具有id識別ccd自動對位無針痕的電板測試治具的製作方法
2023-06-02 03:18:56 3
具有id識別ccd自動對位無針痕的電板測試治具的製作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種具有ID識別CCD自動對位無針痕的電板測試治具，包括針盤、線盤、治具連接底座、ID識別器及CCD感應板，其中，上述治具連接底座的上部為安裝平面，CCD感應板設置在該安裝平面上；上述線盤設置在治具連接底座的上部，線盤上設有針盤；上述ID識別器設置在治具連接底座的側部，ID識別器連接CCD感應板，CCD感應板感應線盤的移動信息，並將信息傳遞至ID識別器內儲存。本實用新型解決了傳統測試治具因測試的產品偏移造成無法測試的缺陷，達到單顆自動光學對位，提高測試精準度，大大降低了誤測率，可控制誤測率在2%以內。
【專利說明】具有ID識別CCD自動對位無針痕的電板測試治具
【技術領域】
[0001]本實用新型電路板檢測領域，特別指一種具有ID識別CCD自動對位無針痕的電板測試治具。
【背景技術】
[0002]隨著電子產品趨向於[短/小/輕/溥]，加上表面黏著技術的高度成長，使得印刷電路板(PCB)快速朝向高密度，細微線路的方向發展，但如今已出現量產後無法完成測試的預期效果，再加上高階PCB表面的處理方式多為:金面處理、PCB表面抗氧化保護膜處理，如果使用傳統測試治具會對PCB的表面造成損壞導致貼片工序無法很好的對位造成不易貼片或者貼片不良，有進行OSP表面處理的PCB如果針痕太深對保護膜造成的破壞，導致PCB表面氧化。
[0003]目前對無針痕測試治具有需求的PCB主要是軟板、軟金板，軟硬結合板面對測試針印的要求不斷提高，測試後用20-40倍放大鏡看測點，不允許有測試針印，主要應用領域是:柔性線路板、軟硬結合板、CSP產品等，使用普通測試治具無法滿足此要求。現有傳統測試治具的缺憾:傳統測試治具不具備CCD對位功能，印製偏移的產品無法通過治具進行測試；傳統測試治具不具備ID識別設備，不自動記載測試的具體數據信息及測試治具的測試壽命管控；傳統測試治具使用是彈簧針結構，一般使用20倍放大鏡可以看到明顯針痕，而該產品則使用線針結構，通過測試治具的調節板來調節探針的高度，再加上搭配設備使用伺服螺杆，可以精準對位及保證40倍放大鏡，看不到測試痕跡，便於後續SMT的貼裝工作；傳統測試治具只適合於單個小片成品測試，不適合大片測試；傳統治具由於使用定位PIN來定位待測試的產品，精度度有差且部分料號不適合做單顆測試，該產品無需定位PIN固定產品測試，通過脫料板搭配設備進行單顆測試，節約了治具的成本。
實用新型內容
[0004]本實用新型要解決的技術問題是針對上述現有技術的不足，提供一種具有ID識別CCD自動對位無針痕的電板測試治具。
[0005]本實用新型採取的技術方案如下:一種具有ID識別CCD自動對位無針痕的電板測試治具，包括針盤、線盤、治具連接底座、ID識別器及CCD感應板，其中，上述治具連接底座的上部為安裝平面，CCD感應板設置在該安裝平面上；上述線盤設置在治具連接底座的上部，線盤上設有針盤；上述ID識別器設置在治具連接底座的側部，ID識別器連接CCD感應板，CCD感應板感應線盤的移動信息，並將信息傳遞至ID識別器內儲存。
[0006]優選地，所述的CXD感應板上設有至少二個CXD感應點，以便感應線盤移動信息。
[0007]優選地，所述的針盤為雙層板體結構，針盤的兩個板體間隔設置，兩板體之間設有支柱，以便支撐。
[0008]優選地，所述的針盤內設有至少二個探針，探針穿插設置在針盤的兩板體之間，探針的頭部向外伸出，以便檢測電板。
[0009]優選地，所述的探針的下部連接有導電線，導電線連接在導電電極上，導電電極設置在線盤上，導電電極連接外設的電檢測裝置，以便將探針檢測的數據發送至電檢測裝置，進行電路檢測。
[0010]優選地，所述的線盤為板體結構，線盤的板體下部設有支柱，以便支撐，支柱固定設置在治具連接底座上。
[0011]本實用新型的有益效果在於:
[0012]本實用新型用於確認各種型式的電路板導通是否良好，該產品的特點是利用治具ID記憶所測試測信息，包括測試的壽命\測試過程的良品及不良品記錄。突破了傳統測試治具因測試的產品偏移造成無法測試，該產品測試面裝置了光學感應點，可以通過設備CCD進行自動單PCS對位，精準的完成測試，由於該產品是透過線性探針治具結構進行設計，可以突破40倍放大鏡看不到測試針痕，達到壽命100萬次的精準測試。本實用新型具有ID識別CCD自動對位無針痕通電測試治具的設計；治具的鑽孔技術，設備能力需要達到機械鑽孔最小直徑0.03mm ;精度在5um以內；治具檢測設備，需要孔位檢查，精度要求達到0.1um以內；具板材要求O公差，需使用高精度的加工中心進行；需支持測試設備CCD對位功能，更精準的進行測試；治具對清潔度的要求很高，需在無塵車間完成製作；治具脫料板測外觀尺寸的控制。本實用新型具備了治具ID，通過參數刻錄自動識別，減少了治具調試的時間，能夠自動讀取坐標值及治具的基本信息，如ID參數有誤時，設備不會動作，避免因手工輸入設備參數有誤導致的治具和設備損壞；具有CCD自動對功能，通過治具測試面板感應點，在調試參數設置感應點坐標，達到單顆自動光學對位，提高測試精準度，大大降低了誤測率，可控制誤測率在2%以內；該產品採取了線性針測試，提高了測試的穩定性，再加上使用私服馬達精準控制壓力，確保40倍放大鏡看不到針痕。而且最小探針直徑可達到40um;該產品測試方法採取脫料板及設備夾子固定產品測試，取消了傳統測試使用的定位PIN，提高了測試的精準度；該產品與設備連接方式非排線，而是特殊自製的BLOCK，點數可以根據實際製作型號的點數決定。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0013]圖1為本實用新型針盤的原理結構示意圖。
[0014]圖2為圖1中治具連接底座的結構示意圖。
[0015]圖3為圖1的側視圖。
[0016]圖4為圖3的裝配結構示意圖。
【具體實施方式】
[0017]下面將結合附圖對本實用新型作進一步描述:
[0018]如圖1至圖4所示，本實用新型採取的技術方案如下:一種具有ID識別CXD自動對位無針痕的電板測試治具，包括針盤1、線盤2、治具連接底座3、ID識別器4及CCD感應板5，其中，上述治具連接底座3的上部為安裝平面，CCD感應板5設置在該安裝平面上；上述線盤2設置在治具連接底座3的上部，線盤2上設有針盤I ;上述ID識別器4設置在治具連接底座3的側部，ID識別器4連接CXD感應板5，CXD感應板5感應線盤2的移動信息，並將信息傳遞至ID識別器4內儲存。
[0019]CXD感應板4上設有至少二個CXD感應點，以便感應線盤2移動信息。
[0020]針盤I為雙層板體結構，針盤I的兩個板體間隔設置，兩板體之間設有支柱，以便支撐。
[0021]針盤I內設有至少二個探針6，探針6穿插設置在針盤I的兩板體之間，探針6的頭部向外伸出，以便檢測電板。
[0022]探針6的下部連接有導電線7，導電線7連接在導電電極8上，導電電極8設置在線盤2上，導電電極8連接外設的電檢測裝置，以便將探針6檢測的數據發送至電檢測裝置，進行電路檢測。
[0023]線盤2為板體結構，線盤2的板體下部設有支柱，以便支撐，支柱固定設置在治具連接底座3上。
[0024]進一步，本實用新型利用治具ID記憶所測試測信息，包括測試的壽命\測試過程的良品及不良品記錄。突破了傳統測試治具因測試的產品偏移造成無法測試，該產品測試面裝置了光學感應點，可以通過設備CCD進行自動單PCS對位，精準的完成測試，由於該產品是透過線性探針治具結構進行設計，可以突破40倍放大鏡看不到測試針痕，達到壽命100萬次的精準測試。本實用新型具有ID識別CCD自動對位無針痕通電測試治具的設計；治具的鑽孔技術，設備能力需要達到機械鑽孔最小直徑0.03mm ;精度在5um以內；治具檢測設備，需要孔位檢查，精度要求達到0.1um以內；具板材要求O公差，需使用高精度的加工中心進行；需支持測試設備CCD對位功能，更精準的進行測試；治具對清潔度的要求很高，需在無塵車間完成製作；治具脫料板測外觀尺寸的控制。本實用新型具備了治具ID，通過參數刻錄自動識別，減少了治具調試的時間，能夠自動讀取坐標值及治具的基本信息，如ID參數有誤時，設備不會動作，避免因手工輸入設備參數有誤導致的治具和設備損壞；具有CCD自動對功能,通過治具測試面板感應點,在調試參數設置感應點坐標,達到單顆自動光學對位，提高測試精準度，大大降低了誤測率，可控制誤測率在2%以內；該產品採取了線性針測試，提高了測試的穩定性，再加上使用私服馬達精準控制壓力，確保40倍放大鏡看不到針痕。而且最小探針直徑可達到40um ;該產品測試方法採取脫料板及設備夾子固定產品測試，取消了傳統測試使用的定位PIN，提高了測試的精準度；該產品與設備連接方式非排線，而是特殊自製的BLOCK，點數可以根據實際製作型號的點數決定。
[0025]本實用新型的實施例只是介紹其【具體實施方式】，不在於限制其保護範圍。本行業的技術人員在本實施例的啟發下可以作出某些修改，故凡依照本實用新型專利範圍所做的等效變化或修飾，均屬於本實用新型專利權利要求範圍內。
【權利要求】
1.一種具有ID識別CXD自動對位無針痕的電板測試治具，其特徵在於:包括針盤(I)、線盤(2 )、治具連接底座(3 )、ID識別器(4)及CXD感應板(5 )，其中，上述治具連接底座(3 )的上部為安裝平面，CCD感應板(5)設置在該安裝平面上；上述線盤(2)設置在治具連接底座(3)的上部，線盤(2)上設有針盤(I);上述ID識別器(4)設置在治具連接底座(3)的側部，ID識別器(4)連接CXD感應板(5)，CXD感應板(5)感應線盤(2)的移動信息，並將信息傳遞至ID識別器(4)內儲存。
2.根據權利要求1所述的一種具有ID識別CCD自動對位無針痕的電板測試治具，其特徵在於:所述的CXD感應板(4)上設有至少二個CXD感應點，以便感應線盤(2)移動信息。
3.根據權利要求2所述的一種具有ID識別CCD自動對位無針痕的電板測試治具，其特徵在於:所述的針盤(I)為雙層板體結構，針盤(I)的兩個板體間隔設置，兩板體之間設有支柱，以便支撐。
4.根據權利要求3所述的一種具有ID識別CCD自動對位無針痕的電板測試治具，其特徵在於:所述的針盤(I)內設有至少二個探針(6)，探針(6)穿插設置在針盤(I)的兩板體之間，探針(6)的頭部向外伸出，以便檢測電板。
5.根據權利要求4所述的一種具有ID識別CCD自動對位無針痕的電板測試治具，其特徵在於:所述的探針(6)的下部連接有導電線(7)，導電線(7)連接在導電電極(8)上，導電電極(8)設置在線盤(2)上，導電電極(8)連接外設的電檢測裝置，以便將探針(6)檢測的數據發送至電檢測裝置，進行電路檢測。
6.根據權利要求5所述的一種具有ID識別CCD自動對位無針痕的電板測試治具，其特徵在於:所述的線盤(2)為板體結構，線盤(2)的板體下部設有支柱，以便支撐，支柱固定設置在治具連接底座(3)上。
【文檔編號】G01R31/02GK204256098SQ201420824917
【公開日】2015年4月8日 申請日期:2014年12月22日 優先權日:2014年12月22日
【發明者】蘇軍梅 申請人:深圳市芽莊電子有限公司