平板顯示器製造系統及其控制方法
2023-05-30 04:51:16
專利名稱：平板顯示器製造系統及其控制方法
技術領域：
本發明涉及一種平板顯示器製造系統及其控制方法。
背景技術：
概括地說，平板顯示器目前被廣泛地使用，並且液晶顯示器(LCD)、有機發光二極體(OLED)顯示器等是其已知的實例。
其中，LCD包括上顯示板，其上設置有共電極、濾色器等；下顯示板，其上設置有像素電極、薄膜電晶體等；以及液晶材料，設置在上顯示板與下顯示板之間。通過提供給共電極的電壓來控制液晶材料的液晶分子的定向。可以通過根據液晶分子的定向來控制穿過液晶材料的光的透射率來顯示圖像。
具體地，可以通過下述工藝來製造這種LCD。
首先，將用於對準液晶分子的對準層(alignment layer)塗覆在上顯示板和下顯示板上。
第二，通過應用密封劑在下顯示板上以閉環狀限定有源區。
第三，在有源區中設置液晶。
第四，將顯示板對在真空狀態下裝配在一起，並硬化密封劑。
第五，將顯示板組件切割成單位面板(以下稱為「面板」)。
第六，磨削(grind，磨光)面板的鋒利(sharp)切割部分，並檢測磨削量(ground-amount)，以確定磨削是否過量。
下文中將詳細描述用於執行第六工藝的傳統磨削量檢測裝置。
傳統的磨削量檢測裝置包括支撐面板的平臺和位於面板側面的上邊緣的照相機。因此，可以通過照相機顯示的圖像來確定面板的磨削量是否過量。
然而，根據傳統的磨削量檢測裝置，因為位於面板側面的上部的照相機只能顯示面板側面的上邊緣，所以不能顯示面板側面的下邊緣。即，傳統裝置可能存在對於其下邊緣不能確定下邊緣的磨削量是否過量的問題。
在該背景技術部分中披露的上述信息僅用於增加對本發明背景技術的理解，因此其可能包括不構成本國的本領域普通技術人員已經了解的現有技術的信息。
發明內容
本發明目的在於提供一種具有同時檢測面板的至少一個側面的上邊緣和下邊緣的磨削量的優點的平板顯示器製造系統。
此外，本發明目的還在於提供一種具有基於在磨削單元與磨削量檢測單元之間的反饋控制來控制面板位置的優點的用於控制平板顯示器製造系統的方法。
根據本發明實施例的平板顯示器製造系統包括用於檢測面板的至少一個側面的上邊緣和下邊緣的磨削量的磨削量檢測單元，其中，磨削量檢測單元包括第一磨削量檢測器，用於同時檢測面板第一側面的上邊緣和下邊緣的磨削量；以及第二磨削量檢測器，用於同時檢測面板第二側面的上邊緣和下邊緣的磨削量，其中，第一和第二磨削量檢測器分別形成為一個主體。
在根據本發明實施例的系統中，第一磨削量檢測器包括第一主體；第一照相機，設置在第一主體的上部，用於檢測面板第一側面的上邊緣的磨削量；以及第二照相機，設置在第一主體的下部，用於檢測面板第一側面的下邊緣的磨削量。
在根據本發明實施例的系統中，第二磨削量檢測器包括第二主體；第三照相機，設置在第二主體的上部，用於檢測面板第二側面的上邊緣的磨削量；以及第四照相機，設置在第二主體的下部，用於檢測面板第二側面的下邊緣的磨削量。
在根據本發明實施例的系統中，第一主體和第二主體被設置在一個板上，使得他們可以向板的左側和右側移動。
在根據本發明實施例的系統中，磨削量檢測單元還包括用於支撐面板的平臺；以及用於在向前/向後方向上移動平臺的平臺驅動部。
在根據本發明實施例的系統中，磨削量檢測單元還包括第一消除器(eliminator)，設置在第一主體上，用於去除面板第一側面的上邊緣或下邊緣的異物(foreign material)；以及第二消除器，設置在第二主體上，用於去除面板第二側面的上邊緣或下邊緣的異物。
在根據本發明實施例的系統中，第一消除器包括第一空氣噴射器，設置在第一主體的上部，用於去除面板第一側面的上邊緣的異物；以及第二空氣噴射器，設置在第一主體的下部，用於去除面板第一側面的下邊緣的異物。
在根據本發明實施例的系統中，第二消除器包括第三空氣噴射器，設置在第二主體的上部，用於去除面板第二側面的上邊緣的異物；以及第四空氣噴射器，設置在第二主體的下部，用於去除面板第二側面的下邊緣的異物。
在根據本發明實施例的系統中，磨削量檢測單元還包括第一燈，設置在第一照相機的第一側，用於照射面板第一側面的上邊緣；第二燈，設置在第二照相機的第一側，用於照射面板第一側面的下邊緣；第三燈，設置在第三照相機的第一側，用於照射面板第二側面的上邊緣；以及第四燈，設置在第四照相機的第一側，用於照射面板第二側面的下邊緣。
在根據本發明實施例的系統中，第一燈和第二燈發射彼此顏色不同的光，以及第三燈和第四燈發射彼此顏色不同的光。
在根據本發明實施例的系統中，第一燈、第二燈、第三燈、和第四燈發射顏色彼此不同的光。
根據本發明實施例的系統還包括磨削單元，用於磨削麵板側面的上邊緣和下邊緣；面板驅動部，用於將面板從磨削單元移動到磨削量檢測單元；以及控制器，用於基於在由磨削單元檢測的面板位置信息與由磨削量檢測單元檢測的面板磨削量信息之間的反饋控制來控制面板位置。磨削單元包括磨削臺，其上設置有面板；位置檢測器，用於檢測設置在磨削臺上的面板的位置；以及磨削器(grinder)，用於當沿著面板的檢測位置向左和向右移動面板時磨削麵板，其中，控制器基於由位置檢測器檢測的位置信息來控制面板驅動部。
在根據本發明實施例的系統中，控制器根據由位置檢測器檢測的面板位置信息接收第一檢測信號，將第一檢測信號轉換為第一控制信號，存儲第一控制信號，並且當將在磨削單元上磨削的面板移動到設置在磨削量檢測單元的平臺時，基於第一控制信號來控制面板驅動部。
在根據本發明實施例的系統中，控制器基於由第一和第二二磨削量檢測器檢測到的面板磨削量信息來控制磨削器。
在根據本發明實施例的系統中，控制器接收根據由第一和第二磨削量檢測器檢測的面板磨削量信息的第二檢測信號，將第二檢測信號轉換為第二控制信號，存儲第二控制信號，並且當通過磨削單元中的磨削器磨削麵板時，基於第二控制信號來控制磨削器向左/向右的移動量。
根據本發明實施例的用於控制平板顯示器製造系統的方法包括以下步驟從設置在磨削單元上的位置檢測器接收根據面板位置信息的第一檢測信號，將第一檢測信號轉換為第一控制信號，存儲第一控制信號，以及當將在磨削單元上磨削的面板移動到設置在磨削量檢測單元的平臺時，基於第一控制信號來控制面板驅動部。
根據本發明實施例的方法還包括從設置在磨削量檢測單元的磨削量檢測器接收根據面板磨削量信息的第二檢測信號，將第二檢測信號轉換為第二控制信號，存儲第二控制信號，以及當通過設置在磨削單元的磨削器磨削麵板時，基於第二控制信號來控制磨削器向左/向右的移動量。
圖1是示出根據本發明實施例的平板顯示器製造系統中的磨削量檢測單元的正視圖；圖2是示出圖1中「A」部分的放大圖；圖3是示出根據本發明實施例的平板顯示器製造系統中的磨削單元的頂部俯視圖；圖4是示出根據本發明實施例的平板顯示器製造系統中，將面板從磨削單元移動至磨削量檢測單元的情況的頂部俯視圖；圖5是示出根據本發明實施例的平板顯示器製造系統中，磨削單元、控制器、和磨削量檢測單元之間關係的方框圖；以及圖6和圖7是示出根據本發明實施例的用於控制平板顯示器製造系統的方法的流程圖。
具體實施例方式
現在，將在後文中參照示出本發明的優選實施例的附圖更加全面地描述本發明。如本領域技術人員所知，在不背離本發明的精神或範圍的前提下，可以對所描述的實施例進行各種不同方式的更改。
圖1是示出根據本發明實施例的平板顯示器製造系統中的磨削量檢測單元的正視圖，以及圖2是示出圖1中「A」部分的放大圖。
如圖1所示，根據本發明實施例的平板顯示器製造系統包括用於檢測面板10至少一側的上邊緣和下邊緣的磨削量的磨削量檢測單元100。
磨削量檢測單元100包括第一磨削量檢測器110和第二磨削量檢測器130。第一磨削量檢測器110作為一個主體形成，並且同時檢測面板10第一側面的上邊緣11和下邊緣12的磨削量。第二磨削量檢測器130也作為一個主體形成，並且同時檢測面板10第二側面的上邊緣13和下邊緣14的磨削量。
詳細地，第一磨削量檢測器110可以包括第一主體115；第一照相機111，設置在第一主體115的上部，以檢測面板10第一側面的上邊緣11的磨削量；以及第二照相機112，設置在第一主體115的下部，以檢測面板10第一側面的下邊緣12的磨削量。
此外，第二磨削量檢測器130可以包括第二主體135；第三照相機131，設置在第二主體135的上部，以檢測面板10第二側面的上邊緣13的磨削量；以及第四照相機134，設置在第二主體135的下部，以檢測面板10第二側面的下邊緣14的磨削量。
此外，第一主體115和第二主體135中的每個可以設置在一個板150上，使得其可以向板150的左側和右側移動。而且，軌道151可以形成在板150上，以引導第一主體115和第二主體135的移動。因此，第一主體115和第二主體135可以沿軌道151向左/向右移動，使得第一照相機111、第二照相機112、第三照相機131、和第四照相機132可以精確地位於對應於面板10中第一側面的上邊緣11和下邊緣12以及第二側面的上邊緣13和下邊緣14的位置。
此外，磨削量檢測單元還可以包括用於支撐面板10的平臺160和用於在向前/向後方向上移動平臺160的平臺驅動部分140。因此，當在第一照相機111、第二照相機112、第三照相機131、和第四照相機132分別定位在位置上之後由平臺驅動部140移動平臺160時，面板10中第一側面的上邊緣11和下邊緣12以及第二側面的上邊緣13和下邊緣14的每個磨削量可以通過第一照相機111、第二照相機112、第三照相機131、和第四照相機132精確地檢測。
此外，如圖2所示，上述磨削量檢測單元100還可以包括第一消除器170和第二消除器180。第一消除器170可以設置在第一主體115上，以去除面板10第一側面的上邊緣11或下邊緣12的異物。此外，第二消除器180可以設置在第二主體135上，以去除面板10第二側面的上邊緣13或下邊緣14的異物。
詳細地，第一消除器170可以包括設置在第一主體115上部的第一空氣噴射器171，以去除面板10第一側面的上邊緣11的異物；以及設置在第一主體115下部的第二空氣噴射器172，以去除面板10第一側面的下邊緣12的異物。
此外，第二消除器180可以包括設置在第二主體135上部的第三空氣噴射器181，以去除面板10第二側面的上邊緣13的異物；以及設置在第二主體135的下部的第四空氣噴射器182，以去除面板10第二側面的下邊緣14的異物。
此外，上述磨削量檢測單元100還可以包括第一燈191、第二燈192、第三燈193、和第四燈194。
詳細地，第一燈191可以設置在第一照相機111的第一側，以照射面板10第一側面的上邊緣11。第二燈192可以設置在第二照相機112的第一側，以照射面板10第一側面的下邊緣12。第三燈193可以設置在第三照相機131的第一側，以照射面板10第二側面的上邊緣13。第四燈194可以設置在第四照相機132的第一側，以照射面板10第二側面的下邊緣14。
此外，作為一個實例，第一燈191和第二燈192可以發射彼此顏色不同的光。因此，使面板10第一側面的上邊緣11的圖像容易地與面板10第一側面的下邊緣12的圖像相區別，並且可以通過監控器(未示出)顯示圖像。
此外，第三燈193和第四燈194可以發射彼此顏色不同的光。因此，使面板10第二側面的上邊緣13的圖像容易地與面板10第二側面的下邊緣14的圖像相區別，並且可以通過監控器(未示出)顯示圖像。
作為另一實例，第一燈191、第二燈192、第三燈193、和第四燈194可以發射彼此顏色不同的光。
圖3是示出根據本發明實施例的平板顯示器製造系統中的磨削單元的頂部俯視圖；圖4是示出根據本發明實施例的平板顯示器製造系統中，將面板從磨削單元移動至磨削量檢測單元的情況的頂部俯視圖；以及圖5是示出根據本發明實施例的平板顯示器製造系統中的磨削單元、控制器、和磨削量檢測單元之間關係的方框圖。
如圖3至圖5所示，根據本發明實施例的平板顯示器製造系統還可以包括磨削單元300、面板驅動部500、和控制器700。
磨削單元300磨削麵板10第一側面的上邊緣11和下邊緣12以及第二側面的上邊緣13和下邊緣14。詳細地，磨削單元300可以包括磨削臺310、位置檢測器330、和磨削器350。面板10設置在磨削臺310上。位置檢測器330用於檢測設置在磨削臺310上的面板10的位置。磨削器350用於當沿著面板10的檢測位置向左和向右移動時磨削麵板10。
如圖4所示，面板驅動部500將磨削過的面板10從磨削單元300移動到磨削量檢測單元100的平臺160。
如圖5所示，控制器700通過交換由磨削單元300檢測的面板10的位置信息和由磨削量檢測單元100檢測的面板10的磨削量信息，基於反饋控制來控制面板10的位置。
換句話說，控制器700可以通過由預定程序啟動的一個或多個處理器來實現，並且可以編寫預定程序來執行根據本發明實施例的用於控制平板顯示器製造系統的方法的每個步驟。
圖6和圖7是示出根據本發明實施例的用於控制平板顯示器製造系統的方法的流程圖。
參照圖6，將在下文中詳細描述根據本發明的用於控制平板顯示器製造系統的方法。
在步驟S11中，控制器700從設置在磨削單元300上的位置檢測器330接收根據面板10的位置信息的第一檢測信號。具體地，每當將下一面板設置在磨削臺310上時，位置檢測器330檢測面板10的位置信息。
在步驟S13中，控制器700將第一檢測信號轉換為第一控制信號。
在步驟S15中，將第一控制信號存儲到設置在控制器700上的存儲器(未示出)中。具體地，如果更新下一面板10的位置信息，則將更新的第一控制信號存儲到刪除當前第一控制信號的存儲器中。
在步驟S17中，當在磨削單元300上磨削的面板10被移動到設置在磨削量檢測單元100的平臺160時，控制器700基於存儲在存儲器中的第一控制信號來控制面板驅動部500。因此，由面板驅動部500(例如，通過機械手等)支持的面板10可以通過面板驅動部500精確地設置在平臺160上。
根據本發明的方法還可以包括以下步驟在步驟S21中，控制器700從設置在磨削量檢測單元100的第一照相機111、第二照相機112、第三照相機131、和第四照相機132接收根據面板10的磨削量信息的第二檢測信號。具體地，每當將下一面板設置在平臺160上時，第一照相機111、第二照相機112、第三照相機131、和第四照相機132檢測面板10的磨削量信息。
在步驟S23中，控制器700將第二檢測信號轉換為第二控制信號。
在步驟S25中，將第二控制信號存儲到存儲器中。具體地，如果更新下一面板10的磨削量信息，則將更新的第二控制信號存儲在刪除當前第二控制信號的存儲器中。
在步驟S27中，當通過設置在磨削單元300的磨削器350磨削麵板10時，控制器基於第二控制信號來控制磨削器350的向左/向右移動量。因此，可以通過可以向左/向右移動的磨削器350來更精確地磨削麵板10。
另一方面，在上述方法中，描述了執行基於由位置檢測器330檢測的位置信息來控制面板驅動部500的第一處理(圖6所示)，然後執行基於由照相機111、112、131、和132檢測的磨削量信息來控制磨削器350移動量的第二處理(圖7所示)，但是可以在第一處理(圖6所示)之前執行第二處理(圖7所示)。
如上所述，根據本發明實施例的平板顯示器製造系統以及用於控制該平板顯示器製造系統的方法可具有以下優點。
根據本發明的實施例，可以同時檢測面板至少一個側面的上邊緣和下邊緣的磨削量。即，可以減少磨削量檢測時間。結果，可以減少總平均周期時間(TACT)。
此外，根據本發明的實施例，可以基於反饋控制來控制面板位置，該反饋控制通過交換由磨削單元檢測的面板位置信息和由磨削量檢測單元檢測的面板磨削量信息來進行控制。即，因為可以基於反饋控制來控制面板位置，所以可以精確地磨削麵板。
儘管已經結合當前被認為是實用的典型實施例描述了本發明，應該理解，本發明不限於披露的實施例，相反地，本發明用於覆蓋包括在權利要求的精神和範圍內的各種更改和等同替換。
權利要求
1.一種平板顯示器製造系統，包括磨削量檢測單元，用於檢測面板至少一個側面的上邊緣和下邊緣的磨削量，其中，所述磨削量檢測單元包括第一磨削量檢測器，用於同時檢測面板的第一側面的上邊緣和下邊緣的磨削量；以及第二磨削量檢測器，用於同時檢測所述面板的第二側面的上邊緣和下邊緣的磨削量，其中，所述第一和第二磨削量檢測器分別形成為一個主體。
2.根據權利要求1所述的系統，其中，所述第一磨削量檢測器包括第一主體；第一照相機，設置在所述第一主體的上部，以檢測所述面板的所述第一側面的所述上邊緣的磨削量；以及第二照相機，設置在所述第一主體的下部，以檢測所述面板的所述第一側面的所述下邊緣的磨削量。
3.根據權利要求2所述的系統，其中，所述第二磨削量檢測器包括第二主體；第三照相機，設置在所述第二主體的上部，以檢測所述面板的所述第二側面的所述上邊緣的磨削量；以及第四照相機，設置在所述第二主體的下部，以檢測所述面板的所述第二側面的所述下邊緣的磨削量。
4.根據權利要求3所述的系統，其中，所述第一主體和所述第二主體設置在一個板上，使得所述第一主體和所述第二主體可以向所述板的左側和右側移動。
5.根據權利要求4所述的系統，其中，所述磨削量檢測單元還包括平臺，用於支撐所述面板；以及平臺驅動部，用於在向前/向後方向上移動所述平臺。
6.根據權利要求3所述的系統，其中，所述磨削量檢測單元還包括第一消除器，設置在所述第一主體上，以去除所述面板的所述第一側面的所述上邊緣或所述下邊緣的異物；以及第二消除器，設置在所述第二主體上，以去除所述面板的所述第二側面的所述上邊緣或所述下邊緣的異物。
7.根據權利要求6所述的系統，其中，所述第一消除器包括第一空氣噴射器，設置在所述第一主體的上部，以去除所述面板的所述第一側面的所述上邊緣的所述異物；以及第二空氣噴射器，設置在所述第一主體的下部，以去除所述面板的所述第一側面的所述下邊緣的所述異物。
8.根據權利要求6所述的系統，其中，所述第二消除器包括第三空氣噴射器，設置在所述第二主體的上部，以去除所述面板的所述第二側面的所述上邊緣的所述異物；以及第四空氣噴射器，設置在所述第二主體的下部，以去除所述面板的所述第二側面的所述下邊緣的所述異物。
9.根據權利要求3所述的系統，其中，所述磨削量檢測單元還包括第一燈，設置在所述第一照相機的第一側，以照射所述面板的所述第一側面的所述上邊緣；第二燈，設置在所述第二照相機的第一側，以照射所述面板的所述第一側面的所述下邊緣；第三燈，設置在所述第三照相機的第一側，以照射所述面板的所述第二側面的所述上邊緣；以及第四燈，設置在所述第四照相機的第一側，以照射所述面板的所述第二側面的所述下邊緣。
10.根據權利要求9所述的系統，其中，所述第一燈和所述第二燈發射彼此不同顏色的光。
11.根據權利要求9所述的系統，其中，所述第三燈和所述第四燈發射彼此不同顏色的光。
12.根據權利要求9所述的系統，其中所述第一燈、所述第二燈、所述第三燈、和所述第四燈發射彼此不同顏色的光。
13.根據權利要求1所述的系統，還包括磨削單元，用於磨削所述面板的所述側面的所述上邊緣和所述下邊緣；面板驅動部，用於將所述面板從所述磨削單元移動到所述磨削量檢測單元；以及控制器，用於基於在由所述磨削單元檢測的所述面板的位置信息與由所述磨削量檢測單元檢測的所述面板的磨削量信息之間的反饋控制來控制所述面板的位置。
14.根據權利要求13所述的系統，其中，所述磨削單元包括磨削臺，其上設置所述面板；位置檢測器，用於檢測設置在所述磨削臺上的所述面板的位置；以及磨削器，用於當所述面板沿著所述面板的所述檢測位置向左和向右移動時磨削所述面板，其中，所述控制器基於由所述位置檢測器檢測的位置信息來控制所述面板驅動部。
15.根據權利要求14所述的系統，其中，所述控制器接收根據由所述位置檢測器檢測的所述面板的所述位置信息的第一檢測信號；將所述第一檢測信號轉換為第一控制信號；存儲所述第一控制信號；以及當在所述磨削單元上磨削的所述面板被移動到設置在所述磨削量檢測單元的所述平臺時，基於所述第一控制信號來控制所述面板驅動部。
16.根據權利要求15所述的系統，其中，所述控制器基於由所述第一和第二磨削量檢測器檢測的所述面板的每個磨削量信息來控制所述磨削器。
17.根據權利要求16所述的系統，其中，所述控制器接收根據由所述第一和第二磨削量檢測器檢測的所述面板的磨削量信息的第二檢測信號；將所述第二檢測信號轉換為第二控制信號；存儲所述第二控制信號；以及當通過在所述磨削單元中的所述磨削器磨削所述面板時，基於所述第二控制信號來控制所述磨削器向左/向右的移動量。
18.一種用於控制平板顯示器製造系統的方法，包括從設置在磨削單元上的位置檢測器接收根據面板的位置信息的第一檢測信號；將所述第一檢測信號轉換為第一控制信號；存儲所述第一控制信號；以及當在所述磨削單元上磨削的所述面板被移動到設置在磨削量檢測單元的平臺時，基於所述第一控制信號來控制面板驅動部。
19.根據權利要求18所述的方法，還包括從設置在所述磨削量檢測單元的磨削量檢測器接收根據所述面板的磨削量信息的第二檢測信號；將所述第二檢測信號轉換為第二控制信號；存儲所述第二控制信號；以及當通過設置在所述磨削單元的磨削器磨削所述面板時，基於所述第二控制信號來控制所述磨削器向左/向右的移動量。
20.一種用於控制平板顯示器製造系統的方法，包括從設置在磨削量檢測單元的磨削量檢測器接收根據面板的磨削量信息的第一檢測信號；將所述第一檢測信號轉換為第一控制信號；存儲所述第一控制信號；以及當由設置在磨削單元的磨削器磨削所述面板時，基於所述第一控制信號來控制所述磨削器向左/向右的移動量。
21.根據權利要求20所述的方法，還包括從設置在所述磨削單元上的位置檢測器接收根據面板的位置信息的第二檢測信號；將所述第二檢測信號轉換為第二控制信號；存儲所述第二控制信號；以及當在所述磨削單元上磨削的所述面板被移動到設置在磨削量檢測單元的平臺時，基於所述第二控制信號來控制面板驅動部。
22.一種平板製造系統，包括磨削單元，用於磨削麵板的側面的上邊緣和下邊緣；磨削量檢測單元，用於檢測由所述磨削單元磨削的所述面板的所述側面的所述上邊緣和所述下邊緣的磨削量；以及控制器，用於基於在由所述磨削單元檢測的所述面板的位置信息與由所述磨削量檢測單元檢測的所述面板的磨削量信息之間的反饋控制來控制所述面板的位置。
全文摘要
本發明用於提供一種具有同時檢測面板至少一個側面的上邊緣和下邊緣的磨削量的優點的平板顯示器製造系統。根據本發明實施例的平板顯示器製造系統包括用於檢測面板至少一個側面的上邊緣和下邊緣的磨削量的磨削量檢測單元，其中，磨削量檢測單元包括第一磨削量檢測器，用於同時檢測面板第一側面的上邊緣和下邊緣的磨削量；以及第二磨削量檢測器，用於同時檢測面板第二側面的上邊緣和下邊緣的磨削量，其中，第一和第二磨削量檢測器分別形成為一個主體。
文檔編號G02F1/1333GK1955801SQ20061011196
公開日2007年5月2日 申請日期2006年8月28日 優先權日2005年10月25日
發明者韓在鎔, 元敏榮, 金鎮活, 鄭準昊, 張鎬振 申請人:三星電子株式會社