前、後擋磚定位機構1、 4以及設置在檢測位置兩側的對中機構5對被測物瓷磚進行定位，該前、 後擋磚定位機構1、 4可以設置為搖臂或其它方式，升降臺帶動被測物瓷 磚向設置在檢測位置上方機架上的檢測裝置方向移動，當檢測位置的上方 設置的t限位機構7與被測物表面接觸的瞬間，升降臺停止上升，同時檢 測儀2開始對被測物瓷磚14進行測檢以及數據採集，完成數據採集之後， 升降臺F降，被測物瓷磚14通過輸送裝置向前輸送離開檢測位置，而數 據處理裝置對採集到的數據進行處理，並顯示處理結果，完成對被測物瓷 磚14的檢測，而另一被測物通過輸送裝置輸送到檢測設備的檢測位置， 開始對該被測物進行檢測，進行下一輪的另一被測物檢測程序，時間配合 緊湊，檢測穩定、效率高。如此同時，經處理後的資料庫將作為指令被傳 輸到相應設備，如分類機構，對不同質量的瓷磚進行分別傳輸存放。
作為本發明的其它實施例，本發明的停頓裝置並不局限於上述實施 例，它還nj以採川其它結構及方式，可以為傳感器控制或手動控制或程序 控制輸送裝置運行的控制開關。如通過設置在傳送裝置上的電機連接可編 程控制器或直接通過人工對電機進行間歇控制，從而實現停頓的目的；還 可以在檢測位置設置傳感器或光電開關，當被測物到達檢測位置時，傳感 器或光電開關給出指令使傳送裝置停止並延時，然後經檢測後再輸送到—卜
-J歩。
同樣，本發明輸送裝置除採用傳送帶之外，還可以採用輸送輪等其它 各種輸送方式；數據採集裝置除採用探頭檢測儀外，也可以為攝像頭等； 由於數據採集裝置、數據傳輸裝置以及數據處理裝置均為現有技術中較為 常見的裝置，本發明在此不作詳述。
權利要求
1、一種陶瓷磚質量檢測方法，其特徵在於它具有以下的工藝步驟a、首先將被測物陶瓷磚進行輸送；b、在輸送到檢測位置時被測物陶瓷磚停頓；c、在檢測位置對被測物陶瓷磚進行數據採集；d、輸送被測物陶瓷磚離開檢測位置；e、將下一被測物陶瓷磚輸送到檢測位置，重複b；f、對採集數據進行數據分析處理，並顯示結果，同時將結果作為指令傳送到相關處理裝置。
2、 一種採用權利要求1所述檢測方法的陶瓷磚質量檢測設備，該設 備包括輸送裝置、數據採集裝置、數據傳輸裝置以及數據處理裝置，其特徵在於所述陶瓷設備還包括有在數據採集檢測位置使被測物陶瓷磚停頓的停頓裝置。
3、 根據權利要求2所述的陶瓷磚質量檢測設備，其特徵在於所述 停頓裝置設置在數據採集檢測位置。
4、 根據權利要求2或3所述的陶瓷哮質量檢測設備，其特徵在於 所述停頓裝置主要由前擋磚定位機構、後擋磚定位機構、對中機構、頂磚 機構、上限位機構、光電開關支架組成，前、後擋磚定位機構以及對中機 構分別設置在檢測設備的機架上並與被測物陶瓷磚相接，上限位機構設置 在檢測位置的上方，頂磚機構設置在檢測位置的下方。
5、 根據權利要求4所述的陶瓷磚質量檢測設備，其特徵在於所述 停頓裝置的前、後擋磚機構為設置在檢測位置上的搖臂。
6、 根據權利要求2或3所述的陶瓷磚質量檢測設備，其特徵在於所述停頓裝置為傳感器控制或手動控制或程序控制輸送裝置運行的控制開關。
7、 根據權利要求2或3所述的陶瓷磚質量檢測設備，其特徵在於所述輸送裝置主要由進磚線架和驅動電機組成，該驅動電機固定在進磚線 架上並通過傳動滾輪與輸送帶連接。
8、 根據權利要求2或3所述的陶瓷磚質量檢測設備，其特徵在於所述數據採集裝置的檢測儀安裝在檢測儀機架上，檢測儀的兩側分別設置電源筒。
全文摘要
本發明公開了一種陶瓷磚質量檢測方法和設備，其特徵在於它具有以下的工藝步驟a.首先將被測物陶瓷磚進行輸送；b.在輸送到檢測位置時被測物陶瓷磚停頓；c.在檢測位置對被檢測物陶瓷磚進行數據採集；d、輸送被測物陶瓷磚離開檢測位置；e.將下一被測物陶瓷磚輸送到檢測位置，重複b；f、對採集數據進行數據分析處理，並顯示結果，同時將結果作為指令傳送到相關處理裝置。本發明時間配合緊湊，檢測穩定、效率高。
文檔編號G01N35/02GK101169452SQ20061012300
公開日2008年4月30日 申請日期2006年10月25日 優先權日2006年10月25日
發明者張曉武, 樊東彪, 王雙喜, 炎 郭, 黃國權, 黃文勝 申請人:佛山市德科機電設備有限公司