存儲卡讀寫信號測試裝置的製作方法

2023-05-27 22:46:06

專利名稱：存儲卡讀寫信號測試裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種測試裝置，特別涉及一種存儲卡讀寫信號測試裝置。
背景技術：
電子設備發展日新月異，功能越來越多，大部分電子產品支持各種各樣的存儲卡， 如Memory Stick (MS)、Multi Media Card (MMC)、Secure DigitalMemory (SD)、Compact Flash Card(CF)等。在對這些電子產品的印刷電路板上的存儲卡的讀寫信號進行測試時， 目前的測試方法是在電子產品的印刷電路板上引出線來進行測試，這種測試方法需要焊接測試點，給測試帶來不便，且焊接時容易短路，可能造成測試不準確。

發明內容
鑑於上述內容，有必要提供一種測試準確、使用方便的存儲卡讀寫信號測試裝置。一種存儲卡讀寫信號測試裝置，用於測試一待測印刷電路板的存儲卡讀寫信號， 所述存儲卡讀寫信號測試裝置包括一測試設備及一轉接卡，所述待測印刷電路板上包括一卡槽，所述測試設備包括一轉接卡槽、一開關單元及一存儲卡槽，所述開關單元包括若干開關，每一開關的兩端分別連接所述轉接卡槽中的一引腳及所述存儲卡槽中的一引腳，每一開關兩端的任意位置設備一測量點，所述轉接卡用於連接所述測試設備上的轉接卡槽與所述待測印刷電路板上的卡槽，所述測試設備上的存儲卡槽用於插接一存儲卡。相較現有技術，所述存儲卡讀寫信號測試裝置通過所述轉接卡及所述測試設備即可實現對待測印刷電路板上存儲卡讀寫信號的測試，而不需要在待測印刷電路板上焊接測試點，節省了測試成本，方便了測試。


下面參照附圖結合具體實施方式
對本發明作進一步的描述。圖1為本發明存儲卡讀寫信號測試裝置連接一待測印刷電路板及一存儲卡的較佳實施方式的方框圖。主要元件符號說明
測試設備100
待測印刷電路板200
轉接卡300
存儲卡400
卡槽210
基板310,101
接腳330,320
轉接卡槽110
開關單元120
存儲卡槽130開關121測量點12具體實施例方式請參照圖1，本發明存儲卡讀寫信號測試裝置用於測試一待測印刷電路板200的存儲卡讀寫信號，其較佳實施方式包括一測試設備100及一轉接卡300。所述待測印刷電路板200的印刷電路板上包括一卡槽210。所述轉接卡300包括一基板310。所述基板310的對應兩邊緣上分別設置若干接腳320、330(即俗稱的「金手指」)。所述測試設備100包括一基板101、一轉接卡槽110、一開關單元120及一存儲卡槽130。其中，所述開關單元120 包括若干開關121，通過選擇性的閉合所述開關121即可使插接在所述存儲卡槽130中的一存儲卡400與所述待測印刷電路板200進行通信。所述轉接卡槽110、所述開關121及所述存儲卡槽130均設置在所述基板101上。在本實施方式中，所述基板310及101均為印刷電路板。所述存儲卡槽130用於插接不同類型的存儲卡，如Memory Stick(MS)^Multi Media Card (MMC), Secure DigitalMemory (SD)、Compact Flash Card (CF)。針對每一類型的存儲卡選擇與所述存儲卡類型相同的轉接卡300。因為不同類型的存儲卡的外形及厚度不同，因此在測試時只需選擇與所述存儲卡類型相同的轉接卡130並根據所述存儲卡類型選擇性的閉合所述開關121即可通過所述測試設備100對待測印刷電路板200上不同類型的存儲卡的讀寫信號進行測試。所述轉接卡槽110中的每一引腳均通過一開關121連接所述存儲卡槽130中的一對應引腳。所述轉接卡300上的接腳320與所述測試設備100上的轉接卡槽110中的引腳一一對應，所述轉接卡300上的接腳330與所述待測印刷電路板200上的卡槽210中的引腳一一對應，所述轉接卡300上的接腳320與接腳330 —一對應連接。所述測試設備100 上的存儲卡槽130用於插接所述存儲卡400，所述存儲卡槽130上的引腳與所述存儲卡400 上的引腳一一對應，所述每一開關121兩端的任意位置設置一測量點122，一測量儀器的探針電性連接所述測量點122以在所述開關121閉合時通過所述卡槽210從所述待測印刷電路板200獲取待測存儲卡讀寫信號。測試時，首先選擇一種類型的存儲卡400插入所述存儲卡槽130中，並選擇與所述存儲卡400的類型對應的轉接卡300，再將所述轉接卡300上的接腳330插接入所述待測印刷電路板200上的卡槽210中，同時將所述轉接卡300上的接腳320插接入所述測試設備 100上的轉接卡槽110中，再根據選擇的存儲卡400的類型選擇性的閉合所述開關121以使所述存儲卡400與所述待測印刷電路板200進行通信，即可通過所述測量設備100上的測量點122對所述待測印刷電路板200上的對應所述存儲卡400的存儲卡讀寫信號進行測試。在測試待測印刷電路板200上的一存儲卡讀寫信號時，將所述測量儀器的探針連接至待測存儲卡讀寫信號對應的開關121兩端的測量點122，即可在所述測量儀器上獲得所述待測存儲卡讀寫信號的顯示結果，以便測試人員進行分析。測試所述印刷電路板200上其他類型的存儲卡的讀寫信號的原理與上述相同，在此不再贅述。所述存儲卡讀寫信號測試裝置通過所述轉接卡300及所述測試設備100即可實現對待測印刷電路板上不同類型的存儲卡讀寫信號進行測試，而不需要在待測印刷電路板上焊接測試點，節省了測試成本，方便了測試。
權利要求
1.一種存儲卡讀寫信號測試裝置，用於測試一待測印刷電路板的存儲卡讀寫信號，所述存儲卡讀寫信號測試裝置包括一測試設備及一轉接卡，所述待測印刷電路板上包括一卡槽，所述測試裝置包括一轉接卡槽、一開關單元及一存儲卡槽，所述開關單元包括若干開關，每一開關的兩端分別連接所述轉接卡槽中的一引腳及所述存儲卡槽中的一引腳，每一開關兩端的任意位置設置一測量點，用於電性連接一測量儀器，所述轉接卡用於連接所述測試設備上的轉接卡槽與所述待測印刷電路板上的卡槽，所述測試設備上的存儲卡槽用於插接一存儲卡。
2.如權利要求1所述的存儲卡讀寫信號測試裝置，其特徵在於所述測試裝置還包括一第一基板，所述轉接卡槽、所述開關及所述存儲卡槽均設置在所述第一基板上。
3.如權利要求1所述的存儲卡讀寫信號測試裝置，其特徵在於所述轉接卡包括一第二基板，所述第二基板的兩邊緣上分別設置若干第一接腳及若干第二接腳，所述轉接卡上的第一接腳與所述測試設備上的轉接卡槽中的引腳一一對應，所述轉接卡上的第二接腳與所述待測印刷電路板上的卡槽中的引腳一一對應。
4.如權利要求3所述的存儲卡讀寫信號測試裝置，其特徵在於所述第一及第二基板為印刷電路板。
全文摘要
一種存儲卡讀寫信號測試裝置，用於測試一待測印刷電路板的存儲卡讀寫信號，測試裝置包括測試設備及轉接卡，待測印刷電路板上包括卡槽，測試裝置包括轉接卡槽、開關單元及存儲卡槽，開關單元包括若干開關，每一開關的兩端分別連接轉接卡槽中的一引腳及存儲卡槽中的一引腳，每一開關兩端的任意位置設備一測量點，轉接卡連接所述測試設備上的轉接卡槽與待測印刷電路板上的卡槽，測試設備上的存儲卡槽用於插接一存儲卡。存儲卡讀寫信號測試裝置通過轉接卡及測試設備即可實現對待測印刷電路板上存儲卡讀寫信號的測試，而不需要在待測印刷電路板上焊接測試點，節省了測試成本，方便了測試。
文檔編號G11C29/56GK102403045SQ20101027705
公開日2012年4月4日 申請日期2010年9月9日 優先權日2010年9月9日
發明者徐鳳 申請人:鴻富錦精密工業(深圳)有限公司, 鴻海精密工業股份有限公司