一種弱地震反射特徵的碳酸鹽巖勘探方法及裝置的製作方法

2023-07-01 06:15:41 2

專利名稱：一種弱地震反射特徵的碳酸鹽巖勘探方法及裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及勘探領域，特別涉及一種弱地震反射特徵的碳酸鹽巖勘探方法及裝置。
背景技術：
在碳酸鹽巖對一定規模的孔洞密集發育帶、洞穴及 裂縫密集發育帶等有利儲層預測中(以方面描述，下文將孔洞密集發育帶、洞穴及裂縫密集發育帶等三種儲層類型統稱為有利儲層)，往往只重視「串珠」狀(強振幅)地震反射特徵，認為是有利儲層的地震響應特徵。近年勘探成果表明，中國西部盆地奧陶系碳酸鹽巖地層鑽探「串珠狀」地震反射成功率很高，探井的儲層鑽遇率可達90%以上。在現有技術中，碳酸鹽巖儲層識別主要採用均方根振幅屬性、振幅變化率屬性及分頻振幅屬性，儲層識別率高，效果好。但類似「串珠」強地震反射的勘探目標是有限的，研究表明，「串珠」目標平面展布面積僅為總有利勘探面積的8%，因此尋找串珠外的弱地震反射目標具有現實的勘探意義。但在實際鑽井過程中發現，弱振幅反射特徵地震剖面上沒有明顯的響應，無法直接對其進行識別。定井位沒有「目標」，制約了油田的勘探與生產。小級別儲層地震響應弱有一個重要的因素是疊加CRP (Common Reflection Point，共反射點道集)中的噪音對疊加效果產生負面影響。另外，在現有技術當中，疊加CRP道集主要是分角度或者分偏移距疊力口，疊加的用途是為了獲得彈性波阻抗做疊前反演。因此，目前急需解決如何尋找串珠外的弱地震反射目標的問題。

發明內容
本發明的目的是針對上述問題，提出一種弱地震反射特徵的碳酸鹽巖勘探方法及裝置，該技術方案區別於其它弱串珠識別方法的本質在於提高了目的層的地震波信噪比來強化弱振幅儲層的地震反射特徵。為實現上述目的，本發明提供了一種弱地震反射特徵的碳酸鹽巖勘探方法，包括獲取至少兩個井的碳酸鹽巖內幕風化殼目的層地震反射波的反子波；根據已知井標定的風化殼地震反射特徵獲取該井碳酸鹽巖內幕風化殼頂部的反射係數r(0)；將碳酸鹽巖內幕風化殼目標層地震解釋層位加載到共反射點道集上來獲取地震採樣點，並根據所述反子波和所述地震採樣點獲取目標層層位反射係數；比較所述碳酸鹽巖內幕風化殼頂部的反射係數與目標層層位反射係數來判斷目標層層位是否為優勢道；若判斷碳酸鹽巖內幕風化殼頂部的反射係數Ho)與目標層層位反射係數極性一致，則所述目標層層位為優勢道；將所述優勢道疊加來獲取地震數據體，根據獲取的地震數據體對具有弱地震反射特徵的碳酸鹽巖進行勘探。可選的，在本發明一實施例中，所述獲取至少兩個井的碳酸鹽巖內幕風化殼目的層地震反射波的反子波包括統計至少兩口井的碳酸鹽巖內幕風化殼目的層地震子波；根據碳酸鹽巖內幕風化殼目的層地震子波求取平均子波；將獲取的平均子波求逆獲取反子波。可選的，在本發明一實施例中，所述平均子波WAVK(t)為
權利要求
1.一種弱地震反射特徵的碳酸鹽巖勘探方法，其特徵在於，包括 獲取至少兩口井的碳酸鹽巖內幕風化殼目的層地震反射波的反子波； 根據已知井標定的風化殼地震反射特徵獲取該井碳酸鹽巖內幕風化殼頂部的反射係數 r(0)； 將碳酸鹽巖內幕風化殼目標層地震解釋層位加載到共反射點道集上來獲取地震採樣點，並根據所述反子波和所述地震採樣點獲取目標層層位反射係數； 比較所述碳酸鹽巖內幕風化殼頂部的反射係數與目標層層位反射係數來判斷目標層層位是否為優勢道；若判斷碳酸鹽巖內幕風化殼頂部的反射係數HO)與目標層層位反射係數極性一致，則所述目標層層位為優勢道； 將所述優勢道疊加來獲取地震數據體，根據獲取的地震數據體對具有弱地震反射特徵的碳酸鹽巖進行勘探。
2.根據權利要求I所述的方法，其特徵在於，所述獲取至少兩個井的碳酸鹽巖內幕風化殼目的層地震反射波的反子波包括 統計至少兩口井的碳酸鹽巖內幕風化殼目的層地震子波； 根據碳酸鹽巖內幕風化殼目的層地震子波求取平均子波； 將獲取的平均子波求逆獲取反子波。
3.根據權利要求2所述的方法，其特徵在於，所述平均子波WAVK(t)為
4.根據權利要求2所述的方法，其特徵在於，所述反子波f(t)為
5.根據權利要求I所述的方法，其特徵在於，所述將碳酸鹽巖內幕風化殼目標層層位加載到共反射點道集上來獲取地震採樣點，並根據所述反子波和所述地震採樣點獲取目標層層位反射係數包括 將碳酸鹽巖內幕風化殼目標層層位加載到共反射點道集上獲取地震採樣點； 將反子波與地震採樣點做褶積運算獲取目標層層位反射係數。
6.根據權利要求5所述的方法，其特徵在於，所述目標層層位反射係數為 e (t) = f (t) *x (t) 其中，e(t)為反射係數；x(t)為地震採樣點，f(t)為反子波。
7.根據專利要求I所述方法，其特徵在於，所述碳酸鹽巖內幕風化殼頂部的反射係數HO)與目標層層位反射係數e(t)滿足
8.根據權利要求I所述的方法，其特徵在於，所述地震數據體的表達式為 其中，Sik表示疊加後的地震數據體；fijk表示第k個共反射點道集中第j道的第i個採樣點，W#疊加權係數，Nik非零道的採樣點數，i表示時間採樣點數，j表示偏移距數，k表示共反射點道集的道集數。
9.一種弱地震反射特徵的碳酸鹽巖勘探裝置，其特徵在於，該裝置包括 反子波單元，用於獲取至少兩口井的碳酸鹽巖內幕風化殼目的層地震反射波的反子波； 第一反射係數單元，用於根據已知井標定的風化殼地震反射特徵獲取該井碳酸鹽巖內幕風化殼頂部的反射係數Ho)； 第二反射係數單元，用於將碳酸鹽巖內幕風化殼目標層地震解釋層位加載到共反射點道集上來獲取地震採樣點，並根據所述反子波和所述地震採樣點獲取目標層層位反射係數； 優勢道判斷單元，用於比較所述碳酸鹽巖內幕風化殼頂部的反射係數與目標層層位反射係數來判斷目標層層位是否為優勢道；若判斷碳酸鹽巖內幕風化殼頂部的反射係數r(0)與目標層層位反射係數極性一致，則所述目標層層位為優勢道； 勘探單元，用於將所述優勢道疊加來獲取地震數據體，根據獲取的地震數據體對具有弱地震反射特徵的碳酸鹽巖進行勘探。
10.根據權利要求I所述的裝置，其特徵在於，所述反子波單元包括 統計模塊，用於統計至少兩口井的碳酸鹽巖內幕風化殼目的層地震子波； 平均子波模塊，用於根據碳酸鹽巖內幕風化殼目的層地震子波求取平均子波； 求逆模塊，用於將獲取的平均子波求逆獲取反子波。
11.根據權利要求10所述的裝置，其特徵在於，所述平均子波模塊獲取的平均子波Wavk⑴為 其中，Wavk(O)表示平均子波WAVK(t)的頻域式，O)表示子波振幅譜， Φ￥(ω)表示相位譜，m表示子波個數，ω表示頻率域。
12.根據權利要求10所述的裝置，其特徵在於，所述求逆模塊獲取的反子波f(t)為其中，反子波f(t)的振幅與平均子波Wavk(t)的振幅譜互為倒數，反子波f(t)的相位譜與平均子波Wavk (t)的相位譜互為相反數。
13.根據權利要求9所述的裝置，其特徵在於，所述第二反射係數單元包括加載模塊，將碳酸鹽巖內幕風化殼目標層層位加載到共反射點道集上獲取地震採樣佔. 褶積模塊，用於將反子波與地震採樣點做褶積運算獲取目標層層位反射係數。
14.根據權利要求13所述的裝置，其特徵在於，所述褶積模塊獲取的目標層層位反射係數為 e (t) = f (t) *x (t) 其中，e(t)為反射係數；x(t)為地震採樣點，f(t)為反子波。
15.根據專利要求9所述裝置，其特徵在於，所述優勢道判斷單元中碳酸鹽巖內幕風化殼頂部的反射係數HO)與目標層層位反射係數e(t)滿足
16.根據權利要求9所述的裝置，其特徵在於，所述加載模塊獲取地震數據體的表達式為
全文摘要
本發明涉及一種弱地震反射特徵的碳酸鹽巖勘探方法及裝置，獲取至少兩口井的碳酸鹽巖內幕風化殼目的層地震反射波的反子波；根據已知井標定的風化殼地震反射特徵獲取該井碳酸鹽巖內幕風化殼頂部的反射係數；將碳酸鹽巖內幕風化殼目標層地震解釋層位加載到共反射點道集上來獲取地震採樣點，並根據所述反子波和所述地震採樣點獲取目標層層位反射係數；比較所述碳酸鹽巖內幕風化殼頂部的反射係數與目標層層位反射係數來判斷目標層層位是否為優勢道；若判斷碳酸鹽巖內幕風化殼頂部的反射係數與目標層層位反射係數極性一致，則所述目標層層位為優勢道；將所述優勢道疊加來獲取地震數據體，根據獲取的地震數據體對具有弱地震反射特徵的碳酸鹽巖進行勘探。
文檔編號G01V1/40GK102928879SQ201210429650
公開日2013年2月13日 申請日期2012年10月31日 優先權日2012年10月31日
發明者李闖, 高妍芳, 王宏斌 申請人:中國石油天然氣股份有限公司