一種實現版圖驗證中密度檢查的方法
2023-05-31 22:05:41 1
專利名稱：一種實現版圖驗證中密度檢查的方法
技術領域：
密度檢查是IC CAD工具中版圖驗證中設計規則檢査(DRC)中的一種圖形操作。本發明 屬於IC CAD工具中版圖驗證領域。
背景技術：
集成電路(IC)設計的後期包括版圖設計和版圖驗證，而這兩項功能是.EDA工具中的重 要環節；版圖驗證是根據版圖設計規則、電學規則和原始輸入的邏輯關係對版圖設計進行正 確性的驗證並且可以通過對電路和參數的提取，產生電路模擬的輸入文件進行後模擬，以進 一步檢査電學性能。
密度檢査是版圖驗證中設計規則檢査(DRC)中一種常見的檢查，它的基本含義是檢査某 一層圖形的面積在總的區域面積中所佔的百分比。當該檢查沒有其它限制條件時，實現比較 簡單。但是，有些密度檢查要求在計算面積時增加一些附加條件，比較典型的條件是要求計 算層的圖形位於另外一個對照圖形層內部時面積計算才有效，它的描述方式是
Density被計算圖形層Inside of對照圖形層
在這種條件下，密度計算實現難度大。本發明提出了針對上述條件的密度檢查實現方法， 可以大大提高密度檢査有對照層(Density Inside of Layer)的計算效率。 假設按照一般的實現方法，密度檢査中有對照層的實現步驟是
1、 形成對照層的圖形；
2、 對每個對照層的圖形做循環，執行步驟3、 4、 5、 6、 7;
3、 自左到右掃描版圖，尋找被計算圖形層和對照圖形層的圖形公共部分，即計算兩層圖 形"邏輯與"的結果；
4、 將步驟3的結果作為新的輸入層，累加其面積作為計算密度的分子；
5、 計算當前對照圖形層圖形邊框的面積，以其作為計算密度的分母；
6、 計算比值；
7、 判斷是否符合約束，得到符合預期的結果，加以輸出。
這種實現方法的弊端在於實際應用的情況往往是對照圖形層的圖形數目巨大，由於需要 多次循環重複檢査，因此計算效率不高。
例如，假設被計算圖形層的圖形數目為IO萬個，對照圖形層的圖形數目為IO萬個，採 用上述方法，共需要檢查10萬xl0萬-100億次圖形，計算量十分龐大，效率太低。 為了解決上述問題，本發明提出了一種高效的實現方法。
發明內容
本發明針對版圖驗證中密度檢查帶有對照層(Density Inside Layer) —般方法需要進行m xn次計算(m為對照層圖形總數，n為被計算層圖形總數)速度較慢的問題，提出了一種高 效的實現方法。
本發明的總體思路從密度檢查的應用目的出發，將111乂11次計算降為&* (m + n)次 計算(m為對照層圖形總數，n為被計算層圖形總數，a為常數，它遠遠小於m,n)。被計算層、 對照層分別掃描，只處理一遍。為了快速確定被計算層位於哪個對照層的範圍內，利用版圖 分布具有均勻性的原理，引進桶的概念，確定較優的分桶方案，確保每個桶中的對照層圖形 數量較少，達到迅速定位的效果。每個被計算層圖形一次只與一個有交迭關係的對照層圖形 做"邏輯與"。
本發明包含以下主要步驟
1、 自左向右掃描對照層，計算對照層圖形的邊框；
2、 按照對照層圖形的圖形數目確定分桶原則，劃分均勻的兩維的桶，將對照層圖形的邊 框分配到桶中；
3、 自左向右掃描被計算層，在每個被計算層圖形結束時，計算該被計算層圖形位於哪個 桶內，查找該桶內的每個對照層圖形的邊框，執行步驟4、 5、 6;
.4、臨時層3^ 7丄0>^^=該被計算層圖形，2fewi^jw2=該對照層圖形邊框，remlaj/eH-And 7fe加ZayeW 7fem丄ayer2;
5、 以rem丄a，H的面積作為計算密度的分子，以7bn丄qy"2的面積作為計算密度的分母， 計算比值；
6、 判斷比值是否符合約束，如果符合，該對照層圖形即為結果，進行輸出。 上述方法與一般方法的顯著不同點在於， 一般方法為了尋找兩層圖形之間是否有公共部
分，需要遍歷搜索所有的圖形，而本方法，尋找兩層圖形的公共部分，僅僅需要搜索圖形臨 近區域的相關圖形，大大減少了計算量，提高了計算效率。
例如，假設被計算圖形層的圖形數目為IO萬個，對照圖形層的圖形數目為IO萬個，採 用本發明方法，假設在兩維空間上劃分了均勻的100x100個桶，平均每個桶內有IO個圖形。 在尋找對照層圖形與被計算層圖形的公共部分時，平均每個圖形只需要查找10遍，就可以省 找完畢。總的査找次數為10x(10萬+10萬)-200萬次，遠遠小於一般方法的IO億次。
4圖1原始版圖
圖2對照層圖形的邊框
圖3分桶方案
圖4在桶內檢査密度
圖5臨時層rew丄o[yer7
圖6臨時層7fem丄a;w2
圖7臨時層7fe附丄a少er3
圖8結果層
具體實施例方式
以下結合
本發明具體實施方式
。設原來的版圖如圖1所示，圖中所示的/a;;eW 為被計算層，/a少er2為對照層。假設命令為DENSITY /ayer7 constaint Inside of Layer /a"d。
第1步自左向右掃描/fl少er2，計算to_ye"圖形的邊框。結果如圖2所示；
第2步按照/^e^圖形的圖形數目確定分桶原則，劃分均勻的兩維的桶，將/ajed圖形 的邊框分配到桶中。結果如圖3所示；
第3步自左向右掃描/a，r/，在每個/c^eW圖形結束時，計算該圖形位於哪個桶 內，査找該桶內的每個/q)^2圖形的邊框，執行步驟4、 5、 6。結果如圖4所示
第4步臨時層rem丄a;;eW =該/ajw7圖形，7fe附丄fl^er2 =該/a"d圖形邊框，7femZ^yed =And 7fe附iajw/ rem丄aj;eW。 2fe附i^yeW結果如圖5所示。re附Z^ye"結果如圖6所示。 7few￡a_y"3結果如圖7所示；
第5步以7fe/M丄^^3的面積作為計算密度的分子，以7fewZ^e"的面積作為計算密度的 分母，計算比值；
第6步判斷比值是否符合約束，如果符合，該對照層圖形即為結果，進行輸出。結果如 圖8所示。
通過本發明公開的一種快速實現版圖驗證中密度檢查的方法，提出了針對具有對照層 (Density被計算圖形層Inside of Layer對照圖形層)的密度檢查實現方法，大大提高了 密度檢査有對照層的計算效率。
權利要求
1.版圖驗證中密度檢查的一種快速分桶實現方法，用於檢查被計算層圖形位於對照圖形層內部的面積在對照圖形層面積中所佔的百分比，其特徵在於該方法具體步驟如下(1)自左向右掃描對照層，計算對照層圖形的邊框；(2)按照對照層圖形的圖形數目確定分桶原則，劃分均勻的兩維的桶，將對照層圖形的邊框分配到桶中；(3)自左向右掃描被計算層，在每個被計算層圖形結束時，計算該被計算層圖形位於哪個桶內，查找該桶內的每個對照層圖形的邊框，執行步驟(4)、(5)、(6)；(4)臨時層TemLayer1＝該被計算層圖形，TemLayer2＝該對照層圖形邊框，TemLayer3＝AndTemLayer1 TemLayer2；(5)以TemLayer3的面積作為計算密度的分子，以TemLayer2的面積作為計算密度的分母，計算比值；(6)判斷比值是否符合約束，如果符合，該對照層圖形即為結果，進行輸出。
全文摘要
本發明涉及一種快速實現版圖驗證中密度檢查的方法，屬於IC CAD工具中版圖驗證領域。密度檢查是IC CAD工具版圖驗證中設計規則檢查(DRC)中的一種圖形操作。密度檢查的基本含義是檢查某一層圖形的面積在總的區域面積中所佔的百分比。有些密度檢查要求計算層的圖形位於另外一個對照圖形層內部時面積計算才有效。它的描述方式是Density被計算圖形層Inside of對照圖形層。在這種條件下，密度計算實現難度大。本發明提出了針對上述條件的密度檢查實現方法，可以大大提高密度檢查有對照層的計算效率。
文檔編號G06F17/50GK101593222SQ20081011312
公開日2009年12月2日 申請日期2008年5月28日 優先權日2008年5月28日
發明者侯勁松, 寧 李, 巖 白 申請人:北京華大九天軟體有限公司