射線圖像檢測設備及其控制方法

2023-07-02 14:28:56 2

射線圖像檢測設備及其控制方法
【專利摘要】本發明涉及射線圖像檢測設備及其控制方法。當所有的TFT導通時，將電信號與第一閾值相比較。如果電信號大於或等於第一閾值，第一判斷單元判斷X射線照射已經開始。第二判斷單元將第二閾值和第三閾值與在所有TFT截止的狀態下輸出的電信號的一階微分值相比較。如果在整個驗證時間段上，一階微分值在由第二閾值和第三閾值所定義的範圍之內或之外，第二判斷單元驗證第一判斷單元的判斷是正確的。當驗證第一判斷單元的判斷是正確的時，TFT保持截止，以及FPD連續執行用於捕捉X射線圖像的電荷積聚操作。
【專利說明】射線圖像檢測設備及其控制方法
[0001]本申請是2011年11月25日提交的、申請號為201110391551.1、發明名稱為「射線圖像檢測設備及其控制方法」的專利申請的分案申請。
【技術領域】
[0002]本發明涉及一種射線圖像檢測設備及其控制方法。
【背景技術】
[0003]例如X射線成像系統的射線成像系統由X射線產生設備和X射線成像設備構成。X射線產生設備包括用於將X射線施加到患者的身體的X射線源、用於控制X射線源的操作的源控制單元以及用於輸入X射線照射開始命令的照射開關。X射線成像設備包括X射線圖像檢測設備和成像控制單元，X射線圖像檢測設備用於響應透過患者要成像的身體部位的X射線來檢測X射線圖像，成像控制單元用於控制X射線圖像檢測設備的操作。
[0004]在X射線圖像檢測設備中，將平板檢測器(FPD)替代X射線膠片或者成像板(IP)來作為X射線檢測器在最近變得普及。FPD具有像素矩陣，每個像素積聚信號電荷，其量取決於入射其上的X射線的量。FPD通過逐像素地積聚信號電荷來檢測對患者要成像的身體部位的圖像信息進行表示的X射線圖像，並將X射線圖像作為數字圖像數據輸出。
[0005]存在著實際使用的可攜式X射線圖像檢測設備(此後稱為電子盒)，其具有包含在矩形平行六面體殼中的FPD。當使用時，除了將其放在床上或者由患者自己握住之外，可以將電子盒附著到針對膠片盒或者IP盒設計的成像支架(support)。有時，將電子盒從醫院取出拿到家庭看護的患者身旁、事故現場或者自然災害現場，以在不使用成像支架的情況下在這些地方執行射線照相。
[0006]通常，將從照射開關產生的操作信號作為用於指示X射線照射開始的同步信號，發送到X射線產生設備的源控制單元和X射線成像設備的成像控制單元。這使得可以在X射線源開始發出X射線與X射線圖像檢測設備中開始積聚信號電荷之間進行同步。為了發送同步信號，必須將X射線產生設備和X射線成像設備彼此電連接。如果X射線產生設備和X射線成像設備由不同的製造者製造，並具有不兼容的連接接口(線纜或者連接器的規格、同步信號的格式等)，則必須新準備在兩者之間兼容的另一接口。
[0007]為了解決該問題，提出了在不接收同步信號的情況下，X射線圖像檢測設備自己檢測X射線照射的開始，以與X射線產生設備同步的技術，換言之，在X射線產生設備和X射線成像設備之間沒有電連接(參考與日本未審專利申請公開N0.2002-543684相對應的美國專利N0.6，797，960)。根據該技術，檢測FPD的偏置電流，亦即，檢測FPD的非檢測區域的輸出值，未透過患者的身體部位的X射線入射到FPD的非檢測區域上。然後，將偏置電流的微分值與閾值相比較，以檢測X射線照射的開始。
[0008]一般來說，由於電子組件自身的內部因素或者例如周圍環境的外部因素，電子組件的輸出易受到噪聲的影響。當然，裝備有很多電子組件的X射線圖像檢測設備也不例外。在X射線圖像檢測設備中，例如當患者或者射線技術人員無意間撞到其上時，輕微的碰撞或者振動造成了噪聲。這種噪聲使得X射線圖像檢測設備出現故障。如果用於檢測X射線照射的開始的信號具有這種噪聲，儘管存在X射線圖像檢測設備未被X射線照射這一事實，X射線圖像檢測設備也很可能錯誤地檢測X射線照射的開始。錯誤的檢測使得X射線圖像檢測設備執行不必要的操作，並且浪費了能耗。此外，射線技術人員和患者需要等待操作終止，並可能錯過最佳的拍攝機會。
[0009]更糟糕的是，連接到X射線圖像檢測設備的設備(包括成像控制單元和用於設置成像條件的控制臺)有時響應於該錯誤的檢測而操作，就像射線照相實際已經發生了一樣。在這種情況下，需要繁重的操作，例如重置成像條件，該繁重的操作影響到射線技術人員的工作流程。而且出現了醫療治療失當的風險，使得由X射線圖像檢測設備的故障所獲得的不適當的圖像被傳送到發出學家，或者成像條件的設置錯誤使得患者被混淆。
[0010]因為檢測FPD的偏置電流，美國專利N0.6，797，960中描述的方法對於噪聲敏感。當偏置電流由於噪聲而波動時，X射線圖像檢測設備可能對X射線照射的開始做出錯誤的檢測。儘管存在該事實，美國專利N0.6，797，960沒有描述防止噪聲造成的錯誤的檢測的措施。

【發明內容】

[0011]本發明的目標是提供一種可以確定地防止對射線照射開始的錯錯誤檢測測的射線圖像檢測設備。
[0012]為了實現本發明的以上目標和其他目標，一種射線圖像檢測設備包括射線圖像檢測器、第一判斷單元、第二判斷單元和控制裝置。射線圖像檢測器具有多個像素。每個像素積聚信號電荷，其量與從射線源入射的射線的量相對應。向每個像素提供用於輸出信號電荷的開關元件。所輸出的信號電荷被轉換為電信號。第一判斷單元基於電信號的變化判斷射線照射是否已經開始。通過以預定的時間間隔將來自至少一個像素的電信號與第一閾值相比較而檢測該變化。第二判斷單元在第一判斷單元判斷已經開始射線照射之後，基於電信號隨時間的波動來驗證電信號的變化是否實際由射線照射而產生，以驗證第一判斷單元的判斷是否正確。控制裝置根據第一判斷單元的判斷結果和第二判斷單元的驗證結果控制射線圖像檢測器的操作。
[0013]控制裝置優選地在第一判斷單元判斷已經開始射線照射之後，開始射線圖像檢測器的電荷積聚操作。如果第二判斷單元驗證第一判斷單元的判斷是正確的，控制裝置優選地繼續射線圖像檢測器的電荷積聚操作。如果第二判斷單元驗證第一判斷單元的判斷是不正確的，控制裝置優選地中斷射線圖像檢測器的電荷積聚操作，並重啟第一判斷單元的判斷。
[0014]在第一判斷單元的判斷期間，控制裝置優選地導通所有的開關元件。當第一判斷單元判斷射線照射已經開始時，控制裝置優選地斷開所有的開關元件，以及第二判斷單元基於在斷開狀態下從像素洩漏的洩漏電荷來執行驗證。
[0015]在第一判斷單元判斷射線照射已經開始之後，第二判斷單元優選地在預定時間段期間多次將電信號與第二閾值相比較，並基於比較結果進行驗證。
[0016]第二判斷單元可以具有微分電路，並基於電信號的微分值與第二閾值之間比較的結果進行驗證。在另一情況下，第二判斷單元可以基於將電信號和該電信號的微分值的之間的比率與第二閾值進行比較的結果來進行驗證。微分電路可以執行電信號的一階或二階微分。
[0017]第一判斷單元和第二判斷單元優選地使用從射線圖像檢測器的中間的像素輸出的電信號用於判斷和驗證。射線圖像檢測設備優選地是電子盒，具有包含在殼中的射線圖像檢測器。
[0018]一種射線圖像檢測設備的控制方法，包括以下步驟:第一判斷單元基於電信號的變化判斷射線照射是否已經開始，通過以預定的時間間隔將來自至少一個像素的電信號與第一閾值相比較而檢測該變化；如果第一判斷單元判斷射線照射已經開始，開始射線圖像檢測器的電荷積聚操作；第二判斷單元在第一判斷單元判斷射線照射已經開始之後，基於電信號隨時間的波動驗證電信號的變化是否實際由射線照射產生，以驗證第一判斷單元的判斷是否正確；如果第二判斷單元驗證第一判斷單元的判斷是正確的，繼續射線圖像檢測器的電荷積聚操作；以及如果第二判斷單元驗證第一判斷單元的判斷是不正確的，中斷射線圖像檢測器的電荷積聚操作，以及重啟第一判斷單元的判斷。
[0019]根據本發明，當檢測到射線照射時，基於電信號隨時間的波動來驗證該檢測是否由噪聲引起。因此，能夠確定地防止由噪聲引起的錯錯誤檢測測，該錯錯誤檢測測容易被錯誤地識別為射線照射的開始。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0020]為了更完整地理解本發明及其優點，現在結合附圖參考以下描述，在附圖中:
[0021]圖1是X射線成像系統的示意圖；
[0022]圖2是FPD的示意電路圖；
[0023]圖3是示出在重置操作和讀出操作期間的柵極脈衝的開/關狀態的時序圖；
[0024]圖4是用於檢測X射線照射的開始的照射檢測器的示意圖；
[0025]圖5是示出當FPD實際上被X射線所照射時電壓信號D1、一階微分值Di』以及二階微分值Di 」隨時間的變化的圖；
[0026]圖6是示出當出現振動噪聲時電壓信號D1、一階微分值Di』以及二階微分值Di」隨時間的變化的圖；
[0027]圖7是電子盒的時序圖，並示出了檢測到X射線照射的開始的狀態；
[0028]圖8是電子盒的時序圖，並示出了出現振動噪聲的狀態；以及
[0029]圖9是示出電子盒的操作過程的流程圖。
【具體實施方式】
[0030]如圖1中所示，X射線成像系統10由X射線產生設備11和X射線成像設備12構成。X射線產生設備11包括X射線源13、用於控制X射線源13的操作的源控制單元14以及照射開關15。X射線源13具有用於發出X射線的X射線管13a以及用於限制從X射線管13a發出的X射線的照射區域的準直儀13b。
[0031]X射線管13a具有陰極和陽極。陰極由用於發出熱電子的絲極(filament)組成。從陰極發出的熱電子撞擊到陽極(靶子)並生成X射線。靶子(形狀為碟形)是旋轉的陽極，在該旋轉的陽極中，X射線焦點通過其旋轉沿著圓周軌道移動，以防止X射線焦點的溫度上升。準直儀13b具有多個用於阻擋X射線的鉛板。將鉛板布置為數字符號「#」的形狀，在中間留出照射開口以通過其發射X射線。移動鉛板改變照射開口的大小，從而調節照射區域。
[0032]源控制單元14包括高電壓產生器和控制器。高電壓產生器向X射線源13提供高電壓。控制器控制用於確定從X射線源13發出的X射線的能量譜的管電壓、用於確定每單位時間的X射線照射量的管電流以及X射線照射時間。高電壓產生器通過變壓器使輸入電壓成倍增加，以產生高的管電壓，並通過高電壓線纜16向X射線源13提供驅動功率。根據本實施例的X射線產生設備11不具有與X射線成像設備12通信的功能。射線技術人員在源控制單元14的操作面板上手動設置成像條件，該成像條件包括管電壓、管電流和X射線照射時間。
[0033]通過信號線纜17將射線技術人員要操作的照射開關15連接到源控制單元14。照射開關15是兩級(two-step)按壓開關。在照射開關15的第一級按壓時，產生用於開始X射線源13的加熱操作的加熱開始信號。在照射開關15的第二級按壓時，產生照射開始信號以使得X射線源13開始施加X射線。通過信號線纜17將這些信號輸入源控制單元14。
[0034]源控制單元14基於來自照射開關15的控制信號控制X射線源13的操作。在接收加熱開始信號中，源控制單元14啟動加熱器以對絲極進行預熱，並以希望的旋轉速度開始旋轉靶子。加熱操作所需的時間是200至1500毫秒的等級。射線技術人員通過照射開關15的第一級按壓來輸入加熱開始命令，並且然後，在經過加熱所需的時間後，通過照射開關15的第二級按壓來輸入照射開始命令。
[0035]在接收照射開始信號中，源控制單元14開始向X射線源13提供電功率，並使用定時器開始測量X射線照射時間。當測量的X射線照射時間達到被設置為成像條件的值時，源控制單元14停止X射線照射。雖然X射線照射時間取決於成像條件，在捕捉靜態射線照相圖像的多數情況下，最大的X射線照射時間是500毫秒到2秒的等級。將X射線照射時間確定為在該最大值的界限內。
[0036]X射線成像設備12由電子盒(射線圖像檢測設備)21、成像支架22、成像控制單元23和控制臺24構成。電子盒21包括FPD(射線圖像檢測器，參見圖2)36和用於包含FPD36的可攜式殼。電子盒21接收從X射線源13施加並透過患者H要成像的身體部位的X射線，並輸出X射線圖像。電子盒21具有矩形的平坦外形。電子盒21的表面具有與膠片盒和IP盒的表面大致相同的尺寸。
[0037]成像支架22具有槽，電子盒21可分離地附著於該槽中。成像支架22將電子盒21保持在這樣的位置:X射線所入射到的電子盒21的入射表面與X射線源13相對。由於電子盒21的殼與膠片盒和IP盒的殼尺寸大致相同，電子盒21可以附著到針對膠片盒和IP盒而設計的另一成像支架。注意到，圖1通過示例的方式示出了豎直的成像支架22，以對站立位置的患者H成像。然而，成像支架可以是水平的成像支架，以對躺下位置的患者成像。
[0038]如圖2中所示，向FPD36提供在TFT有源矩陣基板上形成的成像區域38、柵極驅動器39、信號處理器部40和控制部(控制裝置)41。成像區域38具有多個像素37，每個像素積聚信號電荷，其量與入射其上的X射線的量相對應。柵極驅動器39驅動像素37，並控制信號電荷的讀出。信號處理部40將讀取的信號電荷轉換為數字數據。控制部41經由柵極驅動器39和信號處理部40控制FPD36的操作。以預定的間距將該多個像素37布置為η行(在X方向)m列(在y方向)的二維矩陣。
[0039]FPD36具有間接轉換類型，在FPD36中，閃爍物(螢光體)將X射線轉換為可見光，並且像素37將可見光光電轉換為電荷。將閃爍物布置為面向具有像素37的成像區域38的整個表面。注意到，可代之以使用直接轉換類型的FPD。在直接轉換類型的FPD中，使用轉換層(無定形硒等)將X射線直接轉換為電荷。
[0040]向每個像素37提供光電二極體42、電容器(未示出)和薄膜電晶體(TFT) 43。光電二極體42作為光電轉換元件，響應於入射其上的可見光而產生電荷(負電子和正空穴的對)。電容器用於積聚光電二極體42產生的電荷。薄膜電晶體(TFT)43是開關元件。
[0041]光電二極體42具有用於產生電荷的半導體層(例如，PIN類型)，並且在半導體層之上和之下分別部署了上電極和下電極。光電二極體42的下電極連接到TFT43，其上電極連接到未示出的偏置線路，偏置電壓是通過該偏置線路施加的。偏置電壓的施加在半導體層中產生電場。從而，負電子被吸引到上電極和下電極中具有正極性的一個，而正空穴被吸引到具有負極性的另一個。由此，電荷在電容器中積聚。
[0042]TFT43的柵電極連接到掃描線44。TFT43的源電極連接到信號線46，並且其漏電極連接到光電二極體42。掃描線44和信號線46被布局為格狀。掃描線44的數目對應於成像區域38中像素37的行的數目(η)，以及信號線46的數目對應於像素37的列的數目(m)。掃描線44連接到柵極驅動器39，信號線46連接到信號處理部40。
[0043]通過驅動TFT43，柵極驅動器39使得FPD36執行電荷積聚操作、用於從像素37讀出信號電荷的讀出操作、重置操作以及照射檢測操作，在電荷積聚操作中，像素37積聚其量與入射的X射線的量相對應的信號電荷。控制部41基於通過通信部52從成像控制單元23發送的控制信號，控制每個操作的開始定時。
[0044]在電荷積聚操作中，當TFT43截止時，信號電荷在像素37中積聚。在讀出操作中，如圖3中所示，柵極驅動器39接連發出柵極脈衝Gl至Gn，用於逐行地驅動TFT43。響應於柵極脈衝Gl至Gn，逐一激活掃描線44，以逐行地導通連接到掃描線44的TFT43。當TFT43導通時，將像素37的電容器中積聚的電荷讀出至信號線46，並輸入至信號處理部40。
[0045]不管是否存在入射的X射線，在光電二極體42的半導體層中都會出現暗電流(暗電荷)。暗電荷因為偏置電壓的施加而在電容器中積聚。出現在像素37中的暗電荷變為圖像數據的噪聲。從而，執行重置操作以移除該噪聲。換言之，重置操作旨在通過信號線46釋放像素37中出現的暗電荷。
[0046]例如，在連續重置方法中執行像素37的重置操作，在連續重置方法中，逐行重置像素37。如圖3中所示，在連續重置方法中，從柵極驅動器39向掃描線44接連發出柵極脈衝Gl至Gn，以逐行地導通像素37的TFT43，就如同在信號電荷的讀出操作中的情況一樣。當導通單行的TFT43時，暗電荷從像素37通過信號線46流到積分放大器47。在重置操作中，與讀出操作中相反，復用器(MUX) 48不讀取積分放大器47中積聚的電荷(電壓)。通過響應於與每個柵極脈衝Gl至Gn同步發出的重置脈衝RST來導通重置開關47a，釋放每個積分放大器47中積聚的電荷。由此，積分放大器47被重置。
[0047]向信號處理部40提供積分放大器47、MUX48和A/D轉換器49。積分放大器47逐一地連接到信號線46。積分放大器47包括運算放大器和連接在運算放大器的輸入端子之一與輸出端子之間的電容器。運算放大器的一個輸入端子連接到信號線46。運算放大器的另一個輸入端子連接到地(GND)。積分放大器47對從信號線46輸入的電荷進行積分，並將電荷轉換為電壓信號(像素信號)Dl至Dm。每行的積分放大器47的輸出端子通過另一放大器和採樣保持器(都沒有示出)連接到MUX48。A/D轉換器49連接到MUX48的輸出側。
[0048]MUX48接連地選擇並行連接的積分放大器47之一，並將從所選擇的積分放大器47輸出的電壓信號Dl至Dm連續地輸入到A/D轉換器49。A/D轉換器49將所輸入的電壓信號Dl至Dm轉換為數字數據，並將該數字數據輸出到電子盒21的殼中所包含的存儲器51。
[0049]當MUX48從積分放大器47讀出一行的電壓信號Dl至Dm時，控制部41向積分放大器47輸出重置脈衝RST，以導通重置開關47a。從而，釋放了積分放大器47中積聚的一行的信號電荷。在積分放大器47的重置之後，柵極驅動器39輸出針對下一行的柵極脈衝，開始從下一行的像素37讀出信號電荷。通過接連重複該操作，從每行的像素37讀出信號電荷。注意，該積分放大器47的重置操作不同於上文描述的像素37的重置操作。
[0050]在完成從每行的信號電荷讀出之後，把表示單幀的X射線圖像的圖像數據記錄在存儲器51中。通過通信部52和通信線纜25將該圖像數據從存儲器51讀出並輸出到成像控制單元23(參見圖1)。從而，檢測到患者的身體部位的X射線圖像。
[0051]可以將照射檢測操作大體上劃分為第一判斷步驟和第二判斷步驟。在第一判斷步驟中，柵極驅動器39在某個時間向每根掃描線44發出柵極脈衝Gl至Gn以導通每個TFT43。將在該時間期間獲得的電壓信號與閾值相比較，根據比較結果判斷X射線照射的開始。在第二判斷步驟中，正如同電荷積聚操作一樣，使每個TFT43截止。將該時間期間的電壓信號的微分值與另一閾值相比較，根據比較結果驗證第一判斷步驟的判斷是否正確。
[0052]參考圖4，在照射檢測操作中，照射檢測器61檢測到FPD36被來自X射線源13的X射線照射。例如，在布置在成像區域38的中間的像素37的列中提供照射檢測器61。將布置在成像區域38的中間的像素37用於檢測X射線照射的原因是:即使依照要成像的身體部位的尺寸將照射區域設置為小於成像區域38，成像區域38的中間的像素37也幾乎不會超出X射線的照射區域。從而，能夠確定地檢測X射線照射的開始，其與X射線的照射區域的尺寸無關。
[0053]照射檢測器61包括用於執行第一判斷步驟的第一判斷單元62和用於執行第二判斷步驟的第二判斷單元63。第一判斷單元62具有第一比較器64和第一判斷電路66。第二判斷單元63具有第二比較器65和第二判斷電路67。除此之外，第二判斷單元63具有微分電路68。
[0054]在照射檢測操作中，MUX48選擇連接到照射檢測器61的列。將與該列的積分放大器47中積聚的信號電荷相對應的電壓信號(像素信號)Di輸入第一判斷單元62和第二判斷單元63中的每一個中。
[0055]第一比較器64和第二比較器65中的每一個都具有兩個輸入端子和一個輸出端子。將積分放大器47的輸出(換言之，電壓信號Di)輸入第一比較器64的一個輸入端子，將第一閾值THl (參見圖5 (A)和6(A))輸入第一比較器64的另一輸入端子。第一比較器64的輸出端子連接到第一判斷電路66。第一比較器64將電壓信號Di與第一閾值THl相比較。第一比較器在電壓信號Di小於第一閾值THl時輸出電壓值Via,以及在電壓信號Di大於或等於第一閾值THl時輸出電壓值Vlb。
[0056]第一判斷電路66監視來自第一比較器64的輸出端子的電壓值。當電壓值從Vla改變到Vlb時，換言之，當電壓信號Di變得大於或等於第一閾值THl時，第一判斷電路66判斷X射線照射已經開始。相應地，第一判斷電路66向控制部41輸出照射檢測信號。
[0057]如圖5 (A)和6 (A)的前半部分所示出的，當沒有使用X射線照射FPD36時，在像素37中僅出現暗電荷。在該狀態下，向第一比較器64輸入的電壓信號Di應該小於第一閾值THl。另一方面，當使用X射線照射FPD36時，如圖5(A)的後半部分所示出的，在像素37中出現信號電荷，其量對應於入射的X射線的量。由於信號電荷的量比暗電荷的量大得多，在X射線照射開始之後，電壓信號Di立即超過了閾值THl。將隨時間變化的電壓信號Di表示為時間的函數f (t)。第一判斷單元62監視在X射線照射開始前和照射開始後之間的電壓信號Di的變化，並檢測X射線照射的開始。
[0058]第二判斷單兀63的微分電路68執行電壓信號Di的一階微分,並向第二比較器65的一個輸入端子輸入一階微分值Di 』(f』(t))。向第二比較器65的另一輸入端子輸入第二和第三閾值TH2和TH3(參見圖5(B)和圖6(B))。第二比較器65將一階微分值Di』與第二閾值TH2和第三閾值TH3相比較。當一階微分值Di 』在由第二閾值TH2和第三閾值TH3限定的範圍之內(-TH3 <Di』<TH2)時，第二比較器65輸出電壓值V2a。當一階微分值Di 』在該範圍之外(Di』≤-TH3或Di』≥TH2)時，第二比較器65輸出電壓值V2b。
[0059]第二判斷電路67對來自第二比較器65的輸出端子的電壓值監視預定時間(此後稱為「驗證時間段」)。當電壓值在驗證時間段上保持在V2a或V2b處，換言之，當在整個驗證時間段期間，一階微分值Di』保持在由第二閾值TH2和第三閾值TH3所限定的範圍之內或者之外而不穿過該範圍時，第二判斷電路67驗證第一判斷單元62的判斷結果是正確的，換言之，X射線源13的X射線照射實際上已經開始。然後，第二判斷單元63向控制部41輸出檢測證明信號。
[0060]另一方面，當來自第二比較器65的輸出端子的電壓值在V2a和V2b之間波動時，換言之，當一階微分值Di 』在由第二閾值TH2和第三閾值TH3所限定的範圍上震蕩時，第二判斷電路67驗證第一判斷單元62的判斷結果不正確。然後，第二判斷單元63向控制部41輸出錯誤檢測通知信號。
[0061]在照射檢測操作期間，電子盒21有時由於射線技術人員或者患者H無意間撞到成像支架22所造成的碰撞而振動。除此之外，還有很多可以想到的在照射檢測操作期間發生電子盒21的振動的情況，例如，患者H自己握著電子盒21進行射線照相的情況，將電子盒21放在患者H上的情況，在人上下車時發生搖擺的車上執行射線照相的情況，使用發電機(power generator)作為醫院外的電源的情況,等等。
[0062]如總所周知的，當電子盒21振動時，振動所導致的振動噪聲影響到信號處理部40，並且噪聲被增加到電壓信號中。不用說，增加到電壓信號中的噪聲導致在照射檢測操作期間輸出的電壓信號Di增加了相應的量。結果，如圖6(A)中所示，電壓信號Di超過第一閾值THl。由此，即使FPD36實際上沒有受到X射線的照射，第一判斷單元62也會做出X射線照射的錯誤檢測。
[0063]在圖6(A)中，振動噪聲導致的電壓信號Di隨時間變化，就如同存在X射線照射的情況一樣，即，就如同圖5的電壓信號Di —樣。因此，將該電壓信號Di表不為時間的函數g(t)。函數g(t)具有恆定周期和幅度衰減的正弦波形，即，阻尼振蕩波形。微分電路68執行函數g(t)的一階微分，並如圖6(B)所示，獲得與函數g(t)有90°相差的波形g』(t)。[0064]如圖5(B)中所示，函數f(t)的一階微分f』(t)響應於X射線照射而急劇上升，並在短時間內變得恆定。另一方面，如圖6(B)中所示，雖然與函數g(t)有相位差，根據振動噪聲的函數g(t)的一階微分g』 (t)具有與函數g(t)相同的阻尼振蕩波形。
[0065]當FPD36實際受到X射線的照射時，一階微分f 』⑴在第二閾值TH2和第三閾值TH3所限定的範圍內或之外保持恆定(在圖5㈧和⑶中，f』 (t)在該範圍內)。另一方面，在根據振動噪聲的波形的情況下，如果閾值TH2和TH3取適當的值，在驗證時間段中，一階微分g』 (t)穿過第二閾值TH2和第三閾值TH3所限定的範圍。該差異在第二比較器65的輸出電壓中自己顯現出來。在前者的情況下，在整個驗證時間段中輸出單個電壓V2a或V2b。在後者的情況下，在驗證時間段中交替輸出電壓V2a和V2b。如上所述，通過在第一判斷單元62檢測到電壓信號Di中的變化後監視電壓信號Di中隨時間的波動，第二判斷單元63能夠驗證第一判斷單元62的判斷結果，換言之，驗證第一判斷單元62是檢測到實際的X射線照射還是錯誤地檢測到振動噪聲。
[0066]由此，即使電壓信號Di通過振動噪聲的增加超過了第一閾值TH1，並且第一判斷電路66輸出照射檢測信號，第二判斷單元63也會判斷出這是錯誤檢測。從而，第二判斷電路67向控制部41輸出錯誤檢測通知信號，並取消之前輸入的照射檢測信號。相應地，電子盒21在錯誤檢測到X射線照射的開始後曾經轉換到電荷積聚操作，然而立即中斷電荷積聚操作並繼續執行照射檢測操作。僅當X射線照射實際開始時，檢測證明信號才輸入到控制部41，並繼續電荷積聚操作。
[0067]注意,將第二閾值TH2和第三閾值TH3設置在由振動噪聲造成的電壓信號的一階微分的幅度剛好超過的值處。該振動噪聲產生超過第一閾值THl的電壓信號。
[0068]在本實施例中，當電壓信號Di大於或等於第一閾值THl時，每個TFT43截止，並且第一判斷單元62輸出照射檢測信號。直到第一判斷單元62輸出照射檢測信號，使每個TFT43導通。在輸出照射檢測信號之前，電壓信號Di與像素37中產生的電荷相對應。在輸出照射檢測信號之後，即，當每個TFT43截止時，輸入到第二判斷單元63的電壓信號Di與從像素37向信號線46洩漏的洩漏電流相對應。
[0069]當每個TFT43截止時，像素37與信號線46之間的通道關閉。從而，理想地，在像素37中積聚的電荷不會流入信號線46。然而，在實際情況下，即使TFT43截止，像素37中積聚的少量電荷也會洩漏到信號線46中。洩漏電荷的量隨著像素39中積聚的電荷的量的增加而增加，然而比通過X射線照射在像素37中產生的信號電荷的量小得多。然而，振動噪聲不在像素37中積聚，而是會影響信號處理電路40。由於該原因，振動噪聲在電壓信號Di中自己顯現為與洩漏電荷相對應的相對大的值。因此，如果TFT43截止並且基於洩漏電荷執行第二判斷，則第二判斷的有效性得以保證。
[0070]在電子盒21上電後，控制部41使FPD36執行重置操作，直到從成像控制單元23發送成像條件。當從成像控制單元23發送成像條件時，FPD36從重置操作轉移到照射檢測操作，在照射檢測操作中每個TFT43導通。當在照射檢測操作期間從照射檢測器61接收到照射檢測信號時，控制部41使FPD36從照射檢測操作轉移到電荷積聚操作。
[0071]在從照射檢測器61接收到檢測證明信號的情況下，控制部41繼續電荷積聚操作。另一方面，在接收到錯誤檢測通知信號的情況下，控制部41通過向每行輸入柵極脈衝使每個像素37同時釋放暗電荷以重置每個像素37，並在然後重啟照射檢測操作。[0072]控制部41通過定時器來測量從電荷積聚操作的開始起所經過的時間。當經過的時間達到成像條件中設置的時間時，控制部41使FPD36從電荷積聚操作轉移到讀出操作。
[0073]使用或者不使用通信線纜25把成像控制單元23連接到電子盒21，以控制電子盒21的操作。更具體地，成像控制單元23向電子盒21發送成像條件，以設置FPD36的信號處理條件(放大器的增益等)並間歇性地控制FPD36的操作。同樣地，成像控制單元23從電子盒21向控制臺24發送圖像數據。
[0074]在圖1中，成像控制單元23包括CPU23a、通信器23b以及存儲器23c，CPU23a用於執行單元23的集中式控制，通信器23b用於建立與電子盒21的有線或者無線通信並經由線纜26建立與控制臺24的通信。通信器23b和存儲器23c連接到CPU23a。存儲器23c存儲要由CPU23a執行的控制程序以及包括第一閾值THl至第三閾值TH3在內的各種類型的信息。在開啟電子盒21之後，通過通信線纜25向電子盒21發送存儲在存儲器23c中的第一閾值THl至第三閾值TH3。然後，將第一閾值THl設置為第一比較器64的輸入，將第二閾值TH2和第三閾值TH3設置為第二比較器65的輸入。
[0075]控制臺24向成像控制單元23發送成像條件，並向從成像控制單元23發送的X射線圖像數據應用各種類型的圖像處理，例如偏移校正和增益校正。在控制臺24的監視器上顯示處理後的X射線圖像。該X射線圖像數據也被存儲到控制臺24的硬碟或者存儲器，或者存儲到通過網絡連接到控制臺24的數據存儲設備，例如圖像伺服器。
[0076]控制臺24接收檢查命令(包括患者H的性別和年齡、要成像的身體部位以及檢查目的)的輸入，並在監視器上顯示檢查命令。檢查命令是從管理與射線照相有關的患者信息和檢查信息的外部系統傳送的，或者由射線技術人員手動輸入，該外部系統例如是HIS(醫院信息系統)或RIS(射線信息系統)。射線技術人員確認監視器上的檢查命令的內容，並根據該內容在控制臺24的操作屏幕上輸入成像條件。
[0077]接下來，此後將參考圖7和圖8的時序圖以及圖9的流程圖描述具有以上結構的X射線成像系統10的操作。在圖7至圖9中，參考標記SlO至S21中的每一個表示公共的操作步驟。
[0078]當使用X射線成像系統10執行射線照相時，根據患者要成像的身體部位的位置來調節在成像支架22上設置的電子盒21的高度。此外，根據電子盒21的高度和要成像的身體部位的尺寸來調節X射線源13的高度和照射區域的尺寸。
[0079]接下來，如圖9中的步驟SlO所示，電子盒21上電。此時，將偏置電壓從電源施加到FPD36的像素37。啟動柵極驅動器39和信號處理部40，並且控制部41使FPD36執行重置操作(Sll)。然後，從控制臺24輸入成像條件，並且經由成像控制單元23在電子盒21中設置成像條件。還在源控制單元14中設置成像條件。在從成像控制單元23接收到成像條件(S12中為「是」)後，控制部41使FPD36從重置操作轉移到照射檢測操作(S13)。
[0080]當完成如上所述的射線照相的準備時，射線技術人員對照射開關15進行一級按壓。從而，向源控制單元14發送加熱開始信號，以開始加熱X射線源13。在經過預定時間之後，射線技術人員對照射開關15進行二級按壓。從而，向源控制單元14發送照射開始信號，以開始X射線照射。
[0081]在照射檢測操作中，所有的TFT43導通。從積分放大器47以有規律的間隔讀出電壓信號Di,並且重置積分放大器47,如同讀出操作中的情況那樣。電壓信號Di被輸入第一判斷單元62的第一比較器64，並與第一閾值THl相比較以檢測X射線照射的開始。注意，在沒有檢測到X射線照射的開始的情況下，如果照射檢測操作繼續預定的時間，則控制部41將FPD36返回到重置操作的步驟Sll (圖9中未示出)。
[0082]當電壓信號Di大於或等於第一閾值THl，並且第一判斷電路66檢測到第一比較器64的輸出已變化為Vlb (檢測到X射線照射的開始；S14中為「是」)時，從第一判斷單元62向控制部41輸出照射檢測信號。在接收到照射檢測信號後，控制部41使所有的TFT43截止，並開始用於捕捉X射線圖像的電荷積聚操作(步驟S15、S18)。
[0083]在第二判斷單元63中，微分電路68執行與從像素37向信號線46洩漏的洩漏電荷相對應的電壓信號Di的一階微分。然後，第二比較器65將電壓信號Di的一階微分值Di』與第二閾值TH2和第三閾值TH3相比較，以驗證第一判斷單元62的判斷是否正確。
[0084]當在整個驗證時間段上，一階微分值Di 』在由第二閾值TH2和第三閾值TH3所限定的範圍內或者之外，以及第二判斷電路67檢測到第二比較器65的輸出是V2a或者V2b (第一判斷單元62的判斷是正確的，S16中為「是」)時，第二判斷電路67向控制部41輸出檢測證明信號(S17)。在這種情況下，繼續S15的狀態，其中所有的TFT43截止，換言之，繼續用於捕捉X射線圖像的電荷積聚操作。在電荷積聚操作期間，透過患者要成像的身體部位的X射線入射到FPD36的成像區域38上，並且信號電荷在像素37中積聚，其量對應於入射的X射線的量。
[0085]在經過成像條件中設置的照射時間之後，源控制單元14停止X射線照射。在經過與成像條件中設置的照射時間相對應的預定時間之後(S19中為「是」)，FPD36完成電荷積聚操作，並轉移到X射線圖像的讀出操作(S20)。在讀出操作中，從第一行開始，逐行地接連讀出像素37中積聚的信號電荷，並將單幀X射線圖像數據記錄到存儲器51。通過成像控制單元23向控制臺24發送圖像數據。在讀出操作之後，當還沒有設置接下來的成像條件之前，FPD36返回到上電之後的狀態(重置操作)。當已經設置接下來的成像條件時，FPD36返回步驟S13並重啟照射檢測操作。
[0086]另一方面，當第二判斷電路67檢測到在驗證時間段期間一階微分值Di』在由第二閾值TH2和第三閾值TH3所限定的範圍上震蕩，並且第二比較器65的輸出在V2a和V2b之間波動時(第一判斷單元62的判斷不正確，在S16中是「否」)，從第二判斷電路67向控制部41輸出錯誤檢測通知信號(S21)。在這種情況，控制部41中斷FPD36的電荷積聚操作(S21)。控制部41使FPD36重置所有的像素(圖8和圖9中未示出)，然後重啟S13的照射檢測操作。注意，在本實施例中，一階微分值Di』僅穿過由第二閾值TH2和第三閾值TH3所限定的範圍一次，然而在照射檢測操作期間這可以多次發生。在這種情況下，每當一階微分值Di』穿過該範圍，就輸出錯誤檢測通知信號以取消照射檢測信號。
[0087]如上所述，根據本發明，基於電壓信號Di隨時間的波動來驗證對X射線照射的開始的檢測是否是由電子盒21的振動造成的。如果該檢測是由振動造成的，取消對X射線照射的開始的判斷。從而，能夠確定地防止X射線照射的開始的錯誤檢測。相應地，電子盒21不需要執行由錯誤檢測造成的無用的操作，並且不會錯過理想的拍攝時機。這提高了射線照相的效率，並節省了所浪費的電能。
[0088]由於通過包括第一判斷步驟和第二判斷步驟的兩個步驟來檢測X射線照射的開始，第一判斷步驟的標準可以相對寬鬆(將第一判斷步驟的第一閾值THl設置為低的值)。在這種情況下，在X射線照射開始之後，電壓信號Di立即超過第一閾值TH1，並且FPD36開始電荷積聚操作。從而，能夠降低對X射線照射的開始的檢測做出貢獻但是沒有對X射線圖像的形成做出貢獻的X射線量，並減少了患者H對照射的無謂暴露。
[0089]由於在導通所有TFT43的狀態下執行第一判斷步驟，第一判斷步驟中獲得的電壓信號Di大於TFT43截止的情況下監視洩漏電荷中獲得的電壓信號。較大的電壓信號Di容易與第一閾值THl相比較，導致正確的判斷。振動噪聲在從洩漏電荷轉換而成的電壓信號Di中自身展示為相對大的值。從而，如果所有的TFT43截止並且在第二判斷步驟中監視洩漏電荷，則容易在實際的X射線照射和振動噪聲之間進行區分。注意，在第一判斷步驟中，所有的TFT43可以截止並且可以監視洩漏電荷。
[0090]在從第一判斷單元62輸出照射檢測信號時，所有的TFT43截止(轉移到電荷積聚操作)，並監視洩漏電荷以執行第二判斷步驟。從而，與針對讀出操作接連輸入柵極脈衝並基於讀出操作的輸出執行第二判斷的情況相比，在短時間內執行第二判斷步驟是可能的。振動噪聲有時在幾毫秒內衰減。如果第二判斷持續長時間，可能在振動減弱之後執行第二判斷。這可能導致與正確檢測相混淆。然而，減少第二判斷所需的時間避免了該問題。注意，從第一判斷完成到第二判斷完成的驗證時間段的時間小於3毫秒是優選的，以例如檢測幾毫秒內衰減的振動。
[0091]在輸出照射檢測信號和輸出檢測證明信號之間施加的X射線被有效地用於形成X射線圖像。此外，由於在轉移到電荷積聚操作之前所有的TFT都是導通的，不管存在不存在X射線照射都出現的暗電荷被自然地釋放，而且消除了暗電荷所導致的噪聲。因此，提高了X射線圖像的質量。
[0092]由於在錯誤檢測的判斷之後立即重啟照射檢測操作，必定能夠檢測實際的X射線照射。
[0093]為了增加第二判斷單元63所進行的驗證的精確度，除了一階微分值Di』與第二閾值TH2和第三閾值TH3之間的比較之外，可以將電壓信號Di和一階微分值Di 』之間的比率DiVDi與第四閾值TH4相比較。當比率Di』/Di與第四閾值TH4之間的量值關係隨時間變化時，可以將該檢測判斷為由振動噪聲導致的錯誤檢測。在這種情況下，提供了用於根據積分放大器47的輸出和微分電路68的輸出來計算比率Di』/Di的除法電路，用於將除法電路的輸出與第四閾值TH4相比較的比較器，以及用於監視比較器的輸出電壓的判斷電路。當X射線的量極少時，難以僅從一階微分值Di』與第二閾值TH2和第三閾值TH3之間的比較來驗證第一判斷結果。在一階微分值Di』與第二閾值TH2和第三閾值TH3之間的比較之外執行比率Di』 /Di與第四閾值TH4之間的比較，提高了第二判斷的可靠性。
[0094]在以上實施例中，使用電壓信號Di的一階微分值Di』來執行第二判斷，然而作為一階微分值Di 』的替代或者除了一階微分值Di 』之外，可以使用二階微分值Di 」。在圖5 (C)中，實際X射線照射情況下的電壓信號Di的二階微分值Di 」(f」 (t))與高斯函數相類似。另一方面，如圖6(C)中所示，振動噪聲的二階微分值Di」(g」(t))正好與電壓信號Di異相，也與一階微分值Di 』(g』 (t))異相。
[0095]在使用二階微分值Di」代替一階微分值Di』時，微分電路68執行電壓信號Di的二階微分，以輸出二階微分值Di」。當二階微分值Di」在由第五閾值TH5和第六閾值TH6所限定的範圍之內(-TH6 < Di」< TH5)時，第二比較器65輸出電壓值V3a。當二階微分值Di」在該範圍之外(Di」≤-TH6或Di」≥TH5)時，第二比較器65輸出電壓值V3b。當在整個驗證時間段期間從第二比較器65輸出V3a時，第二判斷電路67向控制部41輸出檢測證明信號。當交替輸出V3a和V3b時，第二判斷電路67向控制部41輸出錯誤檢測通知信號。之後的步驟與以上實施例中的那些步驟相同。注意，如同第二閾值TH2和第三閾值TH3那樣，第五閾值TH5和第六閾值TH6取適當的值。例如，將TH6設置為TH5/2。
[0096]在使用一階微分值Di 』和二階微分值Di 」兩者的情況下，提供針對一階微分值Di 』和二階微分值Di」的兩個判斷單元。僅當這兩個判斷單元都輸出檢測證明信號時，才將第一判斷單元62的判斷驗證為正確的。當這兩個判斷單元中任一個輸出錯誤檢測通知信號時，將第一判斷單元62的判斷驗證為不正確的。在另一情況下，僅當這兩個判斷單元都輸出錯誤檢測通知信號時，可以將第一判斷單元62的判斷驗證為不正確的。
[0097]單調增加函數f(t)隨著微分階數的增加而逼近零。另一方面，隨著微分的重複，正弦波函數g(t)僅出現異相，其幅度不改變。由於該原因，通過將第二微分值Di」用於驗證，能夠清楚地區分實際的X射線照射和振動噪聲，並且可以確定地防止錯誤檢測。注意，如果微分的階數過高，驗證定時會變得過晚，並且第二判斷在振動噪聲減弱後才執行。因此，二階微分是適當的。
[0098]可以在不使用微分電路68的情況下執行第二判斷。在驗證時間段中，以恆定的採樣間隔將電壓信號Di與第七閾值TH7相比較。當電壓信號Di在每個時間點都大於或等於第七閾值TH7時，實際的X射線照射得以驗證。在實際的X射線照射的情況下，電壓信號Di單調增加。然而，在振動噪聲的情況下，電壓信號Di關于振動中心震蕩，並因此不會變得在每個點處大於或等於第七閾值TH7。利用該特性，能夠將振動噪聲與實際的X射線照射區分開。不使用微分電路能夠縮短判斷時間，並降低成本。
[0099]在以上實施例中，用於檢測X射線照射的像素信號是從成像區域38的中間的單列像素37取得的。然而，可以使用多列或者所有列的像素信號來檢測X射線照射。在這種情況下，通過組成信號處理部40的ASIC單元將鄰接的四到八列進行分組，並且可以將每組的電壓信號Di的簡單平均值或者電壓信號Di除去最大值和最小值後的平均值用於判斷。使用多列而不是單列能夠提高檢測精確度。
[0100]在以上實施例中，將從積分放大器47輸出的模擬電壓信號與閾值相比較，以檢測X射線照射，但是取而代之，可以將A/D轉換後的數位化電壓信號與閾值相比較。
[0101]X射線成像系統10不限於安裝在射線照相室中的類型，而可以是安裝在車輛中的類型或者可攜式類型，在可攜式類型中，將X射線源13、源控制單元14、電子盒21、成像控制單元23等攜帶到需要緊急醫療處理的事故或者自然災害現場中，或者攜帶到家庭看護患者旁邊以用於射線照相。與安裝在射線照相室中的類型的X射線成像系統相比，安裝在車輛中的類型或者可攜式類型的X射線成像系統易於並且頻繁地受到衝撞，因此，將本發明應用於這種類型的X射線成像系統實現了相當好的效果。
[0102]替代以上實施例中所述的用於按順序重置所有行的像素的順序重置操作，可以執行並行重置操作。在並行重置操作中，將多個行分成組，並且可以逐組地對所有的像素執行順序重置操作。 在這種情況下，從所有組的行同時釋放暗電荷。通過使用並行重置操作，重置操作得以加速。
[0103]存在消除對加熱的要求的多種類型的X射線源，例如具有非旋轉的陽極的固定陽極類型、不需要預熱的冷陰極類型。因此，照射開關可以僅具有發出照射開始信號的功能。即使在X射線源需要加熱的情況下，照射開關向源控制單元輸入照射開始信號，並且源控制開關可以響應於照射開始信號開始加熱。在完成加熱之後，可以自動開始X射線照射。在這種情況下，照射開關不需要具有發出加熱開始信號的功能。
[0104]在以上實施例中，電子盒和成像控制單元被分開配置，然而可以例如通過向電子盒的控制部提供成像控制單元的功能來對電子盒和成像控制單元進行集成。成像控制單元可以取代控制臺而執行圖像處理。
[0105]在以上的實施例中，將本發明應用於作為可攜式X射線圖像檢測設備的電子盒，然而可以將本發明應用於固定的X射線圖像檢測設備。
[0106]除了 X射線，本發明可應用於使用另一類型的射線(例如，Y射線)的成像系統。
[0107]雖然已經參考附圖通過其優選實施例的方式對本發明進行了完全的描述，各種改變和修改對本領域技術人員來說將是明顯的。因此，除非這些改變和修改背離了本發明的範圍，否則應該將其解釋為包含在本發明的範圍中。
【權利要求】
1.一種射線圖像檢測設備，包括: 第一判斷單元，用於基於與射線的入射量相對應的電信號的變化來判斷射線照射是否已經開始，所述變化是通過以預定的時間間隔將所述電信號與第一閾值相比較來檢測的； 第二判斷單元，用於在所述第一判斷單元判斷所述射線照射已經開始之後，檢查所述電信號的所述變化實際上是由所述射線照射產生還是由振動產生，以驗證所述第一判斷單兀的判斷是否正確； 具有多個像素的射線圖像檢測器；以及 控制裝置，用於根據所述第一判斷單元的判斷結果和所述第二判斷單元的驗證結果來控制所述射線圖像檢測器的操作。
2.根據權利要求1所述的射線圖像檢測設備， 其中，所述第二判斷單元基於所述電信號隨時間的波動來檢查所述電信號的所述波動實際上是由所述射線照射產生還是由振動產生。
3.根據權利要求1所述的射線圖像檢測設備， 其中，如果所述第二判斷單元驗證所述第一判斷單元的所述判斷是不正確的，所述控制裝置重啟所述第一判斷單元的所述判斷。
4.根據權利要求1所述的射線圖像檢測設備， 其中，在所述第一判斷單元判斷所述射線照射已經開始之後，所述控制裝置開始所述射線圖像檢測器的電荷積聚操作； 其中，如果所述第二判斷單元驗證所述第一判斷單元的所述判斷是正確的，所述控制裝置繼續所述射線圖像檢測器的所述電荷積聚操作；以及 其中，如果所述第二判斷單元驗證所述第一判斷單元的所述判斷是不正確的，所述控制裝置中斷所述射線圖像檢測器的所述電荷積聚操作，並重啟所述第一判斷單元的所述判斷。
5.根據權利要求1所述的射線圖像檢測設備，其中，在所述第一判斷單元判斷所述射線照射已經開始之後，所述第二判斷單元在預定時間段期間多次將所述電信號與第二閾值相比較，並基於比較結果進行驗證。
6.根據權利要求1所述的射線圖像檢測設備，其中，所述第二判斷單元具有微分電路，並基於所述電信號的微分值與第二閾值之間的比較結果進行驗證。
7.根據權利要求6所述的射線圖像檢測設備，其中，所述第二判斷單元基於所述電信號和所述電信號的所述微分值之間的比率與所述第二閾值進行比較的結果進行所述驗證。
8.根據權利要求6所述的射線圖像檢測設備，其中，所述微分電路執行所述電信號的一階或二階微分。
9.根據權利要求1所述的射線圖像檢測設備，所述射線圖像檢測設備是電子盒，具有包含在殼中的所述射線圖像檢測器。
10.一種射線圖像檢測設備的控制方法，所述射線圖像檢測設備包括具有多個像素的射線圖像檢測器，所述控制方法包括以下步驟: 第一判斷單元基於與射線的入射量相對應的電信號的變化來判斷射線照射是否已經開始，通過以預定的時間間隔將所述電信號與第一閾值相比較而檢測所述變化； 如果所述第一判斷單元 判斷所述射線照射已經開始，則開始所述射線圖像檢測器的電荷積聚操作； 在所述第一判斷單元判斷所述射線照射已經開始之後，第二判斷單元檢查所述電信號的所述變化是否實際上由所述射線照射產生，以驗證所述第一判斷單元的所述判斷是否正確； 如果所述第二判斷單元驗證所述第一判斷單元的所述判斷是正確的，則繼續所述射線圖像檢測器的所述電荷積聚操作；以及 如果所述第二判斷單元驗證所述第一判斷單元的所述判斷是不正確的，則中斷所述射線圖像檢測器的所述電荷積聚操作，並重啟所述第一判斷單元的所述判斷。
11.一種射線圖像檢測設備，包括: 照射檢測器，用於基於與射線的入射量相對應的電信號來檢測射線照射； 第一判斷單元，用於基於所述電信號的變化來判斷射線照射是否已經開始，所述變化是通過以預定的時間間隔將所述電信號與第一閾值相比較來檢測的； 第二判斷單元，用於在所述第一判斷單元判斷所述射線照射已經開始之後，基於所述電信號隨時間的波動來檢查所述電信號的所述變化實際上是由所述射線照射產生還是由振動產生，以驗證所述第一判斷單元的判斷是否正確。
12.—種射線圖像 檢測設備的控制方法，所述射線圖像檢測設備包括具有多個像素的射線圖像檢測器，所述控制方法包括以下步驟: 基於與射線的入射量相對應的電信號來檢測射線照射； 第一判斷單元基於所述電信號的變化來判斷射線照射是否已經開始，所述變化是通過以預定的時間間隔將所述電信號與第一閾值相比較來檢測的； 如果所述第一判斷單元判斷所述射線照射已經開始，則開始所述射線圖像檢測器的電荷積聚操作； 在所述第一判斷單元判斷所述射線照射已經開始之後，第二判斷單元基於所述電信號隨時間的波動來檢查所述電信號的所述變化是否實際上由所述射線照射產生，以驗證所述第一判斷單元的判斷是否正確； 如果所述第二判斷單元驗證所述第一判斷單元的所述判斷是正確的，則繼續所述射線圖像檢測器的所述電荷積聚操作；以及 如果所述第二判斷單元驗證所述第一判斷單元的所述判斷是不正確的，則中斷所述射線圖像檢測器的所述電荷積聚操作，並重啟所述第一判斷單元的所述判斷。
【文檔編號】G01T1/29GK103592673SQ201310535095
【公開日】2014年2月19日 申請日期:2011年11月25日 優先權日:2010年11月26日
【發明者】桑原健 申請人:富士膠片株式會社