基於niusb6251數據採集卡的弓網電參數檢測調試系統的製作方法

2023-06-23 10:00:46

專利名稱：基於ni usb6251數據採集卡的弓網電參數檢測調試系統的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種弓網電參數檢測調試系統，尤其是涉及基於NI USB6251數據採集卡的弓網電參數檢測調試系統。
背景技術：
高速弓網關係研究和設計是高速鉄路的關鍵技術，直接影響列車的運行速度和運行安全性。因此，需要在接觸網設計和受電弓設計的基礎上，結合大量的調試試驗數據進行弓網匹配關係研究和設計。離線是衡量高速弓網關係的重要指標，離線是指受電弓和接觸線產生的機械性脫開。離線時受電弓失壓，接觸線和受電弓間產生電弧；同時，離線時電壓波動產生畸變，將引起對無線電通信線路的幹擾。因此，離線是弓網關係中應極カ避免的有害現象，它可造成不穩定運行及弓網間的異常磨耗，燒熔接觸線等多方面的危害。硬點是接觸網懸掛弾性和質量不均勻狀態的統稱。如果接觸網懸掛和接觸線上的某些部分，如在跨距兩端的定位點處，弾性變差或有附加質量時，在列車高速運行情況下，這些部分就會出現異常的升高或降低，甚至出現撞弓、碰弓現象，也就是說在這些部位會出現カ、位置、速度或加速度的突然變化。形成這種現象的本徵狀態，稱為硬點。硬點會加快接觸導線和受電弓滑板的異常磨耗和撞擊性損傷，並常在硬點位置產生火花或拉弧，影響弓網間的正常接觸和受流，嚴重的硬點還會危及行車安全。弓網動態接觸力也是ー個影響弓網關係的重要指標。在受電弓和接觸線的滑動接觸過程中，若接觸力太小，則接觸電阻増大，功率損耗增加，受電弓運行起來還易產生離線和電弧，從而導致接觸導線和滑板的電磨耗増加；若接觸カ過大，又會使機械磨耗増加，甚至造成滑板局部拉槽，進而造成接觸導線彈跳拉弧，以致刮弓。由此可見，離線、電弧、弓網動態接觸力是評價和控制受流質量的重要條件和內容，在受電弓接觸網試驗中，檢測這些參數顯得尤為重要。

發明內容
本發明的目的在於提供一種基於NI USB6251數據採集卡的弓網電參數檢測調試系統。為解決上述技術問題，本發明是通過以下技術方案實現的
本發明包括泛華測控nextpad信號發生器，NI SCC-68前端信號調理裝置，NI USB6251數據採集卡和Iabview上位機信號處理系統；將已記錄的弓網電參數數據的文本文件，寫入泛華測控nextpad信號發生器，使泛華測控nextpad信號發生器產生任意波模擬電信號經過NI SCC-68前端信號調理裝置接入NI USB6251數據採集卡，通過NI USB6251數據採集卡的高頻採集，再接入Iabview上位機信號處理系統，實現實時信號的分析，顯示，存儲。所述的NI SCC-68前端信號調理裝置能將模擬信號隔離消噪成NI USB6251數據採集卡所能處理的幅值為正負IOV的電壓信號。
與背景技術相比，本發明具有的有益效果是
本發明首次將現代信號處理技術應用於弓網受流的電參數檢測調試上，充分利用了傅立葉變換對信號的頻域分析處理能力。通過對弓網運行過程中，已記錄的弓網文本數據的模擬，將此模擬信號，然後通過NI SCC-68前端信號調理裝置，最終經過NI USB6251數據採集卡的高頻採集，在上位機完成數據分析處理顯示存儲。為弓網信號調試系統提供了便利。


附圖是本發明基於NI USB6251數據採集卡的弓網電參數檢測調試系統的原理方框圖。附圖中I、泛華測控nextpad信號發生器，2、NI SCC-68前端NI SCC-68前端信號調理裝置，3、NI USB6251數據採集卡，4、Iabview上位機信號處理系統。
具體實施例方式下面結合附圖及具體實施例對本發明作進ー步說明。如附圖所示，本發明包括泛華測控nextpad信號發生器1，NI SCC-68前端信號調理裝置2，NI USB6251數據採集卡3和Iabview上位機信號處理系統4 ;將已記錄的弓網電參數數據的文本文件，寫入泛華測控nextpad信號發生器1，使泛華測控nextpad信號發生器產生任意波模擬電信號經過NI SCC-68前端信號調理裝置2接入NI USB6251數據採集卡3，通過NI USB6251數據採集卡3的高頻採集，再接入Iabview上位機信號處理系統4，實現實時信號的分析，顯示，存儲。所述的泛華測控nextpad信號發生器I能模擬任意波信號，能讀取最大4096個數據點組成的文本文件，並產生相應的模擬信號。所述的NI SCC-68前端信號調理裝置2能將模擬信號隔離消噪成NI USB6251數據採集卡3所能處理的幅值為正負IOV的電壓信號。本發明的工作過程如下
包括泛華測控nextpad信號發生器，NI SCC-68前端信號調理裝置，NI USB6251數據採集卡，Iabview上位機信號處理系統,泛華測控nextpad信號發生器可發送幅值為正負4V的12位任意波模擬電信號，NI SCC-68前端信號調理裝置用於濾除信號採集過程中附加的各種噪聲，NI USB6251數據採集卡能精確的採集信號的時域特徵，採樣頻率達到I. 25Mhz,Iabview上位機信號處理系統能將NI USB6251數據採集卡得到的時域信號完整地顯示在上位機界面上，並分析其頻域特徵。所述的泛華測控nextpad信號發生器能模擬任意波信號，能讀取最大4096個數據點組成的文本文件，並產生相應的模擬信號。所述的NI SCC-68前端信號調理裝置能將權利要求2所述的模擬信號隔離消噪成NI USB6251數據採集卡所能處理的幅值為正負IOV的電壓信號。所述的Iabview上位機信號處理系統，可實現實時信號的分析，顯示，存儲及相關參數設置。
權利要求
1.一種基於NI USB6251數據採集卡的弓網電參數檢測調試系統，其特徵在幹包括泛華測控nextpad信號發生器(1)，NI SCC-68前端信號調理裝置(2)，NI USB6251數據採集卡(3)和Iabview上位機信號處理系統(4);將已記錄的弓網電參數數據的文本文件，寫入泛華測控nextpad信號發生器(I)，使泛華測控nextpad信號發生器產生任意波模擬電信號經過NI SCC-68前端信號調理裝置(2)接入NI USB6251數據採集卡(3)，通過NI USB6251數據採集卡(3)的高頻採集，再接入Iabview上位機信號處理系統(4)，實現實時信號的分析，顯示，存儲。
2.根據權利要求I所述的ー種基於NIUSB6251數據採集卡的弓網電參數檢測調試系統，其特徵在於所述的泛華測控nextpad信號發生器(I)能模擬任意波信號，能讀取最大.4096個數據點組成的文本文件，並產生相應的模擬信號。
3.根據權利要求I所述的ー種基於NIUSB6251數據採集卡的弓網電參數檢測調試系統，其特徵在於所述的NI SCC-68前端信號調理裝置(2)能將模擬信號隔離消噪成NIUSB6251數據採集卡(3)所能處理的幅值為正負IOV的電壓信號。
全文摘要
本發明公開了一種基於NIUSB6251數據採集卡的弓網電參數檢測調試系統。將已記錄的弓網電參數數據的文本文件，寫入泛華測控nextpad信號發生器，使泛華測控nextpad信號發生器產生任意波模擬電信號經過NISCC-68前端信號調理裝置接入NIUSB6251數據採集卡，通過NIUSB6251數據採集卡的高頻採集，再接入labview上位機信號處理系統，實現實時信號的分析，顯示，存儲及相關參數設置。本發明將現代信號處理技術應用於弓網受流的電參數檢測調試上，充分利用了傅立葉變換對信號的頻域分析處理能力。為弓網信號調試系統提供了便利。
文檔編號G01R31/00GK102645601SQ201210151510
公開日2012年8月22日 申請日期2012年5月16日 優先權日2012年5月16日
發明者盧琴芬, 方攸同, 馬吉恩, 黃曉豔 申請人:浙江大學