路徑延遲故障測試向量壓縮方法及裝置的製作方法
2023-06-05 18:35:31
專利名稱：：路徑延遲故障測試向量壓縮方法及裝置的製作方法
技術領域：
：本發明涉及集成電路路徑延遲故障測試
技術領域：
，尤其涉及路徑延遲故障測試向量壓縮方法及裝置。
背景技術：
：在集成電路晶片封裝以後，需要對晶片質量進行檢測。由於晶片封裝以後對晶片的內部電路無法直接訪問，因此，一般的對晶片的測試採用的方法為在晶片的輸入端置入測試向量，並在晶片輸出端收集測試響應。將實際所得測試響應與無故障電路所應得的測試響應進行比較，從而判斷晶片電路有無故障。測試向量是指通過晶片輸入端置入內部電i各的一組邏輯值。為研究問題的需要，通常需要將實際晶片中的物理缺陷抽象為邏輯故障模型。常用的故障模型有單固定型故障和路徑延遲故障。單固定型故障所描述的物理缺陷是電路中某一條信號線的輸出值固定為邏輯1或0，分別記為s-a-l和s-a-0。路徑延遲故障所描述的物理缺陷是電路輸入端信號值的跳變沿某條路徑進行傳播，該路徑的延遲超過了給定限制。故障激活是指通過置入測試向量使得故障所在的信號線處產生與故障值相反的邏輯值。例如，如圖l所示，信號線d處有故障s-a-O,即d信號線處故障值為邏輯O,其相反的邏輯值為1，因此，需要在輸入端a和b置入測試向量"11"。如果置入的測試向量使得故障所在的信號線處產生與故障值相同的邏輯值，例如圖1中在輸入端a和b置入測試向量"00",則無法區分d信號線處的邏輯值0是由故障s-a-0產生還是由測試向量"00"產生，從而無法抬r測到d處是否存在故障s-a-0。故障傳播是指將激活後的故障效應傳播到電路的輸出端。例如，圖l所示電路，信號線d處有故障s-a-O,如果輸入端c處置入測試向量"1",則或門OR2的輸出為邏輯l，無論d處的故障是否被激活，輸出端e處的邏輯值均為1,從而無法一僉測到d處是否存在故障s-a-0。因此故障傳播要求在輸入端c置入測試向量"0",這樣故障效應才能傳播到輸出端e。在電路結構中，門的輸出信號線的值與時鐘信號無關，這樣的門稱為組合門，組合門的類型包括非門、與門、或門、與非門、或非門、異或門、異或非門等。組合門的輸出信號線是該組合門的輸入信號線的組合後繼。組合後繼的關係可以迭代。例如，圖1中，d是a的組合後繼，e是d的組合後繼，而e也是a的組合後繼。e是a的組合後繼，e也是c的組合後繼，則a和c有共同組合後繼e。通常，測試向量中可以含有確定位和不確定位，例如，測試向量"10xxxx"中的"1"和"0"表示確定位，"x"表示不確定位。若兩個測試向量的確定位不發生沖突，則可將兩個測試向量壓縮為一個。例如，測試向量"10xxxx"和"lxxx0r可壓縮為一個測試向量"lOxxOl，,;而測試向量"10xxxx"和"0xxx01"由於第一位發生衝突，不能進行壓縮。現有技術中的路徑延遲故障的測試向量壓縮方法，壓縮比例低，壓縮時間長，因而無法滿足快速準確進行晶片質量檢測的需要。
發明內容本發明實施例提供路徑延遲故障測試向量壓縮方法及裝置，用以在較短的時間內獲得很高的測試向量壓縮比，解決現有技術路徑延遲故障的測試向量壓縮過程中存在的壓縮比例低、壓縮時間長的問題。一種路徑延遲故障測試向量的壓縮方法，該方法包括A、輸入測試電路中各路徑的可測路徑延遲故障構成的故障集以及測試電路的電路拓樸結構，對所述測試電路的每個原始輸入分別計算輸入相關區域；所述輸入相關區域為與所述原始輸入具有共同組合後繼的所有原始輸入；B、當所述原始輸入的輸入相關區域互不重疊時，將與所述原始輸入相關路徑的路徑延遲故障對應的測試向量進行壓縮，得到第一壓縮測試向量集；對所述第一壓縮測試向量集中各測試向量分別進行故障模擬，將故障模擬過程中測試出的路徑延遲故障從所述故障集中刪除；C、將所述故障集中剩餘的路徑延遲故障對應的測試向量進行壓縮，得到第二壓縮測試向量集；D、將所述第一壓縮測試向量集和第二壓縮測試向量集合併為壓縮測試向量集。較佳地，所述步驟B包括Bl、對所述故障集中的所有路徑延遲故障按其對應的路徑的起始點是否相同分類，將具有同一起始點的所有路徑對應的路徑延遲故障歸入對應的子集；B2、置所述測試電路原始輸入的邏輯值為非確定值；B3、對於每一個所述子集，當子集非空且當前輸入相關區域中所有的原始輸入的邏輯值均為非確定值，則從該子集中隨機選出某個路徑延遲故障，將該路徑延遲故障對應的測試向量存入所述第一壓縮測試向量集中，並#^居所述測試向量更新原始輸入的邏輯值；B4、用所述測試向量進行故障模擬，將故障模擬過程中測試出的路徑延遲故障從所述故障集中刪除。較佳地，所述步驟C包括Cl、從所述故障集中選擇設定數量的路徑延遲故障的對應路徑；C2、將選擇出的路徑放入當前目標集，根據故障激活和傳播條件設置當前目標集中所有路徑的信號線邏輯值及旁路輸入信號線邏輯值，若同一條信號線的邏輯值相同，則執行步驟C3;否則，執行步驟C4;C3、根據信號線的賦值要求逐步反向求值到所述測試電路的原始輸入，若反向求值成功，則將所述反向求值結果作為測試向量保存到所述第二壓縮測試向量集，並返回執行步驟C1;否則，執行步驟C4;C4、判斷所述故障集是否為空，若是，將選出的路徑對應路徑延遲故障分別進行測試向量生成，並保存到所述第二壓縮測試向量集；否則，將選出的路徑對應路徑延遲故障放回所述故障集，並返回執行步驟Cl。一種^各徑延遲故障測試向量的壓縮方法，該方法包4舌a、輸入測試電路中各路徑的可測路徑延遲故障構成的故障集以及測試電路的電路拓樸結構，對所述測試電路的每個原始輸入分別計算輸出相關區域；所述輸出相關區域包括能夠到達對應的原始輸出的所有原始輸入；b、當所述原始輸出的輸出相關區域互不重疊時，將與所述原始輸出相關路徑的路徑延遲故障對應的測試向量進行壓縮，得到第一壓縮測試向量集；對所述第一壓縮測試向量集中各測試向量分別進行故障模擬，將故障模擬過程中測試出的路徑延遲故障從所述故障集中刪除；c、將所述故障集中剩餘的路徑延遲故障對應的測試向量進行壓縮，得到第二壓縮測試向量集；d、將所述第一壓縮測試向量集和第二壓縮測試向量集合併為壓縮測試向量集。較佳地，所述步驟b包括bl、對所述故障集中的所有路徑延遲故障按其對應的路徑的終止點是否相同分類，將具有同一終止點的所有路徑對應的路徑延遲故障歸入對應的子集；b2、置所述測試電路原始輸入的邏輯值為非確定值；b3、對於每一個所述子集，當子集非空且當前輸出相關區域中所有的原始輸入的邏輯值均為非確定值，則從該子集中隨機選出某個路徑延遲故障，將該路徑延遲故障對應的測試向量存入所述第一壓縮測試向量集中，並根據所述測試向量更新原始輸入的邏輯值；b4、用所述測試向量進行故障模擬，將故障模擬過程中測試出的路徑延遲故障從所述故障集中刪除。較佳地，所述步驟c包括Cl、從所述故障集中選擇設定數量的路徑延遲故障的對應路徑；c2、將選擇出的路徑放入當前目標集，根據故障激活和傳播條件設置當前目標集中所有路徑的信號線邏輯值及旁路輸入信號線邏輯值，若同一條信號線的邏輯值相同，則執行步驟c3;否則，執行步驟c4;c3、根據信號線的賦值要求逐步反向求值到所述測試電路的原始輸入，若反向求值成功，則將所述反向求值結果作為測試向量保存到所述第二壓縮測試向量集，並返回執行步驟cl;否則，執行步驟c4;c4、判斷所述故障集是否為空，若是，將選出的路徑對應路徑延遲故障分別進行測試向量生成，並保存到所述第二壓縮測試向量集；否則，將選出的路徑對應路徑延遲故障放回所述故障集，並返回執行步驟cl。一種路徑延遲故障測試向量的壓縮裝置，該裝置包括故障輸入單元、第一壓縮單元、第二壓縮單元和測試向量存儲單元，其中，所述故障輸入單元，用於輸入測試電路中各路徑的可測路徑延遲故障構成的故障集以及測試電路的電路拓樸結構，對所述測試電路的每個原始輸入/原始輸出分別計算輸入相關區域/輸出相關區域；所述第一壓縮單元，用於當所述原始輸入/原始輸出的輸入相關區域/輸出相關區域互不重疊時，將與所述原始輸入/原始輸出相關路徑的路徑延遲故障對應的測試向量進行壓縮，並發送給所述測試向量存儲單元；根據壓縮後的測試向量分別進行故障模擬，將故障模擬得到的路徑延遲故障從所述故障集中刪除；所述第二壓縮單元，用於將所述故障集中剩餘的路徑延遲故障對應的測試向量進行壓縮，並發送給所述測試向量存儲單元；所述測試向量存儲單元，用於接收並存儲所迷第一壓縮單元和第二壓縮單元發送的測試向量。較佳地，所述第一壓縮單元包括分類子單元、初始化子單元、壓縮子單元和更新子單元，其中，所述分類子單元，用於對所述故障集中的所有路徑延遲故障按其對應的路徑起始點/終止點是否相同分類，將具有同一起始點/終止點的所有路徑對應路徑延遲故障歸入對應的子集；所述初始化子單元，用於置所述測試電路原始輸入的邏輯值為非確定值；所述壓縮子單元，用於對每一個所述子集，當子集非空且當前輸入相關區域/輸出相關區域中所有的原始輸入的邏輯值均為非確定值，則從該子集中隨機選出某個路徑延遲故障，記錄該路徑延遲故障對應的測試向量並發送給所述更新子單元；根據所述測試向量更新原始輸入的邏輯值；所述更新子單元，用於根據接收的測試向量進行故障模擬，將故障模擬過程中測試出的路徑延遲故障從所述故障集中刪除。較佳地，所述第二壓縮單元包括比較子單元、反向求值子單元、測試向量生成子單元和測試向量存儲子單元，其中，所述比較子單元，用於從所述故障集中選擇設定數量的路徑延遲故障的對應路徑，將選擇出的路徑放入當前目標集，根據故障激活和傳播條件設置當前目標集中所有路徑的信號線邏輯值及旁路輸入信號線邏輯值，若同一條信號線的邏輯值相同，則通知所述反向求值子單元；否則，通知所述測試向量生成子單元；所述反向求值子單元，用於將信號線的賦值要求逐步反向求值到所述測試電路的原始輸入，若反向求值成功，則將當前所得測試向量發送給所述測試向量存儲子單元；否則，通知所述測試向量生成子單元；所述測試向量生成子單元，用於判斷所述故障集是否為空，若是，將選出的路徑對應路徑延遲故障分別進行測試向量生成，則將當前所得測試向量發送給所述測試向量存儲子單元；否則，將選出的路徑對應路徑延遲故障放回所述故障集；所述測試向量存儲子單元，用於接收並存儲所述反向求值子單元和測試向量生成子單元發送的測試向量。本發明實施例採用路徑延遲故障測試向量生成等效電路，根據故障激活和傳播條件，將路徑延遲故障等效為無扇出電路中的單固定型故障。根據電路動態壓縮，採用基於扇出數的多目標路徑延遲故障測試向量生成技術，在路徑延遲故障測試向量生成過程中進行測試向量集合的動態壓縮，得到高壓縮比的路徑延遲故障壓縮測試向量集。本發明實施例提供的方法，在保證測試向量的故障覆蓋率為100%的基礎上，可以在較短時間內獲得很高的測試向量壓縮比，為晶片測試提供了可靠的路徑延遲故障測試方法。圖1為現有技術中電路結構中的組合後繼示意圖；圖2(a)~圖2(b)為本發明實施例基於輸入相關區域動態壓縮示意圖；圖3(a)~圖3(b)為本發明實施例基於輸出相關區域動態壓縮示意圖；圖4為本發明實施例提供的路徑延遲故障測試向量生成等效電路示意圖；圖5為本發明實施例1的主要實現原理流程圖；圖6為本發明實施例1中根據輸入相關區域進行測試向量動態壓縮的主要原理流程圖；圖7為本發明實施例1中基於扇出電路的多目標測試向量生成的主要原理流程圖；圖8為本發明實施例2的主要原理流程圖；圖9為本發明實施例2中根據輸出相關區域進行測試向量動態壓縮的主要原理流程圖；圖10為本發明實施例3提供的路徑延遲故障測試向量壓縮裝置結構示意圖；圖11為本發明實施例3中的第一壓縮單元結構示意圖；圖12為本發明實施例3中的第二壓縮單元結構示意圖。具體實施方式本發明採用路徑延遲故障測試向量生成等效電路，根據故障激活和傳播條件，將路徑延遲故障等效為無扇出電路中的單固定型故障。根據電路拓樸結構，將電路劃分為輸入相關區域或輸出相關區域，採用基於扇出數的多目標路徑延遲故障測試向量生成技術，在路徑延遲故障測試向量生成過程中進行測試向量集合的動態壓縮。本發明實施例中的輸入相關區域，是指與對應的原始輸入具有共同組合後繼的所有原始輸入。設路徑p的起始點為原始輸入a,與a具有共同組合後繼的原始輸入構成了路徑p的輸入相關區域。如圖2(a)與圖2(b)所示，兩條路徑的輸入相關區域不重疊，則兩條路徑對應的測試向量可進行壓縮。本發明實施例所指的輸出相關區域，是指能夠到達相應原始輸出的所有原始輸入。設路徑p的終止點為原始輸出b,能到達b的原始輸入構成了路徑p的輸出相關區域。如圖3(a)與圖3(b)所示，兩條路徑的輸出相關區域不重疊，則兩條^各徑對應的測試向量可進行壓縮。本發明實施例所指的路徑延遲故障通常發生在一個路徑之上，路徑是指電路中以原始輸入或觸發器為起始點，原始輸出或觸發器為終止點的一段電路，包括這段電路中的邏輯門器件以及相關A信號線等。如圖4所示，圖中實線框內為原電路，虛線框內為新引入的目標路徑所構成的無扇出電路，由於路徑a，e，與路徑ae故障激活與傳播的條件相同，並且無扇出電路中的路徑延遲故障與輸入端的單固定型故障等效，因此，路徑ae的延遲故障與a，處的單固定型故障等效。下面結合各個附圖對本發明實施例技術方案的主要實現原理、具體實施方式及其對應能夠達到的有益效果進行詳細的闡述。如圖5所示，本發明實施例1的主要實現原理流程如下步驟ll，輸入測試電路中各路徑的可測路徑延遲故障構成的故障集F以及測試電路的電路拓樸結構，對測試電路的每個原始輸入PIi分別計算輸入相關區域1—CONE(PIi)。這裡，對電路的3各徑延遲故障的測試可以通過計算機完成，因此，可以將所有可測的路徑延遲故障構成的故障集F以及測試電路的電路拓樸結構輸入計算機。電路拓樸結構可以是一個計算機可識別的電路結構文件。對每個原始輸入PI;計算輸入相關區域I一CONE(PIi)的具體計算方法為I—CONE(PIj)=驅動原始輸入PIi在電路中的所有後繼門的所有原始l^入；也就是說，原始輸入PIi的輸入相關區域I一CONE(PIj)是指與其具有共同組合後繼的所有原始輸入。這裡需要分別為每個原始輸入PIj計算對應的輸入相關區域I—CONE(PIi)。故障集F中包含了所有在被測電路中可能存在並可以被測試出來的路徑延遲故障。由於路徑延遲故障一定存在於某個路徑上，因而每個路徑延遲故障對應一個相應的路徑。根據故障激活與故障傳播的條件和原理，可以得到集合F中每個路徑延遲故障對應的原始輸入PIi的邏輯值，也就是可以得到該路徑延遲故障對應的測試向量。步驟12，當原始輸入PIi的輸入相關區域IJ30NE(PIi)互不重疊時，將與原始輸入PIj相關路徑的路徑延遲故障對應的測試向量進行壓縮；根據壓縮後的測試向量分別進行故障模擬，將故障模擬過程中測試出的路徑延遲故障從故障集F中刪除。設路徑p的起始點為原始輸入a,與a具有共同組合後繼的原始輸入構成了路徑p的輸入相關區域。對某個測試向量而言，若路徑p的輸入相關區域在此測試向量下的值全部為非確定值，則對路徑p作路徑延遲故障測試向量生成後，所得到的測試向量可與此測試向量進行壓縮。在根據輸入相關區域對測試向量進行動態壓縮後，保留壓縮後的測試向量，並根據壓縮後的測試向量進行故障模擬，也就是根據壓縮後的測試向量確定出可以被這些測試向量測試出的路徑延遲故障，並將這些路徑延遲故障從故障集F中刪除。步驟13,將故障集F中剩餘的路徑延遲故障對應的測試向量進行壓縮。本實施例中，將故障集F中剩餘的路徑延遲故障對應的測試向量進^f亍壓縮的方法可以為將故障集F中剩餘的路徑延遲故障對應的測試向量——進行比對，將可以壓縮的測試向量進行壓縮，直到剩餘的測試向量均不能壓縮為止；或者，根據故障激活和故障傳播條件，判斷故障對應的路徑的信號線邏輯值和旁路輸入信號線邏輯值是否相同，如果是，反向求值到對應的原始輸入PIj，從而得到相應的路徑延遲故障共同的測試向量，達到壓縮測試向量的目的。特別的，由於多個測試向量可以測到同一個故障，設測試向量集T(t,，t2，...，tn)可以測到故障f,設測試向量集T，(t、，t，2,t，m)可以測到故障f。釆用單目標路徑故障路徑延遲故障測試向量生成所得到的向量t,，t，,可能無法壓縮；而多目標路徑故障的路徑延遲故障測試向量生成則可以嘗試T與T，中向量的所有組合情況，從而更好地進行測試向量集合的壓縮。步驟14,將上述步驟12中得到測試向量和步驟13中得到的測試向量合併，得到壓縮測試向量集。較佳地，如圖6所示，上述實施例中的步驟12,具體包括步驟121，對路徑延遲故障集合F中的所有路徑延遲故障對應的路徑，按照起始點是否相同分類，將具有同一起始點原始輸入PIj的所有路徑延遲故障對應的路徑歸入對應的子集合SUB(PIi);步驟122，置電路原始輸入的邏輯值為非確定值；步驟123，對於i從1到n_PI(原始輸入的個數)，若該子集合SUB(PIi)非空且輸入相關區域I—CONE(PIi)中所有原始輸入PIi的邏輯值均為非確定值，則從該子集合SUB(PIi)中隨機選出某個路徑延遲故障，進行路徑延遲故障測試向量生成，並據此更新電路原始輸入PIi的邏輯值；步驟124,用所得測試向量進行故障模擬，將故障模擬得到的路徑延遲故障從故障集F中刪除，更新路徑延遲故障集合F。較佳地，如圖7所示，上述實施例中的步驟13，具體包括步驟131，從路徑延遲故障集合F中選擇一定數量的路徑延遲故障對應路徑；這裡，選取路徑延遲故障的數量可以預先設定，可以選取集合F中所有的路徑延遲故障對應路徑，也可以選取集合F中的部分路徑延遲故障對應路徑。步驟132,將選擇出的路徑放入當前目標集合C,根據故障激活和傳播條件設置當前目標集合C中所有路徑的信號線邏輯值及旁路輸入信號線邏輯值，若同一個信號線的邏輯值相同，則執行步驟133;否則，執行步驟134;步驟133，將信號線的賦值要求反向求值(根據門的輸出值求其輸入值)到電路的原始輸入PI;,若反向求值成功，則保存當前所得測試向量，並返回執行步驟131;否則，執行步驟134;步驟134,判斷故障集F是否為空，若是，將選出的路徑對應路徑延遲故障分別進行測試向量生成，將所得測試向量與步驟133中所得測試向量合併存儲；否則，將選出的路徑放迴路徑延遲故障集合F,並返回執行步驟131。如此循環，直到路徑延遲故障集合F中所有故障對應路徑均已經無法進行測試向量壓縮，此時，存儲的測試向量即為路徑延遲故障的壓縮後的測試向量。本實施例所提供的方法，通過計算每個原始輸入PIj的輸入相關區域I_CONE(PI0,並根據輸入相關區域I一CONE(PIi)將電路中可測試的路徑延遲故障對應的測試向量進行動態壓縮，而後，採用基於扇出數的多目標路徑延遲故障測試向量生成技術完成對剩餘的路徑延遲故障對應的測試向量生成與壓縮。相應的，本發明實施例2提供一種路徑延遲故障測試向量壓縮方法，如圖8所示，具體如下步驟21，輸入測試電路中各路徑的可測路徑延遲故障構成的故障集F以及測試電路的電路拓樸結構，對測試電路的每個原始輸出POi分別計算輸出相關區域O一CONE(POO。這裡，對電路的路徑延遲故障的測試可以通過計算機完成，因此，可以將所有可測的路徑延遲故障構成的故障集F以及測試電路的電路拓樸結構輸入計算機。電路拓樸結構可以是一個計算機可識別的電路結構文件。對每個原始輸出POi計算輸出相關區域0_CONE(POi)的具體計算方法為O—CONE(POi)=原始輸出POi在電路中所有前繼門可達所有原始輸出；也就是說，原始輸出POi的輸出相關區域O一CONE(POj)是指與其具有共同組合後繼的所有原始輸入。這裡需要分別為每個原始輸出PO,計算對應的輸出相關區域0_CONE(POi)。故障集F中包含了所有在被測電路中可能存在並可以被測試出來的路徑延遲故障。由於路徑延遲故障一定存在於某個路徑上，因而每個路徑延遲故障對應一個相應的路徑。根據故障激活與故障傳播的條件和原理，可以得到集合F中每個路徑延遲故障對應的原始輸入PIi的邏輯值，也就是可以得到該路徑延遲故障對應的測試向量。步驟22,當原始輸出POi的輸出相關區域Oj:ONE(POi)互不重疊時，將與該原始輸出POi相關路徑的路徑延遲故障對應的測試向量進行壓縮；根據壓縮後的測試向量進行故障模擬，將故障模擬過程中測試的路徑延遲故障從故障集F中刪除。設路徑p的終止點為原始輸出b，能到達b的原始輸入構成了路徑p的輸出相關區域。對某個測試向量而言，若路徑p的輸出相關區域在此測試向量下的值全部為非確定值，則對路徑p作路徑延遲故障測試向量生成後，所得到的測試向量可與此測試向量進行壓縮。在根據輸出相關區域對測試向量進行動態壓縮後，保留壓縮後的測試向量，並根據壓縮後的測試向量進行故障模擬，也就是根據壓縮後的測試向量確定出可以被這些測試向量測試出的路徑延遲故障，並將這些路徑延遲故障從故障集F中刪除。步驟23，將故障集F中剩餘的路徑延遲故障對應的測試向量進行壓縮。本實施例中，將故障集F中剩餘的路徑延遲故障對應的測試向量進行壓縮的方法可以為將故障集F中剩餘的路徑延遲故障對應的測試向量——進行比對，將可以壓縮的測試向量進行壓縮，直到剩餘的測試向量均不能壓縮為止；或者，根據故障激活和故障傳播條件，判斷故障對應的路徑的信號線邏輯值和旁路輸入信號線邏輯值是否相同，如果是，反向求值到對應的原始輸入PI"從而得到相應的路徑延遲故障共同的測試向量，達到壓縮測試向量的目的。特別的，由於多個測試向量可以測到同一個故障，-沒測試向量集T(tbt2，U可以測到故障f,設測試向量集T，(t，i，t，2,t，m)可以測到故障f。採用單目標路徑故障路徑延遲故障測試向量生成所得到的向量ti,t、可能無法壓縮；而多目標路徑故障的路徑延遲故障測試向量生成則可以嘗試T與T，中向量的所有組合情況，從而更好地進行測試向量集合的壓縮。步驟24，將上述步驟22中得到測試向量和步驟23中得到的測試向量合併，得到壓縮測試向量集。較佳地，如圖9所示，上述實施例2中的步驟22,具體包括步驟221，對路徑延遲故障集合F中的所有路徑延遲故障對應的路徑，按照終止點是否相同分類，將具有同一終止點原始輸出POi的所有路徑延遲故障對應的路徑歸入對應的子集合SUB(PO0;步驟222,置電路原始輸入的邏輯值為非確定值；步驟223,對於i從1到n_PO(原始輸入的個數)，若該子集合SUB(POi)非空且輸出相關區域O—CONE(POi)中所有原始輸出POj的邏輯值均為非確定值，則從該子集合SUB(POi)中隨機選出某個路徑延遲故障，進行路徑延遲故障測試向量生成，並據此更新電路原始輸入PI;的邏輯值；步驟224,用所得測試向量進行故障模擬，將故障模擬得到的路徑延遲故障從故障集F中刪除，更新路徑延遲故障集合F。特別的，上述實施例2中步驟23的具體實現方式與本發明實施例1中步驟13的具體實施方式相同，此處不再贅述。本實施例所提供的方法，通過計算每個原始輸出POi的輸出相關區域O—CONE(POi)，並根據輸出相關區域O—CONE(POi)將電路中可測試的路徑延遲故障對應的測試向量進行動態壓縮，而後，採用基於扇出數的多目標^各徑延遲故障測試向量生成技術完成對剩餘的路徑延遲故障對應的測試向量生成與壓縮。相應的，本發明實施例3還提供一種路徑延遲故障測試向量壓縮裝置，如圖IO所示，該裝置包括故障輸入單元31、第一壓縮單元32、第二壓縮單元33和測試向量存儲單元34，具體如下故障輸入單元31，用於輸入測試電路中各路徑的可測路徑延遲故障構成的故障集以及測試電路的電路拓樸結構，對測試電路的每個原始輸入/原始輸出分別計算輸入相關區域/輸出相關區域；特別的，這裡只需要分別為測試電路的每個原始輸入計算對應的輸入相關區域，或分別為測試電路的每個原始輸出計算對應的輸出相關區域，不需要同時計算輸入相關區域和輸出相關區域。第一壓縮單元32,用於當所述原始輸入/原始輸出的輸入相關區域/輸出相關區域互不重疊時，將與所述原始輸入/原始輸出相關路徑的路徑延遲故障對應的測試向量進行壓縮，並發送給測試向量存儲單元34;根據壓縮後的測試向量分別進行故障模擬，將故障模擬得到的路徑延遲故障從故障集中刪除；第二壓縮單元33,用於將故障集中剩餘的路徑延遲故障對應的測試向量進行壓縮，並發送給測試向量存儲單元34;測試向量存儲單元34，用於接收並所述第一壓縮單元32和第二壓縮單元33發送的測試向量。這裡得到的測試向量即為壓縮後的測試向量，可以在保證故障覆蓋率為100%的基礎上，可以在較短時間內獲得很高的測試向量壓縮比。較佳地，如圖ll所示，上述實施例3中的第一壓縮單元32具體包括分類子單元321、初始化子單元322、壓縮子單元323和更新子單元324，具體如下分類子單元321，用於對故障集中的所有路徑延遲故障對應的路徑按照起始點/終止點是否相同分類，將具有同一起始點/終止點的所有路徑延遲故障對應^各徑歸入對應的子集；特別的，這裡可以分別對故障集中的所有路徑延遲故障對應的路徑按照起始點是否相同分類，或者對故障集中的所有路徑延遲故障對應的路徑按照終止點是否相同分類。初始化子單元322，用於置電路原始輸入的邏輯^i為非確定值；壓縮子單元323，用於對每一個具有同一起始點/終止點的路徑延遲故障對應的路徑，如果對應的子集非空且輸入相關區域/輸出相關區域中所有的原始輸入的邏輯值均為非確定值，則從該子集中隨機選出某個路徑延遲故障，記錄該路徑延遲故障對應的測試向量並發送給更新子單元324,根據測試向量更新原始輸入的邏輯值；更新子單元324,用於根據接收的測試向量進行故障模擬，將故障模擬得到的路徑延遲故障從故障集中刪除。較佳地，如圖12所示，上述實施例3中的第二壓縮單元33具體包括比較子單元331、反向求值子單元332、測試向量生成子單元333和測試向量存儲子單元334，具體如下比較子單元331,用於從故障集中選擇設定數量的路徑延遲故障對應路徑，將選擇出的路徑放入當前目標集，根據故障激活和傳播條件設置當前目標集中所有路徑的信號線邏輯值及旁路輸入信號線邏輯值，若同一個信號線的邏輯值相同，則通知反向求值子單元332;否則，通知測試向量生成子單元333;反向求值子單元332,用於將信號線的賦值要求逐步反向求值到電路的原始輸入，若反向求值成功，則將當前所得測試向量發送給測試向量存儲子單元334;否則，通知測試向量生成子單元333;測試向量生成子單元333,用於判斷故障集是否為空，若是，將選出的路徑對應路徑延遲故障分別進行測試向量生成，則將當前所得測試向量發送給測試向量存儲子單元334;否則，將選出的路徑對應路徑延遲故障放回故障集；測試向量存儲子單元334，用於接收並存儲反向求值子單元332和測試向量生成子單元333發送的測試向量。本發明實施例提供的裝置，在保證測試向量的故障覆蓋率為100%的基礎上，可以在較短時間內獲得很高的測試向量壓縮比，為晶片測試提供了可靠的路徑延遲故障測試方法。表1是將本發明應用到標準的ISCAS89電路進行測試向量壓縮的實驗結果表，實驗平臺為SUNBLADE2000工作站。表1中，circuit為電路名稱，#path為路徑延遲故障數，FC表示故障覆蓋率，弁vec表示測試向量數，ratio表示測試向量壓縮比，ratio是故障數與向量數的比值，Time表示路徑延遲故障測試向量生成所用時間。表ltableseeoriginaldocumentpage22tableseeoriginaldocumentpage23為了進一步說明本發明可以達到的有益效果，如表2所示，為本發明所提供的測試向量壓縮方法與兩種現有技術的測試向量壓縮方法壓縮測試效果的對比結果，其中，circuit為電路名稱，path為路徑延遲故障數，vec表示測試向量數，comp為壓縮比，ENRICH與NEAT為現有4支術中的兩種測試向量壓縮方法。表2tableseeoriginaldocumentpage23如表3所示，為本發明提供的測試向量壓縮方法與現有技術中另外一種測試向量壓縮方法對比結果，其中，circuit為電路名稱，path為路徑延遲故障數，selected表示可以測試到的路徑延遲故障，FC表示故障覆蓋率，vec表示測試向量數，comp為壓縮比，kaji.為現有技術中的測試向量壓縮方法。表3tableseeoriginaldocumentpage24由上述的表格中可以看出，採用本發明中的方法，可以在較短時間內獲得很高的測試向量壓縮比，並保證測試向量的故障覆蓋率為100%。顯然，本領域的技術人員可以對本發明進行各種改動和變型而不脫離本發明的精神和範圍。這樣，倘若本發明的這些修改和變型屬於本發明權利要求及其等同技術的範圍之內，則本發明也意圖包含這些改動和變型在內。權利要求1、一種路徑延遲故障測試向量的壓縮方法，其特徵在於，該方法包括A、輸入測試電路中各路徑的可測路徑延遲故障構成的故障集以及測試電路的電路拓撲結構，對所述測試電路的每個原始輸入分別計算輸入相關區域；所述輸入相關區域為與所述原始輸入具有共同組合後繼的所有原始輸入；B、當所述原始輸入的輸入相關區域互不重疊時，將與所述原始輸入相關路徑的路徑延遲故障對應的測試向量進行壓縮，得到第一壓縮測試向量集；對所述第一壓縮測試向量集中各測試向量分別進行故障模擬，將故障模擬過程中測試出的路徑延遲故障從所述故障集中刪除；C、將所述故障集中剩餘的路徑延遲故障對應的測試向量進行壓縮，得到第二壓縮測試向量集；D、將所述第一壓縮測試向量集和第二壓縮測試向量集合併為壓縮測試向量集。2、如權利要求l所述的方法，其特徵在於，所述步驟B包括Bl、對所述故障集中的所有路徑延遲故障按其對應的路徑的起始點是否相同分類，將具有同一起始點的所有路徑對應的路徑延遲故障歸入對應的子集；B2、置所述測試電路原始輸入的邏輯值為非確定值；B3、對於每一個所述子集，當子集非空且當前輸入相關區域中所有的原始輸入的邏輯值均為非確定值，則從該子集中隨機選出某個路徑延遲故障，將該路徑延遲故障對應的測試向量存入所述第一壓縮測試向量集中，並根據所述測試向量更新原始輸入的邏輯值；B4、用所述測試向量進行故障模擬，將故障模擬過程中測試出的路徑延遲故障從所述故障集中刪除。3、如權利要求2所述的方法，其特徵在於，所述步驟C包括-.Cl、從所述故障集中選擇設定數量的路徑延遲故障的對應路徑；C2、將選擇出的路徑放入當前目標集，根據故障激活和傳播條件設置當前目標集中所有路徑的信號線邏輯值及旁路輸入信號線邏輯值，若同一條信號線的邏輯值相同，則執行步驟C3;否則，執行步驟C4;C3、根據信號線的賦值要求逐步反向求值到所述測試電路的原始輸入，若反向求值成功，則將所述反向求值結果作為測試向量保存到所述第二壓縮測試向量集，並返回執行步驟C1;否則，執行步驟C4;C4、判斷所述故障集是否為空，若是，將選出的路徑對應路徑延遲故障分別進行測試向量生成，並保存到所述第二壓縮測試向量集；否則，將選出的路徑對應路徑延遲故障放回所述故障集，並返回執行步驟Cl。4、一種路徑延遲故障測試向量的壓縮方法，其特徵在於，該方法包括a、輸入測試電路中各路徑的可測路徑延遲故障構成的故障集以及測試電路的電路拓樸結構，對所述測試電路的每個原始輸入分別計算輸出相關區域；所述輸出相關區域包括能夠到達對應的原始輸出的所有原始輸入；b、當所述原始輸出的輸出相關區域互不重疊時，將與所述原始輸出相關路徑的路徑延遲故障對應的測試向量進行壓縮，得到第一壓縮測試向量集；對所述第一壓縮測試向量集中各測試向量分別進行故障模擬，將故障模擬過程中測試出的路徑延遲故障從所述故障集中刪除；c、將所述故障集中剩餘的路徑延遲故障對應的測試向量進行壓縮，得到第二壓縮測試向量集；d、將所述第一壓縮測試向量集和第二壓縮測試向量集合併為壓縮測試向量集。5、如權利要求4所述的方法，其特徵在於，所述步驟b包括bl、對所述故障集中的所有路徑延遲故障:接其對應的路徑的終止點是否相同分類，將具有同一終止點的所有路徑對應的路徑延遲故障歸入對應的子集；b2、置所述測試電路原始輸入的邏輯值為非確定值；b3、對於每一個所述子集，當子集非空且當前輸出相關區域中所有的原始輸入的邏輯值均為非確定值，則從該子集中隨機選出某個路徑延遲故障，將該路徑延遲故障對應的測試向量存入所述第一壓縮測試向量集中，並#4居所述測試向量更新原始輸入的邏輯值；b4、用所述測試向量進行故障模擬，將故障模擬過程中測試出的路徑延遲故障從所述故障集中刪除。6、如權利要求5所述的方法，其特徵在於，所述步驟c包括c1、從所述故障集中選擇設定數量的路徑延遲故障的對應路徑；c2、將選擇出的路徑放入當前目標集，根據故障激活和傳播條件設置當前目標集中所有路徑的信號線邏輯值及旁路輸入信號線邏輯值，若同一條信號線的邏輯值相同，則執行步驟c3;否則，執行步驟c4;c3、根據信號線的賦值要求逐步反向求值到所述測試電路的原始輸入，若反向求值成功，則將所述反向求值結果作為測試向量保存到所述第二壓縮測試向量集，並返回執行步驟cl;否則，執行步驟c4;c4、判斷所述故障集是否為空，若是，將選出的路徑對應路徑延遲故障分別進行測試向量生成，並保存到所述第二壓縮測試向量集；否則，將選出的路徑對應路徑延遲故障放回所述故障集，並返回執行步驟cl。7、一種路徑延遲故障測試向量的壓縮裝置，其特徵在於，該裝置包括故障輸入單元、第一壓縮單元、第二壓縮單元和測試向量存儲單元，其中，所述故障輸入單元，用於輸入測試電路中各路徑的可測路徑延遲故障構成的故障集以及測試電路的電路拓樸結構，對所述測試電路的每個原始輸入/原始輸出分別計算輸入相關區域/輸出相關區域；所述第一壓縮單元，用於當所述原始輸入/原始輸出的輸入相關區域/輸出相關區域互不重疊時，將與所述原始輸入源始輸出相關路徑的路徑延遲故障對應的測試向量進行壓縮，並發送給所述測試向量存儲單元；根據壓縮後的測試向量分別進行故障模擬，將故障模擬得到的路徑延遲故障從所述故障集中刪除；所述第二壓縮單元，用於將所述故障集中剩餘的路徑延遲故障對應的測試向量進行壓縮，並發送給所述測試向量存儲單元；所述測試向量存儲單元，用於接收並存儲所述第一壓縮單元和第二壓縮單元發送的測試向量。8、如權利要求7所述的裝置，其特徵在於，所述第一壓縮單元包括分類子單元、初始化子單元、壓縮子單元和更新子單元，其中，所述分類子單元，用於對所述故障集中的所有路徑延遲故障按其對應的路徑起始點/終止點是否相同分類，將具有同一起始點/終止點的所有路徑對應路徑延遲故障歸入對應的子集；所述初始化子單元，用於置所述測試電路原始輸入的邏輯值為非確定值；所述壓縮子單元，用於對每一個所述子集，當子集非空且當前輸入相關區域/輸出相關區域中所有的原始輸入的邏輯值均為非確定值，則從該子集中隨機選出某個路徑延遲故障，記錄該路徑延遲故障對應的測試向量並發送給所述更新子單元；根據所述測試向量更新原始輸入的邏輯值；所述更新子單元，用於根據接收的測試向量進行故障模擬，將故障模擬過程中測試出的路徑延遲故障從所述故障集中刪除。9、如權利要求8所述的裝置，其特徵在於，所述第二壓縮單元包括比較子單元、反向求值子單元、測試向量生成子單元和測試向量存儲子單元，其中，所述比較子單元，用於從所述故障集中選擇設定數量的路徑延遲故障的對應路徑，將選擇出的路徑放入當前目標集，根據故障激活和傳播條件設置當前目標集中所有路徑的信號線邏輯值及旁路輸入信號線邏輯值，若同一條信號線的邏輯值相同，則通知所述反向求值子單元；否則，通知所述測試向量生成子單元；所述反向求值子單元，用於將信號線的賦值要求逐步反向求值到所述測試電路的原始輸入，若反向求值成功，則將當前所得測試向量發送給所述測試向量存儲子單元；否則，通知所述測試向量生成子單元；所述測試向量生成子單元，用於判斷所述故障集是否為空，若是，將選出的路徑對應路徑延遲故障分別進行測試向量生成，則將當前所得測試向量發送給所述測試向量存儲子單元；否則，將選出的路徑對應路徑延遲故障放回所述故障集；所述測試向量存儲子單元，用於接收並存儲所述反向求值子單元和測試向量生成子單元發送的測試向量。全文摘要本發明實施例公開了一種路徑延遲故障測試向量壓縮方法及裝置，採用路徑延遲故障測試向量生成等效電路，根據故障激活和傳播條件，將路徑延遲故障等效為無扇出電路中的單固定型故障。根據電路拓撲結構，將電路劃分為輸入相關區域和輸出相關區域並分別進行測試向量的動態壓縮，採用基於扇出數的多目標路徑延遲故障測試向量生成技術，在路徑延遲故障測試向量生成過程中進行測試向量集合的動態壓縮，得到高壓縮比的路徑延遲故障壓縮測試向量集。本發明實施例提供的方法，在保證故障覆蓋率為100％的基礎上，可以在較短時間內獲得很高的測試向量壓縮比，為晶片測試提供了可靠的路徑延遲故障測試方法。文檔編號G01R31/3183GK101221216SQ20081005667公開日2008年7月16日申請日期2008年1月23日優先權日2008年1月23日發明者東向,李開偉申請人:清華大學