B2B連接器無損下針測試裝置的製作方法

2023-06-13 12:18:56

本申請涉及B2B連接器質量測試技術領域，尤其是一種B2B連接器無損下針測試裝置。

背景技術：

常用的B2B連接器(board to board板到板連接器)，通常包括連接器本體和本體上設置的多個PIN針(或稱連接端子)。連接端子之間連接有導線。在將連接端子安裝在連接器本體過程中，存在損壞的風險。越是小型化的連接器，安裝過程中連接端子損壞的風險就越高。損壞的情況有可能是連接端子與導線脫離連接，也有可能是連接端子未安裝到位。無論是那種損壞，都會影響連接器的正常使用。

因此，需要對B2B連接器進行測試，以測試連接器的連接端子是否安裝正確，是否可以正常導電等等。

現有技術中，對B2B連接器進行測試時，均使用測試針的軸向最端部接觸連接器。若要保證測試針與連接器的充分接觸，必須具有足夠大的出針量。由於測試針與連接器的接觸點為測試針的軸向最端部，大的出針量在很大程度上損壞了連接器的結構。

目前客戶對產品的品質要求逐漸提高，並要求測試環境下的B2B連接器無損壞。針對這一要求，現有的做法是，通過減少測試壞境中出針量來實現。然而，減少出針量致使測試針不能和B2B連接器充分的接觸，導致測試的不穩定和誤測，而需要重測，是產品成本增加和浪費。

技術實現要素：

本申請的目的是：針對上述問題，提出一種B2B連接器無損下針測試裝置，在保證B2B連接器測試準確度的同時，還能夠保證B2B連接器在測試過程中不會被測試針損壞。

為了達到上述目的，本申請的技術方案是：

本申請提供的這種B2B連接器無損下針測試裝置，包括測試定位器件，所述測試定位器件的頂部制有用於定位被測連接器位置的連接器定位槽，所述連接器定位槽的槽底貫通開設有若干個豎直向下延伸的、用於定位插設測試針的插針孔；所述連接器定位槽和插針孔的位置如此設置：當所述被測連接器被定位放置於所述連接器定位槽中，所述測試針自下而上貫通插入所述插針孔中並與所述被測連接器相牴觸後，僅保證所述測試針徑向側部與所述被測連接器上的PIN針接觸連接。

在本申請的一些優選實施例中，所述連接器定位槽和插針孔的位置如此設置：當所述被測連接器被定位放置於所述連接器定位槽中，所述測試針自下而上貫通插入所述插針孔中並與所述被測連接器相牴觸後，僅保證所述測試針頂端的徑向側部與所述被測連接器上的PIN針的徑向側部接觸連接。

所述插針孔一般至少設置有兩個。

所述連接器定位槽一般為矩形槽。

本申請的優勢在於：

1、由於在測試過程中，測試針與被測連接器的接觸面為測試針的徑向側部，而非「針尖端」，當出針量增加時，測試針可輕易滑過被測連接器的表面，而不會損壞被測連接器的結構。

2、進一步地，被測連接器上PIN針與測試針的接觸面為PIN針的徑向側面，當出針量增加時，測試針與被測連接器上PIN針的接觸面積增大，進而在保證測試準確性的同時，還能夠滿足客戶對產品品質的要求，同時也不會造成資源的浪費，由可以降低產品的成本。

附圖說明

圖1為本申請實施中測試方法及測試裝置的示意圖。

其中：1-測試定位器件，1a-連接器定位槽，1b-插針孔，2-測試針，3-被測連接器，3a-PIN針。

具體實施方式

下面通過具體實施方式結合附圖對本申請作進一步詳細說明。本申請可以以多種不同的形式來實現，並不限於本實施例所描述的實施方式。提供以下具體實施方式的目的是便於對本申請公開內容更清楚透徹的理解，其中上、下、左、右等指示方位的字詞僅是針對所示結構在對應附圖中位置而言。

然而，本領域的技術人員可能會意識到其中的一個或多個的具體細節描述可以被省略，或者還可以採用其他的方法、組件或材料。在一些例子中，一些實施方式並沒有描述或沒有詳細的描述。

此外，本文中記載的技術特徵、技術方案還可以在一個或多個實施例中以任意合適的方式組合。對於本領域的技術人員來說，易於理解與本文提供的實施例有關的方法的步驟或操作順序還可以改變。因此，附圖和實施例中的任何順序僅僅用於說明用途，並不暗示要求按照一定的順序，除非明確說明要求按照某一順序。

參照圖1所示，本實施例所公開的這種B2B連接器無損下針測試方法，其相比於傳統測試方法的關鍵改進在於：在測試時，僅使測試針2的徑向側部與被測連接器3(B2B連接器，本實施例中該被測連接器3具體為手機連接器)上的PIN針3a接觸連接。

由於在測試過程中，測試針2與被測連接器3的接觸面為測試針的徑向側部，而非「針尖端」，當出針量增加時，測試針2可輕易滑過被測連接器3的表面，而不會損壞被測連接器3的結構，進而在保證測試準確性的同時，還能夠滿足客戶對產品品質的要求，同時也不會造成資源的浪費，由可以降低產品的成本。

為了保證測試針2與被測連接器3上PIN針3a具有足夠大的接觸面積，同時保證在測試針出針量增大時，二者的接觸面積也隨之增大，在測試時，最好使PIN針3a與測試針2的接觸部位為PIN針3a的徑向側部，如圖1。也就是說，在測試時，僅使測試針2的徑向側部與被測連接器3上的PIN針3a的徑向側部接觸連接。

為了進一步減小測試針2對被測連接器3的測試損傷，本實施例將所述測試針2的探測端設置成外凸的半球型結構，並在測試時，僅使測試針2探測端的徑向側部與被測連接器3上的PIN針3a接觸連接，如圖1。

為了便於上述測試方法的實施例，本實施例還提供了一種B2B連接器無損下針測試裝置，其結構如圖1所示。該裝置包括一個測試定位器件1，測試定位器件1的頂部制有用於定位被測連接器3位置的連接器定位槽1a，連接器定位槽1a的槽底貫通開設有多個(一般至少為兩個)豎直向下延伸的、用於定位插設測試針2的插針孔1b。插針孔1b用於定位測試針2的插針方向。

所述連接器定位槽1a和插針孔1b的位置如此設置：當所述被測連接器3被定位放置於所述連接器定位槽1a中，所述測試針2自下而上貫通插入所述插針孔1b中並與所述被測連接器3相牴觸後，僅保證所述測試針2徑向側部與所述被測連接器3上的PIN針3a接觸連接(言外之意，測試針的軸向尖端不會與被測連接器接觸)。

具體地，所述連接器定位槽1a和插針孔1b的位置如此設置：當所述被測連接器3被定位放置於所述連接器定位槽1a中，所述測試針2自下而上貫通插入所述插針孔1b中並與所述被測連接器3相牴觸後，僅保證所述測試針2頂端的徑向側部與所述被測連接器3上PIN針3a的徑向側部(而非PIN針的尖端部位)接觸連接。

參照圖1所示，實際應用時，首先將被測連接器3定位放置於連接器定位槽1a中，並使被測連接器3上的PIN針3a朝下布置。然後將測試針2自下而上插入插針孔1b中並使其繼續向上移動，當測試針2頂端的徑向側部接觸到PIN針3a後，測試針2停止上移，便可進行測試。若想增大測試針2與PIN針3a的接觸面積，以提高測試準確度，可繼續上移測試針2。由於測試針2與被測連接器3的接觸面為測試針的徑向側部，而被測連接器3上PIN針3a與測試針2的接觸面為PIN針3a的徑向側面，繼續上移測試針2(出針量增加)時，測試針2可輕易滑過(二者始終接觸)PIN針3a的側面，而不會損壞被測連接器3的結構，進而在保證測試準確性的同時，還能夠滿足客戶對產品品質的要求。

所述連接器定位槽1a的形狀結構可根據被測連接器3的形狀結構來設計，考慮到大多數被測連接器3的本體結構均矩形，故本實施例將所述連接器定位槽1a設計為矩形槽。

以上內容是結合具體的實施方式對本申請所作的進一步詳細說明，不能認定本申請的具體實施只局限於這些說明。對於本申請所屬技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本申請構思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換。