晶振時鐘補償方法和裝置製造方法
2023-06-20 00:22:01
晶振時鐘補償方法和裝置製造方法
【專利摘要】本發明公開了一種晶振時鐘補償方法和裝置，屬於計算機【技術領域】，為解決現有技術中溫度的變化導致包含晶振的電子設備的計時時鐘所出現的偏差，避免了不根據實際的溫度情況進行補償，降低了電子設備計時時鐘的計時的準確性的問題而設計。一種晶振時鐘補償方法，包括：分別測量輔晶振的第一振動信號的振動次數和主晶振的第二振動信號的振動次數，所述第一振動信號的振動頻率小於所述第二振動信號的振動頻率；當所述第一振動信號的振動次數達到第一預設振動次數時，計算所述第二振動信號的振動次數和第二預設振動次數之間的差值；當所述差值達到預設誤差時，對所述輔晶振進行時鐘補償。
【專利說明】
【技術領域】
[0001] 本發明涉及計算機【技術領域】，尤其涉及一種晶振時鐘補償方法和裝置。 晶振時鐘補償方法和裝置
【背景技術】
[0002] 在現有的大部分電子設備中，通過對晶振施加一定電壓從而其進行振動，並通過 記錄晶振的振動次數從而實現時鐘計時。
[0003] 但是電子設備的環境溫度或者電子設備自身所產生的熱量會使晶振的溫度出現 變化，當溫度出現變化時，晶振的振動頻率會出現變化，這樣一來，通過記錄晶振的振動次 數的時鐘計時便會出現偏差，從而導致電子設備中整體的計時時鐘出現偏差，降低了電子 設備計時時鐘計時的準確性，並且該偏差一般都通過同一誤差值進行補償，也降低了補償 的準備性。
【發明內容】
[0004] 本發明的實施例提供一種晶振時鐘補償方法和裝置，能夠降低電子設備中所存在 的時鐘偏差，提高電子設備時鐘計時以及時鐘計時補償的準確性。
[0005] 為達到上述目的，本發明的實施例採用如下技術方案：
[0006] 第一方面，本發明提供了一種晶振時鐘補償方法，包括：
[0007] 分別測量輔晶振的第一振動信號的振動次數和主晶振的第二振動信號的振動次 數，所述第一振動信號的振動頻率小於所述第二振動信號的振動頻率；
[0008] 當所述第一振動信號的振動次數達到第一預設振動次數時，計算所述第二振動信 號的振動次數和第二預設振動次數之間的差值；
[0009] 當所述差值達到預設誤差時，對所述輔晶振進行時鐘補償。
[0010] 結合本發明的第一方面，在本發明第一方面的第一種可能的實現方式中，所述對 所述輔晶振進行時鐘補償包括：
[0011] 基於所述差值計算出時鐘補償時間；
[0012] 基於計算出的時鐘補償時間，對所述輔晶振進行時鐘補償。
[0013] 結合本發明的第一方面，在本發明第一方面的第二種可能的實現方式中，所述方 法還包括：
[0014] 檢測測量第一振動信號和第二振動信號的振動次數時的測量溫度；
[0015] 所述對所述輔晶振進行時鐘補償包括：
[0016] 基於所述檢測到的測量溫度，查詢存儲有時鐘補償時間和測量溫度的對應關係的 表格；
[0017] 當所述表格中記載有所述檢測到的測量溫度與時鐘補償時間的對應關係時，根據 所述表格記載的所述檢測到的測量溫度與時鐘補償時間的對應關係，獲取輔晶振的時鐘補 償時間，以根據所述獲取的輔晶振的時鐘補償時間，對所述輔晶振進行時鐘補償；
[0018] 當所述表格中未記載所述檢測到的測量溫度與時鐘補償時間的對應關係時，基於 所述差值計算出時鐘補償時間，基於計算出的時鐘補償時間，對所述輔晶振進行時鐘補償。
[0019] 結合本發明第一方面的第二種可能的實現方式，在本發明第一方面的第三種可能 的實現方式中，在所述當所述表格中未記載所述檢測到的測量溫度與時鐘補償時間的對應 關係時，基於所述差值計算出時鐘補償時間後，所述方法還包括：
[0020] 在所述表格中記載所述計算出的時鐘補償時間和所述檢測到的測量溫度的對應 關係。
[0021] 第二方面，本發明提供了一種晶振時鐘補償裝置，包括：
[0022] 主晶振、輔晶振和控制所述主晶振和所述輔晶振的控制部；
[0023] 所述控制部向所述主晶振和所述輔晶振施加電壓，使所述主晶振和所述輔晶振分 別振動，所述輔晶振的振動產生第一振動信號，所述主晶振的振動產生第二振動信號，所述 第一振動信號的振動頻率小於所述第二振動信號的振動頻率；
[0024] 所述控制部分別測量輔晶振的第一振動信號的振動次數和主晶振的第二振動信 號的振動次數，當所述第一振動信號的振動次數達到第一預設振動次數時，計算所述第二 振動信號的振動次數和第二預設振動次數之間的差值，當所述差值達到預設誤差時，對所 述輔晶振進行時鐘補償。
[0025] 結合本發明的第二方面，在本發明第二方面的第一種可能的實現方式中，所述控 制部具體用於基於所述差值計算出時鐘補償時間，基於計算出的時鐘補償時間，對所述輔 晶振進行時鐘補償。
[0026] 結合本發明的第二方面，在本發明第二方面的第二種可能的實現方式中，所述裝 置還包括：
[0027] 溫度傳感器，用於對測量第一振動信號和第二振動信號的振動次數時的測量溫度 進行檢測；
[0028] 存儲部，用於存儲時鐘補償時間和測量溫度的對應關係的表格；
[0029] 所述溫度傳感器將檢測到的測量溫度發送給所述控制部，
[0030] 所述控制部基於所述溫度傳感器檢測到的測量溫度，查詢所述存儲部存儲的表 格，當所述表格中記載有所述檢測到的測量溫度與時鐘補償時間的對應關係時，根據所述 表格記載的所述檢測到的測量溫度與時鐘補償時間的對應關係，獲取輔晶振的時鐘補償時 間，並根據所述獲取的輔晶振的時鐘補償時間，對所述輔晶振進行時鐘補償；當所述表格中 未記載所述檢測到的測量溫度與時鐘補償時間的對應關係時，基於所述差值計算出時鐘補 償時間，基於計算出的時鐘補償時間，對所述輔晶振進行時鐘補償。
[0031] 結合本發明第二方面的第二種可能的實現方式，在本發明第二方面的第三種可能 的實現方式中，所述控制部在基於所述差值計算出時鐘補償時間後，在所述表格中記載所 述計算出的時鐘補償時間和所述檢測到的測量溫度的對應關係。
[0032] 本發明實施例提供的晶振時鐘補償方法和裝置，在電子設備中分別設置振動頻率 較大、受溫度影響較小的主晶振和振動頻率較小的溫度影響較大且適用於時鐘計時的輔晶 振，分別對主晶振和輔晶振的振動次數進行記錄，當輔晶振到達其對應預設振動次數時，t匕 對主晶振的振動次數和其對應的預設振動次數的差值，當該差值到達預設差值時，則對輔 晶振進行時鐘補償，從而實現根據主晶振對輔晶振的時鐘補償，降低了電子設備中整體時 鍾計時的偏差，提高了電子設備時鐘計時以及時鐘補償的準確性。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0033] 為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例描述 中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些 實施例，對於本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附 圖獲得其他的附圖。
[0034] 圖1為本發明實施例所述的電子設備的結構示意圖；
[0035] 圖2為本發明實施例所述的晶振時鐘補償方法的流程圖；
[0036] 圖3為本發明另一實施例所述的晶振時鐘補償方法的流程圖；
[0037] 圖4為本發明另一實施例所述的電子設備中所存儲的記錄有測量溫度和時鐘補 償時間之間的對應關係的一種表格形式；
[0038] 圖5為本發明另一實施例所述的電子設備中所存儲的記錄有測量溫度和時鐘補 償時間之間的對應關係的另一種表格形式；
[0039] 圖6為本發明實施例所述的晶振時鐘補償裝置的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0040] 下面結合附圖對本發明實施例晶振時鐘補償方法和裝置進行詳細描述。
[0041] 應當明確，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基 於本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其 他實施例，都屬於本發明保護的範圍。
[0042] 為了本領域技術人員更好的理解本發明的技術方案，首先對本發明實施例提供的 晶振時鐘補償方法中，所應用的晶振電路結構進行簡要描述。圖1為一種適用於本發明實 施例提供的晶振時鐘補償方法的電子設備中的晶振電路的示例性電路結構示意圖，可以理 解的是，圖1所示的示意圖僅為說明本發明，對本發明不做任何限制。
[0043] 如圖1所示，在電子設備1的電路中，包括兩個晶振電路2a、2b和晶振時鐘補償裝 置1〇〇,該晶振時鐘補償裝置1〇〇包括接收供電電源Vcc所提供的供電電壓並對接收到信號 進行接收和處理的控制部110以及用於存儲過程中數據的存儲部120,並可選包括溫度傳 感器130。晶振電路2a包括第一電容C1、第二電容C2和輔晶振C5 ;該輔晶振C5的一端分 別連接第一電容C1 一端和控制部110,輔晶振C5的另一端連接分別連接第二電容C2的一 端和控制部110 ;第一電容C1的另一端和第二電容C2的另一端分別連接到接地端GND。晶 振電路2b包括第三電容C3、第四電容C4和主晶振C6 ;該主晶振C6 -端分別連接第三電容 C3的一端和控制部110,主晶振C6的另一端分別連接第四電容C4的一端和控制部110 ;第 三電容C3的另一端和第四電容C4的另一端分別連接到接地端GND。
[0044] 需要說明的是，所述電子設備1可以為音響、計算機、手機、平板電腦或車載導航 裝置等設備；所述控制部110可以為單片機、CPU或控制晶片等，該控制部110包括多個輸 入輸出接口，從而可以分別向晶振電路2a、2b加載起振電壓，並可以實現分別記錄主晶振 C6和輔晶振C5的振動次數即可；並且，該控制部110也可以實現其他功能，例如記錄溫度、 對振動信號進行分頻等等，在此不對控制部110的其他功能進行過多限制。
[0045] 對於晶振電路2a、2b不僅為圖1中所示出的形式，對於本領域的技術人員來說，可 以通過其他現有技術的形式設置晶振電路，只需要使晶振電路中的晶振可以通過現有的方 式進行往復地振動即可。
[0046] 當包含上述電路結構的電子設備1開始工作時，供電電源Vcc加載到控制部110 上，使控制部110開始工作，此時控制部110會向用於時鐘計時的輔晶振C5施加電壓以使 輔晶振C5起振；起振後，輔晶振C5產生第一振動信號，通過第一電容C1和第二電容C2的 反饋，使輔晶振C5保持持續振動狀態，控制部110根據所接收到的振動信號記錄振動次數， 當振動次數到達一定的數值時，則控制部110記錄一次，機完成1秒的時鐘計時。
[0047] 在控制部110工作時，因為電子設備1的環境溫度的改變或者電子設備100內部 的電子器件所產生的熱量，從而會導致控制部110和設置在該控制部110周圍的晶振電路 2的溫度變化；所出現的溫度變化會使輔晶振C5的振動頻率出現變化，從而在時鐘計時的 過程中，影響時鐘計時的準確性。
[0048] 基於圖1所示的電路結構，下面對本發明所述的晶振時鐘補償方法進行詳細說 明，結合圖1和圖2所示，本發明所述的晶振時鐘補償方法由設置在電子設備1中的時鐘補 償裝置執行，包括以下步驟：
[0049] S100、分別測量輔晶振的第一振動信號的振動次數和主晶振的第二振動信號的振 動次數，第一振動信號的振動頻率小於第二振動信號的振動頻率。
[0050] 具體的，根據圖1所示的電子設備1，控制部110向晶振電路2a加載電壓以起振進 行時鐘計時的同時，也向晶振電路2b施加相同的電壓以進行起振，輔晶振C5產生第一振動 信號，主晶振C6產生第二振動信號，其中第一振動信號的振動頻率低於第二振動信號的振 動頻率；控制部110分別對輔晶振C5和主晶振C6的振動次數進行測量。
[0051] 需要說明的是，對於晶振而言，振動頻率較高的晶振的受到溫度的影響較小，而相 對應的振動頻率較低的晶振的受到溫度的影響較大；因為主晶振C6的振動頻率大於輔晶 振C5的振動頻率，可以理解的是，振動頻率較高的主晶振C6所進行的時鐘計時比振動頻率 較低的輔晶振C5的時鐘計時更加準確，所以，可以通過振動頻率較高的主晶振C6對振動頻 率較低的輔晶振C5進行時鐘補償。
[0052] 對於主晶振C6和輔晶振C5而言，振動頻率可以根據選用不同的晶振來實現，例如 可以選用該主晶振C6的振動頻率為10MHz (即振動10M次為1秒），輔晶振C5的振動頻率 為32. 768KHz (即振動32768次為1秒），對于振動頻率的選擇，只需要滿足主晶振C6的振 動頻率大於輔晶振C5的振動頻率即可，當然，振動頻率之間的差別越大，校準的精度則更 加準確。
[0053] S101、當第一振動信號的振動次數達到第一預設振動次數時，計算第二振動信號 的振動次數和第二預設振動次數之間的差值。
[0054] 為了對根據輔晶振C5所進行的時鐘計時進行補償，則在控制部110中存儲有一個 與第一振動信號的振動次數相對應的第一預設振動次數，該第一預設振動次數可以根據實 際的需要進行任意的設置，一般的設置一定時間內該第一振動信號的振動次數，例如可以 設置與輔晶振C5的1秒鐘的振動次數作為第一預設振動次數，即可以設置為32768次；相 對應的，因為主晶振C6的振動頻率是已知的，所以控制部110可以計算出主晶振C6所產生 的第二振動信號在所述一定時間內的振動次數，將通過計算得出的一定時間內的振動次數 作為第二預設振動次數；控制部110在記錄第一振動信號的振動次數的過程中，同樣地，記 錄第二振動信號的振動次數；當獲知輔晶振C5產生的第一振動信號振動了 32768次時，控 制部110便可以確定第一振動信號已經振動到了第一預設振動次數，相對應的，第二振動 信號的振動信號也被記錄了下來；但是，根據環境溫度的變化，可以知道第一振動信號的振 動頻率已經發生了變化，所以雖然第一振動信號振動了 32768次，但是對應的時間已經並 不是1秒的時間，這樣一來，控制部110實際記錄下來的振動次數將會出現偏差；一般來說， 如果溫度變高時，晶振的振動頻率會變大，而溫度變低時晶振的振動頻率會變小；以溫度變 高為例，第一振動信號振動了 32768次的時間中，實際上第二振動信號的實際振動次數為 9. 5M次，則控制部110可以確定的，實際的振動次數與第二預設振動次數相差了 0. 5M次，該 〇. 5M次變為差值。
[0055] 當然，本領域技術人員可以理解的是，該第一預設振動次數和第二預設振動次數 的設置可以不限於上述的32768次和10M次，可以根據實際的需要進行調整。
[0056] S102、當差值達到預設誤差時，對輔晶振進行時鐘補償。
[0057] 在控制部110內，還存儲有預設誤差，該預設誤差根據主晶振C6的振動頻率進行 設置，如果需要每次對輔晶振C5的計時時鐘進行1秒的時鐘補償，則可以設置該預設誤差 為10M，當差值達到預設誤差時，則根據確定一時鐘補償時間，並根據該時鐘補償時間對輔 晶振C5的計時時鐘進行時鐘補償。
[0058] 該時鐘補償時間的計算，可以通過差值確定，對於主晶振C6而言，振動10M次則相 當於1秒的時間；在上述主晶振C6和輔晶振C5進行振動的過程中，控制部110獲取上述的 差值時，對該差值進行存儲，並且持續的對該差值進行累加，當該所累加的差值達到預設誤 差時，則可以確定此時根據輔晶振C5所進行的時鐘計時已經偏差了 1秒；一般來說，控制部 110以秒來進行時鐘的計時，所以時鐘補償也可以以秒來進行。故，當控制部110所記錄的 差值達到預設差值時，則按照差值所對應的補償時間對輔晶振C5進行時鐘補償。當然在控 制部110對差值進行累加的過程中，該差值也可能不是正好達到預設差值，這樣的話，該差 值超出預設差值的部分可以在進行了本次的時鐘補償之後繼續保留，以作為下次的時鐘補 償累加的基礎。
[0059] 需要說明的是，預設差值可以根據實際的實施場景進行設置，例如當控制部110 以秒進行時鐘補償時，則預設差值的便可以設置為1秒所對應的主晶振C6的振動次數，當 然也不僅限於1秒的振動次數，也可以為兩秒、三秒或更多所對應的振動次數。
[0060] 本發明實施例提供的晶振時鐘補償方法，在電子設備中分別設置振動頻率較大、 受溫度影響較小的主晶振和振動頻率較小的溫度影響較大且適用於時鐘計時的輔晶振，分 別對主晶振和輔晶振的振動次數進行記錄，當輔晶振到達其對應預設振動次數時，比對主 晶振的振動次數和其對應的預設振動次數的差值，當該差值到達預設差值時，則對輔晶振 進行時鐘補償，從而實現根據主晶振對輔晶振的時鐘補償，降低了電子設備中整體時鐘計 時的偏差，提高了電子設備時鐘計時以及時鐘補償的準確性。
[0061] 在通過主晶振C6對輔晶振C5進行時鐘補償的過程中，每次進行時鐘補償的時候， 都需要通過分別像晶振電路2a、2b施加電壓使其分別振動，這樣一來便會出現電子設備1 功耗過大的問題。
[0062] 為了降低電子設備1的功耗，在電子設備1中，如圖3所示，設置有一個溫度傳感 器 130。
[0063] 相對應的，所述晶振時鐘補償方法，如圖4所示，還包括：
[0064] S103、檢測測量第一振動信號和第二振動信號的振動次數時的測量溫度。
[0065] 在控制部110控制主晶振C6和輔晶振C5起振後，溫度傳感器130同樣的啟動，控 制部110對輔晶振C5所產生的第一振動信號和對主晶振C6所產生的第二振動信號的振動 次數進行檢測，此時，溫度傳感器130對電子設備1中的溫度進行檢測，該溫度即為測量溫 度，例如該測量溫度為23度。
[0066] 當然步驟S103執行的時序不僅限於圖4中所示的步驟S100之後，只要是在步驟 S100-S102之間進行即可。
[0067] 在步驟S102中、控制部110對輔晶振進行時鐘補償包括：
[0068] S1020、基於檢測到的測量溫度，查詢存儲有時鐘補償時間和測量溫度的對應關係 的表格。
[0069] S1021、當表格中記載有檢測到的測量溫度與時鐘補償時間的對應關係時，根據表 格記載的檢測到的測量溫度與時鐘補償時間的對應關係，獲取輔晶振的時鐘補償時間，以 根據獲取的輔晶振的時鐘補償時間，對輔晶振進行時鐘補償。
[0070] 在控制部110通過溫度傳感器130獲取了測量溫度後，根據控制部110所獲取的 測量溫度，對表格進行查詢，當表格中存儲有已獲取的測量溫度和時鐘補償時間，從而便可 以根據下述的方式確定時鐘補償時間，以對輔晶振C5的計時時鐘進行補償。
[0071] 在控制部110執行步驟S1020之前，控制部110可以存儲有一個表格，如圖5所 示，在該表格中設置有溫度傳感器130所檢測到的測量溫度和時鐘補償時間之間的對應關 系，其中在表格中包含時鐘補償時間和測量溫度，例如，該時鐘補償時間可以為基於一個時 間段而計算得出的，當測量溫度為23度時，在4小時的時間段裡時鐘補償時間為1秒。例 如，當控制部110獲取了測量溫度為21度時，則可以確定在控制部110記錄了時間段6小 時的時候，需要對輔晶振C5的計時時鐘補償1秒。
[0072] 需要說明的是，該表格的形式和表格中的內容不僅為圖5所示出的形式，該表格 也可以為一個空的表格，或者該表格中也可以存儲一對或多對輔晶振C5的測量溫度和補 償時間之間的對應關係，在此，不對表格中所存儲的對應關係的個數以及表格的形式進行 限制。
[0073] 另外，如圖6所示，在表格中的時鐘補償時間也可以為一單位時間內的時鐘補償 時間，即單位時鐘補償時間，該單位時鐘補償時間可以通過以往的記錄進行設置，也可以通 過主晶振C6對輔晶振C5進行時鐘補償後記錄，例如，在一次時鐘補償的過程中，記錄了進 行1秒的時鐘補償所經過的時間段，這樣一來便可以計算出在單位時間1秒內時鐘所偏差 出的單位時鐘補償時間；在進行時鐘補償的過程中，獲取在對應的測量溫度下的單位時鐘 補償時間，即輔晶振C5記錄1秒鐘時，輔晶振C5所偏差的時間，例如0. 001微秒；在開始 記錄振動次數時記錄振動時間，例如一共振動了十萬秒；當根據該振動時間和單位時鐘補 償時間進行計算以使該單位時鐘補償時間達到一預設的時鐘補償時間時，例如當輔晶振C5 一共振動了十萬秒時，則可以確定偏差了 1秒，便根據該時鐘補償時間對輔晶振C5所對應 的計時時鐘進行時鐘補償。
[0074] 可以理解的是，在表格中的測量溫度也可以為一個溫度範圍，例如20-25度時，在 時間段5小時內對應的時鐘補償時間為1秒。
[0075] S1022、當表格中未記載檢測到的測量溫度與時鐘補償時間的對應關係時，基於差 值計算出時鐘補償時間，基於計算出的時鐘補償時間，對輔晶振進行時鐘補償。
[0076] 在控制部110通過溫度傳感器130獲取了測量溫度後，在步驟S1020中，根據控制 部110所獲取的測量溫度，對表格進行查詢，當所獲取的測量溫度未記載於表格中時，控制 部110則需要根據步驟S100-S102的過程，計算出時鐘補償時間，並基於該時鐘補償時間， 對輔晶振C5進行時鐘補償。
[0077] 在步驟S1022、當表格中未記載檢測到的測量溫度與時鐘補償時間的對應關係時， 基於差值計算出時鐘補償時間後，所述方法還包括：
[0078] S1023、在表格中記載計算出的時鐘補償時間和檢測到的測量溫度的對應關係。
[0079] 控制部110根據測量溫度，以及時鐘補償時間和時間段，或者單位時鐘補償時間， 在表格中建立之間的對應關係，例如，如圖5-6所示的表格中，標記出了 21-24度所對應的 時鐘補償時間等數據，當檢測到的測量溫度為30度時，該數據並未記錄於表格之中，所以 便可以在如圖5-6所示的表格中插入測量溫度為30度時所對應的時鐘補償時間，從而便於 在電子設備以後的使用中，針對已經檢測過的測量溫度、時鐘補償時間等不需要進行重複 的計算，而只需要控制部110獲取測量溫度後，直接從表格中獲取對應的時鐘補償時間的 數據，以直接根據該數據對輔晶振C5進行時鐘補償，從而節省了通過主晶振C6對輔晶振C5 進行補償的過程中使主晶振C6振動所帶來的功耗。
[0080] 與上述一種晶振時鐘補償方法相對應，本發明還提供了一種晶振時鐘補償裝置 100,如圖7所示，包括：
[0081] 主晶振、輔晶振和控制主晶振和輔晶振的控制部110 ;
[0082] 控制部110向主晶振和輔晶振施加電壓，使主晶振和輔晶振分別振動，輔晶振的 振動產生第一振動信號，主晶振的振動產生第二振動信號，第一振動信號的振動頻率小於 所述第二振動信號的振動頻率；
[0083] 控制部110分別測量輔晶振的第一振動信號的振動次數和主晶振的第二振動信 號的振動次數，當第一振動信號的振動次數達到第一預設振動次數時，計算第二振動信號 的振動次數和第二預設振動次數之間的差值，當差值達到預設誤差時，對輔晶振進行時鐘 補償。
[0084] 所述的裝置100,控制部110具體用於基於差值計算出時鐘補償時間，基於計算出 的時鐘補償時間，對輔晶振進行時鐘補償。
[0085] 所述的裝置100,還包括：
[0086] 溫度傳感器130,用於對測量第一振動信號和第二振動信號的振動次數時的測量 溫度進行檢測；
[0087] 存儲部120,用於存儲時鐘補償時間和測量溫度的對應關係的表格；
[0088] 溫度傳感器130將檢測到的測量溫度發送給控制部110，
[0089] 所述控制部基於溫度傳感器130檢測到的測量溫度，查詢存儲部120存儲的表格， 當表格中記載有檢測到的測量溫度與時鐘補償時間的對應關係時，根據表格記載的檢測到 的測量溫度與時鐘補償時間的對應關係，獲取輔晶振的時鐘補償時間，並根據獲取的輔晶 振的時鐘補償時間，對輔晶振進行時鐘補償；當表格中未記載檢測到的測量溫度與時鐘補 償時間的對應關係時，基於差值計算出時鐘補償時間，基於計算出的時鐘補償時間，對輔晶 振進行時鐘補償。
[0090] 控制部110在基於差值計算出時鐘補償時間後，在表格中記載計算出的時鐘補償 時間和檢測到的測量溫度的對應關係。
[0091] 除了上述晶振時鐘補償裝置100中各結構所描述的功能外，該晶振時鐘補償裝置 100還用於執行上述晶振時鐘補償方法所執行的步驟，在此不對該執行的步驟進行重複的 描述。
[0092] 本發明實施例提供的晶振時鐘補償裝置，在電子設備中分別設置振動頻率較大、 受溫度影響較小的主晶振和振動頻率較小的溫度影響較大且適用於時鐘計時的輔晶振，分 別對主晶振和輔晶振的振動次數進行記錄，當輔晶振到達其對應預設振動次數時，比對主 晶振的振動次數和其對應的預設振動次數的差值，當該差值到達預設差值時，則對輔晶振 進行時鐘補償，從而實現根據主晶振對輔晶振的時鐘補償，降低了電子設備中整體時鐘計 時的偏差，提高了電子設備時鐘計時以及時鐘補償的準確性。
[0093] 以上所述，僅為本發明的【具體實施方式】，但本發明的保護範圍並不局限於此，任何 熟悉本【技術領域】的技術人員在本發明揭露的技術範圍內，可輕易想到變化或替換，都應涵 蓋在本發明的保護範圍之內。因此，本發明的保護範圍應所述以權利要求的保護範圍為準。
【權利要求】
1. 一種晶振時鐘補償方法，其特徵在於，包括： 分別測量輔晶振的第一振動信號的振動次數和主晶振的第二振動信號的振動次數，所 述第一振動信號的振動頻率小於所述第二振動信號的振動頻率； 當所述第一振動信號的振動次數達到第一預設振動次數時，計算所述第二振動信號的 振動次數和第二預設振動次數之間的差值； 當所述差值達到預設誤差時，對所述輔晶振進行時鐘補償。
2. 根據權利要求1所述的方法，其特徵在於，所述對所述輔晶振進行時鐘補償包括： 基於所述差值計算出的時鐘補償時間； 基於計算出的時鐘補償時間，對所述輔晶振進行時鐘補償。
3. 根據權利要求1所述的方法，其特徵在於， 所述方法還包括： 檢測測量第一振動信號和第二振動信號的振動次數時的測量溫度； 所述對所述輔晶振進行時鐘補償包括： 基於所述檢測到的測量溫度，查詢存儲有時鐘補償時間和測量溫度的對應關係的表 格； 當所述表格中記載有所述檢測到的測量溫度與時鐘補償時間的對應關係時，根據所述 表格記載的所述檢測到的測量溫度與時鐘補償時間的對應關係，獲取輔晶振的時鐘補償時 間，以根據所述獲取的輔晶振的時鐘補償時間，對所述輔晶振進行時鐘補償； 當所述表格中未記載所述檢測到的測量溫度與時鐘補償時間的對應關係時，基於所述 差值計算出時鐘補償時間，基於計算出的時鐘補償時間，對所述輔晶振進行時鐘補償。
4. 根據權利要求3所述的方法，其特徵在於，在所述當所述表格中未記載所述檢測到 的測量溫度與時鐘補償時間的對應關係時，基於所述差值計算出時鐘補償時間後，所述方 法還包括： 在所述表格中記載所述計算出的時鐘補償時間和所述檢測到的測量溫度的對應關係。
5. -種晶振時鐘補償裝置，其特徵在於，包括： 主晶振、輔晶振和控制所述主晶振和所述輔晶振的控制部； 所述控制部向所述主晶振和所述輔晶振施加電壓，使所述主晶振和所述輔晶振分別振 動，所述輔晶振的振動產生第一振動信號，所述主晶振的振動產生第二振動信號，所述第一 振動信號的振動頻率小於所述第二振動信號的振動頻率； 所述控制部分別測量輔晶振的第一振動信號的振動次數和主晶振的第二振動信號的 振動次數，當所述第一振動信號的振動次數達到第一預設振動次數時，計算所述第二振動 信號的振動次數和第二預設振動次數之間的差值，當所述差值達到預設誤差時，對所述輔 晶振進行時鐘補償。
6. 根據權利要求5所述的裝置，其特徵在於，所述控制部具體用於基於所述差值計算 出時鐘補償時間，基於計算出的時鐘補償時間，對所述輔晶振進行時鐘補償。
7. 根據權利要求5所述的裝置，其特徵在於， 所述裝置還包括： 溫度傳感器，用於對測量第一振動信號和第二振動信號的振動次數時的測量溫度進行 檢測； 存儲部，用於存儲時鐘補償時間和測量溫度的對應關係的表格； 所述溫度傳感器將檢測到的測量溫度發送給所述控制部， 所述控制部基於所述溫度傳感器檢測到的測量溫度，查詢所述存儲部存儲的表格，當 所述表格中記載有所述檢測到的測量溫度與時鐘補償時間的對應關係時，根據所述表格記 載的所述檢測到的測量溫度與時鐘補償時間的對應關係，獲取輔晶振的時鐘補償時間，並 根據所述獲取的輔晶振的時鐘補償時間，對所述輔晶振進行時鐘補償；當所述表格中未記 載所述檢測到的測量溫度與時鐘補償時間的對應關係時，基於所述差值計算出時鐘補償時 間，基於計算出的時鐘補償時間，對所述輔晶振進行時鐘補償。
8.根據權利要求7所述的裝置，其特徵在於，所述控制部在基於所述差值計算出時鐘 補償時間後，在所述表格中記載所述計算出的時鐘補償時間和所述檢測到的測量溫度的對 應關係。
【文檔編號】H03B5/04GK104065341SQ201310086333
【公開日】2014年9月24日 申請日期:2013年3月18日 優先權日:2013年3月18日
【發明者】何漢添, 張銀彩 申請人:廈門歌樂電子企業有限公司, 歌樂株式會社