一種硒鼓晶片的批量檢測裝置與方法

2023-06-12 16:26:11 1

專利名稱：一種硒鼓晶片的批量檢測裝置與方法
技術領域：
本發明涉及列印耗材領域，尤其涉及一種硒鼓晶片的批量檢測裝置與方法。
背景技術：
在列印耗材領域中，安置在硒鼓外殼表面的硒鼓晶片是一個非常重要的部件，它用於雷射印表機對硒鼓的識別和記錄硒鼓的列印量。硒鼓晶片一般包括基板、集成電路模塊和觸點。觸點用於和雷射印表機上的觸點接觸，從而使集成電路模塊與雷射印表機實現電氣連接並進行通信。集成電路模塊內部設置有控制單元和存儲單元，存儲單元存儲有硒鼓型號、碳粉顏色、硒鼓列印量等信息。當裝有硒鼓晶片的硒鼓放入雷射印表機時，雷射印表機會對硒鼓晶片進行檢測，即雷射印表機讀取集成電路模塊內存儲單元的數據，判斷硒鼓是否適用該款雷射印表機，並判斷硒鼓內剩餘碳粉量是否充足，只有判斷硒鼓與雷射印表機匹配且硒鼓內有充足的碳粉時，雷射印表機才開始工作。列印耗材生產廠家在硒鼓生產過程中，要把硒鼓晶片安裝到硒鼓上。在安裝硒鼓晶片之前，需要將硒鼓晶片挨個放入雷射印表機中進行檢測，也叫硒鼓晶片全檢測，只有雷射印表機能夠識別的硒鼓晶片才能安裝到生產的硒鼓上。而上述硒鼓晶片全檢測過程存在以下缺點首先，每個硒鼓晶片檢測過程需要耗時幾分種，每次檢測一個硒鼓晶片，逐個依次檢測，這樣會大大降低硒鼓大批量生產時的速度和效率。其次，檢測硒鼓晶片持續時間過長，勞動強度很大。因為每檢測一個硒鼓晶片，都先要將硒鼓晶片安裝到硒鼓上，再打開雷射印表機頂蓋，將硒鼓放入。待雷射印表機對硒鼓晶片檢測完畢，再將硒鼓從雷射印表機裡取出，然後將硒鼓晶片從硒鼓上取下，這個過程非常消耗體力。所以，硒鼓晶片全檢測過程需要進行優化及改進，以適應硒鼓的大批量生產需要。

發明內容
本發明的目的在於提供一種硒鼓晶片的批量檢測裝置與方法，用於克服硒鼓晶片全檢測過程效率低、勞動強度大的缺點。為了達到上述目的，本發明採用以下技術方案本發明的批量檢測裝置，該裝置包括盒體、印表機連接模塊、晶片適配器卡座、繼電器陣列模塊、主控制模塊、晶片狀態顯示模塊和按鈕開關。其中，印表機連接模塊、繼電器陣列模塊、主控制模塊和晶片狀態顯示模塊放置在盒體內部，晶片適配器卡座和按鈕開關位於盒體表面。雷射印表機上面設置了就緒狀態信號指示燈和錯誤狀態信號指示燈，當雷射印表機對硒鼓晶片檢測正確時，就緒狀態信號指示燈常亮，反之，錯誤狀態信號指示燈常亮。印表機連接模塊包括光耦、繼電器和接線端子，其中光耦器件與印表機的就緒狀態信號線和錯誤狀態信號線相連，繼電器與印表機的復位開關相連，接線端子集成了光耦信號線、主控制模塊中控制雷射印表機復位的信號線、雷射印表機和硒鼓晶片進行通信的電氣導線、雷射印表機提供的電源和地線。印表機連接模塊用於實現雷射印表機和裝置的電氣連接。晶片適配器卡座包括卡槽和壓杆，在卡槽一側設置有一個滑塊，滑塊可在卡槽內移動， 卡槽和滑塊可設置所放待檢測硒鼓晶片的數量。在卡槽內部設置有觸針底座，觸針底座上承載至少兩個可壓縮式觸針，可壓縮式觸針的具體數量是待檢測硒鼓晶片數量的兩倍，可壓縮式觸針下方有電氣導線與繼電器陣列模塊相連。壓杆和卡槽、滑塊共同用於硒鼓晶片的固定，保證每個硒鼓晶片上的觸點和一個可壓縮式觸針充分接觸。繼電器陣列模塊包括繼電器陣列和接線端子。接線端子集成了主控制模塊中控制繼電器陣列的信號線、雷射印表機和硒鼓晶片進行連接的電氣導線、晶片適配器卡座所引出的電氣導線、雷射印表機提供的電源和地線。繼電器陣列模塊用於雷射印表機和硒鼓晶片電氣連接的選通開關。主控制模塊由控制單元、可編程邏輯單元、存儲單元、通訊單元和接線端子構成。 控制單元負責數據處理；可編程邏輯單元負責各種數位訊號的通道分配；存儲單元負責存儲程序和數據；通訊單元負責同上位機進行通信；接線端子集成了數字輸入和數字輸出通道。主控制模塊，第一用於對雷射印表機檢測晶片時的就緒狀態信號和錯誤狀態信號進行採集和控制雷射印表機復位；第二用於控制繼電器陣列模塊；第三用於存儲被檢測硒鼓晶片的狀態；第四等待雷射印表機檢測完多單元硒鼓晶片後，將存儲的硒鼓晶片檢測狀態送至晶片狀態顯示模塊。晶片狀態顯示模塊包括LED陣列和接線端子，接線端子集成了主控制模塊中向該模塊發送硒鼓晶片檢測狀態的信號線。晶片狀態顯示模塊用於將主控制模塊送來的硒鼓晶片檢測狀態進行集中顯示。按鈕開關，第一用於主控制模塊內部程序的啟動，控制雷射印表機開始檢測硒鼓晶片，第二用於主控制模塊內部程序的復位，實現下一批次硒鼓晶片的檢驗。本發明的批量檢測方法，具體步驟如下A、首先，開啟雷射印表機，用於雷射印表機上電初始化、裝置中主控制模塊上電初始化；B、其次，將多單元的硒鼓晶片固定在裝置中的晶片適配器卡座上；C、然後，按動按鈕開關讓雷射印表機開始對該多單元的硒鼓晶片依次進行檢測， 待檢測完該批次的硒鼓晶片後，裝置中的晶片狀態顯示模塊會顯示該批次硒鼓晶片的檢測狀態；D、接著，將該批次的硒鼓晶片從裝置中晶片適配器卡座上取下，再放入下一批次的多單元硒鼓晶片，然後再重複步驟C ；E、最後，檢驗完所有待檢測的硒鼓晶片後關閉雷射印表機。


圖1是本發明批量檢測裝置各模塊連接示意圖。圖2是本發明實施例中批量檢測裝置示意圖。圖3是本發明實施例中批量檢測方法的流程圖。圖中，100、批量檢測裝置；101、印表機連接模塊；102、晶片適配器卡座；103、繼電器陣列模塊；104、主控制模塊；105、晶片狀態顯示模塊；106、按鈕開關；107、硒鼓晶片。
具體實施例方式以下將詳細描述本發明的實施例。採用圖2所示的裝置，該裝置放進10個單元硒鼓晶片，按照圖1的連接方式進行批量檢測，步驟如下步驟1，將批量檢測裝置(100)的印表機連接模塊(101)連接到雷射印表機上。開啟雷射印表機，用於雷射印表機上電初始化，同時批量檢測裝置(100)中主控制模塊(104) 上電初始化。 步驟2，將10個單元硒鼓晶片(107)放入批量檢測裝置(100)中的晶片適配器卡座(102)進行固定。步驟3，按動按鈕開關(106)，啟動主控制模塊(104)中的程序來實現雷射印表機的復位，同時主控制模塊(104)控制繼電器陣列模塊(103)中的第一個繼電器選通，來實現雷射印表機對第一單元的硒鼓晶片(107)進行檢測。當主控制模塊(104)接收到雷射印表機發送的檢測完第一單元的硒鼓晶片(107)的信號後，主控制模塊(104)會將檢測狀態存儲，並控制雷射印表機復位，同時主控制模塊(104)控制繼電器陣列模塊(103)中的第二個繼電器選通，來實現雷射印表機對第二單元的硒鼓晶片(107)進行檢測。按照以上方式，來實現雷射印表機對10個單元的硒鼓晶片(107)進行檢測。當主控制模塊(104)接收到雷射印表機發送的檢測完全部10個單元的硒鼓晶片(107)的信號後，主控制模塊(104)將存儲的10個單元硒鼓晶片(107)的檢測狀態發送到晶片顯示模塊(105)進行集中顯示。步驟4，將檢測完成的10個單元硒鼓晶片(107)從將批量檢測裝置(100)中的晶片適配器卡座(102)上取下，換上另一批10個單元硒鼓晶片(107)。重複步驟3。步驟5，檢測完成所有硒鼓晶片(107)後，關閉雷射印表機。圖3是利用圖2所示的批量檢測裝置(100)對10個單元硒鼓晶片(107)進行檢測時的流程圖。當然，上述實施例僅是本發明的一種實施方式，舉例說明較為具體，並不能因此而認為是對本發明的專利保護範圍的限制，本發明在實際應用中還可以有更多的變形。例如， 本發明的批量檢測裝置和方法還可應用於噴墨印表機對墨盒晶片的批量檢測，這亦屬於本發明的保護範圍。
權利要求
1.一種硒鼓晶片的批量檢測裝置，該裝置包括盒體、印表機連接模塊、晶片適配器卡座、繼電器陣列模塊、主控制模塊、晶片狀態顯示模塊和按鈕開關，其特徵在於所述印表機連接模塊、繼電器陣列模塊、主控制模塊和晶片狀態顯示模塊放置在盒體內部，晶片適配器卡座和按鈕開關位於盒體表面；印表機連接模塊的一端連接雷射印表機，另外兩端分別連接到繼電器陣列模塊的一端和主控制模塊的一端，繼電器陣列模塊的另外兩端分別連接到主控制模塊的一端和晶片適配器卡座，主控制模塊的另外一端連接到晶片狀態顯示模塊，按鈕開關通過導線連接到主控制模塊。
2.根據權利要求1所述的一種硒鼓晶片的批量檢測裝置，其特徵在於所述印表機連接模塊包括光耦器件、繼電器和接線端子，其中光耦器件與印表機的就緒狀態信號線和錯誤狀態信號線相連，繼電器與印表機的復位開關相連。
3.根據權利要求1所述的一種硒鼓晶片的批量檢測裝置，其特徵在於所述晶片適配器卡座包括卡槽和壓杆，在卡槽一側設置有一個滑塊，在卡槽內部設置有觸針底座，觸針底座上承載至少兩個可壓縮式觸針，可壓縮式觸針下方有電氣導線與繼電器陣列模塊相連。
4.根據權利要求1所述的一種硒鼓晶片的批量檢測裝置，其特徵在於所述繼電器陣列模塊包括繼電器陣列和接線端子；所述主控制模塊包括控制單元、可編程邏輯單元、存儲單元、通訊單元和接線端子；所述晶片狀態顯示模塊包括LED陣列和接線端子。
5.一種硒鼓晶片的批量檢測方法，其特徵在於採用以下方法A、首先，開啟雷射印表機，用於雷射印表機上電初始化、裝置中主控制模塊上電初始化；B、其次，將多單元的硒鼓晶片固定在裝置中的晶片適配器卡座上；C、然後，按動按鈕開關讓雷射印表機開始對該多單元的硒鼓晶片依次進行檢測，待檢測完該批次的硒鼓晶片後，裝置中的晶片狀態顯示模塊會顯示該批次硒鼓晶片的檢測狀態；D、接著，將該批次的硒鼓晶片從裝置中晶片適配器卡座上取下，再放入下一批次的多單元硒鼓晶片，然後再重複步驟C ；E、最後，檢驗完所有待檢測的硒鼓晶片後關閉雷射印表機。
全文摘要
本發明公開了一種硒鼓晶片的批量檢測裝置與方法。該裝置由盒體、印表機連接模塊、晶片適配器卡座、繼電器陣列模塊、主控制模塊、晶片狀態顯示模塊和按鈕開關構成。其中，晶片適配器卡座可設置所放待檢測硒鼓晶片的數量並對硒鼓晶片進行固定；繼電器陣列模塊，用作雷射印表機和硒鼓晶片電氣連接的選通開關；主控制模塊可實現印表機的各種信號採集、繼電器控制和保存晶片檢測狀態。利用該裝置可以實現對二單元以上的硒鼓晶片進行批量檢測。採用上述本發明提供的裝置和方法，可以減輕車間工人的勞動強度，提高了硒鼓生產時對硒鼓晶片檢測的速度和效率。
文檔編號B41J2/175GK102156400SQ2010102852
公開日2011年8月17日 申請日期2010年9月17日 優先權日2010年9月17日
發明者宋禾平, 宮寧寧, 高廣 申請人:富美科技有限公司