三相交流電的檢測方法
2023-06-28 13:24:01
三相交流電的檢測方法
【專利摘要】本發明公開了一種三相交流電的檢測方法，所述方法包括以下步驟：對輸入的三相交流電進行整流、分壓和濾波，得到一輸出電壓；通過控制晶片對所述輸出電壓進行採樣，並在其採樣時間t內計算得到採樣平均值；將採樣平均值與預設的最小參考電壓和最大參考電壓進行比較，並根據比較結果，判斷所述三相交流電為缺相狀態或正常狀態。實施本發明的有益效果是，缺相檢測的電路簡單、成本低、應用範圍廣；可實現對缺相和正常的三相交流電的相電壓有效值分別進行檢測；且缺相判斷和電壓檢測準確、佔用資源少、發熱損耗小。
【專利說明】三相交流電的檢測方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及電力電子【技術領域】，更具體地說，涉及一種三相交流電的檢測方法。
【背景技術】
[0002]目前的SVG、變頻器等產品，在三相交流電缺相時，如果不進行保護，有可能會使產品或負載設備損壞。因此，對SVG、變頻器等產品實施缺相保護是很有必要的。而實施缺相保護首先要對三相交流電進行缺相檢測。
[0003]參見圖1為現有技術的三相交流電缺相檢測電路。三相交流電的R、S和T相分別經電阻Rl、R1』和R1』 』分壓衰減後經由二極體Dl、D2、D3、D4、D5和D6組成的三相整流橋全波整流。全波整流後由電阻R2和電容Cl分壓濾波，分壓濾波後通過光耦Ul的開關狀態，控制輸出到控制晶片I的電平。當三相交流電電壓正常時，光耦Ul的原邊兩端為高電平，副邊導通，輸出到控制晶片I的電平為低電平，此時判斷為電網正常；當三相交流電缺一相或兩相時，光耦Ul兩端電壓為脈衝電壓，光耦Ul在導通與關斷間循環進行，輸出到控制晶片I的電平也為高低電平交替狀態，此時判斷為電網缺相。
[0004]圖1所示現有技術的缺相檢測電路使用器件較多，成本較高，檢測功能較少。
【發明內容】
[0005]本發明要解決的技術問題在於，針對現有技術的缺陷，提供一種三相交流電的檢測方法。
[0006]本發明解決其技術問題所採用的技術方案是:構造一種三相交流電的檢測方法，包括以下步驟:
[0007]對輸入的三相交流電進行整流、分壓和濾波，得到一輸出電壓；
[0008]通過控制晶片對所述輸出電壓進行採樣，並在其採樣時間t內計算得到採樣平均值；
[0009]將採樣平均值與預設的最小參考電壓和最大參考電壓進行比較，並根據比較結果，判斷所述三相交流電為缺相狀態或正常狀態。
[0010]優選的，所述對輸入的三相交流電進行分壓具體包括:通過三個阻值均為R11的第一分壓電阻、第二分壓電阻和第三分壓電阻，以及阻值為R12的第四分壓電阻對所述三相交流電的R、S和T相進行分壓。
[0011]優選的，所述R11大於所述R12。
[0012]優選的,所述採樣時間t = n*T,其中n≥1,n為整數,T為三相交流電壓的一個周期。
[0013]優選的，所述最小參考電壓包括第一最小參考電壓，所述最大參考電壓包括第一
最大參考電壓；所述第一最大參考電壓為
【權利要求】
1.一種三相交流電的檢測方法，其特徵在於，包括以下步驟: 對輸入的三相交流電進行整流、分壓和濾波，得到一輸出電壓； 通過控制晶片對所述輸出電壓進行採樣，並在其採樣時間t內計算得到採樣平均值；將採樣平均值與預設的最小參考電壓和最大參考電壓進行比較，並根據比較結果，判斷所述三相交流電為缺相狀態或正常狀態。
2.根據權利要求1所述的三相交流電的檢測方法，其特徵在於，所述對輸入的三相交流電進行分壓具體包括:通過三個阻值均為R11的第一分壓電阻、第二分壓電阻和第三分壓電阻，以及阻值為R12的第四分壓電阻對所述三相交流電的R、S和T相進行分壓。
3.根據權利要求1所述的三相交流電的檢測方法，其特徵在於，所述採樣時間t=n*T，其中n≥1，n為整數，T為三相交流電壓的一個周期。
4.根據權利要求2所述的三相交流電的檢測方法，其特徵在於，所述最小參考電壓包括第一最小參考電壓，所述最大參考電壓包括第一最大參考電壓；所述第一最大參考電壓為
5.根據權利要求2所述的三相交流電的檢測方法，其特徵在於，所述最小參考電壓包括第二最小參考電壓，所述最大參考電壓包括第二最大參考電；所述第二最小參考電壓為:
6.根據權利要求2、4或5任一項所述的三相交流電的檢測方法，其特徵在於，所述R11大於所述R12。
7.根據權利要求4或5任一項所述的三相交流電的檢測方法，其特徵在於，所述方法還包括: 根據所述判斷結果，計算所述三相交流電的相電壓有效值。
8.根據權利要求7所述的三相交流電的檢測方法，其特徵在於，所述相電壓有效值通過以下方法計算: 若判斷所述三相交流電的輸入狀況為:所述三相交流電為缺相狀態，則
9.根據權利要求1所述的三相交流電的檢測方法，其特徵在於，所述在其採樣時間t內計算得到採樣平均值具體包括: 對採樣時間t內的採樣電壓值進行積分後除以採樣時間以得到所述採樣平均值，或在採樣時間t內等時間間隔的取N個點的採樣電壓值，並將N個採樣電壓值相加後除以N以得到所述採樣平均值。
【文檔編號】G01R29/16GK103439587SQ201310410090
【公開日】2013年12月11日 申請日期:2013年9月10日 優先權日:2013年9月10日
【發明者】姜珂, 曹曉生 申請人:深圳市禾望電氣有限公司