功率器件高溫反偏試驗系統的製作方法
2023-06-20 16:27:06 1
專利名稱：功率器件高溫反偏試驗系統的製作方法
技術領域：
本實用新型設計一種實驗室用可靠性評測裝置，具體為功率器件高溫反偏試驗裝置。
背景技術：
現有用於測試電晶體的高溫反偏試驗裝置由高溫烘箱、偏置板、反偏電源及其控制、顯示系統等部分組成。該裝置包括電源、主控制系統、輔助控制系統、計算機、顯示器、接插件、偏置板、恆溫室，集中一起，設備體積龐大，價格昂貴，對於安裝場所進門大小和高度有特殊要求，所以該裝置使用條件受到很大制約。同時由於高溫反偏性能是評估半導體功率器件可靠性的一項重要試驗，所以無論產品製造方還是用戶，工程師門都需要有一套研究開發使用的高溫反偏試驗系統。
發明內容針對上述技術問題，本發明提供的高溫反偏試驗系統，體積小，尤其適用於實驗室使用，具體的技術方案為功率器件高溫反偏試驗系統，包括烘箱、電晶體特性圖示儀、被測器件插座板，被測器件插座板通過高溫導線與電晶體特性圖示儀電源輸出埠連接，所述的被測試器件插座板至於烘箱內。電晶體特性圖示儀既是反偏試驗的電源，又是反偏試驗結果的顯示裝置，被測器件插座板的底板為印刷線路板，印刷線路板上分布有高壓線和接地線，線路板上連接有被測器件保護電阻和與被測器件匹配的插座。常溫下或者高溫下，當被測器件為肖特基二極體、快恢復二極體、雙極電晶體、金屬氧化物場效應電晶體和絕緣柵雙極電晶體時，將被測器件插在被測器件插座板上，只要調節電晶體特性圖示儀上輸出電壓為試驗規定電壓，電晶體特性圖示儀顯示屏就會顯示被測器件的反向漏電流曲線。如果顯示屏上顯示的是直線，則表示被測器件合格，如果是曲線，則表明被測器件中存在失效的產品。常溫下或者高溫下，當被測器件為穩壓集成電路時，將被測器件插在被測器件插座板上，只要調節電晶體特性圖示儀上輸出電壓為試驗規定電壓，電晶體特性圖示儀顯示屏就會顯示被測器件的穩壓曲線，則表示被測器件合格，如果不是穩壓曲線，則表明被測器件中存在失效的廣品。本發明提供的小型高溫功率器件反偏試驗系統，體積小，操作方便，經濟實惠。根據試驗溫度和時間，就能定性或定量評價產品性能指標。
圖1，本實用新型結構示意圖；圖2，本實用新型的被測器件插座板結構示意圖。
具體實施方式
如圖1，功率器件高溫反偏試驗系統，包括烘箱I、電晶體特性圖示儀2、被測器件插座板3，被測器件插座板3通過高溫導線4與電晶體特性圖示儀2電源輸出埠連接，如圖2所示，所述的被測器件插座板3，底板為印刷線路板3-1，印刷線路板3-1上分布有高壓線3-4和接地線3-5，線路上連接有保護電阻3-3和與被測器件匹配的插座3-2，所述的被測試器件插座板3至於帶溫度自動控制烘箱I內。試驗時，所需要的500V至2000V的高壓偏置電壓由電晶體特性圖示儀2上的高壓輸出端2-1提供，500V以下偏置電壓由電晶體特性圖示儀2上的集電極-發射極電壓2-2提供，被測器件5按電極極性插入被測器件插座板3上，被測器件插座板3與電晶體特性圖示儀2的偏置電源的連接使用高溫導線4。常溫下測試D13003這樣的常用開關電晶體，將被測器件5插在被測器件插座板3上，只要調節電晶體特性圖示儀2上輸出電壓為試驗規定電壓600V反偏電壓時，反向漏電流應該小於10 μ A，電晶體特性圖示儀顯示屏2-3就會顯示被測器件的反向漏電流曲線2-3-1直線。如果顯示的是2-3-2那樣曲線，說明該器件在規定的600V反偏電壓下，漏電流已經嚴重超標(>> ΙΟμΑ)，則表明被測器件5中存在失效的產品，需要排查原因。常溫下測試正常的情況下，再將帶有被測器件5的被測器件插座板3放入烘箱I中，並將烘箱I溫度升至140°C 160°C，電晶體特性圖示上顯示屏2-3的曲線就會發生變化。對於D13003這樣的常用開關電晶體，產品規範是環境溫度140°C時，600V反偏漏電流小於50 μ Α,實際只有Γ3 μ Α,所以即使在140°C烘箱中，只有一個產品時，由於一般電晶體特性圖示議顯示靈敏度在5 μ A以上，所以在顯示屏2-3出現的曲線仍然如2-3-1那樣的一根直線，但是如果有幾十個到數百個產品並聯反偏試驗時，只要有一個產品反向漏電流增大或超標，在顯示屏2-3出現的曲線，就不是如2-3-1那樣的一根直線，而是出現2-3-2那樣的曲線。說明被檢測器件5中有不合格的產品。
權利要求1.功率器件高溫反偏試驗系統，其特徵在於，包括烘箱、電晶體特性圖示儀、被測器件插座板，被測器件插座板通過高溫導線與電晶體特性圖示儀電源輸出埠連接，所述的被測試器件插座板置於烘箱內。
2.根據權利要求I所述的功率器件高溫反偏試驗系統，其特徵在於，所述的被測器件插座板的底板為印刷線路板，印刷線路板上分布有高壓線和接地線，線路板上連接有被測器件保護電阻和與被測器件匹配的插座。
專利摘要本實用新型涉及一種實驗室用功率器件可靠性評測裝置，具體為功率器件高溫反偏試驗系統。其特徵在於，包括烘箱、電晶體特性圖示儀、被測器件插座板，電晶體特性圖示儀既是反偏試驗的電源，又是反偏試驗結果的顯示裝置，被測器件插座板通過高溫導線與電晶體特性圖示儀電源輸出埠連接，所述的被測試器件插座板至於烘箱內。本實用新型提供的小型高溫反偏試驗系統，體積小，操作方便，經濟實惠。根據試驗溫度和時間，就能定性或定量評價產品性能指標。
文檔編號G01R31/26GK202631688SQ20122020968
公開日2012年12月26日 申請日期2012年5月11日 優先權日2012年5月11日
發明者趙振華 申請人:無錫羅姆半導體科技有限公司, 趙振華