一種基於測序圖像的自動曝光的方法

2023-05-30 03:14:01 1

專利名稱：一種基於測序圖像的自動曝光的方法
技術領域：
本發明涉及圖像處理領域，更具體地說，涉及一種基於測序圖像的自動曝光的方法。
背景技術：
自動曝光是圖像處理領域的核心技術，曝光是否正常直接影響圖像的效果，過曝， 圖像看起來太亮，曝光不足，圖像看起來太暗。因此，自動曝光是目前成像系統中對圖像信號處理的一項重要功能。在基因測序領域，多個DNA片段被固定在小珠上，小珠被固定在測序裝置上，或者多個DNA片段直接固定在測序裝置上，形成陣列點，一個小珠或者固定在同一處的DNA片段為一個陣列點。測序反應時，DNA片段與帶螢光標記物的物質發生反應後，當用激發光激發陣列點上攜帶螢光標記物時，每個陣列點發光，此時即可拍攝圖像。拍攝的圖像就如天空中點綴的一顆一顆的星星，每個陣列點就似一顆星星，每個陣列點中心的信號值是決定圖像清晰的一個重要因素。一種現有技術中，自動曝光的方法為步驟一.將整個理論灰度區域按照灰度級劃分為若干個灰度區間，確定灰度期望值；步驟二 .接收圖像傳感器輸出的圖像數據，判斷圖像數據中各個像元的灰度值及其所屬灰度區間，分別計算各灰度區間內的灰度平均值， 然後對若干個灰度區間的灰度平均值進行加權平均計算，得到灰度加權均值；步驟三.將灰度加權均值與灰度期望值進行比較，若滿足要求，則默認當前曝光量為最佳值；若不滿足要求，則進行步驟四；步驟四.根據灰度加權均值與灰度期望值對積分時間進行控制，即根據灰度加權均值與灰度期望值的差計算出新的曝光時間，圖像傳感器按照新的曝光時間採集圖像信息，執行步驟二。上述技術方案中，不能確定測序圖像的陣列點的中心，也即無法根據圖像特點獲得期望信號強度下的自動曝光時間，導致測序圖像信號強度太強而過曝，或者信號強度太弱而過暗，從而使得自動曝光不準確，最終導致拍攝的測序圖像不清晰。因此需要一種新的基於測序圖像的自動曝光的方法，能夠獲得期望信號強度下的自動曝光時間，最終保證圖像傳感器拍攝出清晰的測序圖像。

發明內容
本發明的目的在於提供一種基於測序圖像的自動曝光的方法，旨在解決現有技術中無法準確獲得期望信號強度下的自動曝光時間，導致曝光不準確、從而無法拍攝出清晰的圖像的問題。為了實現發明目的，基於測序圖像的自動曝光的方法包括以下步驟步驟A.在曝光時間下，利用圖像傳感器拍攝採圖區域內的圖像；步驟B.利用高斯模型確定圖像中陣列點中心，並得陣列點中心的信號值；步驟C.利用計算機輔助設備分析信號值，得圖像的信號強度；步驟D.根據期望圖信號強度，利用信號強度和曝光時間的線性關係，確定期望信號強度下的新曝光時間；步驟E.在新曝光時間下，重複步驟A、B和C後，進入步驟F ;步驟 F.判斷新曝光時間下拍攝的圖像的信號強度與期望信號強度的一致性；不一致，則重複步驟D、E和F ;—致，則新曝光時間即為自動曝光時間。其中，上述圖像傳感器包括放大裝置，該放大裝置的放大倍數為η，η為自然數，優選為η彡20。其中，所述的計算機輔助設備為任意具有數據處理功能的電子計算機器。優選為 PC機。其中，所述的高斯模型是根據測序圖像的特徵建立的模型。其中，所述的期望信號強度為預先設定的圖像的信號強度。所述的圖像以灰度值的形式存儲在二維矩陣中。所述一致性判斷方法為在一定範圍α內，也即Swa ± α，判斷為一致；不在該範圍，判斷為不一致。其中，Swa為期望信號強度，α的大小根據實際情況來確定，當需要精度高時，α取值可小，當需要的精度不高時，α的取值可大。其中，利用StZtci = SwaA1，可得期望信號強度下的新曝光時間，其中，h為設定的初始的曝光時間，S0為在h曝光時間下信號強度，Swa為期望信號強度，為新曝光時間。 在新曝光時間拍攝的圖像，所得的圖像的信號強度S1，如果S1與期望信號強度不一致時，對自動曝光時間進行調整，期望信號強度一致時，得自動曝光時間。確定期望信號強度下的新曝光時間的公式為S3li/tsli=Swa/t#。其中，S31J為當前信號強度，為當前曝光時間，t#為新的曝光時間。其中，陣列點中心的信號值優選為該陣列點中心的灰度值；或者陣列點中心的信號值優選為陣列點中亮度最大和亮度最小的點的亮度比值。其中，所述陣列點中亮度大小為該處的灰度值。其中，所述步驟B包括以下步驟步驟BI.建立高斯模型；步驟B2.利用高斯模型與圖像進行匹配，得圖像與高斯模型的相似度；步驟B3.利用相似度與閾值確定圖像中陣列點的中心。其中，所述高斯模型根據陣列點的大小和陣列點的形狀建立，所建立的高斯模型為二維矩陣。高斯模型依次與圖像匹配得相似度，每完成一次高斯模型與圖像的匹配，得一個相似度矩陣。根據測序圖像中陣列點的特點，設定閾值。閾值的大小根據實際情況來確定。其中，在所述步驟B3中選取相似度矩陣中最大值與閾值比較，相似度矩陣中最大的值高於閾值時，該最大值對應的點確定為圖像中陣列點中心；低於閾值的，捨去該點，也即該相似度矩陣對應的區域無陣列點。在一個相似度矩陣中有多個最大值高於閾值時，取多個最大值的中心點對應的圖像中的點為圖像中陣列點中心。其中，所述陣列點中心的信號值為該陣列點中心的灰度值。其中，選取相似度矩陣中第一大的值和第二大的值與閾值比較。如果第二大的值高於閾值的，且只有一個，則該第二大的值對應的點確定為圖像中陣列點中心，捨去第一大的值；如果第二大的值高於閾值的，且有多個，則取該第二大的值對應的點的中點確定為圖像中陣列點中心；如果第二大的值低於閾值，第一大的值高於閾值，則將第一大的值對應的點確定為圖像中陣列點中心；如果第一大的值和第二大的值都小於閾值，則該相似度矩陣對應的區域無陣列點。
其中，所述步驟C包括以下步驟步驟Cl.對陣列點中心的信號值進行排序；步驟 C2.取陣列點中心的信號值大的前h個點，以其信號值的均值作為圖像的信號強度。其中，所述步驟C包括以下步驟步驟Cl』 .對陣列點中心的信號值進行排序；步驟C2』 .取排序後的中間的h個陣列點中心的信號值的均值作為圖像的信號強度。其中，h為自然數，優選的400彡h彡800。其中，所述步驟F之後還包括步驟G.利用圖像傳感器多次在採圖區域內不同位置拍攝圖像重複步驟A到F，得多個自動曝光時間；步驟H.利用信號強度與曝光時間的線性關係，篩選多個自動曝光時間，得最佳自動曝光時間。其中，上述在同一採圖區域的同一位置拍攝圖像進行分析，得一個自動曝光時間； 在同一採圖區域的不同位置拍攝圖像進行分析，得同一採圖區域的多個自動曝光時間；在不同採圖區域的不同位置進行採圖，得不同採圖區域內的多個自動曝光時間；也可在每個採圖區域只得一個自動曝光時間，多個採圖區域得多個自動曝光時間。優選的，在一個採圖區域內得一個自動曝光時間。其中，多個自動曝光時間的個數為At個，At為自然數；優選的，3 < At ^ 9 ;採圖區域的個數不限，優選為3 9個。其中，步驟H中，利用信號強度與曝光時間的關係，篩選多個自動曝光時間，得最佳自動曝光時間。篩選的方法不限。優選為採用中位值法、平均值法篩選，得最佳自動曝光時間。由上可知，本發明通過確定測序圖像中的陣列點中心及其信號值，逐步調整期望信號強度下的曝光時間，得到準確的期望信號強度下的曝光時間；同時，對採圖區域內的不同位置拍攝圖像，得多個曝光時間，一方面有效避免了信號淬滅導致的圖像的信號強度並非為圖像真實的信號強度，導致曝光時間不準確，另一方面，從多個自動曝光中，確定最佳自動曝光時間，保證了自動曝光時間的精確性。


圖I是本發明一個實施例中基因測序中自動曝光的裝置的結構示意圖；圖2是本發明一個實施例中基因測序圖像的自動曝光方法流程圖；圖3是本發明一個實施例中採圖區域採圖位置的分布圖；圖4是本發明另一個實施例中採圖區域採圖位置的分布圖；圖5是本發明另一個實施例中採圖區域採圖位置的分布圖；圖6是本發明另一個實施例中基因測序圖像的自動曝光的方法流程圖；圖7是本發明一個實施例中確定陣列點中心的方法流程圖；圖8是本發明另一個實施例中確定陣列點中心的方法流程圖；圖9是本發明一個實施例中獲取圖像信號強度的方法流程圖。
具體實施例方式為了使本發明的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本發明進行進一步詳細說明。本發明的自動曝光方法可以保證自動曝光的裝置拍攝到清晰的圖像。在測序圖像中，需要確定測序圖像中陣列點的中心，根據陣列點的中心的信號值來確定整個測序圖像的信號強度，再判斷信號強度與期望信號強度的一致性來進行反饋調節，最終得出自動曝光時間。然後，根據前述的方法，得多個自動曝光時間，篩選出最佳的自動曝光時間。本方案經過多次反饋調節，最終得自動曝光時間；並從多個自動曝光時間中篩選出最佳自動曝光時間，使得自動曝光時間更精確，克服了傳統自動曝光的不準確導致的拍攝的圖像過暗或者過強。針對測序圖像的自動曝光裝置，本發明提出一實施例，如圖I所示。包括光源、濾光裝置、圖像傳感器和計算機輔助設備。其中所述的光源為可以激發採圖區域中攜帶標記物的樣品發光的光源，包括但不限於汞燈光源和雷射。所述的濾光裝置用於過濾光源發出的幹擾光及其光源激發採圖區域樣品發光時發出的幹擾光，允許特定波長的光通過。所述的圖像傳感器為任意能感受光學圖像信息並轉換成可用輸出信號的傳感器，包括但不限於 CCD和CMOS圖像傳感器。所述的計算機輔助設備為能夠對數據進行處理、分析的設備，控制圖像傳感器運行的裝置，優選為個人計算機及其相應的程序，或者為晶片或單片機及其外圍電路及程序。本實施例中，採圖區域上固定有攜帶標記物的樣品；光源發出的光經過濾光裝置使特定波長的光到達採圖區域，其他的光被濾除，特定波長的光激發攜帶標記物的樣品發光，樣品發出的光到達圖像傳感器，圖像傳感器採集圖像，計算機輔助設備對採集的圖像進行分析和處理。其中，所述濾光裝置包括多組濾光片，濾光片允許特定波長的光通過。根據需要將濾光裝置切換到不同的濾光片上。基於上一實施例，本發明提出另一實施例，如圖2所示。基於測序圖像的自動曝光的方法包括如下步驟步驟Si.在曝光時間下，利用圖像傳感器拍攝採圖區域內的圖像；步驟S2.利用高斯模型確定圖像中陣列點中心，並得陣列點中心的信號值；步驟S3.利用計算機輔助設備分析圖像，得圖像的信號強度；步驟S4.根據期望圖信號強度，利用信號強度和曝光時間的線性關係，確定期望信號強度下的新曝光時間；步驟S5.在新曝光時間下，重複步驟S1、S2和S3 ;步驟S6.判斷新曝光時間下拍攝的圖像的信號強度與期望信號強度的一致性；不一致，則重複步驟S4、S5和S6 ;—致，則新曝光時間即為自動曝光時間。本實施例的技術方案中，利用高斯模型，準確確定圖像中陣列點中心，然後得信號強度，根據信號強度與期望信號強度的關係，反饋調節，最終得自動曝光時間，該技術方案使得自動曝光時間更準確，避免了拍攝出的圖像過亮或者過暗。本實施例中，針對步驟S6 中的一致性判斷，給出示例。設期望信號強度Sms= 3000時，新曝光時間下拍攝的圖像的信號強度S31J= 2940時。當需要的精度較高時，取α = 50，此時，S3lj< S_-a，則判斷不一致。當需要的精度較低時，取a =100，此時，S讓-a彡S當前彡S_+a，則判斷一致。基於圖I所示的實施例，本發明提出另一實施例，基於測序圖像的自動曝光的方法包括如下步驟步驟Si.在曝光時間下，利用圖像傳感器拍攝採圖區域內的圖像；步驟
S2.利用高斯模型確定圖像中陣列點中心，並得陣列點中心的信號值；步驟S3.利用計算機輔助設備分析圖像，得圖像的信號強度；步驟S4.根據期望圖信號強度，利用信號強度和曝光時間的線性關係，確定期望信號強度下的新曝光時間；步驟S5.在新曝光時間下，重複步驟S1、S2和S3 ;步驟S6.判斷新曝光時間下拍攝的圖像的信號強度與期望信號強度的一致
6性；不一致，則重複步驟S4、S5和S6 ;—致，則新曝光時間即為自動曝光時間，進入步驟S7 ； 步驟S7.利用圖像傳感器多次在不同採圖區域內拍攝圖像重複步驟SI到S7，得多個自動曝光時間；步驟S8.利用信號強度與曝光時間的關係，篩選多個自動曝光時間，得最佳自動曝光時間。本實施例中優選的，得一個自動曝光時間，需在採圖區域的同一位置進行圖像拍攝；每次重複步驟SI、S2、S3、S4、S5和S6時，即得多個自動曝光時間，得每個自動曝光時間時，拍攝採圖區域內的圖像的位置不同。在本實施例的優選方案中，在不同位置拍攝圖像，使得得出的圖像數據更有代表性，也即更精確，從而為後續的圖像信號分析提供可靠性依據；同時也有效防止多次拍攝同一位置的圖像，造成信號淬滅，而影響後續圖像信號的分析，使得曝光時間不準確。在本實施例中，綜合整個採圖區域，採用期望信號強度與新曝光時間下的信號強度比較，多次反饋調節，最終得到自動曝光時間；對拍圖區域不同位置分別計算自動曝光時間，得多個曝光時間，選取最佳自動曝光時間，使得在該最佳自動曝光時間下，拍攝的圖像更準確，防止拍攝的圖像過暗或者過量而影響測序的數據分析。本技術方案整體上實現了自動曝光更準確。上述實施例中的圖像傳感器包括一放大裝置，該放大裝置用於成像，該放大裝置的倍數根據實際情況來選擇。優選的，該放大裝置為顯微鏡或放大鏡。。該圖像傳感器中的放大裝置的放大倍數越大，圖像傳感器拍攝的圖像越清晰，但是，放大倍數過大，圖像傳感器拍攝的一張圖像中的陣列點就越少，整個採取區域拍攝的圖像的數量就越多，由於每張圖像的數據分析的利用的時間幾乎相等，從而放大倍數過大導致了數據分析的效率降低。本實施例中，該圖像傳感器的放大倍數η優選為η >20。更優選的，該圖像傳感器的放大倍數η為20< η < 40。η為自然數。本實施例的技術方案中，圖像傳感器在適當的放大倍數下進行的自動曝光，使得圖像傳感器既保證了拍攝圖像的清晰度，又保證了數據分析的效率。整個採圖區域可分為多個採圖區域，每個採圖區域可得多個自動曝光時間，得不同的自動曝光時間時，拍攝的圖像對應的採圖區域內的位置不同。優選的，每個採圖區域得一個自動曝光時間。曝光時間的個數不限，優選的，自動曝光時間的個數At為，3 < At < 9。針對拍攝的圖像的對應的採圖區域內的位置和自動曝光時間的個數，本發明提出一實施例，如圖3所示。圖像傳感器分別在採圖區域內的①、②、③位置拍攝圖像。自動曝光的過程為步驟SI.在初始曝光時間下，利用圖像傳感器拍攝採圖區域①內任意位置的圖像；步驟S2.利用高斯模型確定圖像中陣列點中心，並得陣列點中心的信號值；步驟S3.利用計算機輔助設備分析圖像，得圖像的信號強度；步驟S4.根據期望圖信號強度，利用信號強度和曝光時間的線性關係，確定期望信號強度下的新曝光時間；步驟S5.在新曝光時間下，利用圖像傳感器拍攝採圖區域①內與初始曝光時間下拍攝圖像位置相同的位置的圖像，重複步驟S2和S3 ;步驟S6.判斷新曝光時間下拍攝的圖像的信號強度與期望信號強度的一致性；不一致，則重複步驟S4、S5和S6 ;—致，則新曝光時間即為自動曝光時間，得第一個自動曝光時間，進入步驟S7 ;步驟S7.在初始曝光時間下，利用圖像傳感器拍攝採圖區域 ②內任意位置的圖像，重複步驟S2、S3、S4、S5和S6，得第二個自動曝光時間；再在初始曝光時間下，利用圖像傳感器拍攝採圖區域③內任意位置的圖像，重複步驟S2、S3、S4、S5和S6，得第三個自動曝光時間；步驟S8.利用信號強度與曝光時間的關係，篩選多個自動曝光時間，得最佳自動曝光時間。針對拍攝的圖像的對應的採圖區域內的位置和自動曝光時間的個數，本發明提出另一實施例，如圖4所示。圖像傳感器分別在採圖區域內的①、②、③、④、⑤位置拍攝圖像。 自動曝光的過程為步驟SI.在初始曝光時間下，利用圖像傳感器拍攝採圖區域①內任意位置的圖像；步驟S2.利用高斯模型確定圖像中陣列點中心，並得陣列點中心的信號值；步驟S3.利用計算機輔助設備分析圖像，得圖像的信號強度；步驟S4.根據期望圖信號強度， 利用信號強度和曝光時間的線性關係，確定期望信號強度下的新曝光時間；步驟S5.在新曝光時間下，利用圖像傳感器拍攝採圖區域①內與初始曝光時間下拍攝圖像位置相同的位置的圖像，重複步驟S2和S3 ;步驟S6.判斷新曝光時間下拍攝的圖像的信號強度與期望信號強度的一致性；不一致，則重複步驟S4、S5和S6 ;—致，則新曝光時間即為自動曝光時間， 得第一個自動曝光時間；在初始曝光時間下，利用圖像傳感器對拍攝採圖區域②、③、④、⑤ 分別進行圖像拍攝，重複步驟S2到S7，得第二到第五自動曝光時間；然後，利用信號強度與曝光時間的關係，篩選多個自動曝光時間，得最佳自動曝光時間。針對拍攝的圖像的對應的採圖區域內的位置和自動曝光時間的個數，本發明提出另一實施例，如圖5所示。圖像傳感器分別在採圖區域內的①、②、③、④、⑤、⑥、⑦、⑧、⑨ 內任意位置拍攝圖像，進行自動曝光分析，得第一到第九個自動曝光時間，然後，再利用信號強度與曝光時間的關係，從九個自動曝光時間篩選最佳自動曝光時間，得最佳自動曝光時間。所示的信號強度與曝光時間的關係可採用信號強度與曝光時間的比值的中位置法或比值的平均值法來選擇最佳曝光時間。本實施例中，可以對同一採圖區域多次重複步驟SI到S7，得多個自動曝光時間， 也可對同一採圖區域執行一次步驟SI到S7，得一個自動曝光時間。優選的，在同一採圖區域重複步驟SI到S7—次，得一個自動曝光時間。也即b個米圖區域得b個自動曝光時間。然後，在b個曝光時間中篩選出最佳的自動曝光時間。上述實施例中，對採圖區域內的不同位置進行拍攝圖像，避免同一位置拍攝圖像造成螢光信號淬滅，導致拍攝的圖像的信號強度較低，而得不到正確的自動曝光時間；同時，對不同位置進行拍攝圖像，分析得多個自動曝光的時間，篩選出最佳的自動曝光時間， 該技術方案實現了綜合整個採圖區域的不同位置的圖像的信號強度，充分考慮整個圖像的信號強度，進而得出最佳自動曝光時間，使得所得最佳自動曝光時間更精確。基於圖I所示的實施例，圖6示出了本發明一實施例中基因測序圖像的自動曝光的方法流程圖。步驟一、在曝光時間下，利用圖像傳感器拍攝採圖區域內的圖像；步驟二、 利用高斯模型確定圖像中陣列點中心，並得陣列點中心的信號值；步驟三、利用計算機輔助設備分析圖像，得圖像的信號強度；步驟四、根據期望圖信號強度，利用信號強度和曝光時間的線性關係，確定期望信號強度下的新曝光時間；在新曝光時間下重複步驟一到步驟三， 然後，進入步驟五；步驟五、判斷新曝光時間下拍攝的圖像的信號強度與期望信號強度的一致性；不一致，則返回到步驟四；一致，則新曝光時間即為自動曝光時間，進入步驟六；步驟六、得自動曝光時間；而後返回到步驟一，重複前述步驟，得另一自動曝光時間；直到得到每個採圖區域內的自動曝光時間後，進入步驟七；步驟七、利用信號強度與曝光時間的關係，篩選多個自動曝光時間，得最佳自動曝光時間。
本發明的技術方案對測序圖像的不同區域分別進行自動曝光分析，得不同區域的自動曝光時間，篩選最佳曝光時間，得到的曝光時間更能代表整個區域內的曝光時間，從而使得整個測序圖像的自動曝光比較準確，避免了測序圖像中某些區域過曝而過亮，某些區域曝光不足而過暗。圖7示出了本發明一實施例中測序圖像中確定陣列點中心的方法流程圖。所述方法包括步驟S21.建立高斯模型；所述高斯模型是根據高斯概率密度函數(正態分布曲線)精確地量化事物，將一個事物分解為若干的基於高斯概率密度函數(正態分布曲線)形成的模型。本發明中的高斯模型的建立是根據測序圖像中陣列點的分布來建立的，該陣列點為測序時點樣的所形成的一個一個的點。經過圖像傳感器可以獲得每個陣列點的信號強度、陣列點的大小、陣列點的形狀等信息。根據測序圖像的陣列點的形狀和大小建立高斯模型。本實施例中陣列點為圓形， 大小為2 8個像素點，根據測序圖像的陣列點，優選建立7*7的矩陣，得高斯模型。步驟S22.利用高斯模型與圖像進行匹配，得圖像與高斯模型的相似度；所述的匹配方法如下利用如下公式進行匹配
權利要求
1.一種基於測序圖像的自動曝光的方法，其特徵在於，所述方法包括以下步驟A.在曝光時間下，利用圖像傳感器拍攝採圖區域內的圖像；B.利用高斯模型確定圖像中陣列點中心，並得陣列點中心的信號值；C.利用計算機輔助設備分析信號值，得圖像的信號強度；D.根據期望圖信號強度，利用信號強度和曝光時間的線性關係，確定期望信號強度下的新曝光時間；E.在新曝光時間下，重複步驟A、B和C後，進入步驟F；F.判斷新曝光時間下拍攝的圖像的信號強度與期望信號強度的一致性；不一致,則重複步驟D、E和F ;一致，則新曝光時間即為自動曝光時間。
2.根據權利要求I所述的基於測序圖像的自動曝光的方法，其特徵在於，所述步驟B包括以下步驟BI.建立高斯模型；B2.利用高斯模型與圖像進行匹配，得圖像與高斯模型的相似度；B3.利用相似度與閾值確定圖像中陣列點中心。
3.根據權利要求2所述的基於測序圖像的自動曝光的方法，其特徵在於，所述步驟B3 中，相似度矩陣中最大的值高於閾值時，該最大值對應的點確定為圖像中陣列點中心。
4.根據權利要求I所述的基因測序圖像的自動曝光的方法，其特徵在於，所述圖像傳感器包括放大裝置，該放大裝置的放大倍數為η，η為自然數，n ^ 20。
5.根據權利要求I所述的基於測序圖像的自動曝光的方法，其特徵在於，陣列點中心的信號值為該陣列點中心的灰度值。
6.根據權利要求I至5中任一項所述的基於測序圖像的自動曝光的方法，其特徵在於， 所述步驟C包括以下步驟Cl.對陣列點中心的信號值進行排序；C2.取陣列點中心的信號值大的前h個點，以其信號值的均值作為圖像的信號強度。
7.根據權利要求I至5中任一項所述的基於測序圖像的自動曝光的方法，其特徵在於， 所述步驟C包括以下步驟Cl』 .對陣列點中心的信號值進行排序；C2』 .取排序後的中間的h個陣列點中心的信號值的均值作為圖像的信號強度。
8.根據權利要求I至5中任一項所述的自動曝光方法，其特徵在於，所述步驟F後還包括G.利用圖像傳感器多次在採圖區域內不同位置拍攝圖像重複步驟A到F，得多個自動曝光時間；H.利用信號強度與曝光時間的關係，篩選多個自動曝光時間，得最佳自動曝光時間。
9.根據權利要求8所述的基於測序圖像的自動曝光的方法，其特徵在於，所述的多個自動曝光時間的個數為At，At為自然數，3彡At彡9。
10.根據權利要求8所述的基於測序圖像的自動曝光的方法，其特徵在於，所述步驟 H中，利用信號強度與曝光時間的關係，採用中位值法或平均值法篩選，得最佳自動曝光時間。
全文摘要
本發明涉及圖像處理領域，提供了一種基於測序圖像的自動曝光的方法，包括以下步驟A.在曝光時間下，利用圖像傳感器拍攝採圖區域內的圖像；B.利用高斯模型確定圖像中陣列點中心，並得陣列點中心的信號值；C.利用計算機輔助設備分析信號值，得圖像的信號強度；D.根據期望圖信號強度，利用信號強度和曝光時間的線性關係，確定期望信號強度下的新曝光時間；E.在新曝光時間下，重複步驟A至C後，進入步驟F；F.判斷新曝光時間下拍攝的圖像的信號強度與期望信號強度的一致性；不一致，則重複步驟D至F；一致，則新曝光時間為自動曝光時間。本發明根據期望信號強度反饋調節，實現準確自動曝光，保證圖像傳感器拍攝出準確的測序圖像數據。
文檔編號H04N5/235GK102595051SQ20121007116
公開日2012年7月18日 申請日期2012年3月16日 優先權日2012年3月16日
發明者盛司潼 申請人:盛司潼