波分復用器測試系統及其測試方法

2023-06-24 03:02:51 1

專利名稱：波分復用器測試系統及其測試方法
技術領域：
本發明是關於一種用以測試波分復用器光學性能的波分復用器測試系統及其測試方法，特別是關於一種具高測試速率、自動採集數據和靈活測試程序的自動化波分復用器測試系統及其測試方法。
背景技術：
公眾對寬帶要求的增加促進了波分復用器技術的發展。波分復用器中，多個頻道信號可在一光纖中低幹擾高速傳輸。為確保波分復用器的光學性能達到所需的要求，有必要對波分復用器進行測試。
現有的波分復用器測試通常採用人工測試，費時費力，操作者要進行一系列操作步驟，重複調試光波長的設置，同時需對功率儀器的顯示數據進行人工讀數，其測試程序通常使用同一光路測試插入損耗、極化相關損耗及回波損耗，此種方法需外加一光學耦合器以耦合部分光功率用以測試回波損耗。但，由於光學耦合器自身具極化相關損耗，其會影響波分復用器之極化相關損耗的測試精度。

發明內容本發明的目的在於提供一種自動化的波分復用器測試系統，其測試速率高、自動採集數據和測試程序靈活且測試精度高。
本發明的目的是這樣實現的提供一種波分復用器測試系統，包括一可調光源、一功率儀模組、一回波損耗模組、一偏振控制器和一計算機控制裝置。該可調光源、功率儀模組、回波損耗模組及偏振控制器通過一通用接口總線(GPIB纜線)連接於該計算機控制裝置，且該回波損耗模組通過一獨立的光路連接該波分復用器。該計算機控制裝置具一控制軟體以控制該波分復用器測試程序。
與現有技術波分復用器光學性能的測試相比，本發明具有以下優點本發明波分復用器測試系統利用一計算機控制裝置控制測試程序，且利用一獨立之光路連接回波損耗模組至波分復用器以測量波分復用器的回波損耗，操作更為方便且精度更高；另外，本發明的波分復用器測試系統可以替代手工測試，其提供更高的測試速率、自動數據採集及靈活的測試程序。

圖1是本發明波分復用器測試系統的示意圖。
圖2是利用該波分復用器測試系統測試波分復用器光學性能的測試程序的流程圖。
具體實施方式請參照圖1，本發明波分復用器測試系統1包括一可調光源10、一功率儀模組110、一回波損耗模組120、一偏振控制器20和一計算機控制裝置(圖未示)。該可調光源10具有一本體框架(未標示)及第一、第二輸出埠130。該功率儀模組110及回波損耗模組120放置於該可調光源10的本體框架內，該偏振控制器20具第一、第二埠210、220。該可調光源10的第一輸出埠130與回波損耗模組120相連，第二輸出埠130與偏振控制器20的第一埠210相連。該可調光源10、功率儀模組110、回波損耗模組120及偏振控制器20利用GPIB纜線40與計算機控制裝置相連。該計算機控制裝置具有一控制軟體以控制波分復用器測試程序。
當測試波分復用器30的插入損耗及極化相關損耗時，從可調光源10的第二輸出埠130出來的光束經過該偏振控制器20，從而改變該光束的偏振狀態，此後該光束經過該偏振控制器20的第二埠220進入波分復用器30的C埠310。該功率儀模組110與波分復用器30的T埠320、R埠330相連以測試從T埠320、R埠330出來的光強。在完成波分復用器30的插入損耗及極化相關損耗的測試後，該回波損耗模組120對該波分復用器30的回波損耗進行測試。
請參照圖2，測試波分復用器30的光學性能的測試程序包括以下步驟步驟510調節可調光源10的參照點；步驟520依照圖1進行設備連接，開始進行測試；步驟530進行插入損耗/極化相關損耗測量，通過功率儀模組110，測試T埠320、R埠330的光強，參照步驟510設置參照點得出C埠310進入波分復用器30時之光強，根據插入損耗的換算法得出波分復用器30的插入損耗，以此方法測試經偏振控制器20輸出光於不同偏振狀態時波分復用器30的插入損耗，找出插入損耗的最大值及最小值，用插入損耗的最大值減去插入損耗的最小值即得極化相關損耗；
步驟540進行回波損耗/方向性測量，在完成插入損耗/極化相關損耗測量後，通過一獨立的光路(圖未示)連接回波損耗模組120至波分復用器30的C埠310以測試波分復用器30的回波損耗，同時使用功率儀模組110測試T埠320、R埠330的光強，根據方向性的換算公式得出波分復用器30的方向性，以完成波分復用器30的方向性的測試；步驟550存儲及列印數據；步驟560結束測試程序。
當波分復用器30的插入損耗在不同溫度下進行測量時，重複步驟520及530，測出不同溫度下分復用器器30的插入損耗。
權利要求
1.一種波分復用器測試系統，用於測試波分復用器的光學性能，它包括一為波分復用器提供光源的可調光源；一控制可調光源輸出光的偏振狀態的偏振控制器，其與可調光源相連；一監測從波分復用器出來的光功率的光功率儀模組；一測試波分復用器回波損耗的回波損耗模組；其特徵在於該波分復用器測試系統進一步包括一計算器控制裝置，該計算器控制裝置與可調光源、回波損耗模組、功率儀模組和偏振控制器相連，該計算機控制裝置具一控制波分復用器測試程序的控制軟體；且該回波損耗模組通過一獨立的光路連接至該波分復用器以測試波分復用器的回波損耗。
2.如權利要求1所述的波分復用器測試系統，其特徵在於該計算機及控制裝置是通過一通用接口總線(GPIB纜線)連接至可調光源、回波損耗模組、功率儀模組及偏振控制器。
3.如權利要求1所述的波分復用器測試系統，其特徵在於該可調光源包括一本體框架，該回波損耗模組及功率儀模組放置於該本體框架內。
4.一種測試波分復用器的測試方法，其特徵在於包括如下步驟提供一由可調光源經偏振控制器出來的光源；由該光源傳送信號至所測波分復用器的輸入埠；測量波分復用器輸出埠的功率，以測試出所述波分復用器的插入損耗及極化相關損耗；測量波分復用器反射埠的功率，以測試出所述的波分復用器的回波損耗及方向性。
5.如權利要求4所述的波分復用器測試測試方法，其特徵在於該回波損耗測試是通過一獨立光路完成，該獨立的光路連接該波分復用器的輸入埠至一回波損耗模組。
6.如權利要求5所述的波分復用器測試測試方法，其特徵在於該獨立光路連接該回波損耗模組至波分復用器是在插入損耗測試後回波損耗測試前進行。
7.一種測試系統，其特徵在於包括一可調光源；一連接該可調光源的偏振控制器，其具一輸出埠；一波分復用器，其具一輸入埠、一輸出埠及一反射埠，該波分復用器的輸入埠與該偏振控制器的輸出埠相連；一與該波分復用器之輸出埠及反射埠相連之功率儀模組；及一與該波分復用器相連的回波損耗模組。
全文摘要
本發明公開一種波分復用器測試系統，其包括一為波分復用器提供光源的可調光源、一用於監測波分復用器光功率的功率儀模組、一測試波分復用器回波損耗的回波損耗模組、一與可調光源相連以控制可調光源輸出光的極化狀態的偏振控制器和一具控制軟體的計算機控制裝置。其中該可調光源、回波損耗模組、功率儀模組和偏振控制器通過通用接口總線(GPIB纜線)與計算機控制裝置相連，且該回波損耗模組通過一獨立的光路連接該波分復用器，故其可自動地、高精度地測試波分復用器的光學性能。本發明同時還公開一上述測試系統測試波分復用器的測試方法。
文檔編號G01N21/00GK1477795SQ0215259
公開日2004年2月25日 申請日期2002年11月23日 優先權日2002年8月22日
發明者鬱道琄, 鬱道 申請人:鴻富錦精密工業(深圳)有限公司, 鴻海精密工業股份有限公司