針對主機pcie插槽上總線接口的測試方法及其讀寫測試方法

2023-05-28 22:14:31

專利名稱：針對主機pcie插槽上總線接口的測試方法及其讀寫測試方法
技術領域：
本發明涉及一種總線接口的測試方法，尤其涉及一種針對主機PCIE插槽上總線 接口的測試方法。
背景技術：
周邊裝置組件互連(PeripheralComponent hterconnect，簡稱 PCI)是一種連 接計算機主機板和接口設備的總線標準，由Intel公司所制定發表。它可以與中央處理單 元(Central Processing toit，簡稱CPU)的地址總線、數據總線、大部分的控制總線接腳銜 接，但必須通過控制晶片轉接信號。PCI標準規定了該總線的實體尺寸(包括線寬)、電力 特性、總線時序和協議等，其具有總線結構簡單、成本低、設計簡單等優點。快速周邊裝置組件互連(PCI Express，簡稱PCIE)，是一種最新的總線和接口標 準，是PCI的更高的發展，它沿用了現有的PCI編程概念及通訊標準，但建基於更快的串行 通信系統。PCIE最大的特點在於它的通用性，不僅可以讓它用於南橋和其它設備的連接，也 可以延伸到晶片組間的連接，甚至也可以用於連接圖形晶片，這樣，整個輸入/輸出(I/O) 系統重新統一起來，將更進一步簡化計算機系統，增加計算機的可移植性和模塊化。此外， 由於PCIE採用了目前業內流行的點對點串行連接，比起PCI以及更早期的計算機總線的共 享並行架構，其每個設備都有自己的專用連接，不需要向整個總線請求帶寬，而且可以把數 據傳輸率提高到一個很高的頻率，達到PCI所不能提供的高帶寬。相對於現有的PCI總線 在單一時間周期內只能實現單向傳輸，PCIE的優點在於能夠提供更高的傳輸速率和質量。目前，主機PCIE插槽(Slot)上的總線接口類型包含系統管理總線(System Management Bus，以下簡稱SMBus)、IICQnter Integrated Circuit)總線以及智能平臺管 理總線 intelligent Platform Management Bus，以下簡稱 IPMB)。針對主機 PCIE 插槽上 的這些總線接口進行測試時，現有的測試方法是例如通過測試程序掃描SMBus總線上已有 的從設備地址(Slave Address)，此方法只能進行讀取操作，不能進行寫操作，因此並不能 實現真正意義上的SMBus接口的測試。

發明內容
為了解決上述現有技術中的問題與缺陷，本發明的目的在於提出一種針對主機 PCIE插槽上總線接口 anterface)的測試方法，該測試方法通用性強，真正實現了對主機 PCIE插槽上總線接口的自動化與智能化測試，並能夠大幅提高測試的準確性、穩定性及可靠性。本發明所提出的一種針對主機PCIE插槽上總線接口的測試方法，包括一用以測 試主機PCIE插槽上總線接口是否正常的方法，包含以下步驟將PCIE測試工具起始化設定為主設備(Master)模式，並將主機PCIE插槽上的總 線上的其它設備設定為從設備(Slave)；3
通過PCIE測試工具依次掃描該主機PCIE插槽上的總線上的從設備；判斷是否有從設備對PCIE測試工具的訪問作出正確響應；以及如果有從設備對PCIE測試工具的訪問作出正確響應，則表示總線接口正常，隨後 結束測試；如果總線上沒有任何從設備對PCIE測試工具的訪問作出正確響應，則表示總線 接口不正常，隨後報錯並退出測試。其中，上述本發明所提出的一種針對主機PCIE插槽上總線接口的測試方法中，所 述的PCIE測試工具為基於MSP430晶片與PEX8632晶片的Himalia工具；所述的主機PCIE 插槽上的總線為SMBus/IIC/IPMB總線。本發明所提出的一種針對主機PCIE插槽上總線接口的測試方法中，所述的PCIE 測試工具從地址O到127依次掃描主機PCIE插槽上的總線上的從設備。本發明的測試方法還包括針對主機PCIE插槽上總線接口的讀寫測試方法，此測 試方法包含以下步驟掃描被測主機中所有的從設備(Slave)，藉以尋找空閒的從設備地址(Slave Address)；將找到的空閒的從設備地址傳輸給PCIE測試工具，並將PCIE測試工具設定為從 設備(Slave)模式；通過主機PCIE插槽上的總線從PCIE測試工具讀取數據及向PCIE測試工具寫入 數據；以及判斷主機PCIE插槽上的總線的數據讀寫操作是否均正確，如果是，則表示總線接 口正常，隨後結束測試；如果否，則表示總線接口不正常，隨後報錯並退出測試。其中，上述本發明所出的一種針對主機PCIE插槽上總線接口的讀寫測試方法中， 所述的PCIE測試工具為基於MSP430晶片與PEX8632晶片的Himalia工具；所述的主機 PCIE插槽上的總線為SMBus總線。此外，上述本發明所出的一種針對主機PCIE插槽上總線接口的讀寫測試方法中， 是由被測主機的測試應用程式(Diag App)通過一輸入/輸出控制器中心(I/O Controller Hub, ICH)的SMBus控制器掃描被測主機中所有的從設備，並且所述的主機PCIE插槽上的 總線是通過SMBus控制器與PCIE測試工具進行通訊，藉以從PCIE測試工具讀取數據及向 PCIE測試工具寫入數據。綜上所述，本發明所提供的針對主機PCIE插槽上總線接口的測試方法，由於採用 基於MSP430晶片與PEX8632晶片的PCIE測試工具(Himalia工具)以上述兩種方式實現 了針對主機PCIE插槽上總線接口的全面測試，因此，本發明所提供的針對主機PCIE插槽上 總線接口的測試方法的通用性強，真正實現了對主機PCIE插槽上總線接口的自動化與智 能化測試，並能夠大幅提高測試的準確性、穩定性及可靠性。以下結合附圖和具體實施例對本發明進行詳細描述，但不作為對本發明的限定。


圖1為本發明一實施例的針對主機PCIE插槽上總線接口的測試方法的步驟流程 圖；圖2為本發明另一實施例的針對主機PCIE插槽上總線接口的讀寫測試方法的步驟流程圖；圖3為本發明的針對主機PCIE插槽上總線接口的測試方法中所採用的PCIE測試 工具與被測主機的連接結構方框圖；以及圖4為本發明的針對主機PCIE插槽上總線接口的測試方法中所採用的PCIE測試 工具的結構方框圖。其中，附圖標記10Himalia 工具20主機
具體實施例方式有關本發明的特徵與實作，茲配合圖示作較佳實施例詳細說明如下。請參考圖1，此圖為本發明一實施例的針對主機PCIE插槽上總線接口的測試方 法的步驟流程圖，如圖所示，本發明所提供的一種針對主機PCIE插槽上總線接口的測試方 法，是通過PCIE測試工具對主機PCIE插槽上的總線接口進行測試，此測試方法包含以下步 驟將PCIE測試工具起始化設定為主設備(Master)模式，並將主機PCIE插槽上的總 線上的其它設備設定為從設備(Slave)(步驟101)，其中，所述的PCIE測試工具可為基於 MSP430晶片與PEX8632晶片的Himalia工具，而所述的主機PCIE插槽上的總線可為SMBus/ IIC/IPMB 總線；通過PCIE測試工具依次掃描該主機PCIE插槽上的總線上的從設備(步驟102)， 其中，所述的PCIE測試工具從地址0到127依次掃描主機PCIE插槽上的總線上的從設備；判斷是否有從設備對PCIE測試工具的訪問作出正確響應(步驟103)；以及如果有從設備對PCIE測試工具的訪問作出正確響應，則表示總線接口正常，隨後 結束測試；如果總線上沒有任何從設備對PCIE測試工具的訪問作出正確響應，則表示總線 接口不正常，隨後報錯並退出測試(步驟104)。本發明的測試方法還包括針對主機PCIE插槽上總線接口的讀寫測試方法，此測 試方法的實施例步驟如圖2所示，包含以下步驟掃描被測主機中所有的從設備(Slave)，藉以尋找空閒的從設備地址(Slave Address)(步驟201)，其中，可由被測主機的測試應用程式(Diag App)通過一輸入/輸出 控制器中心(ICH)的SMBus控制器掃描被測主機中所有的從設備；將找到的空閒的從設備地址傳輸給PCIE測試工具，並將PCIE測試工具設定為 從設備(Slave)模式(步驟202)，其中，所述的PCIE測試工具可為基於MSP430晶片與 PEX8632晶片的Himalia工具；通過主機PCIE插槽上的總線從PCIE測試工具讀取數據及向PCIE測試工具寫入 數據(步驟203)，其中，所述的主機PCIE插槽上的總線可為SMBus總線，並且所述的主機 PCIE插槽上的總線可通過SMBus控制器與PCIE測試工具進行通訊，藉以從PCIE測試工具 讀取數據及向PCIE測試工具寫入數據；以及判斷主機PCIE插槽上的總線的數據讀寫操作是否均正確(步驟204)，如果是，則 表示總線接口正常，隨後結束測試；如果否，則表示總線接口不正常，隨後報錯並退出測試(步驟205)。 現在請參考圖3及圖4，圖3為本發明的針對主機PCIE插槽上總線接口的測試 方法中所採用的PCIE測試工具與被測主機的連接結構方框圖，圖4為本發明的針對主機 PCIE插槽上總線接口的測試方法中所採用的PCIE測試工具的結構方框圖，如圖3及圖4所 示，本發明的測試方法中所採用的PCIE測試工具可為基於MSP430晶片與PEX8632晶片的 Himalia工具10，其中，MSP430晶片可用作核心微控制器單元(Core MCU)，PEX8632晶片則 可用作 PCIE 開關(PCIE Switch)。
Himalia工具10與被測的主機20上的PCIE插槽相連，用以檢測主機20上的PCIE 插槽的各種信號，同時包括對本發明中所述的SMBus/IIC/IPMB總線進行測試。被測主機20的測試應用程式(Diag App)通過一輸入/輸出控制器中心(I/ OController Hub，簡稱ICH，是英特爾的南橋晶片系列名稱，南橋晶片是主機板晶片組的重 要組成部分，一般位於主機板上離CPU插槽較遠的下方，PCIE插槽的附近，負責連接PCIE總 線及I/O設備等)的SMBus控制器掃描被測主機20中所有的從設備，即，主機20的測試應 用程序先掃描目前有多少個從設備的編號，再把空閒的編號指定給Himalia工具10，接著 可進行數據讀寫測試，其測試流程及細節屬於現有技術，在此不再贅述。這裡還需要特別說明的一點就是主機20的測試應用程式與Himalia工具10上的 核心微控制器單元(即MSP430晶片)的通訊方法，測試應用程式通過訪問主機20的PCIE 配置空間來操作PCIE開關(即PEX8632晶片)的通用型輸入輸出(General Purpose I/ 0，簡稱GPI0)緩存器並利用PEX8632晶片的GPIO緩存器來模擬串行接口設備接口(krial Peripheral interface,簡稱SPI)協議進而與核心微控制器單元進行通訊，即，向核心微控 制器單元發送測試命令並讀取相應的測試結果。當然，本發明還可有其它多種實施例，在不背離本發明精神及其實質的情況下，熟 悉本領域的技術人員當可根據本發明作出各種相應的改變和變形，但這些相應的改變和變 形都應屬於本發明所附的權利要求的保護範圍。
權利要求
1.一種針對主機PCIE插槽上總線接口的測試方法，通過一 PCIE測試工具對主機PCIE 插槽上的總線接口進行測試，其特徵在於，該測試方法包含以下步驟將該PCIE測試工具起始化設定為主設備模式，並將該主機PCIE插槽上的總線上的其 它設備設定為從設備；通過該PCIE測試工具依次掃描該主機PCIE插槽上的總線上的該從設備；判斷是否有該從設備對該PCIE測試工具的訪問作出正確響應；以及如果有該從設備對該PCIE測試工具的訪問作出正確響應，則表示該總線接口正常，隨 後結束該測試方法；如果該總線上沒有任何該從設備對該PCIE測試工具的訪問作出正確 響應，則表示該總線接口不正常，隨後報錯並退出該測試方法。
2.根據權利要求1所述的測試方法，其特徵在於，該PCIE測試工具為基於MSP430晶片 與PEX8632晶片的Himalia工具。
3.根據權利要求1所述的測試方法，其特徵在於，該主機PCIE插槽上的總線為SMBus/ IIC/IPMB 總線。
4.根據權利要求1所述的測試方法，其特徵在於，該PCIE測試工具從地址O到127依 次掃描該主機PCIE插槽上的總線上的該從設備。
5.一種針對主機PCIE插槽上總線接口的讀寫測試方法，是通過一 PCIE測試工具對主 機PCIE插槽上的總線接口進行讀寫測試，其特徵在於，該讀寫測試方法包含以下步驟掃描被測主機中所有的從設備，藉以尋找空閒的從設備地址；將找到的空閒的該從設備地址傳輸給該PCIE測試工具，並將該PCIE測試工具設定為 從設備模式；通過該主機PCIE插槽上的總線從該PCIE測試工具讀取數據及向該PCIE測試工具寫 入數據；以及判斷該主機PCIE插槽上的總線的數據讀寫操作是否均正確，如果是，則表示該總線接 口正常，隨後結束該讀寫測試；如果否，則表示該總線接口不正常，隨後報錯並退出該讀寫 測試。
6.根據權利要求5所述的讀寫測試方法，其特徵在於，該PCIE測試工具為基於MSP430 晶片與PEX8632晶片的Himalia工具。
7.根據權利要求5所述的讀寫測試方法，其特徵在於，該主機PCIE插槽上的總線為 SMBus總線。
8.根據權利要求7所述的讀寫測試方法，其特徵在於，由被測主機的測試應用程式通 過一輸入/輸出控制器中心的SMBus控制器掃描被測主機中所有的該從設備。
9.根據權利要求8所述的讀寫測試方法，其特徵在於，該主機PCIE插槽上的總線通 過該SMBus控制器與該PCIE測試工具進行通訊，藉以從該PCIE測試工具讀取數據及向該 PCIE測試工具寫入數據。
全文摘要
一種針對主機PCIE插槽上總線接口的測試方法，是通過PCIE測試工具對主機PCIE插槽上的總線接口進行測試，此測試方法包含以下步驟將PCIE測試工具起始化設定為主設備模式，並將主機PCIE插槽上的總線上的其它設備設定為從設備；通過PCIE測試工具依次掃描該主機PCIE插槽上的總線上的從設備；判斷是否有從設備對PCIE測試工具的訪問作出正確響應；以及如果有從設備對PCIE測試工具的訪問作出正確響應，則結束測試；如果總線上沒有任何從設備對PCIE測試工具的訪問作出正確響應，則報錯並退出測試。此測試方法能夠大幅提高測試主機PCIE插槽上總線接口的準確性、穩定性及可靠性。
文檔編號G06F11/267GK102053898SQ20091022081
公開日2011年5月11日 申請日期2009年11月6日 優先權日2009年11月6日
發明者劉利兵, 潘雲, 陳玄同 申請人:英業達股份有限公司