連結控制卡測試系統及方法
2023-06-02 02:52:16
專利名稱：連結控制卡測試系統及方法
技術領域：
本發明涉及一種連結控制卡測試系統及方法。
背景技術：
隨著信息技術的發展，磁碟陣列被越來越多地使用到企業的每一種應用系統中。它開始只是簡單地作為某臺主機或伺服器的附加外置存儲設備，主要用於擴展單臺主機或伺服器的永久存儲空間，一般通過SCSI(Small ComputerSystem Interface，小型計算機系統接口)或其他接口與主機直接相連；後來隨著光纖通道(Fibre Channel)技術的發展，磁碟陣列通過光纖通道接口接入到SAN(Storage Area Network，存儲區域網)中，為多臺主機提供共享的存儲空間。光纖磁碟陣列指該磁碟陣列採用光纖通道技術，其對外即對主機使用光纖通道接口連接方式，其內部採用光纖通道技術來連接其內部的每一個磁碟。
現有機架型光纖通道存儲設備通常由兩片連結控制卡、中間板、磁碟陣列、及電源組成。所述連結控制卡一般用於控制經所述中間板傳送給所述磁碟陣列的信號。在光纖通道存儲設備的實際生產測試流程中，主機通過發送測試命令給磁碟陣列，並以復位開關控制所述連結控制卡，通過對磁碟陣列測試，記錄測試結果，從而間接驗證連結控制卡的硬體復位特性。但上述測試方法需要大量的光纖通道接口磁碟，磁碟的價格很高，在長期測試中需要經常更換，且磁碟也容易在受到震動時損壞。
發明內容有鑑於此，有必要提供一種無需使用硬碟的連結控制卡測試系統及方法。
一種連結控制卡測試系統，包括一主機、一中間板及一復位開關，所述中間板的一端與一連結控制卡相連接，所述復位開關用於復位所述連結控制卡，所述中間板的另一端與一測試裝置陣列相連接，所述主機與所述測試裝置陣列連接以發送測試命令及接收測試結果，所述復位開關控制所述連結控制卡輸出一復位信號，並經所述中間板傳送給所述測試裝置陣列，所述測試裝置陣列由若干個測試裝置組成，每一測試裝置包括一微控制器；一與所述微控制器連接的接口連接器，其通過所述中間板與所述連結控制卡相連接；一與所述微控制器相連接的地址設定單元，用於設定每一測試裝置在所述連結控制卡測試系統中的地址；一與所述微控制器相連接的第一接口，通過所述第一接口將測試結果傳出。
一種連結控制卡測試方法，包括以下步驟設定一測試裝置陣列中每一測試裝置的地址；偵測每一測試裝置所設定的地址，並保存在對應測試裝置的微控制器中；一主機發送一測試命令至所述測試裝置陣列中的一測試裝置，所述測試命令包括一測試連結控制卡硬體復位時序命令、一預設的標準硬體復位時序及一預設置地址；所述測試裝置偵測所述測試命令中所包含的地址與其所保存的地址是否一致；若一致，則開啟一復位開關，所述復位開關控制一連結控制卡輸出一復位信號，通過一中間板將所述復位信號傳送給所述測試裝置；及所述測試裝置的微控制器將所述測試命令中所包含的標準硬體復位時序保存，並偵測所述連結控制卡的硬體復位時序，然後與保存的標準硬體復位時序比較是否一致，並將測試結果傳給主機。
相較現有技術，在連結控制卡的測試流程中使用測試裝置陣列來替代磁碟陣列，通過對連結控制卡進行硬體復位測試，確保連結控制卡工作正常，採用所述連結控制卡測試系統及方法，測試過程快速高效。
下面結合附圖及具體實施例對本發明作進一步的詳細說明。
圖1是本發明連結控制卡測試系統的較佳實施方式的方框圖。
圖2是本發明連結控制卡測試系統的較佳實施方式中每一測試裝置的原理框圖。
圖3是本發明連結控制卡測試系統的較佳實施方式中每一測試裝置的地址設定單元的電路圖。
圖4是本發明連結控制卡測試系統的較佳實施方式中第一個測試裝置的硬體復位測試示意圖。
圖5是本發明連結控制卡測試方法的流程圖。
具體實施方式請參考圖1，其為本發明連結控制卡測試系統的較佳實施方式的方框圖。所述連結控制卡測試系統包括一主機100、一由15個測試裝置10順序串聯的測試裝置陣列200、一中間板30、一第一連結控制卡40、一第二連結控制卡50、一第一電源60、一第二電源70及一復位開關44。所述中間板30的第一端與所述第一連結控制卡40、第二連結控制卡50的第一端連接，所述中間板30的第二端與所述測試裝置陣列200相連接。所述主機100通過一接口102與所述測試裝置陣列200相連接，用於發送測試命令及接收測試結果。本實施方式中用所述測試裝置陣列200中的15個測試裝置10取代現有技術中的15個硬碟。所述第一電源60及所述第二電源70均與所述中間板30相連接，為整個連結控制卡測試系統供電。所述中間板30用於為所述測試裝置陣列200分配信號和能量。所述復位開關為現有技術中光纖通道存儲設備外圍的部件地址(EnclosureAddress)開關。所述復位開關44控制所述第一連結控制卡40或所述第二連結控制卡50輸出一復位信號，並經所述中間板30傳送給所述15個測試裝置10。所述第一連結控制卡40及所述第二連結控制卡50用於控制經所述中間板30傳送給所述測試裝置陣列200的信號。
請一併參考圖2，其為本發明連結控制卡測試系統中每一測試裝置10的原理框圖，每一測試裝置10包括一微控制器12、一接口連接器14、一地址設定單元16、一第一接口18及一第二接口20。
所述微控制器12採用PIC18F6520晶片，其內部存儲一固件(Firmware)，用於控制周邊器件的工作，可支持兩個RS232串口。所述接口連接器14與所述微控制器12連接，滿足光纖通道硬碟接口SFF-8045規範，並具熱插拔功能。所述測試裝置陣列200的每一測試裝置10均通過所述接口連接器12與所述中間板30的第二端相連接。所述地址設定單元16與所述微控制器12連接。所述第一接口18與所述微控制器12相連接，其為RS232串口，用於將測試結果傳出。所述第二接口20與所述微控制器12相連接，亦為RS232串口，用於與相鄰的測試裝置10相連接。
本實施例中所述主機100通過所述接口102與所述測試裝置陣列200的連接方式如下所述主機100通過所述接口102與第一個測試裝置10的第一接口18相連，第一個測試裝置10的第二接口20與第二個測試裝置10的第一接口18相連，第二個測試裝置10的第二接口20與第三個測試裝置10的第一接口18相連，依此方法所述測試裝置陣列200中的其他測試裝置10均順序串接，不再重述。本實施例中所述主機100通過所述接口102亦可與所述第二個測試裝置10的第一接口18相連接，亦可與所述測試裝置陣列200中的其它測試裝置10相連接。
請一併參考圖3，其為本發明連結控制卡測試系統的較佳實施方式中每一測試裝置10的地址設定單元的電路圖。每一測試裝置10的地址設定單元16與所述微控制器12連接，所述地址設定單元16通過四個雙向開關J0、J1、J2及J3設置每一測試裝置10的四位地址A0、A1、A2、A3。當J0拔向腳位1時，A0設定為邏輯「1」；當J0撥向腳位3時，A0設定為邏輯「0」，所述J2、J3、J4的設置方法與J1一致，故不再重述，則地址輸入值依次可選取「0000」、「0001」、「0010」、「0011」、「0100」、「0101」、「0110」、「0111」、「1000」、「1001」、「1010」、「1011」、「1100」、「1101」、「1110」，即每一測試裝置10可設定地址範圍為0至14。
圖4為本發明連結控制卡測試系統的較佳實施方式中第一個測試裝置的硬體復位測試示意圖。以第一個測試裝置10進行硬體復位測試為例作說明，通過開啟所述復位開關44，所述第一連結控制卡40或所述第二連結控制卡50輸出DEV_CTRL_CODE
硬體復位信號，則第一個測試裝置10中通過所述接口連接器14將DEV_CTRL_CODE
硬體復位信號傳至所述微控制器12，所述微控制器12偵測所述第一連結控制卡40或所述第二連結控制卡50的硬體復位時序。所述測試裝置陣列200中的其它測試裝置10進行硬體復位測試的工作原理與此相同，不再重述。
圖5為本發明連結控制卡硬體復位測試方法的流程圖，其具體步驟如下設定所述測試裝置陣列200中15個測試裝置10的地址(步驟80)，每一測試裝置10分別對應一唯一地址，所述唯一地址均通過每一測試裝置10的地址設定單元16進行，即第一個測試裝置10設定的地址是「0000」，第二個測試裝置10設定的地址是「0001」，其它測試裝置10設定的地址如下表1所示。
表1 每一測試裝置10與其設定的地址對應關係表
所述測試裝置陣列200在上電時均偵測步驟S1所設定的15個地址，並將所述15個地址保存在對應測試裝置10的微控制器12中(步驟81)。如上表2所示，即第一個測試裝置10將地址「0000」保存在其微控制器12中，第二個測試裝置10將地址「0001」保存在其微控制器12中，第三個測試裝置10將地址「0010」保存在其微控制器12中，同理其它測試裝置10均將對應的地址保存在其微控制器12中。
所述主機100通過所述接口102發送一測試命令至所述測試裝置陣列200中的一測試裝置10(步驟82)。所述測試命令包含一測試所述第一連結控制卡40的硬體復位時序命令、一預設的標準硬體復位時序及一預設置地址，該預設置地址為「0000」至「1110」中的任何一個地址。
所述測試裝置10的第一接口18接收到上述測試命令，偵測該命令中的地址與其所保存的地址是否一致(步驟83)。
若不一致，則將所述測試命令傳至另一測試裝置10；則所述另一測試裝置10繼續偵測所述命令中的地址與其所保存的地址是否一致(步驟85)。若一致，則進行步驟84；若不一致，則繼續進行步驟85；依此所述測試裝置陣列200中的其它測試裝置10逐一進行偵測；當一致時，所述測試裝置10直接進行步驟84。
步驟84所述主機100顯示可開啟所述復位開關44的信息，則開啟所述復位開關44，所述復位開關44產生的控制信號使所述連結控制卡40輸出一復位信號，通過所述中間板30將所述復位信號傳送給所述測試裝置10。
步驟86所述測試裝置10的微控制器12將所述測試命令中所包含的標準硬體復位時序保存，並偵測所述第一連結控制卡40的硬體復位時序，然後與保存的標準硬體復位時序比較是否一致。若一致，則所述第一連結控制卡40與所述測試裝置10通信正常；若不一致，則所述第一連結控制卡40與所述測試裝置10通信不正常，所述測試裝置10將測試結果傳給所述主機200。
在步驟86中，所述測試結果經由最先接收測試命令的測試裝置10傳給所述主機100。當硬體復位測試是由最先接收測試命令的測試裝置10完成時，則測試結果是直接通過所述最先接收測試命令的測試裝置10傳給所述主機100；若測試結果不是由所述最先接收測試命令的測試裝置10完成時，則由完成所述測試結果的測試裝置10將所述測試結果傳送到所述最先接收測試命令的測試裝置10，再由所述最先接收測試命令的測試裝置10傳給所述主機100。
比如第三個測試裝置10在測試所述第一連結控制卡40時，測試結果是通過第三個測試裝置10的第一接口18傳給與其相鄰的第二個測試裝置10的第二接口20，第二個測試裝置10通過其第一接口18再傳給與其相鄰的第一個測試裝置10的第二接口20，最後第一個測試裝置10通過其第一接口18將測試結果傳給所述主機100，所述主機100通過所述接口102讀取測試結果。
上述以測試第一連結控制卡40的硬體復位特性為例來作說明，測試所述第二連結控制卡50的硬體復位特性的流程與其相同，不再重述。在測試所述第一連結控制卡40時，若所述主機100讀到15個測試裝置10的測試結果都正確，表明所述第一連結控制卡40可與所述15個測試裝置10正常通信。若其中有一個測試裝置10的測試結果不正確，則表明所述第一連結控制卡40與所述測試裝置10通信不正常。
上述在測試連結控制卡的工作特性時，使用測試裝置陣列來替代磁碟陣列，通過對連結控制卡進行硬體復位測試，確保連結控制卡的工作可靠性。
權利要求
1.一種連結控制卡測試系統，包括一主機、一中間板及一復位開關，所述中間板的一端與一連結控制卡相連接，所述復位開關用於復位所述連結控制卡，其特徵在於所述中間板的另一端與一測試裝置陣列相連接，所述主機與所述測試裝置陣列連接以發送測試命令及接收測試結果，所述復位開關控制所述連結控制卡輸出一復位信號，並經所述中間板傳送給所述測試裝置陣列，所述測試裝置陣列由若干個測試裝置組成，每一測試裝置包括一微控制器；一與所述微控制器連接的接口連接器，其通過所述中間板與所述連結控制卡相連接；一與所述微控制器相連接的地址設定單元，用於設定每一測試裝置在所述連結控制卡測試系統中的地址；一與所述微控制器相連接的第一接口，通過所述第一接口將測試結果傳出。
2.如權利要求1所述的連結控制卡測試系統，其特徵在於所述測試裝置陣列包括若干個順序串行連接的測試裝置。
3.如權利要求2所述的連結控制卡測試系統，其特徵在於每一測試裝置還包括一與所述微控制器相連接的第二接口，用於與相鄰的測試裝置相連接。
4.如權利要求3所述的連結控制卡測試系統，其特徵在於每兩相鄰測試裝置中的一測試裝置的第二接口與另一測試裝置的第一接口相連接。
5.如權利要求1所述的連結控制卡測試系統，其特徵在於所述主機通過一接口與所述測試裝置陣列中的一測試裝置的第一接口相連接。
6.如權利要求1所述的連結控制卡測試系統，其特徵在於所述中間板還連接另一連結控制卡，所述測試裝置陣列均通過所述中間板與所述另一連結控制卡相連接。
7.如權利要求1所述的連結控制卡測試系統，其特徵在於所述地址設定單元包括若干開關。
8.如權利要求7所述的連結控制卡測試系統，其特徵在於所述開關為雙向開關，所述地址設定單元包括四個雙向開關，其可設定的地址範圍是0至14。
9.一種連結控制卡測試方法，包括以下步驟設定一測試裝置陣列中每一測試裝置的地址；偵測每一測試裝置所設定的地址，並保存在對應測試裝置的微控制器中；一主機發送一測試命令至所述測試裝置陣列中的一測試裝置，所述測試命令包括一測試連結控制卡硬體復位時序命令、一預設的標準硬體復位時序及一預設置地址；所述測試裝置偵測所述測試命令中所包含的地址與其所保存的地址是否一致；若一致，則開啟一復位開關，所述復位開關控制一連結控制卡輸出一復位信號，通過一中間板將所述復位信號傳送給所述測試裝置；及所述測試裝置的微控制器將所述測試命令中所包含的標準硬體復位時序保存，並偵測所述連結控制卡的硬體復位時序，然後與保存的標準硬體復位時序比較是否一致，並將測試結果傳給主機。
10.如權利要求9所述的連結控制卡測試方法，其特徵在於所述測試裝置陣列包括若干順序串行連接的測試裝置。
11.如權利要求10所述的連結控制卡測試方法，其特徵在於若所述測試命令中所包含的地址與所述測試裝置所保存的地址不一致時，則所述測試裝置將所述測試命令傳至所述測試裝置陣列中與所述測試裝置串行連接的另一測試裝置，所述另一測試裝置繼續進行判斷所述測試命令中所包含的地址與其所保存的地址是否一致的步驟；若不一致，則重複前述步驟，若一致，則開啟所述部件地址復位開關。
12.如權利要求9所述的連結控制卡測試方法，其特徵在於所述測試裝置所偵測的連結控制卡的硬體復位時序與所述標準硬體復位時序一致時，則所述連結控制卡與所述測試裝置通信正常。
13.如權利要求9所述的連結控制卡測試方法，其特徵在於所述測試裝置所偵測的連結控制卡的硬體復位時序與所述標準硬體復位時序不一致時，則所述連結控制卡與所述測試裝置通信不正常。
14.如權利要求11所述的連結控制卡測試方法，其特徵在於所述測試結果是經由所述測試命令中所包含的地址與所保存地址一致的測試裝置傳至所述測試裝置，所述測試裝置再傳給所述主機。
全文摘要
一種連結控制卡測試系統，包括一主機、一中間板及一復位開關。所述中間板的一端與一連結控制卡相連接，其另一端與一測試裝置陣列相連接。所述主機與所述測試裝置陣列連接以發送測試命令及接收測試結果。所述復位開關控制所述連結控制輸出一復位信號，並經所述中間板傳送給所述測試裝置陣列。所述測試裝置陣列由若干個測試裝置組成，每一測試裝置包括一微控制器；一與所述微控制器連接的接口連接器，其通過所述中間板與所述連結控制卡相連接；一與所述微控制器相連接的地址設定單元，用於設定每一測試裝置在所述連結控制卡測試系統中地址；一與所述微控制器相連接的第一接口，通過所述第一接口將測試結果傳出。本發明還提供連結控制卡測試方法。
文檔編號G06F11/267GK1967497SQ20051010152
公開日2007年5月23日 申請日期2005年11月17日 優先權日2005年11月17日
發明者吳亢, 張威, 黃均, 丁黎 申請人:鴻富錦精密工業(深圳)有限公司, 鴻海精密工業股份有限公司