濾色片檢驗方法及濾色片檢驗裝置的製作方法
2023-05-28 05:31:51
專利名稱：濾色片檢驗方法及濾色片檢驗裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及濾色片檢驗方法及濾色片檢驗裝置，特別涉及濾色片的彩色層中的顯示不均勻(unevenness)的地方的檢驗。
背景技術：
近年來，人們對彩色液晶顯示裝置等薄型顯示裝置的需求在急劇上升。隨著需求的上升，人們強烈要求更高的顯示質量。這種顯示裝置包括濾色片，在該濾色片中，三原色即紅(R)、綠(G)及藍(B)色的彩色層排列成規定的圖案(pattern)。因此，若要提高顯示質量，就必須以很高的精度製造濾色片。
一般來講，作為所述濾色片的製造方法，染色法、噴墨法、印刷法及光刻法等方法已經被人們知道。在這些已知的濾色片製造方法中，因為光刻法能夠實現較少的工序數和很高的控制性及清晰度，所以光刻法至今成為主流。
在光刻法中，將彩色抗蝕劑(color resist)塗在襯底上，以形成彩色層，然後經由光罩用光對該彩色層進行曝光。之後，對被曝光了的彩色抗蝕劑進行顯像，以形成各有規定圖案的彩色層。這樣來製造濾色片。
若異物混進所述濾色片中，該異物本身會遮住顯示光，或者該異物會突出到液晶層等顯示媒體中，對顯示質量造成不良影響。因此，濾色片製造工序是在非常清潔的環境下付出很大的注意力進行的，以防異物混進彩色層中。然而，完全防止異物混進彩色層中是不可能的。
而且，也有可能發生下述情況，即該彩色層的一部分在製造工序的過程中剝掉，產生了缺陷部分。在這種情況下，透過該缺陷部分後的光不是被著色的，而是仍然保持從光源發出時的原樣。因此，透過該缺陷部分後的光，被觀察為漏光。
為了對付這個問題，下述辦法已經被人們知道，即進行檢驗製造出的濾色片中是否存在異物和缺陷部分的檢驗工序。例如，如圖5所示，下述方法已經被人們知道，即將白光射入到濾色片中，檢驗人員為了檢驗而觀察透過後的光。
就是說，在所述檢驗方法中，將濾色片103設置為它位於檢驗人員101與用以射出白光的光源102之間。在濾色片103中，形成有R的彩色層103r、G的彩色層103g及B的彩色層103b。所述彩色層103r，只讓所射入的白光中的在規定波長範圍內的紅光透過，再向檢驗人員一側射出該紅光。按照同樣的方式，彩色層103g只讓綠光透過；彩色層103b只讓藍光透過。若發現在所述彩色層103r、103g及103b的任一個彩色層中存在混進的異物或缺陷部分等，該存在的異物或缺陷部分等就被檢驗人員101觀察為異常射出光。
然而，在上述檢驗方法中，光從多個彩色層103r、103g及103b的各個彩色層中同時射出來。因此，比如說，即使缺陷部分產生在R的彩色層103r中，來自該彩色層103r的射出光變化，也難以正確、迅速地辨別出從該特定的彩色層射出來的光的變化。因此，為了可靠的檢驗而需要極長的時間，其結果是製造成本增高。
如圖6所示，下述辦法已經被人們知道，即在上述檢驗方法中，將檢驗用濾光片105設置在濾色片103與檢驗人員101之間(例如，參照專利文獻1)。檢驗用濾光片105，構成為讓在規定波長範圍內的光透過，並且以很大的程度遮住透過了所述紅、綠及藍色彩色層中的正常部分的光。透過了缺陷部分的光的波長範圍與整個可見光波長範圍一樣寬，能夠減少該光中被檢驗用濾光片105遮住的部分的比率。因此，透過了正常部分的光與透過了缺陷部分106的光之間的對比增加，因而能以簡單的辦法進行缺陷部分106的檢驗。
(專利文獻1)日本公開專利公報特開平5-99787號公報—本發明要解決的問題—作為光刻法，除了將液體彩色抗蝕劑塗在襯底上，以在襯底上設置彩色抗蝕層的方法以外，還有將彩色抗蝕膜貼在襯底上的方法(幹膜層壓(dry film lamination)法。也稱該方法為「DFL」)。根據DFL，與塗上彩色抗蝕劑的方法不同，不需要烘烤工序，能夠有利地減少工序數。
然而，在採用DFL的狀態下，有可能發生下述情況，即由於抗蝕膜自身的起伏和當貼上抗蝕膜時施加在抗蝕膜上的應力等，在彩色層中產生有顯示不均勻的地方。該顯示不均勻的地方是由於彩色層相互間的微量的厚度差距或彩色層相互間的開口率差距而產生的。
而且，彩色層中的顯示不均勻的地方不僅在採用上述DFL形成該彩色層時會產生，在利用塗上液體彩色抗蝕劑的方法形成該彩色層時也會產生。作為在上述兩種方法中同樣會產生的、顯示不均勻的地方，有由於顯像處理中的顯像不良而產生的，由於彩色層的圖案中的被蝕刻部分的變形而產生的，以及彩色層中的圖案間距和圖案寬度的不均勻而產生的。
為了改善顯示質量，確實地檢驗是否存在由於上述顯示的不均勻而產生的不良顯示是必不可少的。然而，因為與由於異物的混進和缺陷而產生的不良顯示相比，由於上述顯示的不均勻而產生的顯示不良更為輕微，所以難以檢驗是否存在這種顯示不均勻的地方。
為了對付所述問題，如在專利文獻1中所示，可以在檢驗人員與濾色片之間設置檢驗用濾光片。然而，與缺陷部分不同，因為射入的白光不保持著原樣透過，所以不能增大在彩色層中產生的顯示不均勻的部分與彩色層中的通常部分之間的對比。因此，難以確實地檢驗是否存在顯示不均勻的地方。
發明內容
本發明，正是為解決所述問題而研究開發出來的。其目的在於提供能以可靠且簡單的方式檢驗在濾色片的彩色層中是否存在顯示不均勻的地方，來提高顯示質量的濾色片檢驗方法及濾色片檢驗裝置。
—所述問題的解決方案—根據本發明，為了實現上述濾色片檢驗方法及濾色片檢驗裝置，使單色光射入到濾色片的彩色層中，以檢驗彩色層中是否存在顯示不均勻的地方。
具體而言，本發明所涉及的濾色片檢驗方法，是包括多個為多種顏色中的各種顏色而設置在透明襯底上的彩色層的濾色片的檢驗方法。該方法包括設置所述濾色片，使所述濾色片與光源相對的第一步驟，從所述光源射出顏色與所述濾色片中的所述多個彩色層所具有的多種顏色中的一種顏色相同的單色光，再使所述單色光射入到所述多個彩色層中的第二步驟，以及利用已透過所述彩色層的光檢驗所述彩色層中是否存在顯示不均勻的地方的第三步驟。
最好是這樣的，通過依次改變所述要射入到所述多個彩色層中的單色光，來使所述單色光的顏色與所述彩色層的各種顏色相同。
本發明所涉及的濾色片檢驗方法，是包括多個為多種顏色中的各種顏色而設置在透明襯底上的彩色層的濾色片的檢驗方法。所述方法包括設置所述濾色片，使所述濾色片與包括用來產生白光的發光部和單色濾光片的光源相對，該單色濾光片僅使在所述發光部產生的白光中的單色光透過該單色濾光片的第一步驟，從所述光源的所述單色濾光片射出顏色與所述濾色片中的所述彩色層所具有的多種顏色中的一種顏色相同的單色光，再使所述單色光射入到所述多個彩色層中的第二步驟，以及利用已透過所述彩色層的光檢驗所述彩色層中是否存在顯示不均勻的地方的第三步驟。
最好是這樣的，通過更換所述光源的所述單色濾光片來依次改變所述要射入到所述多個彩色層中的單色光，以使所述單色光的顏色與所述彩色層所具有的各種顏色相同。
最好是這樣的，從所述光源射出並透過了所述彩色層中的檢驗對象層的光中被從所述光源射出並透過了所述彩色層中的檢驗對象層以外的層的光幹擾的部分相對透過了所述檢驗對象層的光的比率，為大於或等於0％、且小於30％。
也可以是這樣的，透過了所述彩色層中的所述檢驗對象層的光的波長範圍，為590nm以上且780nm以下。此外，也可以是這樣的，透過了所述彩色層中的所述檢驗對象層的光的波長範圍，為515nm以上且585nm以下。
最好是這樣的，從所述光源射出的所述單色光，是波長在使所述彩色層中的檢驗對象層的透過率為10％以上的範圍內的光。
也可以是這樣的，透過了所述彩色層中的所述檢驗對象層的光的波長範圍，為580nm以上且685nm以下。此外，也可以是這樣的，透過了所述彩色層中的所述檢驗對象層的光的波長範圍，為475nm以上且605nm以下。此外，也可以是這樣的，透過了所述彩色層中的所述檢驗對象層的光的波長範圍，為385nm以上且535nm以下。
此外，濾色片檢驗裝置，包括用來支撐包括多個為多種顏色中的各種顏色而設置在透明襯底上的彩色層的濾色片的支撐部，和為所述多種顏色中的各種顏色而射出單色光，使所述單色光的顏色與所述多個彩色層中的各種顏色相同的光源。在所述濾色片檢驗裝置中，使從所述光源射出的所述單色光射入到所述彩色層中，以檢驗所述彩色層中是否存在顯示不均勻的地方。
—作用—根據本發明所涉及的濾色片檢驗方法，在檢驗是否存在顯示不均勻的地方時，首先在第一步驟中，設置濾色片，使該濾色片與光源相對。接著，在第二步驟中，從所述光源射出單色光，使所述單色光射入到所述濾色片的多個彩色層中。所述彩色層，是為各種顏色(例如，紅、綠及藍色)而設置在透明襯底上的。然後，使從所述光源射出的所述單色光的顏色，與所述彩色層所具有的顏色中的一種顏色相同。
之後，在第三步驟中，射入到所述多個彩色層中的單色光，透過彩色層中顏色與所述單色光所具有的顏色相同的彩色層。其結果是，能利用所述已透過的光，檢驗所述彩色層中顏色與所述單色光的顏色相同的彩色層中是否存在顯示不均勻的地方。在該情況下，因為透過濾色片的光是單色光，所以能以簡單的方式確實地檢驗與異物的混進和缺陷相比更難檢測到的、彩色層中的顯示不均勻的地方。
通過將所述單色光的顏色依次改變為所述彩色層所具有的顏色中的另一種顏色，能為所述彩色層所具有的顏色中的各種顏色而檢驗所述濾色片的所有彩色層。
在所述光源包括用以產生白光的發光部和單色濾光片時，在第二步驟中，只有在所述發光部產生的白光中的在規定波長範圍內的單色光透過所述單色濾光片，從整體來看，該單色光從所述光源射出來。從所述光源射出來的單色光，透過具有所述多種顏色中的一種顏色的彩色層，因而能夠檢驗所述單色光所透過的所述彩色層中是否存在顯示不均勻的地方。
對從所述光源射出並透過了所述彩色層中的檢驗對象層的光來說，若所述光中被從所述光源射出並透過了所述彩色層中的檢驗對象層以外的層的光幹擾的部分相對所述透過了所述檢驗對象層的光的比率為30％以上，被幹擾的部分就過多，因而難以靠視覺辨別所述透過後的光。因此，通過使所述被幹擾部分的比率為大於或等於0％、且小於30％，能以簡單的方式靠視覺辨別透過了所述彩色層中的檢驗對象層的光。因此，能確實地檢驗是否存在顯示不均勻的地方。
特別是，在透過了所述彩色層中的所述檢驗對象層的光是波長範圍為590nm以上且780nm以下的紅光、或者波長範圍為515nm以上且585nm以下的綠光時，能使所述被幹擾部分的比率為大於或等於0％、且小於30％。
若從所述光源向所述彩色層中的所述檢驗對象層射出的所述單色光的透過率小於10％，就很難以足夠高的水平靠視覺辨別透過了所述彩色層中的檢驗對象層的光。因此，通過規定從所述光源射出的單色光的波長範圍，使所述彩色層中的檢驗對象層的透過率為10％以上，能夠進行可靠的檢驗。
特別是，在透過所述彩色層中的檢驗對象層的光是波長範圍為580nm以上且685nm以下的紅光、波長範圍為475nm以上且605nm以下的綠光、或者波長範圍為385nm以上且535nm以下的藍光時，能使所述被幹擾部分的比率為10％以下。
在使用本發明所涉及的濾色片檢驗裝置的狀態下，在檢驗是否存在顯示不均勻的地方時，將濾色片設置在支撐部上，使所述支撐部支撐所述濾色片。之後，為各種顏色從所述光源射出的單色光，射入到所述濾色片的所述彩色層中。這樣，能為所述彩色層的各種顏色而檢驗所述彩色層中是否存在顯示不均勻的地方。
在所述光源包括用以產生白光的發光部和單色濾光片時，只有在所述發光部產生的白光中的在規定波長範圍內的單色光透過所述單色濾光片，從整體來看，該單色光從所述光源射出來。從所述光源射出的所述單色光，透過所述彩色層中的、具有多種顏色中的一種顏色的彩色層，因而能夠檢驗具有所述單色光所透過的顏色的彩色層中是否存在顯示不均勻的地方。
—發明的效果—根據本發明，通過使單色光射入到濾色片的彩色層中，就能對顏色與檢驗對象層所具有的顏色不同的光進行控制，使為檢驗所使用的光成為單色光。因此，能以簡單的方式確實地檢驗與異物的混進和缺陷相比更難檢測到的、彩色層中的顯示不均勻的地方，能夠提高顯示質量。
圖1，是示意性地表示本發明的第一實施例所涉及的檢驗方法及檢驗裝置的立體圖。
圖2，是表示具有筆記本色的彩色層的光譜透過率特性的曲線圖。
圖3，是表示具有顯示器色的彩色層的光譜透過率特性的曲線圖。
圖4，是示意性地表示本發明的第二實施例所涉及的檢驗方法及檢驗裝置的立體圖。
圖5，是示意性地表示用來檢驗異物混進部分或缺陷部分的、已知的檢驗方法的說明圖。
圖6，是示意性地表示用來檢驗缺陷部分的、已知的檢驗方法的說明圖。
具體實施例方式
下面，參照附圖，說明本發明的實施例。請注意，本發明並不限於下述實施例。
(第一實施例)圖1、圖2及圖3，是用以表示本發明的第一實施例所涉及的濾色片檢驗方法及濾色片檢驗裝置的圖。圖1，是示意性地表示第一實施例的檢驗裝置的立體圖。
如圖1所示，檢驗裝置1包括用以支撐濾色片10的支撐部20、和為了檢驗而將光射入到濾色片10中的光源30。
所述濾色片10，是例如用於液晶顯示裝置的。就是說，液晶顯示裝置包括在其上設置有多個薄膜電晶體(TFTthin film transistor)的TFT(薄膜電晶體)襯底、和設置為在與所述TFT襯底之間夾著液晶層與所述TFT襯底相對的相對襯底，省略圖示。所述濾色片10，設置在所述相對襯底上。所述液晶層，由TFT襯底上的TFT驅動，用透過濾色片10的射入光進行彩色顯示。
濾色片10包括多個彩色層11、12及13，所述多個彩色層11、12及13為多種顏色中的各種顏色而設置在玻璃襯底等透明襯底15上。具體而言，彩色層11是用來顯示紅色(R)的；彩色層12是用來顯示綠色(G)的；彩色層13是用來顯示藍色(B)的。所述彩色層11、12及13依次有規則地排列著。彩色層11、12及13中的各個彩色層，通過利用光刻法的圖案形成，由透明襯底15上的彩色抗蝕劑構成。
彩色層11、12及13是利用DFL(幹膜層壓法)形成的。就是說，例如，將呈紅色薄膜狀的彩色抗蝕劑施加著均一的張力貼在透明襯底15上。接著，經由光罩(未示)對透明襯底15進行曝光，使規定的圖案留在該透明襯底15上，之後對該圖案進行顯像，從而形成多個彩色層11。之後，為了綠色彩色層12和藍色彩色層13，以同樣的方式進行圖案形成。這樣，就能得到通過圖案形成形成了具有三種顏色的彩色層11、12及13的濾色片10。
本實施例的彩色層11、12及13具有如圖2和圖3所示的光譜透過率特性。在此，在圖2和圖3中，實線表示紅色(R)彩色層11的透過率；虛線表示綠色(G)彩色層12的透過率；長短交替虛線表示藍色(B)彩色層13的透過率。
圖2是表示用於筆記本電腦等的顯示面板中的彩色層(以下，稱為「筆記本色」)的特性的曲線圖。筆記本色具有能在維持顯示質量的狀態下使功耗減低的特性。另一方面，圖3是表示用於桌上型電腦等的顯示面板中的彩色層(以下，稱為「顯示器色」)的特性的曲線圖。顯示器色具有與筆記本色相比更多地重視再生顯示顏色的再現性(reproducibility)的特性。
支撐部20，由在中央部分具有開口部(未示)的板狀部件構成。濾色片10設置在支撐部20上，使得濾色片10的彩色層11、12及13對應於支撐部20的開口部，並且濾色片10的邊緣部位(框區域)，與支撐部20接觸著放置在支撐部20的支撐面中位於該開口部周圍的部分上。
光源30，構成為射出顏色與彩色層11、12及13的各種顏色相同的單色光，再將該單色光射入到濾色片10的彩色層11、12及13中。就是說，光源30包括作為單色光源起到作用的發光二極體(LEDlightemitting diode)，即多個紅色LED、多個綠色LED及多個藍色LED。在LED中，通過只使紅色LED導通，來射出具有紅色的單色光。同樣，通過只使綠色LED導通，來射出具有綠色的單色光；通過只使藍色LED導通，來射出具有藍色的單色光。通過改變要射入到多個彩色層11、12及13中的單色光的顏色，來依次使該單色光的顏色與彩色層11、12及13的各種顏色相同。在本實施例中，因為光源30包括三種顏色的LED，所以能使從光源30射出的單色光的顏色以簡單的方式變化。
檢驗人員40，隔著濾色片10，為每種顏色而從光源30的相反一側靠視覺對透過了濾色片10的光進行辨別，以檢驗各彩色層11、12及13中是否存在顯示不均勻的地方。
在該情況下，例如，最好是這樣的，紅色LED的發光特性是發光峰值在638nm處，並且半值寬為18nm；綠色LED的發光特性是發光峰值在560nm處，並且半值寬為15nm。此外，最好是這樣的，藍色LED的發光特性是發光峰值在385nm以上且465nm以下的範圍內。然而，對現在的通用光源來講，妥當的是發光峰值為468nm、半值寬為26nm。
此外，對從光源30射出並透過了彩色層11、12及13中的要檢驗的彩色層的光來講，該光中被從光源30射出來並透過了彩色層11、12及13中的檢驗對象之外的彩色層的光幹擾的部分相對整個透過了該檢驗對象的光的比率最好為大於或等於0％、且小於30％。若該光中被幹擾的部分佔整個透過了該檢驗對象的光的30％以上，透過了該檢驗對象的光中被透過了彩色層11、12及13中的檢驗對象之外的彩色層的光幹擾的部分就太多，因此難以靠視覺辨別顯示的不均勻。
就是說，最好是這樣的，如圖表1所示，向具有如圖2和圖3所示的特性(筆記本色和顯示器色)的彩色層11、12及13射出，並透過了作為檢驗對象的紅色(R)彩色層11的光的波長範圍，為590nm以上且780nm以下；透過了作為檢驗對象的綠色(G)彩色層12的光的波長範圍，為515nm以上且585nm以下；透過了作為檢驗對象的藍色(B)彩色層13的光的波長範圍，為380nm以上且480nm以下。這樣，就能使透過了檢驗對象層的光中被透過了所述彩色層中的不被檢驗的彩色層的光幹擾的部分的比率保持為大於或等於0％、且小於30％。
(圖表1)
再加上，如圖表1所示，最好是這樣的，被幹擾部分相對整個光的比率為大於或等於0％、且小於10％。就是說，最好是這樣的，在射入到具有如圖2和圖3所示的特性的彩色層11、12及13中的光中，透過了作為檢驗對象的紅色(R)彩色層11的光的波長範圍為620nm以上且635nm以下；透過了作為檢驗對象的綠色(G)彩色層12的光的波長範圍為545nm以上且575nm以下；透過了作為檢驗對象的藍色(B)彩色層13的光的波長範圍為385nm以上且465nm以下。
再加上，如圖表1所示，被幹擾部分的比率最好為大於或等於0％、且小於5％。就是說，最好是這樣的，在射入到具有如圖2和圖3所示的特性的彩色層11、12及13中的光中，透過了作為檢驗對象的紅色(R)彩色層11的光的波長範圍為640nm以上且670nm以下；透過了作為檢驗對象的綠色(G)彩色層12的光的波長範圍為555nm以上且570nm以下；透過了作為檢驗對象的藍色(B)彩色層13的光的波長範圍為445nm以上且465nm以下。這樣，就能使透過了檢驗對象的光中被透過了所述彩色層中的檢驗對象之外的彩色層的光幹擾的部分的比率保持為大於或等於0％、且小於5％。
此外，最好是這樣的，從光源30射出的單色光是波長在使彩色層11、12及13中的檢驗對象層的透過率為10％以上的範圍內的光。若從光源30射出來的單色光透過彩色層11、12及13中的檢驗對象層的透過率小於10％，就很難以足夠高的水平靠視覺辨別透過了所述彩色層11、12及13中的檢驗對象層的光。
就是說，如圖表2所示，最好是這樣的，在向具有如圖2和圖3所示的特性(筆記本色和顯示器色)的彩色層11、12及13射出的光中，透過了作為檢驗對象的紅色(R)彩色層11的光的波長範圍，為580nm以上且685nm以下；透過了作為檢驗對象的綠色(G)彩色層12的光的波長範圍，為475nm以上且605nm以下；透過了作為檢驗對象的藍色(B)彩色層13的光的波長範圍，為385nm以上且535nm以下。
(圖表2)
—檢驗方法—下面，說明本發明所涉及的濾色片檢驗方法。
本實施例所涉及的檢驗方法包括第一步驟、第二步驟及第三步驟。首先，在第一步驟中，如圖1所示，將濾色片10設置在支撐部20上，使濾色片10與光源30相對。這時，將濾色片10設置為讓彩色層11、12及13對應於支撐部20的開口部。
之後，在第二步驟中，從光源30射出顏色與彩色層11、12及13所具有的顏色(R、G及B)中的一種顏色相同的單色光，並使該單色光射入到多個彩色層11、12及13中。例如，首先，通過只使光源30的紅色LED導通，來從光源30射出具有紅色(R)的單色光。該從光源30射出來的、具有紅色的單色光，射入到具有各種顏色的彩色層11、12及13中的各個彩色層中，再從紅色(R)彩色層11射出去。
接著，在第三步驟中，檢驗人員40利用已透過彩色層11的光檢驗彩色層11中是否存在顯示不均勻的地方。就是說，在彩色層11中的任意部分產生有顯示不均勻的地方的情況下，該顯示不均勻的地方被靠視覺辨別為紅色透過光中的、不規則的明暗。
下面，說明在彩色層11、12及13中會產生的、顯示的不均勻。
本實施例所述的顯示的不均勻，即不是彩色層的中央部分已剝落的缺陷部分，又不是混進彩色層中的異物。就是說，顯示的不均勻，是由於彩色抗蝕劑厚度的微量的不均勻或彩色抗蝕劑的圖案面積偏差而產生的、開口率的不均勻。
由於抗蝕劑厚度的不均勻而產生的、顯示的不均勻，是下述原因會造成的，即抗蝕膜自身起伏、在貼上抗蝕膜時施加在該抗蝕膜上的張力不均勻、或者由於錯誤而將該膜設置為雙層等。由於開口率不均勻而產生的、顯示的不均勻，是下述原因會造成的，即顯像不良、彩色層圖案中的邊緣部分變形、或者彩色層的圖案間距或圖案寬度不均勻。
在檢驗了紅色彩色層11後，這樣再次進行第二步驟，即例如只使光源的綠色LED導通，射出綠色(G)的單色光。接著，在第三步驟中，檢驗人員40靠視覺辨別透過了綠色(G)彩色層12的透過光，以檢驗是否存在顯示不均勻的地方。之後，以與對紅色彩色層11及綠色彩色層12進行的檢驗一樣的方式，檢驗藍色(B)彩色層13。通過所述方法，為各種顏色而檢驗彩色層11、12及13。
—第一實施例的效果—根據第一實施例，通過使單色光射入到濾色片10的彩色層11、12及13中，能夠消除具有透過了檢驗對象層的光所具有的顏色之外的顏色的透過光，從而能用單色光進行檢驗。因此，能以簡單的方式確實地檢驗與異物的混進和缺陷相比更難檢測到的、彩色層11、12及13中的顯示不均勻的地方。其結果是，能夠提高顯示質量。
而且，根據第一實施例，使從光源30射出並透過了彩色層11、12及13中的檢驗對象層的光中被從光源30射出並透過了彩色層11、12及13中的檢驗對象之外的彩色層的光幹擾的部分相對透過了檢驗對象層的光的比率為大於或等於0％、且小於30％。因此，能靠視覺很準確地辨別透過了彩色層11、12及13中的檢驗對象層的光。因此，能以高精度進行檢驗。
而且，根據第一實施例，從光源30射出波長在使各彩色層11、12及13的透過率為10％以上的範圍內的單色光。這樣，就能以高亮度靠視覺辨別具有所希望的顏色的光。因此，能夠提高檢驗精度。
(第二實施例)圖4，是表示本發明的第二實施例所涉及的濾色片檢驗方法及檢驗裝置的立體圖。在以下的各實施例中，用相同的參照符號表示已經在第一實施例中所示的的各結構部分，從而省略該部分的說明。
如圖4所示，在本實施例中，光源30包括用以產生白光的發光部31和單色濾光片32，該單色濾光片32隻使在發光部31產生的光中的在規定波長範圍內的單色光透過。從整體來看，光源30射出單色光。
發光部31，例如由榮光燈等構成。作為單色濾光片32，紅色(R)單色濾光片由TS-R-62或TS-R-64(由常盤光學株式會社(TOKIWAOPTICAL CORPORATION)製造)構成；綠色(G)單色濾光片由TS-G-545(由常盤光學株式會社製造)構成；藍色(B)單色濾光片由TS-B-390或TS-B-440(由常盤光學公司製造)構成。光源30包括具有三種與彩色層11、12及13的各種顏色相同的顏色的單色濾光片32。通過更換單色濾光片32，改變該單色濾光片32的顏色，來每次射出具有紅色(R)、綠色(G)或藍色(B)的單色光。
這樣，如在第一實施例中說明的那樣進行第一步驟、第二步驟及第三步驟，以檢驗彩色層11中是否存在顯示不均勻的地方。
—第二實施例的效果—根據第二實施例，能夠得到與第一實施例一樣的效果。而且，因為單色濾光片32設置在檢驗裝置中，所以檢驗人員不需要反覆更換單色濾光片。因此，能以簡單的方式進行檢驗。
(其他實施例)在第一實施例中，設置了多個具有三種顏色即R、G及B的LED作為光源30。然而，本發明並不限於此。例如，也可以是這樣的，對用作螢光燈等的三波長燈管進行改良而使用它，來代替LED。就是說，該改良後的三波長燈管包括一對放電用電極、對在放電用電極相互間產生的放電發生反應而產生紫外線的氣體、以及在受到紫外線照射時發光的發光體，省略圖示。通常的三波長燈管射出白光，但是若改變發光體的特性，使該發光體僅射出在規定波長範圍內的光，就能夠構成射出具有R、G及B中的一種顏色的光的發光燈。這樣，通過設置多個R、G及B顏色的發光燈，代替第一實施例中的為各種顏色而設置的LED，就能夠得到為R、G及B中的各種顏色而射出單色光的光源。
—工業實用性—綜上所述，本發明對於為了檢驗在濾色片的彩色層中是否存在顯示不均勻的地方而採用的濾色片檢驗方法及濾色片檢驗裝置很有用，本發明特別是在以簡單的方式確實地檢驗顯示不均勻的地方來提高顯示質量的情況下，很適用。
權利要求
1.一種濾色片檢驗方法，該濾色片包括多個為多種顏色中的各種顏色而設置在透明襯底上的彩色層，其特徵在於包括第一步驟，設置所述濾色片，使所述濾色片與光源相對，第二步驟，從所述光源射出顏色與所述濾色片中的所述多個彩色層所具有的多種顏色中的一種顏色相同的單色光，再使所述單色光射入到所述多個彩色層中，以及第三步驟，利用已透過所述彩色層的光檢驗所述彩色層中是否存在顯示不均勻的地方。
2.根據權利要求1所述的濾色片檢驗方法，其特徵在於通過依次改變所述要射入到所述多個彩色層中的單色光，來使所述單色光的顏色與所述彩色層的各種顏色相同。
3.根據權利要求1所述的濾色片檢驗方法，其特徵在於從所述光源射出並透過了所述彩色層中的檢驗對象層的光中被從所述光源射出並透過了所述彩色層中的檢驗對象層以外的層的光幹擾的部分相對透過了所述檢驗對象層的光的比率，為大於或等於0％、且小於30％。
4.根據權利要求3所述的濾色片檢驗方法，其特徵在於透過了所述彩色層中的所述檢驗對象層的光的波長範圍，為590nm以上且780nm以下。
5.根據權利要求3所述的濾色片檢驗方法，其特徵在於透過了所述彩色層中的所述檢驗對象層的光的波長範圍，為515nm以上且585nm以下。
6.根據權利要求1所述的濾色片檢驗方法，其特徵在於從所述光源射出的所述單色光，是波長在使所述彩色層中的檢驗對象層的透過率為10％以上的範圍內的光。
7.根據權利要求6所述的濾色片檢驗方法，其特徵在於透過了所述彩色層中的所述檢驗對象層的光的波長範圍，為580nm以上且685nm以下。
8.根據權利要求6所述的濾色片檢驗方法，其特徵在於透過了所述彩色層中的所述檢驗對象層的光的波長範圍，為475nm以上且605nm以下。
9.根據權利要求6所述的濾色片檢驗方法，其特徵在於透過了所述彩色層中的所述檢驗對象層的光的波長範圍，為385nm以上且535nm以下。
10.一種濾色片檢驗方法，該濾色片包括多個為多種顏色中的各種顏色而設置在透明襯底上的彩色層，其特徵在於包括第一步驟，設置所述濾色片，使所述濾色片與包括用來產生白光的發光部和單色濾光片的光源相對，該單色濾光片僅使在所述發光部產生的白光中的單色光透過該單色濾光片，第二步驟，從所述光源的所述單色濾光片射出顏色與所述濾色片中的所述彩色層所具有的多種顏色中的一種顏色相同的單色光，再使所述單色光射入到所述多個彩色層中，以及第三步驟，利用已透過所述彩色層的光檢驗所述彩色層中是否存在顯示不均勻的地方。
11.根據權利要求10所述的濾色片檢驗方法，其特徵在於通過更換所述光源的所述單色濾光片來依次改變所述要射入到所述多個彩色層中的單色光，以使所述單色光的顏色與所述彩色層所具有的各種顏色相同。
12.根據權利要求10所述的濾色片檢驗方法，其特徵在於從所述光源射出並透過了所述彩色層中的檢驗對象層的光中被從所述光源射出並透過了所述彩色層中的檢驗對象層以外的層的光幹擾的部分相對透過了所述檢驗對象層的光的比率，為大於或等於0％、且小於30％。
13.根據權利要求12所述的濾色片檢驗方法，其特徵在於透過了所述彩色層中的所述檢驗對象層的光的波長範圍，為590nm以上且780nm以下。
14.根據權利要求12所述的濾色片檢驗方法，其特徵在於透過了所述彩色層中的所述檢驗對象層的光的波長範圍，為515nm以上且585nm以下。
15.根據權利要求10所述的濾色片檢驗方法，其特徵在於從所述光源射出的所述單色光，是波長在使所述彩色層中的檢驗對象層的透過率為10％以上的範圍內的光。
16.根據權利要求15所述的濾色片檢驗方法，其特徵在於透過了所述彩色層中的所述檢驗對象層的光的波長範圍，為580nm以上且685nm以下。
17.根據權利要求15所述的濾色片檢驗方法，其特徵在於透過了所述彩色層中的所述檢驗對象層的光的波長範圍，為475nm以上且605nm以下。
18.根據權利要求15所述的濾色片檢驗方法，其特徵在於透過了所述彩色層中的所述檢驗對象層的光的波長範圍，為385nm以上且535nm以下。
19.一種濾色片檢驗裝置，其特徵在於包括支撐部，用來支撐包括多個為多種顏色中的各種顏色而設置在透明襯底上的彩色層的濾色片，和光源，為所述多種顏色中的各種顏色而射出單色光，使所述單色光的顏色與所述多個彩色層中的各種顏色相同；使從所述光源射出的所述單色光射入到所述彩色層中，以檢驗所述彩色層中是否存在顯示不均勻的地方。
20.根據權利要求19所述的濾色片檢驗裝置，其特徵在於從所述光源射出並透過了所述彩色層中的檢驗對象層的光中被從所述光源射出並透過了所述彩色層中的檢驗對象層以外的層的光幹擾的部分相對透過了所述檢驗對象層的光的比率，為大於或等於0％、且小於10％。
21.根據權利要求19所述的濾色片檢驗裝置，其特徵在於從所述光源射出的所述單色光，是波長在使所述彩色層中的檢驗對象層的透過率為10％以上的範圍內的光。
22.一種濾色片檢驗裝置，其特徵在於包括支撐部，用來支撐包括多個為多種顏色中的各種顏色而設置在透明襯底上的彩色層的濾色片，和光源，包括用來產生白光的發光部和單色濾光片，該單色濾光片僅使在所述發光部產生的白光中的單色光透過該單色濾光片；使從所述光源射出的光射入到所述彩色層中，以檢驗所述彩色層中是否存在顯示不均勻的地方。
23.根據權利要求22所述的濾色片檢驗裝置，其特徵在於從所述光源射出並透過了所述彩色層中的檢驗對象層的光中被從所述光源射出並透過了所述彩色層中的檢驗對象層以外的層的光幹擾的部分相對透過了所述檢驗對象層的光的比率，為大於或等於0％、且小於10％。
24.根據權利要求22所述的濾色片檢驗裝置，其特徵在於從所述光源射出的所述單色光，是波長在使所述彩色層中的檢驗對象層的透過率為10％以上的範圍內的光。
全文摘要
濾色片檢驗方法包括第一步驟、第二步驟及第三步驟，在該第一步驟中，設置所述濾色片，使所述濾色片與光源相對；在該第二步驟中，從所述光源射出顏色與所述濾色片中的所述彩色層所具有的顏色中的一種顏色相同的單色光，再使所述單色光射入到所述多個彩色層中；在該第三步驟中，利用已透過所述彩色層的光檢驗所述各彩色層中是否存在顯示不均勻的地方。
文檔編號G01N21/958GK1993608SQ20058002553
公開日2007年7月4日 申請日期2005年7月22日 優先權日2004年7月30日
發明者白井亨, 小原安弘, 大嵜守英, 滝井健司 申請人:夏普株式會社