一種邊界掃描測試的實現方法及裝置的製作方法
2023-05-29 02:28:51
專利名稱：一種邊界掃描測試的實現方法及裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及測試技術，特別涉及一種邊界掃描測試的實現方法及裝置。
背景技術：
在邊界掃描器件中，每個重要的輸入輸出管腳，都增加了一個多用途的存儲單元，被稱為邊界掃描單元。輸入管腳上的邊界掃描單元稱為輸入單元，輸出管腳上的邊界掃描單元稱為輸出單元，輸入和輸出是相對器件的內部邏輯來看的。在邊界掃描器件中，邊界掃描單元被組織成並行輸入PI(Paralell Input)、並行輸出PO(Paralell Output)的移位寄存器，如圖1所示。並行輸入(Capture)操作，使器件輸入管腳上的信號值，被裝入輸入單元中；器件內部邏輯的值被裝入輸出單元中。並行輸出(Update)操作，使輸出單元裡的值送到器件的輸出管腳上；輸入單元裡的值送到器件內部邏輯上。
圖2是一種常見的邊界掃描單元，稱之為BC_1(Boundary-Scan Cell)。邊界掃描單元裡的值還可以串行地移位，從器件專用的輸入管腳TDI開始，到器件的專用輸出管腳TDO結束。測試時鐘從器件的另一個專用輸入管腳TCK輸入，而運行模式由器件的專用輸入管腳TMS來串行控制。JTAG組織建議的晶片邊界掃描測試結構如圖3，其中包含以下內容1、四個專用測試管腳，測試數據輸入TDI(Test Data In)，測試數據輸出TDO(Test Data Out)，測試模式選擇TMS(Test Mode Select)和測試時鐘TCK(Test Clock)，一個可選的測試復位管腳TRST(Test Reset)。這些測試管腳一起被稱之為測試通道口TAP(Test Access Port)。
2、器件每個重要的輸入輸出管腳上都有一個邊界掃描單元，內部連接成串行的邊界掃描寄存器(Boundary Scan)。
3、由輸入信號TCK、TMS和TRST來控制TAP有限狀態機。
4、一個N(N＞＝2)位的指令寄存器(除指令寄存器外的寄存器統稱為數據寄存器)。
5、一個1位的直通(Bypass)寄存器。
6、一個可選的32位識別碼寄存器，用來保留一個永久的器件識別碼。
TAP控制器，根據指令寄存器中的命令碼，在Update_IR時解碼指令。不同的指令選中不同的寄存器，命令解碼後，TDI至被選中寄存器至TDO串接在一起。
JTAG組織定義的強制測試命令如下1、外部測試(Extest)指令，選中邊界掃描寄存器，指令碼為全0。
2、直通(Bypass)指令，選中直通寄存器，指令碼為全1。
3、預裝/採樣(Preload/Sample)指令，選中邊界掃描寄存器，指令碼未作規定。圖4表示的是TAP控制器的16狀態機，在TAP狀態框外的數字是TMS的值。TAP控制器的狀態在TCK的上升沿改變，而控制器的輸出值在TCK的下降沿改變。從圖中可以看到，16狀態機中有6個穩定狀態(在TMS不變時，狀態機狀態不變)測試邏輯復位(Test_Logic_Reset)，空閉(Run_Test_Idle)，指令移位(Shift_IR)，數據移位(Shift_DR)，指令移位暫停(Pause_IR)和數據移位暫停(Pause_DR)。
TAP控制器，在上電初始化和TRST＝0時，狀態為Test_Logic_Reset，當TMS保持為1(預設值)時，狀態機狀態保持不變。另外，無論狀態機處在什麼狀態，保持TMS為高，輸入連續5個TCK時鐘後，狀態機都能回到Test_Logic_Reset狀態。在Test_Logic_Reset狀態下，選中的寄存器是直通寄存器或識別碼寄存器(如器件有識別碼寄存器，則選中識別碼寄存器；如沒有識別碼寄存器則選中直通寄存器)。在TMS和TCK的控制下，可將指令移入指令寄存器(選擇圖4中的右側路徑)，在更新指令(Update_IR)時，指令將會被解碼，同時會選中相應的數據寄存器。此時，TMS和TCK控制狀態機，走圖4左邊的路徑(不經過Test_Logic_eset)，可將數據從TDI移入，同時數據寄存器中原來的數據從TDO移出。
圖5是JTAG測試的基本原理。圖中是由4個器件組成的JTAG鏈，TCK和TMS送到每個器件上，這樣，每個器件的TAP狀態機是同步運行的。TDI接到右上的第一個器件U1上，它的TDO輸出接至下一個器件U2的TDI輸入，將4個器件連成一條串行鏈，最後U4的輸出接至TDO。
這樣，就可以將指令和測試數據串行地送到各個器件上，對各器件的信號連接關係進行測試。
在圖5連接成的JTAG鏈中，假定所有器件的命令寄存器均為2位，每個器件管腳的邊界掃描單元均為1位，器件上方為輸入管腳，下方為輸出管腳。如果要測試器件U3的O1輸出與器件U2的I3輸入的連接關係，可以讓U3的O1管腳，分別輸出高電平和低電平，在U2的I3上進檢測。具體實現步驟，從Test_Logic_Reset開始，控制TMS，使所有器件的TAP狀態均進入Shift_IR，鏈上U1和U4兩個器件移入Bypass指令，U2和U3兩個器件移入Extest外部測試命令指令，數據序列如下，X為任意值TMS01100 00000001 10TDIXXXXX 11000011 XX上面的TMS和TDI數據，在TCK時鐘的控制下移入器件後，U1和U4裝入了直通指令，U2和U3裝入了外部測試指令。所有器件均處在Run_Test_Idle狀態。
然後控制TMS，使所有器件的TAP狀態進入到Shift_DR，移入測試數據(由於U1和U4器件是Bypass，移位21次後，最先移入的TDI數據，到達U3器件最後一個管腳的掃描單元)，TDI和TMS的數據序列如下
TMS 100 000000000000000000001 10TDI XXX 11111XXXXX11111XXXXXX XX走完上面的狀態時，所有器件的TAP狀態，又處在Run_Test_Idle。但在經過更新數據(Updata_DR)狀態時，從左至右第8個TDI的值1將從U3的O1管腳上輸出。
上面的兩次邊界掃描單元移動數據時，都沒有關注TDO的輸出，在每次從TDI輸入數據到器件的同時，也從器件的TDO輸出數據。當再次從Run_Test_Idle狀態進入Shift_DR，中間的捕獲數據(Capture_DR)會將輸入管腳腳上的值裝入移位寄存器中。對器件U2的I3腳來說，在執行Capture_DR時，會將U3的O1輸出值捕到移位寄存器中，接著進入到Shift_DR時，移出的數據如下TMS 100 000000000000000000001 10TDO XXX XXXXXXXXXXXXXXXXXX1XX XXTDI XXX XXXXXXXXXXXXXXXXXXXXX XX由於U2的I3排在掃描鏈的第19位(從TDO開始計數)，所以值1會在TDO數據的第22個時候移出來(前面有3位TAP走狀態機時的TDO移出值)。同理可讓O1輸出0，從I3上採回0。
以上是邊界掃描測試的基本原理。用來產生和採樣這些邊界掃描信號(TRST、TCK、TMS、TDI和TDO)的器件或系統稱為測試總線控制器TBC(Test_Bus_Control)。
在測試示例中可以看到，如果掃描鏈上有較多的邊界掃描單元，測試數據量將會相當大(TMS、TDI和TDO)；如果希望測試的連接關係越多，測試的數據量也越大。因此，如何組織測試數據，也是邊界掃描測試的一個重點。
目前，有很多廠家和公司都有自己的邊界掃描測試總線控制器，如TI公司的LVT8980，NS公司的SCANSTA101等，用以控制一個產品的系統級或單板級的JATG測試總線，以實現對產品和單板的結構測試。
對於邊界掃描的測試數據，業界應用較多的是一種稱之為SVF格式的文件，它是一種文本文件，用文本來表示指令和相應的測試數據。因此，這種格式的文件數據量較大。
NS有一種EVF格式的文件，是專為該公司的SCAN系列測試總線控制器(SCANPSC100、SCANSTA101)而設計的。這種文件格式的數據量比SVF稍小，但需要專門的硬體支持。
Altera公司為實現其可編程器件的加載，設計了一種Jam解釋器。邊界掃描數據，可以以壓縮格式來存放，數據量較小。但這種數據文件不能分段處理。大數據的存放仍需佔用較多的資源。
業界還有一些廠家和供應商有自己的語言和解釋器，但通常都需專用的軟體或硬體來支持，解釋邊界掃描測試命令。且測試數據的數據量都比較大，佔用的資源較多。
發明內容
本發明提供一種邊界掃描測試的實現方法及裝置，以解決現有測試技術中因需要處理數據太多而導致佔用資源太多的缺點。
本發明的實現方案一種邊界掃描測試的實現方法，該方法通過終端、測試總線控制器配合對邊界掃描器件進行測試，所述終端向測試總線控制器提供邊界掃描測試數據，所述總線控制器向邊界掃描器件提供測試數據輸入數據和測試模式選擇，包括如下步驟A、終端根據邊界掃描測試數據中的命令，將該邊界掃描測試數據中的測試向量數、掃描鏈長度及測試模式選擇序列分別寫入測試總線控制器的測試向量計數器、掃描鏈長度寄存器和測試模式選擇序列移位寄存器；
B、測試時鐘控制測試總線控制器狀態機將掃描鏈長度值寫入掃描鏈長度計數器，以及移出測試模式選擇序列移位寄存器的值，同時將移出的該值返回到該寄存器的尾部重新排隊以形成循環移位；C、在測試模式選擇序列的第8位移出時，檢測掃描鏈長度計數器；如果掃描鏈長度計數器的值表示無測試數據輸入數據移出，則繼續循環移位，然後進行步驟E；否則，測試模式選擇序列移位寄存器停止移位，並保持測試模式選擇值為該第8位值不變；D、測試總線控制器狀態機在測試時鐘控制下將測試數據輸入移位寄存器中的數據移出，每移出一位將掃描鏈長度計數器遞減，直到掃描鏈長度為1時移出最後一位數據；E、繼續循環移位測試模式選擇序列移位寄存器，並在移出第16位時檢查測試向量計數器，如果測試向量計數器的值表明所有測試向量已全部傳送完，則測試總線控制器狀態機停止測試，否則將測試向量計數器的值減1並進行步驟B。
根據上述方法進行步驟D前測試總線控制器狀態機檢查測試數據輸入移位寄存器是否有數據，如果沒有數據則停止測試時鐘並等待寫入數據。
步驟D中還包括終端將測試數據輸出移位寄存器中的數據讀出。
所述邊界掃描測試數據由多個雙字節的數據包頭和測試數據輸入/測試數據輸出數據組成，該數據包頭中包括命令/狀態字、特殊控制字、測試向量數、掃描鏈長度及測試模式選擇序列。
測試數據輸入數據與測試向量數和掃描鏈長度對應，並且其總長度為16的倍數。
一種邊界掃描測試總線控制器，其包括總線，通過接口與外部控制器交互信息；
測試總線控制器控制狀態機，用於控制測試總線控制的狀態；測試向量計數器，與總線連接和測試總線控制器控制狀態機相連；掃描鏈長度值寄存器，與總線連接，用於存儲掃描鏈上掃描單元的個數；掃描鏈長度計數器，通過總路線與掃描長度值寄存器連接，通過信號線與測試總線控制器控制狀態機連接；測試模式選擇序列移位寄存器，分別與總線和測試總線控制器控制狀態機連接；測試數據輸入移位寄存器，分別與總路線和測試總線控制器控制狀態機連接；測試數據輸出移位寄存器，與總線連接；時鐘，向前述的計數器和寄存器提供工作時鐘。
本發明有如下優點1、測試總線控制器不需要解釋邊界掃描的各種命令。
2、由於測試模式選擇(TMS)序列的重用，減少了傳輸的數據量、同時減少了CPU的佔用時間。
3、軟體和硬體實現簡潔，佔用資源少。採用本發明特定格式的數據，幾乎可以完全透明地傳遞測試數據。需要的軟硬體資源都很少。若用Altera的EPLD邏輯實現，宏單元將不超過128個。可充分節省硬體資源。
圖1為邊界掃描原理示意圖；圖2為BC-1掃描單元結構示意圖；圖3為晶片JTAG結構示意圖；圖4為測試通道口控制器狀態示意圖；圖5為JTAG測試基本原理圖；
圖6為本發明的邊界掃描測試總線控制器原理圖；圖7為本發明的流程圖。
具體實施例方式
從邊界掃描測試的基本原理測試示例中可看出測試數據的規律(見背景技術)，在進行狀態遷移時(一行兩邊的測試模式選擇值)，測試數據輸入(TDI)和測試數據輸出(TDO)是沒有意義的；而在數據移位(Shift_IR和Shift_DR狀態)時(一行中間的TMS值)，測試模式選擇值(TMS)有規律，即進入數據移位狀態後，測試模式選擇值一直保持不變，只在離開數據移位狀態時才開始變化。另外，從圖4的狀態機中可以看到，無論是要進行指令移位還是數據移位，從一個穩定狀態到另一個穩定狀態最多不會超過8個測試模式選擇值。
用16個測試模式選擇序列來控制狀態機的走向，其中第8個和第16個測試模式選擇值使狀態機處在穩定狀態。對於移入指令的操作，TMS的序列如下1------89-----16TMS11011000 11000000在第7個TMS處，TAP狀態機進入Shift_IR狀態。第8位TMS處，TDI數據開始移入掃描鏈(IR寄存器)，在最後一位數據移入TDI之前，TMS將一直保持第8位的值不變。在最後一位TDI數據移入時，TMS的第9位同時移入，並用TMS的第10位至第15位來控制TAP的狀態遷移，進入Run_Test_Idle。TMS的第16位，可控制TAP狀態機在此等待。
由以上原理可知，對於任一條指令掃描操作和數據掃描操作，只用16位測試模式選擇數據就可以完成，可以大大減少測試的數據量。如將一次數據(指令)掃描移入過程稱為一個向量，那麼，實際邊界掃描測試中，有很多測試向量用的是相同的測試模式選擇序列，如從Run_Test_Idle到Shift_DR再回到Run_Test_Idle。這樣可用一個計數器來表示掃描鏈的長度，另外一個計數器來表示測試向量的個數。反覆使用同一個測試模式選擇序列，而不需要新的測試模式選擇數據。
基於上述原理，為減少邊界掃描測試數據的數據量、便於測試數據的通信傳輸。定義一種特定格式的邊界掃描測試數據，如下表所示。
表中，前面是8個雙字的數據包頭，後面跟隨的是測試數據。根據命令的定義，也可以沒有測試數據。其中命令/狀態使用者可自行定義，主要的兩種命令為向掃描鏈發送數據(即不需要接收掃描鏈上的TDO)和同時收發掃描鏈上的數據(即在從TDI輸入數據的同時，接收掃描鏈上的TDO輸出數據)兩種。也可定義其它的控制命令，由軟體或硬體解釋。在這種情況下，後面的參數可以不起作用。狀態用於反向傳送時的應答。當不需要反向傳送TDO時，只應答數據包頭。
TMS控制序列前面介紹的TMS序列。
特殊控制傳遞此次掃描操作的一些控制，使用者可自行定義。由軟體或硬體解釋。
掃描鏈長度掃描鏈上邊界掃描單元的個數。
測試向量數重複使用TMS序列的次數減一，即當只使用一次時，此值為0。
TDI數據與測試向量數和掃描鏈長度對應的TDI數據。對每個測試向量而言(即進行一次數據移位或指令移位)，在計算總的TDI數據長度時，長度應取為16的倍數。即如果掃描鏈長為21，則需用兩個16位來傳送TDI數據，且後面不足16位的TDI數據放在TDI數據的低位上(靠齊16位數據中的0位)。假如測試向量數為3，則總的TDI數據為2*16*3位數據，用6個16位來傳送。因此，表1中的n＝(掃描鏈長度/16+餘數)*測試向量數，在該式中如果掃描鏈長度能被16整除，餘數為0，否則餘數為1。
保留保留備用。用戶可根據自己的需求定義和解釋。
本實施例利用上述特定的邊界掃描測試數據，通過終端(如計算機終端或嵌入式CPU等功能類似的裝置)、測試總線控制器和邊界掃描器件連接對邊界掃描器件進行測試，終端向測試總線控制器提供邊界掃描測試數據，總線控制器向邊界掃描器件提供測試數據輸入數據和測試模式選擇。
參閱圖6，用邏輯實現的測試總線控制器包括CPU總線，通過接口與終端交互信息；測試總線控制器狀態機，用於控制測試總線控制的狀態遷移；16位的測試向量計數器，與CPU總線連接和控制狀態機相連；16位的掃描鏈長度計數器，與CPU總線連接，用於對掃描單元的個數進行計數；16位的掃描鏈長度值寄存器，與總線連接，用於存儲掃描鏈上掃描單元的個數；16位的測試模式選擇序列移位寄存器，分別與總線和控制狀態機連接；8位或16位的測試數據輸入移位寄存器，分別與總路線和控制狀態機連接；8位或16位的測試數據輸出移位寄存器，與所述總線連接；時鐘，向前述的計數器和寄存器特提供工作時鐘。
測試終端或嵌入式CPU預根據表一的描述的命令格式，預置測試總線控制器中的測試向量計數器、掃描鏈長度計數器和TMS序列寄存器後，啟動測試。測試總線控制器中的狀態機根據前面的預置值來遷移自己的狀態。
若用Altera的EPLD實現，宏單元將不超過128個。
參閱圖6、圖7，進行測試的步驟如下步驟10產生特定格式的邊界掃描測試數據提供給終端。該數據中包括命令、TMS控制序列掃、描鏈長度、測試向量數和TDI數據。在本例中命令為向掃描鏈發送數據。
步驟20終端對邊界掃描測試數據中的命令進行解釋，並根據向掃描鏈發送數據命令將邊界掃描測試數據中的測試向量數、掃描鏈長度值和TSM序列分別寫入測試總線控制器的測試向量計數器、掃描鏈長度值寄存器和TSM序列移位寄存器。
步驟30終端控制測試起停控制信號，起動測試。
此時TBC控制器狀態機，在工作時鐘的控制下，將掃描鏈長度值裝入掃描鏈長度計數器，並控制TSM序列移位寄存器移位，在每個測試時鐘(TCK)的下降移出TMS值，同時將TMS移出的值反回到TMS序列寄存器的尾部重新排隊，即形成循環移位。
步驟40移出前7位TMS值後，將第8位TMS值送出，同時，檢測掃描鏈長度計數器是否為0。
如果為0，表明不需TDI數據移位，只是做TAP狀態遷移，轉到步驟60。
如果描鏈長度計數器不為0，則表明有TDI數據要移出，此時TBC控制器狀態機將檢測TDI移位寄存器中有無數據等待移出，如沒有，則會停住TCK輸出，等待CPU裝入TDI數據。
步驟50終端重複檢測TDI移位寄存器可寫數據標誌，寫入TDI數據(2n個字節)。若需要採樣TDO數據，則還需從TDO移位寄存器中讀出採樣回來的數據。
TBC控制器狀態機檢測到TDI移位寄存器中有數據等待移出後，在TCK下降沿，移出TDI數據。同時在TCK上升沿採樣TDO數據並移位。每移出一位，將掃描鏈長度計數器減1。此時TMS一直保持TSM序列中第8位TMS的值。當掃描鏈長度計數器被減到1時，移出這一測試向量的最後一位TDI。
步驟60繼續移出TMS序列的後8位TMS值。
步驟70在移出TMS序列的最後一位TMS值時(即第16位時)，檢查測試向量計數器是否為0。
如果為0，表明所有測試向量已全部傳送完，TBC控制器狀態機停住TCK，等待停止測試信號。
如果不為0，表明測試向量未全部傳送完，返回到步驟30。由於此時的TMS移位寄存器總共循環移位過16次，回到了最初CPU裝入的初始值狀態。返回到第30步會重新將掃描鏈長度值裝入掃描鏈長度計數器。
步驟80終端控制測試起停控制信號，停止測試。
TBC控制器狀態機收到停止測試信號後，回到初始狀態。
由以上可以看出，利用表一定義數據結構，幾乎可以完全透明地傳遞測試數據。需要的軟硬體資源都很少。若用Altera的EPLD邏輯實現，宏單元將不超過128個。可充分節省硬體資源。另外由於TMS序列的重用，減少了測試數據量，同時還減少了CPU的操作，可以減少CPU的佔用時間。
權利要求
1.一種邊界掃描測試的實現方法，該方法通過終端、測試總線控制器配合對邊界掃描器件進行測試，所述終端向測試總線控制器提供邊界掃描測試數據，所述總線控制器向邊界掃描器件提供測試數據輸入數據和測試模式選擇；其特徵在於該方法包括步驟A、終端根據邊界掃描測試數據中的命令，將該邊界掃描測試數據中的測試向量數、掃描鏈長度及測試模式選擇序列分別寫入測試總線控制器的測試向量計數器、掃描鏈長度寄存器和測試模式選擇序列移位寄存器；B、測試時鐘控制測試總線控制器狀態機將掃描鏈長度值寫入掃描鏈長度計數器，以及移出測試模式選擇序列移位寄存器的值，同時將移出的該值返回到該寄存器的尾部重新排隊以形成循環移位；C、在測試模式選擇序列的第8位移出時，檢測掃描鏈長度計數器；如果掃描鏈長度計數器的值表示無測試數據輸入數據移出，則繼續循環移位，然後進行步驟E；否則，測試模式選擇序列移位寄存器停止移位，並保持測試模式選擇值為該第8位值不變；D、測試總線控制器狀態機在測試時鐘控制下將測試數據輸入移位寄存器中的數據移出，每移出一位將掃描鏈長度計數器減1，直到掃描鏈長度為1時移出最後一位數據；E、繼續循環移位測試模式選擇序列移位寄存器，並在移出第16位時檢查測試向量計數器，如果測試向量計數器的值表明所有測試向量已全部傳送完，則測試總線控制器狀態機停止測試，否則將測試向量計數器的值減1並進行步驟B。
2.如權利要求1所述的方法，其特徵在於進行步驟D前測試總線控制器狀態機檢查測試數據輸入移位寄存器是否有數據，如果沒有數據則停止測試時鐘並等待寫入數據。
3.如權利要求1所述的方法，其特徵在於步驟D中還包括終端將測試數據輸出移位寄存器中的數據讀出。
4.如權利要求1、2或3所述的方法，其特徵在於所述邊界掃描測試數據由多個雙字節的數據包頭和測試數據輸入/測試數據輸出數據組成，該數據包頭中包括命令/狀態字、特殊控制字、測試向量數、掃描鏈長度及測試模式選擇序列。
5.如權利要求4所述的方法，其特徵在於測試數據輸入數據與測試向量數和掃描鏈長度對應，並且其總長度為16的倍數。
6.如權利要求4所述的方法，其特徵在於所述數據包頭中還包括保留字節。
7.如權利要求4所述的方法，其特徵在於命令/狀態和特殊控制字分別佔一字節，測試向量數、掃描鏈長度、測試模式選擇序列和一組測試數據輸入/測試數據輸出數據分別佔兩字節。
8.一種邊界掃描測試總線控制器，其特徵在於包括總線，通過接口與外部控制器交互信息；測試總線控制器狀態機，用於控制測試總線控制的狀態；測試向量計數器，與總線連接和測試總線控制器狀態機相連；掃描鏈長度值寄存器，與總線連接，用於存儲掃描鏈上掃描單元的個數；掃描鏈長度計數器，通過總路線與掃描長度值寄存器連接，通過信號線與測試總線控制器狀態機連接；測試模式選擇序列移位寄存器，分別與總線和測試總線控制器狀態機連接；測試數據輸入移位寄存器，分別與總路線和測試總線控制器狀態機連接；測試數據輸出移位寄存器，與所述總線連接；時鐘，向前述的計數器和寄存器提供工作時鐘。
9.如權利要求8所述的測試總線控制器，其特徵在於所述的測試向量計數器、掃描鏈長度值寄存器、掃描鏈長度計數器和測試模式選擇序列移位寄存器均為16比特位。
10.如權利要求8或9所述的測試總線控制器，其特徵在於所述的測試數據輸入移位寄存器和測試數據輸出移位寄存器為8比特位或16比特位。
11.如權利要求8所述的測試總線控制器，其特徵在於所述的測試總線控制器狀態機為16狀態機。
全文摘要
本發明公開了一種邊界掃描測試的實現方法，該方法通過定義特定的數據結構，重複利用一組16位的測試模式選擇序列進行測試，大幅度地減少了測試數據量。若用Altera的EPLD邏輯實現，宏單元將不超過128個，可充分節省硬體資源。本發明還公開了一種邊界掃描測試總線控制器。
文檔編號G06F11/22GK1577284SQ0314390
公開日2005年2月9日 申請日期2003年7月28日 優先權日2003年7月28日
發明者王 華 申請人:華為技術有限公司