用磁測試盤檢測盤式驅動裝置誤差信號的方法和步驟的製作方法
2023-06-20 01:56:46
專利名稱:用磁測試盤檢測盤式驅動裝置誤差信號的方法和步驟的製作方法
此項發明是用裝有磁頭定位系統的盤式驅動器檢測誤差信號的方法與步驟。方法採用磁測試盤，盤上的記錄區分布有多個測試磁軌，用以記錄測試信號。讀出測試磁軌中的測試信號，確定出讀出信號偏離預定位置和幅度的偏差，從而求出平均值。上述方法是用一個磁碟實現的。
磁頭在磁碟上各次運動的定位，將決定盤式驅動裝置讀寫功能的質量。特別是用FIexyDisks＊這種活動記錄裝置及其相配套的讀寫器時，能夠替換的裝置至關重要，尤其是記錄裝置的磁頭和/或磁頭調節器。此操作稱之為磁軌調節。為進行調節，使用能控制信號的調節盤，或CE盤。例如，按照德國已公開的申請DOS2，554，083，控制信號是通過磁通量的變化形成的，即在記錄磁軌中心線的每一邊交替地延伸，記錄在在磁碟中心區域的單個測試磁軌上。這些控制信號是調節信號，在測試磁軌周圍出現，被方向信號分成若干組，方向信號的幅度與調節信號的不同。
使用不同的調節信號和方向信號，能把信號較好地區分出來，並以簡單的形式在示波器上進行顯示。可以形成測試磁軌的完整的放大圖，從而使得校正磁頭位置和調節磁頭很簡便。
德國已公開的申請號DOS 3，117，911透露出使用具有成對磁軌的測試裝置，此成對的磁軌部分地或完全地彼此靠近，相＊西德路德維希港巴登胺尼林蘇打般份公司認可的註冊商業名稱。
對於正常的測試磁軌位置而言，有一個正負磁軌偏移。對準掃描磁頭，可讀出偏移的測試磁軌。預定數值的讀出誤差一出現，就可得到這對測試磁軌讀出信號的平均值，並用來校準掃描磁頭。上述出版物還透露，在兩個不靠近的測試磁軌產生的等量誤差情況下，有可能求出第一個正測試磁軌的讀出信號與第二個負測試磁軌的讀出信號的平均值，並用此平均值產生一個調節磁頭的信號。上述出版物進一步介紹，對於一個最大值，仍可處理測試信號讀出的偏差，並能記錄特定的正磁軌偏差的絕對值與特定的負磁軌偏差的絕對值，用這兩個數值可求出構成質量參數的平均值。
總之，對這兩個誤差信號進行平均，用此平均值衡量磁頭定位的質量。採用上述的一對測試磁軌，與單個磁軌掃瞄周期相比，需要兩倍於它的讀出時間。況且，可容許的測試磁軌的最大數目只是理論上的測試磁軌數的一半。在一個磁軌上使用相同數值的不可區分的測試信號，只有採用複雜的程序才能得出角度位置數值，即偏心率數值。如果為控制測試程序使磁軌保持自由狀態，那末恰好在此磁軌區域中偏離信號消失。
此項發明的一個目的是對改進的、更加綜合性的誤差信號的檢測和評價提供一種方法。
我們發明，按照本發明，如若滿足下列條件，此目的可以達到。
-測試信號是由調節信號和方向信號組成。調節信號交替地記錄在記錄磁軌中心線的兩邊，而且幅度相同;方向信號把調節信號分為若干組，且方向信號的幅度不同於調節信號。
-在每組調節信號當中，調節信號的實際位置和實際幅度是確定的，從而導出一組的平均值。
-每個單個測試磁軌的組平均值用來計算一個磁軌的平均值，並將後者存儲起來。
-多個測試磁軌的磁軌平均值用來計算總平均值，並存儲起來。
根據所要求的精度，最大限度可以檢測出全部可能的測試磁軌的誤差信號，並作為特殊參量的函數，或者與正常情況下的特殊誤差效果有關;如果需要的話，對誤差信號進行評價，例如質量核查;如果適當，可在製作裝置時用於磁頭調節;在讀出操作時用來對磁頭進行校準;必要時，在裝置的讀出過程中，對讀出信號進行理論修正。
上述存儲磁軌的平均值和總平均值至少可以有效地用於對磁頭定位系統進行修正。
在使用裝有步進電動機定位系統的驅動器作進一步測試時，要選取測試盤上測試磁軌的位置和數量，並對磁軌進行掃瞄，使它們與步進電動機的電動機相位數不一致。用此法檢測步進電動機各步的誤差信號特別容易，並可避免抑制這些信號。
因此，在三相步進電動機定位系統的盤式驅動器中，可方便地對每隔三個記錄磁軌的測試信號進行讀出和評價，而在四相步進電動機定位系統中，可對每隔兩個記錄磁軌的信號進行讀出和評價。
用此方法也可以對磁測試盤上的第二個、第五個和第七個等記錄磁軌的測試信號的組合，進行適當的掃瞄和評價。
實際上，如果從基準測試磁軌開始，也可以方便地對測試信號進行連續的讀出和處理。例如從第一個方向，即增加或減少磁軌數的方向，進行連續處理。在顛倒讀出方向後，磁軌在第二個方向進行連續讀出和處理。兩個方向的平均值累計起來，得出總平均值。
這樣便可以對預定磁軌的兩個方向進行掃描，來測試磁頭定位的磁滯效應。因此，磁滯效應包含在總平均值裡。
下一步是從基準測試磁軌的磁軌平均值減去存儲的總平均值，餘下的平均值用來修正基準測試磁軌的磁頭位置。
因此，如果基準磁軌安排得當，在可用的記錄區域內即可得到最佳的誤差補償。
如上所述，本方法所用的磁測試盤上有由調節信號和方向信號組成的測試信號。調節信號交替地記錄在記錄磁軌中心線的兩邊，並有相同的幅度。方向信號把調節信號分成若干組，方向信號的幅度與調節信號的不同。測試盤上裝有多個測試磁軌，均勻地分布在測試盤上的記錄區，對每隔兩個或每隔三個磁軌進行記錄。
安裝的CE盤製造簡單，用途廣泛。例如，如果裝備的測試磁碟上有儘可能多的載有測試信號的測試磁軌，當然也可以操縱任何所需要的記錄磁軌系列，例如，根據使用不同的步進電動機，只要每隔兩個或每隔三個記錄磁軌，即可檢測誤差信號。因此，測試盤在檢測各種類型的裝置方面，用途非常廣泛。
本發明的測試盤，至少在一部分記錄區域，也可以每隔一個記錄磁軌再每隔兩個記錄磁軌交替地對測試磁軌進行記錄。這就提供了一個裝有三相或四相步進電動機的組合測試盤。
使用這種方法的步驟是用上述具有多個磁軌的新式測試盤，每隔兩個或每隔三個記錄磁軌進行記錄，或者每隔一個然後再每隔兩個記錄磁軌進行記錄。磁軌均勻分布在磁碟的記錄區域內。電路包括一個控制級(以三磁軌、四磁軌或二磁軌的掃描周期對磁頭定位系統進行控制)，一個評價級(與掃瞄頭相連接)，一個平均值計算級，一個誤差信號存儲級，一個總平均值的顯示和書寫級。
這種電路可以經濟地用商業電子元器件組裝。
在另一種實用裝置中，控制級控制定位系統，以便使掃瞄頭系統從預定的初始測試磁軌，特別是從基準測試磁軌開始，在增加或減少磁軌數的第一個方向內讀出測試磁軌，在把讀出方向轉到相反的第二個方向以後，可讀出第二個方向的磁軌。這種電路適於測試定位磁滯效應，電路本身實質上並不複雜。
另一種電路是，存儲了總平均值以後，控制級通過定位系統控制基準測試磁軌上的掃瞄頭系統的導向，基準磁軌的磁軌平均值或者重新確定，或者從上述存儲級得到。然後從基準磁軌的磁軌平均值減去總平均值，所餘的平均值被顯示出來和/或用於自動磁頭調節裝置。
這樣便可以簡單地用手工方法或自動磁頭調節裝置來調節掃描磁頭系統。
這種方法和步驟所用的測試盤如下圖所示，圖中是一個具體裝置。
圖1是測試盤的解剖圖，裝有本發明的磁碟驅動器;
圖2為測試盤上測試磁軌的測試信號串聯的幾何圖形;
圖3為圖2中虛線20與21之間的一組測試信號;
圖4為測試磁碟上多個測試磁軌的測量偏差曲線;
圖5為本發明所用的一種新式的電路圖。
組成調節和控制系統19的主要裝置有驅動軸16(如解剖圖)，磁測試盤15(原文為「10」，此是按圖1標明的數字一一譯註)，磁頭定位系統11，長軸12，磁掃瞄頭系統的磁頭13。磁頭13可在長軸12上沿雙向箭頭d所指方向移動，磁碟15上的14表示中心圓形記錄磁軌(以下簡稱「磁軌」)，箭頭a表示驅動軸16的旋轉方向，驅動軸上的17從磁碟15上凸出出來，略呈錐形，成為磁碟15的中心。
圖2顯示了測試信號TS的串聯幾何圖形，圖中的測試信號沿磁軌的中心線18即上述的中心圓形記錄磁軌14向外延伸，b表示磁軌的寬度。測試信號TS由多個可變的磁通量組成。圖2中可以看到六組信號(Ⅰ至Ⅵ)，每組的長度是C。每組由三個方向信號1至3和六個調節信號4.5和8.9組成。方向信號對稱地排列在磁軌中心線18的兩邊調節信號交替地在中心線18的兩邊展開。方向信號和調節信號的幅度要選取適當，使它們可以區分開來(這可以用簡單的方法做到)，如方向信號1至3可由不同頻率信號2f，1f，2f交替組成。這裡，頻率f是數據系統的記錄頻率。在活動磁碟系統情況下，頻率f在轉速為360轉/分時是250千赫。在此情況下，調節信號最好是1f。
圖3為虛線20與虛線21之間信號的波形圖。它包含第Ⅲ組的方向信號1至3和調節信號4、5和8、9，以及第Ⅳ組的方向信號1至3，圖中未表示方位信號6和7。如圖所示，由磁頭13掃瞄出的讀出電壓U在y軸方向，是x軸上時間t的函數。
方向信號1至3用讀出電壓U2fc，U1fc和U1fc區分開，電壓U1fc的幅度比U2fc的大。在圖中，讀出電壓U1fi的幅度與U1f0的相同。由於讀出電壓的幅度是根據磁頭13相對於測試磁軌14的位置而產生的，讀出電壓U1fi與U1f0有相同幅度這一事實表明。
1)磁頭和磁碟的調節是正確的;
2)測試磁碟正好處在驅動軸的中心;
3)磁碟或活動磁碟是精確的圓形;
4)驅動軸精確地處在中心位置;
5)磁頭功能正常。
如果U1fi和U1f0的幅度不一樣，則正的差數表示測試磁碟15向磁軸方向移動了，而負的差數則表示向相反方向即遠離磁軸的方向移動了。
磁軌離開理想位置的位移△S的方程為△S= (U1fi-U1fo)/(U1fi-U1fo) · (S)/2
表示，式中，磁軌位移△S和調出磁頭的磁軌寬度S都用μm(微米)表示。調節長軸12上的磁頭可以比較精確地進行修正，或者至少可以補償這種磁頭/磁軌的調節誤差。這種補償可得到，方法是調節信號組n(n是組Ⅰ到組Ⅵ中的一個)讀出電壓與組n+3的讀出電壓的差，使其相等，通過調節磁頭可做到這點。這樣至少可使徑向偏心率減到最小值。在此偏心率補償實例中，信號組的總數假定為6。在各信號組的總數N不相同的情況，信號組n的磁軌偏移也應將相同的位移引進信號組n+ (N)/2 中，以便減小徑向誤差。
可以使用頻率1f和2f，但通常也可使用適於上述掃瞄速度或信號長度的全部頻率。為調節磁頭的方位角，可使用讀出電壓U2fc的頻率2f。然而，使用下述的測量方法可對方位角進行較好地調節。
在圖2中，在調節信號5和8之間有兩個方位信號6和7，用來控制磁頭H的方位角，在組Ⅰ至組Ⅵ中的任何一組中都可用方位信號6和7。但最好是只在一個磁軌中，例如在測試磁碟的磁軌1上。
測試信號、方向信號、調節信號和方位信號在下文中都用測試信號TS這個統稱。
測試盤(15)可以裝多個這種類型的測試磁軌。常規的FlexyDisks盤有37個或74個磁軌，每隔兩個或每隔三個磁軌，或者是交替地每隔一個然後再每兩個磁軌裝上測試信號。原則上，測試磁軌的數目可以根據測試信號的最大幅度來確定，例如兩個有效磁軌的寬度再加上一個延伸到鄰近測試磁軌的適當寬度的保證間距。為了能廣泛應用和提高調節及控制的精度，最好是使用和記錄儘可能多的測試磁軌。
一個組合測試盤的整個記錄區的測試磁軌也可以是交替分布的，即每隔一個再隔兩個磁軌。在這種裝置中，是在第二、第五、第七個等等的磁軌上記錄測試磁軌。當然，這種情況下，測試一個儀器只是每隔一個或只是每隔兩個磁軌進行掃瞄，這要取決於在定位系統(11)內是裝有3相還是4相步進電動機而定。
檢測誤差信號的方法如下將一個由單頭或雙頭組成的掃描頭H調節到任一預先確定的磁軌上，即可讀出測試信號(方向信號和調節信號)。考慮到測試盤的外緣和內緣之間區域的記錄能力，特別適合作基準磁軌SR的是16磁軌或32磁軌(對FlexyDisks盤是48磁軌或96磁軌)，因為這個磁軌大致處於磁碟的中心。方向信號和調節信號由掃描頭H以正弦波傳播出去，並藉助一個峰值應答檢波器AM在讀出放大器內被轉換成直流信號。方向信號通過一個響應頻率2f的濾物器F進行分離後，直接輸送到微處理機MP進行同步，以消除旋轉速度的不穩定現象。調節信號通過一個模數轉換器也被輸送到微處理機。微處理機MP確定信號的幅度，得出平均值，並將單個信號或平均後的信號輸送給作為儲存級的電可編程序只讀存儲器或隨機存取存儲器，通過導線L連接驅動界面SS，控制驅動功能，這種功能是檢測誤差信號所需要的。微處理機MP還與一個顯示器或書寫裝置相連接，和/或與一個自動掃瞄頭調節裝置D和一個輸入裝置(例如，一個鍵盤T)相接。整個線路的布置都在圖5中虛線25的方框以內。
在用方向信號對調節信號的幅度和同步進行確定之後，微處理機MP首先求得單個調節信號的平均值(單個平均值)，然後求得Ⅰ至Ⅵ組的每一組的調節信號平均值(組平均值)，最後求得整個測試磁軌的平均值(磁軌平均值)。
在可以計算平均值之前，磁軌誤差TE和偏心率誤差ES，總是分別通過調節信號的瞬時幅度加以確定，並儲存在隨機存取存儲器中。
當基準磁軌SR上的誤差信號檢測完成之後，即可對下一個測試磁軌，即磁軌19進行處理，如此重複進行這個過程直到對最後一個測試磁軌，即35或74磁軌進行了掃瞄，將測得值進行了儲存或對全部測試磁軌的平均值(總平均值)進行了計算為止。
〔注對目前的這項發明來說，平均值是指算術平均值〕對37磁軌而言，有4個磁軌模型的六個磁軌平均值(16，20，……，36)，以及3個磁軌模型的八個磁軌平均值(16，19，……，34，37)，據此可以容易地導出整個平均值IM。這些數目適用於單方向測試。
上述情況對於磁軌2，5，7，10，12，15，17，20，22，25，27，30，32，35和37也是可行的，即每隔一個再每隔兩個磁軌裝上測試信號TS，使得在37磁軌的情況下，可以獲得8個或7個測試值。
為了獲得誤差信號TE(參見圖4中左邊的S曲線)完整的分布情況，也可以在磁軌0到16的範圍內對測試磁軌S進行掃瞄。箭頭A表示上述磁軌前進的方向。在這種情況下，前進是通過基準磁軌SR，從外面的磁軌SX向理面的磁軌S1前進的。
因此檢測TE信號可以形成實曲線S。與S曲線相鄰的虛線表示偏心率值(ES)的分布情況。
按照上述方法，檢測到最裡面的測試磁軌S1以後，磁軌前進的方向由A(第一個方向)轉向B(第二個方向)(如圖4中箭頭所示)，重複前述的誤差信號檢測程序，一直檢測到最外面的測試磁軌為止。最好是從兩個(第一個和第二個)磁軌前進方向誤差信號TE和TE′求得總平均值，以利於測得並評價定位磁滯。在相距HY處得到右邊平行的S曲線，它由表示TE′信號的實曲線S和表示ES分布情況的虛曲線組成。這種在兩個方向上檢測的方法，可以給出兩倍的測量位移數，同時也給出兩個方向上的平均值。
用雙頭驅動器也可以確定磁軌SR上的各個磁頭之間的零位移，並用它來確定最大誤差信號TEmax。
通過前進方向A或B或者是通過A和B兩個前進方向，取得的總平均值可用直線IM(實際總平均值)來描述。該直線與基準磁軌SR的磁軌平均值之間的距離△TE同總平均值TM與磁軌平均值之間的差相一致。為了把整個記錄區域的誤差信號減少到最小，即為了使儀器的記錄和重放效果最佳，基準磁軌SR上的掃瞄頭H必須移開一段距離△TE。在圖4中，即平行直線ψM。與此有關的是獲得正的最大值PMX(右下)，要考慮雙磁頭情況下的零位移以及最大偏心率值E;負的最大值NMX在左上方出現，產生最大TE值TEmax。因此，正、負TEmax。值在量值上相差很大。
為了顯示起見，這些最大值TEmax(正的和負的)、△TE值、以及有關的磁滯值HY可以輸送到級D(例如一個視覺顯示器)，並組成測試特定儀器用的質量判據。△TE值還可用來調節手工掃瞄頭，或者通過自動方法傳送給一個電動機驅動的掃瞄頭調節裝置，該裝置可作為級D上的一個設備。然而，不調節掃瞄頭也可以根據每個磁軌的平均值OM來確定每個TE值，為了直接補償書寫和讀出過程中的誤差，或將這種誤差減小到最低限度，還可以用計算和電子方法對書寫或讀出信號作適當的修正。
在圖5中，根據此項發明，執行本發明方法的控制指令裝在可以消除的電可編程序只讀存儲器內，因此，改動起來很容易。輸入裝置T可以是一個鍵板，用來起動測量或調節程序。
為了本目的採用新的方法和步驟，實際上可以把設備的兼容性提高約20%，把製造過程中的廢品率降低約15%，而且可以把維修量減到最少。
權利要求
1.一種檢測磁碟驅動裝置(19)(包括一個磁頭定位系統)誤差信號的方法，這種方法採用一個磁測試盤(15)，測試盤有多個測試磁軌(S)，磁軌上記錄有測試信號(TS)，測試磁軌位於記錄磁軌上，並分布在測試盤的記錄區域，至少有一個測試磁軌預先確定為基準測試磁軌(SR)，可以讀出上述測試磁軌(S)中的測試信號(TE)，並可確定讀出信號離開要求的位置和幅度的偏移量，從而得出平均值。某中-在常規狀態下，測試信號(TE)由調節信號(1至3)和方向信號(4、5和8、9)組成，調節信號被交替地記錄在記錄磁軌的中心線(18)的兩邊，並具有同樣的幅度，方向信號將上述的調節信號(1至3)分成若干組(Ⅰ至Ⅵ)，而它們的幅度與調節信號的不同。-在每一組(Ⅰ至Ⅵ)調節信號(1至3)內，它們的實際位置和實際幅度是確定的，由此可以導出一組信號的平均值。-每個單獨的測試磁軌(S)的組平均值用來計算磁軌的平均值，後者將被儲存起來。-多個測試磁軌(S)的磁軌平均值用來計算總平均值(IM)，總平均值亦儲存起來。
2.第一項要求所說的方法中，當驅動裝置是步進電動機定位系系統(11)時，測試磁碟(15)上的測試磁軌(S)的位置剛好跟特定步進電動機的相位數不一致。
3.第二項要求所說的方法中，當驅動裝置是4相步進電動機定位系統(11)時，可以讀出和估價每隔兩個記錄磁軌的測試信號(TS)。
4.第二項要求所說的方法中，當驅動裝置是3相步進電動機定位系統(11)時，可以讀出和估價每隔三個記錄磁軌的測試信號(TS)。
5.第二項要求所說的方法中，當驅動裝置是3相或4相步進電動機定位系統(11)時，可以讀出和估價同一測試磁碟(15)上的每隔一個記錄磁軌或每隔兩個記錄磁軌的測試信號(TS)。
6.第一或第二、三、四、五項要求所說的法中，從前述的基準測試磁軌(SR)開始，在第一個方向上逐漸增加或減少磁軌數，便可讀出和連續處理測試信號(TS)，然後把讀數的方向轉向相反方向，在第二個方向上讀出和連續處理測試磁軌的測試信號(TS)，再用兩個方向上的平均值的總和求出總平均值(IM)。
7.第一項或第六項要求所說的方法中，從基準測試磁軌(SR)的磁軌平均值中減去已儲存的總平均值，剩下的平均值用作基準測試磁軌(SR)上的磁頭位置修正。
8.第一項要求所說的方法中，儲存的磁軌平均值和總平均值(IM)，至少用來修正磁頭定位系統。
9.第一項或第二、三、四項要求所說的方法中的磁測試盤，測試信號由調節信號(1至3)和方向信號(4、5和8、9)組成，調節信號被交替地記錄在磁軌中心線的兩邊，並具有同樣的幅度，方向信號將調節信號分成若干組(Ⅰ至Ⅵ)，並具有不同的幅度，磁測試盤由多個測試磁軌(S)組成，這些測試磁軌被每隔兩個或每隔三個記錄磁軌記錄下來，並均勻地分布在測試盤(15)的記錄區上。
10.第一項或第二、三、四項要求所說的方法中的磁測試盤，測試信號由調節信號(1至3)和方向信號(4、5和8、9)組成，調節信號被交替地記錄在磁軌中心線的兩邊，並具有同樣的幅度，方向信號將調節信號分成若干組(Ⅰ至Ⅵ)，並具有不同的幅度，其中，至少在部分記錄區內，按照每隔一個記錄磁軌再每隔兩個記錄磁軌交替地記錄下測試磁軌(S)。
11.實現第一項要求中所說的方法的具體安排是，一個磁測試盤(15)，盤上的測試信號(TS)由調節信號(1至3)和方向信號(4、5和8、9)組成，調節信號被交替地記錄在記錄磁軌中心線(15)的兩邊，並具有同樣的幅度，方向信號將調節信號分成若干組，並具有不同的幅度，多個測試磁軌(S)被每隔兩個或每隔三個記錄磁軌記錄下來，或被每隔一個或每隔兩個記錄磁軌記錄下來，並均勻地分布在測試盤的記錄區上，測試盤有一個線路裝置(25)，它包括一個控制級(用來控制3-磁軌、4-磁軌或2-磁軌掃瞄周期)、一個評價級(與掃瞄頭相接)、一個平均值計算級和一個平均值信號存儲級、一個總平均值(IM)的顯示和/或書寫級。
12.為實現第一項和第六項要求所說的方法，第十一項要求中所述的具體安排，其中控制級控制磁頭定位系統，使掃瞄頭系統(從預先確定的初始測試磁軌，特別是從基準測試磁軌(SR)開始)在增加或減少磁軌數的第一個方向內讀出測試磁軌(S)，然後閱讀方向轉向相反方向，即進入第二個方向，並在第二個方向中讀出測試磁軌(S)。
13.在第十一項和第十二項要求所說的安排中，在確定總平均值(IM)之後，控制級通過定位系統控制基準測試磁軌(SR)上的掃瞄頭系統的導向，要末再次確定磁軌平均值，要末從上述存儲級取出來，然後從上述磁軌平均值中減去總平均值，剩下的平均值被顯示和/或用於自動磁頭調節裝置中。
專利摘要
檢測磁碟式驅動裝置誤差信號的一種方法和步驟，使用一種測試盤，該盤有多個測試磁軌，分布在記錄區域上，並有許多特殊的測試信號，對方向、調節和方位角信號加以區別。如果在定位裝置中採用步進電動機的話，根據磁碟的記錄磁軌的正常位置，測試磁軌的間隔取決於步進電動機的類型。通過特殊控制，除了磁軌誤差、偏心率誤差和方位角誤差外，還可以測得磁帶誤差。使用的優點是，該方法和步驟適用於各種類型的盤式驅動裝置，特別是FlexyDisk驅動裝置。
文檔編號G11B15/06GK85104843SQ85104843
公開日1987年1月7日 申請日期1985年6月24日
發明者
克勞斯, 休伯, 哈克, 舒爾策·伯奇, 索特 申請人:Basf公司導出引文BiBTeX, EndNote, RefMan