調試電路及具有該調試電路的主板的製作方法
2023-06-04 07:49:06 2
調試電路及具有該調試電路的主板的製作方法
【專利摘要】本發明涉及一種調試電路及具有該調試電路的主板。該調試電路，用於調整一待測晶片輸入的控制信號至一預期數值。該待測晶片包括多個控制信號輸入端、至少一數據控制信號輸入端及至少一信號輸出端，該調試電路包括電阻單元及調整單元，該電阻單元包括多個電阻，該多個控制信號輸入端分別與該多個電阻一一對應相連，該調整單元包括與該電阻單元中的電阻等數目的控制端，該多個控制端分別通過相應電阻連接至每個控制信號輸入端，用於通過改變輸出至該多個控制端的電壓值改變加載在每個控制信號輸入端的電位。
【專利說明】調試電路及具有該調試電路的主板
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種調試電路及具有該調試電路的主板。
【背景技術】
[0002]在主板的設計階段，需要調整主板上一些晶片中控制信號輸入端的電信號值或晶片內部寄存器內數據以達到控制晶片輸出信號的電壓強弱、跳變時間的快慢等參數的目的。通常，業界採用選擇性地將待測的晶片的多個控制控制信號輸入端中的部分或全部控制信號輸入端焊接電阻，再將電阻上拉至電源或下拉至「地」(Ground)。然後觀測待測晶片的輸出信號是否符合當前需求。當待測晶片的輸出信號不符合當前要求時，通常，需要熔融電阻以便調整焊接電阻的連接位置或在電路板上重新插入所需的上拉或下拉電阻。如此以來，每次在電路板上焊接電阻或者重新插入所需的上拉或者下拉電阻都會造成時間的浪費，調試效率較低。
【發明內容】
[0003]因此，有必要提供一種調試效率較高的調試電路。
[0004]也有必要提供一種具有該調試電路的主板。
[0005]一種調試電路，用於調整一待測晶片輸入的控制信號至一預期數值，該待測晶片包括多個控制信號輸入端、至少一數據控制信號輸入端及至少一信號輸出端，該調試電路包括電阻單元及調整單元，該電阻單元包括多個電阻，該多個控制信號輸入端分別與該多個電阻一一對應相連，該調整單元包括與該電阻單元中的電阻等數目的控制端，該多個控制端分別通過相應電阻連接至每個控制信號輸入端，用於通過改變輸出至該多個控制端的電壓值改變加載在每個控制信號輸入端的電位。
[0006]一種主板，該主板包括至少一待測晶片，該待測晶片包括多個控制信號輸入端、至少一數據控制信號輸入端及信號輸出端，該主板還包括一調試電路，用於調整該待測晶片輸入端的控制信號至一預期數值，該調試電路包括電阻單元及調整單元，該電阻單元包括多個電阻，該多個控制信號輸入端分別與該多個電阻一一對應相連，該調整單元包括與該電阻單元中的電阻等數目的控制端，該多個控制端分別通過相應電阻連接至每個控制信號輸入端，用於通過改變輸出至該多個控制端的電壓值改變加載在每個控制信號輸入端的電位。
[0007]與現有技術相較，本發明調試電路及包括該調試電路的主板將待測晶片中的每個控制信號輸入端均與電阻單元中的相應電阻相連，該多個控制信號輸入端分別與該多個電阻一一對應相連，該調整單元包括與該電阻單元中電阻等數目的控制端，該多個控制端分別通過相應電阻連接至每個控制信號輸入端。通過改變輸出至該多個控制端的電壓值改變加載在每個控制信號輸入端的電位，進而改變該待測晶片的輸出信號的大小。實施本發明，不需要調整焊接電阻的連接位置或在主板上重新插入上拉電阻或下拉電阻，從而達到了提高調試效率的技術效果。【專利附圖】
【附圖說明】
[0008]下面結合附圖及較佳實施方式對本發明作進一步詳細描述:
圖1為本發明調試電路用於檢測待測晶片一較佳實施方式的示意圖。
[0009]主要元件符號說
【權利要求】
1.一種調試電路，用於調整一待測晶片輸入的控制信號至一預期數值，該待測晶片包括多個控制信號輸入端、至少一數據控制信號輸入端及至少一信號輸出端，其特徵在於，該調試電路包括電阻單元及調整單元，該電阻單元包括多個電阻，該多個控制信號輸入端分別與該多個電阻一一對應相連，該調整單元包括與該電阻單元中的電阻等數目的控制端，該多個控制端分別通過相應電阻連接至每個控制信號輸入端，用於通過改變輸出至該多個控制端的電壓值改變加載在每個控制信號輸入端的電位。
2.如權利要求1所述的調試電路，其特徵在於，該調整單元包括開關單元、第一檢測電源及第二檢測電源，該第一檢測電源及該第二檢測電源用於提供改變該控制端的電位所需的電壓，該開關單元用於選擇與該第一檢測電源還是第二檢測電源電連接，以改變輸出至該多個控制端的電壓值。
3.如權利要求2所述的調試電路，其特徵在於，該開關單元包括與該控制端等數目的多個雙端切換開關，該雙端切換開關包括第一端、第二端及第三端，每個雙端切換開關的第一端分別經由一控制端及一電阻連接至相應的控制信號輸入端，每個雙端切換開關的第二端連接該第一檢測電源，每個雙端切換開關的第三端連接該第二檢測電源，該雙端切換開關通過該第一端連接該第二端或該第一端連接該第三端以控制該第一檢測電源及該第二檢測電源提供給每個控制端的電通路的斷開與連接。
4.如權利要求2所述的調試電路，其特徵在於，該第一檢測電源的電壓值為5V，該第二檢測電源提供一接地信號。
5.如權利要求2所述的調試電路，其特徵在於，每一雙開關單元由一串聯的NMOS開關管及PMOS開關管構成，其中，一開關管的漏極接該第一檢測電源，源極與另一開關管的漏極相連，且作為該開關單元的一控制端與相應的一電阻相連，另一開關管的源極接該第二檢測電源，二開關管的柵 極用於接收一開關控制信號。
6.如權利要求1所述的調試電路，其特徵在於，該調試電路還包括判斷單元，該判斷單元連接該信號輸出端，用於讀取該待測晶片的輸出信號，並將讀取到的輸出信號的參數與該判斷單元內預存的標準信號的參數進行比較，當該輸出信號的參數與該預存的標準信號的參數相同或者差異在一預定範圍內時，則該判斷單元認為該輸出信號與該預存的標準信號相同。
7.—種主板，該主板包括至少一待測晶片，該待測晶片包括多個控制信號輸入端、至少一數據控制信號輸入端及信號輸出端，其特徵在於，該主板還包括一調試電路，用於調整該待測晶片輸入端的控制信號至一預期數值，該調試電路包括電阻單元及調整單元，該電阻單元包括多個電阻，該多個控制信號輸入端分別與該多個電阻一一對應相連，該調整單元包括與該電阻單元中的電阻等數目的控制端，該多個控制端分別通過相應電阻連接至每個控制信號輸入端，用於通過改變輸出至該多個控制端的電壓值改變加載在每個控制信號輸入端的電位。
8.如權利要求7所述的主板，其特徵在於，該調整單元包括開關單元、第一檢測電源及第二檢測電源，該第一檢測電源及該第二檢測電源用於提供改變該控制端的電位所需的電壓，該開關單元用於選擇與該第一檢測電源還是第二檢測電源電連接，以改變輸出至該多個控制端的電壓值。
9.如權利要求8所述的主板，其特徵在於，該開關單元包括與該控制端等數目的多個雙端切換開關，該雙端切換開關包括第一端、第二端及第三端，每個雙端切換開關的第一端分別經由一控制端及一電阻連接至相應的控制信號輸入端，每個雙端切換開關的第二端連接該第一檢測電源，每個雙端切換開關的第三端連接該第二檢測電源，該雙端切換開關通過該第一端連接該第二端或該第一端連接該第三端以控制該第一檢測電源及該第二檢測電源提供給每個控制端的電通路的斷開與連接。
10.如權利要求8所述的主板，其特徵在於，該第一檢測電源的電壓為5V，該第二檢測電源提供一接地信號。
11.如權利要求8所述的主板，其特徵在於，每一雙開關單元由一串聯的NMOS開關管及PMOS開關管構成，其中，一開關管的漏極接該第一檢測電源，源極與另一開關管的漏極相連，且作為該開關單元的一控制端與相應的一電阻相連，另一開關管的源極接該第二檢測電源，二開關管的柵極用於接收一開關控制信號。
12.如權利要求1所述的主板， 其特徵在於，該調試電路還包括判斷單元，該判斷單元連接該信號輸出端，用於讀取該待測晶片的輸出信號，並將讀取到的輸出信號的參數與該判斷單元內預存的標準信號的參數進行比較，當該輸出信號的參數與該預存的標準信號的參數相同或者差異在一預定範圍內時，則該判斷單元認為該輸出信號與該預存的標準信號相同。
【文檔編號】G05B19/042GK104007683SQ201310060477
【公開日】2014年8月27日 申請日期:2013年2月27日 優先權日:2013年2月27日
【發明者】黃髮生 申請人:鴻富錦精密工業（深圳）有限公司, 鴻海精密工業股份有限公司