終端缺陷檢驗的方法
2023-06-01 04:23:46 1
終端缺陷檢驗的方法
【專利摘要】本發明提供一種終端缺陷檢驗的方法，包含：準備檢驗設備步驟、原點補正步驟、掃描條形碼步驟、缺陷檢查步驟、缺陷區域劃記步驟以及產生出貨檔案步驟，終端檢驗設備包含主機、顯微鏡、條形碼掃描儀、承載治具、信號接收傳送裝置，在原點補正後觀察到缺陷時，以電磁筆在發現缺陷的檢驗區上劃記，信號接收傳送接收劃記位置，並傳送至主機，主機根據原點補正時所產生的主機板輪廓中的原點及劃記位置的相對位置計算出報廢區的坐標，並產生出貨檔案，而能避免數據輸入錯誤、劃記與輸入數據不合的問題，同時取代以黑筆與白漆標記來減低工作板件汙染的風險。
【專利說明】終端缺陷檢驗的方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種終端檢驗的方法，尤其是信號接收傳送裝置而能更直覺地進行檢驗標記，而避免標示錯誤。
【背景技術】
[0002]終端檢驗是在光學檢驗後，以人工的方式逐步地進行將電路板放到顯微鏡或是放大鏡下檢測電路板上的檢驗區，作為出貨時的最終檢驗。傳統的人工操作檢查，當發現缺陷時再以黑筆或白漆筆劃記為報廢區，在完成乾燥等作業程序後，其可作為後續雷射標示報廢與產出電子缺陷文件的依據。然而，在缺陷紀錄電子化同時，這樣的作業模式有幾項的缺點:第一，通過人工檢驗時，由於作業員必須在輸入計算機時，開啟與電路板相關的布局圖案文件，在將報廢區的位置輸入，在作業程序上不夠自動化，且可能有開啟檔案錯誤的潛在問題；第二，隨著電路板微小精密化的趨勢，單一區塊排布的檢驗區也越來越多，人工必須通過數行、列來判定檢驗區，這也可能使得人工劃記時與計算機輸入的位置不一致的問題產生；第三，傳統黑筆與白漆筆標示，其表面容易脫落，而後造成板便汙染等問題。
[0003]由於終端檢驗後，產品將直接送至客戶端，若發生而良品、報廢區分辨錯誤與標記脫落造成板件汙染等問題，會導致後續客戶端產品的報廢，衍生的成本提高，公司的商譽也可能受損，因此，需要一種更直覺性並改善現有檢驗時間較長、容易發生錯誤的檢驗系統及方法。
【發明內容】
[0004]本發明的主要目的是提供一種終端缺陷檢驗的方法，該方法包含:準備檢驗設備步驟、掃描條形碼步驟、原點補正步驟、缺陷檢查步驟、缺陷區域劃記步驟，以及產生出貨檔案步驟。準備檢驗設備步驟，準備一終端檢驗設備，該終端檢驗設備包含一主機、一顯微鏡、一條形碼掃描儀、一承載治具、一信號接收傳送裝置及一電磁筆，該主機具有一資料庫以儲存數據及線路布局圖案，該條形碼掃描儀與該主機電氣連接，該承載治具用以裝設欲檢驗的一電路板，該顯微鏡用以檢查該電路板上的檢驗區，該信號接收傳送裝置設置於該承載治具上，並與該主機及該電磁筆電氣連接。
[0005]掃描條形碼步驟，以該條形碼掃描儀掃描在該電路板上的一條形碼，該主機根據該條形碼從資料庫選出對應於該電路板的數據及一線路布局圖案；原點補正步驟，是將該電磁筆在該電路板的對角線位置進行劃記，而產生多個初始標記位置，該信號接收傳送裝置接收所述初始標記位置並傳送至該主機，該主機依照所述初始標記位置及該線路布局圖案定義出該電路板的輪廓，並以該電路板中的一點作為原點。
[0006]缺陷檢查步驟，是將裝設有該電路板及該信號接收傳送裝置的該承載治具放到該顯微鏡的一載臺上，移動該載臺並通過該顯微鏡的一目鏡及至少一物鏡該電路板的多個檢驗區中是否存在缺陷；缺陷區域劃記步驟，在觀察到缺陷時，以該電磁筆在發現缺陷的所述檢驗區上進行劃記，該信號接收傳送裝置接收到多個劃記位置，並傳送至主機；以及產生出-實施例的流程圖；
切的單元示意圖；
I進行劃記的示意圖；二實施例的流程圖；
切的單元示意圖；以及X意圖。[0035]120條形碼
[0036]SI終端缺陷檢驗的方法
[0037]S2終端缺陷檢驗的方法
[0038]SlO準備檢驗設備步驟
[0039]S12準備檢驗設備步驟
[0040]S15設備校準步驟
[0041]S20掃描條形碼步驟
[0042]S30原點補正步驟
[0043]S35原點補正步驟
[0044]S40缺陷檢查步驟
[0045]S50缺陷區域劃記步驟
[0046]S55缺陷位置確認步驟
[0047]S60產生出貨檔案步驟
【具體實施方式】
[0048]以下配合圖式及組件符號對本創作的實施方式做更詳細的說明，以令本領域技術人員參照說明書文字能夠據以實施。
[0049]參見圖1，圖1為本發明終端缺陷檢驗的方法第一實施例的流程圖。如圖1所示，第一實施例的終端缺陷檢驗的方法SI包含準備檢驗設備步驟S10、掃描條形碼步驟S20、原點補正步驟S30、缺陷檢查步驟S40、缺陷區域劃記步驟S50以及產生出貨檔案步驟S60。
[0050]同時參見圖2，圖2為本發明終端檢驗設備第一實施例的單元示意圖。準備檢驗設備步驟SlO準備如圖2所示的終端檢驗設備1，終端檢驗設備I包含主機10、顯微鏡20、條形碼掃描儀30、承載治具40、信號接收傳送裝置51及電磁筆53。主機10具有一資料庫以儲存數據(如編號ID、出貨廠商等)，及線路布局圖案(layout)，條形碼掃描儀30與主機10電氣連接，承載治具40用以裝設欲檢驗的電路板100，顯微鏡20用以檢查電路板100上的檢驗區110，信號接收傳送裝置51設置於承載治具40上，與主機10及電磁筆53電氣連接。
[0051]另外,進一步參考圖3,承載治具40的剖面示意圖。如圖3所示,承載治具40包含一基座41、一基板載臺43，基板41具有凹槽以容置基板載臺43，基座載臺43也同樣地具有凹槽以容置電路板100，基板載臺43可依據電路板100的大小、形狀可以更換。而信號接收傳送裝置51是設置在基座41上。
[0052]掃描條形碼步驟S20是以條形碼掃描儀20掃描在電路板100上的條形碼120，從而主機10根據該條形碼120從資料庫選出對應於電路板100的數據及線路布局圖案。
[0053]原點補正步驟S30，同時參照圖4，是將電磁筆53在電路板對角線的位置進行劃記，而產生初始標記位置，信號接收傳送裝置51接收初始標記位置並傳送至主機10，主機10依照初始標記位置及對應於電路板100的線路布局圖案定義出電路板100的輪廓，並以電路板100中的一點作為原點。
[0054]缺陷檢查步驟S40是將裝設有電路板100及信號接收傳送裝置51的承載治具40放到顯微鏡20的載臺27上，通過顯微鏡20的目鏡21及至少一物鏡23，並移動載臺27觀察電路板100的檢驗區110中是否存在缺陷。顯微鏡20的目鏡21及至少一物鏡23與載臺27是通過支架25而連接，載臺27可以移動來觀察。目鏡21的放大倍率為IOX?100X，物鏡23的放大倍率為IX?10X。
[0055]缺陷區域劃記步驟S50是在觀察到缺陷時，以電磁筆53在發現缺陷的檢驗區110上進行劃記，信號接收傳送裝置51接收到劃記位置，並將劃記位置傳送至主機10。產生出貨檔案步驟S60是在缺陷檢查完畢後，主機10根據原點與劃記位置的相對位置計算出報廢區的坐標，並產生包含有報廢區的坐標的一出貨檔案。
[0056]其中主機10與條形碼掃描儀30、主機10與信號接收傳送裝置51以有線或無線方式電氣連接，無線電氣連接可以藉由藍牙或無線網絡的方式來進行信號傳輸/接收，而信號接收傳送裝置51與電磁筆53之間以有線或無線方式電氣連接，無線電氣連接，可以藉由超音波、藍牙、紅外線的方式來進行。
[0057]參見圖5，圖5為本發明終端缺陷檢驗的方法第二實施例的流程圖。如圖5所示，第一實施例的終端缺陷檢驗的方法S2包含準備檢驗設備步驟S12、設備校準步驟S15、掃描條形碼步驟S20、原點補正步驟S35、缺陷檢查步驟S40、缺陷位置確認步驟S55以及產生出貨檔案步驟S60。
[0058]同時參見圖6，圖6為本發明終端檢驗設備第二實施例的單元示意圖。準備檢驗設備步驟S12準備如圖2所示的終端檢驗設備2，如圖6所示，終端檢驗系統2是第一實施例終端檢驗系統I的變化形式，終端檢驗系統2包含主機10、顯微鏡20、條形碼掃描儀30、承載治具40、信號接收傳送裝置51、信號發射器55、腳踏板57以及電池59，主機10、顯微鏡
20、條形碼掃描儀30、承載治具40，與第一實施例相同，在此不在贅述。信號發射器55設置在顯微鏡20的載臺27上，與信號接收傳送裝置51及主機10電氣連接，腳踏板57與信號發射器55電氣連接。電池59提供電力給信號發射器55,可設置在顯微鏡的載臺27上。
[0059]並同時參照圖7，設備校準步驟S15是將顯微鏡20中所看到的十字區域與信號發射器55對準，並踩踏腳踏板57而使得顯微鏡20與信號發射器55的的位置相對應，信號發射器55發送一定位信號給主機10以完成校準定位，進一步地，還可以在顯微鏡20的支架上裝設一雷射筆以提升亮度，而在設備校準步驟S15，除了將顯微鏡20中所看到的十字區域與信號發射器55對準，還需要將雷射筆60所產生的光點與十字區域對準，再踩下腳踏板57，以完成校準定位。
[0060]掃描條形碼步驟S20如同第一實施例，以條形碼掃描儀20掃描在電路板100上的條形碼120，從而主機10根據該條形碼120從資料庫選出對應於電路板100的數據及線路
布局圖案。
[0061]原點補正步驟S35，是移動顯微鏡的載臺，將顯微鏡20中所看到的十字區對準到裝設在承載治具40中電路板100的對角線兩點(例如左上、右下)，並在對準時踩踏腳踏板57，而產生初始對準位置，信號接收傳送裝置51接收初始對準位置並傳送至主機10，主機10根據線路布局圖案及初始對準位置定義出電路板100的輪廓，並以電路板上的一點作為原點。
[0062]缺陷檢查步驟S40如同第一實施例，通過顯微鏡20的目鏡21及至少一物鏡23並移動載臺27觀察電路板100的檢驗區110中是否存在缺陷。缺陷位置確認步驟S55是在觀察到檢驗區110中存在缺陷時，將顯微鏡20中所看到的十字區域對準缺陷位置，並踩踏腳踏板57，以產生出缺陷對準位置。產生出貨檔案步驟S60是在缺陷檢查完畢後，主機10根據原點與缺陷對準位置的相對位置計算出報廢區的坐標，並產生包含有報廢區的坐標的一出貨檔案。
[0063]其中信號發射器55與信號接收傳送裝置57及主機10電氣連接，是以有線或無線的連接，信號發射器55與信號接收傳送裝置57無線連接的方式可以為超音波、藍牙或紅外線，而與主機無線連接的方式可以為藍牙或無線網絡。
[0064]本發明的特點在於，通過主機、條形碼讀取器、信號接收傳送裝置，以及電磁筆，或信號發射器及腳踏板的組合，能夠自動地讀取電路板的數據、並運算出劃記位置，而能避免數據輸入錯誤、劃記與輸入數據不合的問題，同時取代傳統以黑筆與白漆標記，而減低工作板件汙染的風險。
[0065]以上所述者僅為用以解釋本發明的較佳實施例，並非企圖據以對本發明做任何形式上的限制，因此，凡有在相同的發明精神下所作有關本發明的任何修飾或變更，皆仍應包括在本發明意圖保護的範疇。
【權利要求】
1.一種終端缺陷檢驗的方法，其特徵在於，包含: 一準備檢驗設備步驟，準備一終端檢驗設備，該終端檢驗設備包含一主機、一顯微鏡、一條形碼掃描儀、一承載治具、一信號接收傳送裝置及一電磁筆，該主機具有一資料庫，該條形碼掃描儀與該主機電氣連接，該承載治具用以裝設欲檢驗的一電路板，該信號接收傳送裝置設置於該承載治具上，並與該主機及該電磁筆電氣連接； 一掃描條形碼步驟，以該條形碼掃描儀掃描在該電路板上的一條形碼，該主機根據該條形碼從該資料庫選出對應於該電路板的一數據及一線路布局圖案； 一原點補正步驟，以該電磁筆在該電路板的對角線位置進行劃記，而產生多個初始標記位置，該信號接收傳送裝置接收所述初始標記位置並傳送至該主機，該主機依照所述初始標記位置及該線路布局圖案定義出該電路板的輪廓，並以該電路板中的一點作為一原佔.一缺陷檢查步驟，是將裝設有該電路板及該信號接收傳送裝置的該承載治具放到該顯微鏡的一載臺上，移動該載臺並透過該顯微鏡的一目鏡及至少一物鏡該電路板的多個檢驗區中是否存在多個缺陷； 一缺陷區域劃記步驟，在觀察到所述缺陷時，以該電磁筆在發現所述缺陷的所述檢驗區上進行劃記，該信號接收傳送裝置接收到多個劃記位置，並傳送至主機；以及 一產生出貨檔案步驟，該主機根據該原點與所述劃記位置的相對位置計算出報廢區的坐標，並產生包含有該報廢區的坐標的一出貨檔案。
2.如權利要求1所述的方法，其特徵在於，該目鏡的放大倍率為10X100X，而該至少一物鏡的放大倍率為1X~10X。
3.如權利要求1所述的方法，其特徵在於，該主機與該條形碼掃描儀，以及該主機與信號接收傳送裝置以有線或無線電氣連接。
4.如權利要求3所述的方法，其特徵在於，該無線電氣連接藉由藍牙或無線網絡的方式來進行信號傳輸/接收。
5.如權利要求1所述的方法，其特徵在於，該信號接收傳送裝置與該電磁筆之間以有線或無線電氣連接，無線電氣連接藉由超音波、藍牙、紅外線的方式來進行信號傳輸/接收。
6.如權利要求1所述的方法，其特徵在於，該承載治具包含一基座以及一基板載臺，該基座具有一凹槽以容置該基板載臺，該基板載臺具有一另一凹槽以承載該電路板。
7.—種終端缺陷檢驗的方法，其特徵在於，包含: 準備檢驗設備步驟，該終端檢驗設備包含一主機、一顯微鏡、一條形碼掃描儀、一承載治具、一信號接收傳送裝置、一信號發射器以及一腳踏板，該主機具有一資料庫，該條形碼掃描儀與該主機電氣連接，該承載治具用以裝設欲檢驗的一電路板，該信號接收傳送裝置設置於該承載治具上，並與該主機電氣連接，該信號發射器設置在該顯微鏡的一載臺上，並與該信號接收傳送裝置及該主機電氣連接，該腳踏板與該信號發射器電氣連接； 一設備校準步驟，將從該顯微鏡中所看到的一十字區域與該信號發射器對準，並踩踏該腳踏板而使得該顯 微鏡與該信號發射器的位置相對應，該信號發射器發射一定位主機完成校準定位； 一掃描條形碼步驟，以該條形碼掃描儀掃描在該電路板上的一條形碼，該主機根據該條形碼從該資料庫選出對應於該電路板的一數據及一線路布局圖案； 一原點補正步驟，移動該顯微鏡的該載臺，將從該顯微鏡中所看到的該十字區對準到裝設在該承載治具中的該電路板的對角線兩點，並在對準時踩踏該腳踏板，而產生多個初始對準位置，該信號接收傳送裝置接收所述初始對準位置並傳送至主機，該主機根據該線路布局圖案及所述初始對準位置定義出電路板的輪廓，並以該電路板上的一點作為一原佔.一缺陷檢查步驟，移動該載臺並透過該顯微鏡的一目鏡及至少一物鏡該電路板的多個檢驗區中是否存在多個缺陷； 一缺陷位置確認步驟，當觀察到所述檢驗區中存在所述缺陷時，將該顯微鏡中所看到的該十字區域對準所述缺陷的位置，並踩踏該腳踏板，以產生出多個缺陷對準位置；以及 一產生出貨檔案步驟，該主機根據該原點與所述缺陷對準位置的相對位置計算出報廢區的坐標，並產生包含有報廢區的坐標的一出貨檔案。
8.如權利要求7所述的方法，其特徵在於，該承載治具包含一基座以及一基板載臺，該基座具有一凹槽以容置該基板載臺，該基板載臺具有一另一凹槽以承載該電路板。
9.如權利要求7所述的方法，其特徵在於，該終端檢驗設備進一步包含一雷射筆，該雷射筆安裝於該顯微鏡的該支架上提供光源來提升亮度，在設備校準時，同時將該雷射筆所產生的光點與該十字區域及該信號產生器對準，再踩下該腳踏板，以完成校準定位。
10.如權利要求7所述的方法，其特徵在於，該目鏡的放大倍率為IOX~100X，而該至少一物鏡的放大倍率為1X~10X。
11.如權利要求7所述的終端檢驗系統，其特徵在於，該主機與該條形碼掃描儀、該主機與信號接收傳送裝置，以及該主機與該信號發射器以有線或無線電氣連接。
12.如權利要求11所述的方法，其特徵在於，該無線電氣連接藉由藍牙或無線網絡的方式來進行信號傳輸/接收。
13.如權利要求7所述的方法，其特徵在於，該終端檢驗設備進一步包含一電池，該電池設置在顯微鏡的載臺上，提供電力給該信號發射器。
14.如權利要求7所述的方法，其特徵在於，該信號接收傳送裝置與該信號發射器之間以有線或無線電氣連接，無線電氣連接藉由超音波、藍牙、紅外線的方式來進行信號傳輸/接收。
【文檔編號】G01N21/956GK103839119SQ201210477253
【公開日】2014年6月4日 申請日期:2012年11月22日 優先權日:2012年11月22日
【發明者】羅家麒, 楊正雄, 徐潤忠 申請人:景碩科技股份有限公司