測試元件的製作方法
2023-09-23 17:37:30 2
專利名稱：測試元件的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種安裝在測試儀上用於測試集成電路板線路測試的測試元件。
技術背景現有的用於集成電路板線路測試的測試元件一般是由導線、連接端子、測試端子構成。所述測試端子是由測試杆、杆套和彈簧構成，所述彈簧安裝在杆套內，所述測試杆一端帶有錐形探頭，其另一端插入杆套內並固定在彈簧的活動端。導線的一端裸露，其裸露端與測試端子導電連接，導線的另一端通過連接端子連接到測試機上，使用時根據測試的對象不同而選擇探頭尺寸匹配的測試元件，這樣才可以開始測試集成電路板的線路，而測試時主要是依靠彈簧使探頭與集成電路板接觸式探測。因此，這種結構普遍存在著一些不可避免的缺陷，如這種接觸式的探測方式一方面是探測只能單板測試，另一方面也常常會因為彈簧彈性的損壞而造成接觸不穩定從而導致測試性能不穩定；由於測試元件的結構複雜，從而造成加工的工藝複雜，因此也引起產品的製作成本和使用成本較高；測試元件的複雜結構也造成測試端子的體型不能縮小，因此可以探測的點間距較大；另外，彈簧的壽命嚴重影響到測試元件的使用壽命，造成測試元件壽命較短。
實用新型內容本實用新型的目的是針對現有技術的不足，提供一種結構簡單、使用方便、節省成本、測試性能穩定、使用壽命長、可實現批量測試的測試元件。
為解決上述技術方案，本實用新型所採取的技術方案是一種測試元件，所述測試元件為長直線形的測試針。
所述測試針的兩端均可以呈圓錐形。
所述測試針的針體的上部可以設置有一扁形限位。
所述測試針的針體的頂端可以設置有固定頭。
所述固定頭可以呈圓柱形，其圓柱形的頂端帶有圓錐形的尖頂。
所述固定頭的底端可以呈階梯狀漸細。
所述固定頭可以呈球形，所述針體的底端為梅花形齒。
所述測試針的針體的頂端可以設置有一扁形限位，所述限位的頂部呈球狀，所述針體的底端為梅花形齒。
所述測試針的針體的上部靠近頂端處可以設置有固定頭，所述固定頭為一圓柱形的塑膠膠粒。
在上述技術方案中，我們採用結構簡單的測試針取代傳統的測試元件，從而改變了傳統的接觸式測試的方式，而實現了測試針插入集成電路板的線路中的連線通孔中，以插入測試的方式，有效的測試線路。因此本實用新型相對現有技術不僅結構簡單，大大降低了生產成本和工藝的複雜性，同時延長了測試元件的使用壽命，增強了測試的穩定性，另外也減小了測試的最小點間距，擴大了測試範圍，而且還可以實現多塊集成電路板同時測試，從而提高了工效。
附圖1為本實用新型測試元件的第一種實施例的結構示意圖；附圖2為本實用新型測試元件的第二種實施例的結構示意圖；附圖3為本實用新型測試元件的第三種實施例的結構示意圖；附圖4為本實用新型測試元件的第四種實施例的結構示意圖；附圖5為本實用新型測試元件的第五種實施例的結構示意圖；附圖6為本實用新型測試元件的第六種實施例的結構示意圖；附圖7為本實用新型測試元件的第七種實施例的結構示意圖。
具體實施方式
下面將結合說明書附圖及具體實施例對本實用新型測試元件作進一步詳細說明。
參考附圖1，本實用新型測試元件的第一種實施例是測試元件為一種長直線型的金屬測試針。所述測試針的針體1結構勻稱，其針體兩端均呈圓錐形。
參考附圖2，本實用新型的第二種實施例提供的測試元件為一種長直線形的金屬測試針。其針體1的頂端設置有圓柱形且帶圓錐形尖頂的固定頭2，針體1底端呈圓錐形。
參考附圖3，本實用新型的第三種實施例提供的測試元件為一種長直線形的金屬測試針。其針體1的頂端設置有圓柱形帶球形頂端的固定頭2，所述固定頭2的底端呈階梯狀漸細，所述針體1的底端為梅花形。
參考附圖4，本實用新型的第四種實施例提供的測試元件為一種長直線形的金屬測試針。其針體1的上部設置有經壓制而成的扁形限位3，其針體1的兩端均呈圓錐形。
參考附圖5，本實用新型的第五種實施例提供的測試元件為一種長直線形的金屬測試針。其針體1的頂部設置有經壓制而成的扁形限位3，且所述限位3的頂部呈球狀，其針體1的底端帶有梅花形齒4。
參考附圖6，本實用新型的第六種實施例提供的測試元件為一種長直線形的金屬測試針。其針體1的頂端設置球形的固定頭2，其針體1的底端帶有梅花形齒4。
參考附圖7，本實用新型的第七種實施例提供的測試元件為一種長直線形的金屬測試針。其針體1的上部靠近頂端處設置有固定頭2，所述固定頭2為圓柱形的塑膠膠粒，所述針體1的兩端為光滑的水平面。
本實用新型提供的測試元件是與德國LM型測試機、瑪尼亞測試機、複合式測試機(萬用測試機)等測試儀器配合使用。使用時，將多塊相同的集成電路板疊放成一摞，並置於測試機的測試架的託架上，同時將測試針直接插入測試架的測試頂板上。測試時測試機將一根帶電的測試針穿入各塊集成電路板上一個相同的連線通孔中，並與各個連線通孔相接觸，這時測試機上便顯示出各個連線通孔的線路導通狀況，從而測試集成電路板是否合格。
根據採用測試機的型號的不同，測試元件的結構略有不同，其中固定頭和限位的設置是為了利用測試機上的夾具固定測試針，並防止測試針從集成電路板的連線通孔中脫落。而梅花形齒的設置是為了與測試機的託架上的梅花形槽相匹配而設計。
由於本實用新型採用了測試針取代現有技術中的測試元件，從而簡化的測試元件的結構，降低了成本以及加工工藝的難度，並且將可測試的最小點間距從現有技術的0.2mm提高至0.08mm。另外也克服了現有技術中由於受到彈簧壽命的影響容易出現測試性能不穩定的現象，使每根測試針的可準確測試次數為200萬次以上，而現有技術中測試元件的可測次數僅約為30萬次。而且，由於採用插入式的測試方法，從而改變了傳統技術中僅可以單板測試的現狀，實現了多板批量測試，大大提高了工效。
權利要求1.一種測試元件，其特徵在於所述測試元件為長直線形的測試針。
2.如權利要求1所述測試元件，其特徵在於所述測試針的兩端均呈圓錐形。
3.如權利要求2所述測試元件，其特徵在於所述測試針的針體的上部設置有一扁形限位。
4.如權利要求1所述測試元件，其特徵在於所述測試針的針體的頂端設置有固定頭。
5.如權利要求4所述測試元件，其特徵在於所述固定頭呈圓柱形，其固定頭的頂端帶有圓錐形的尖頂。
6.如權利要求5所述測試元件，其特徵在於所述固定頭的底端呈階梯狀漸細。
7.如權利要求4所述測試元件，其特徵在於所述固定頭呈球形，所述針體的底端為梅花形齒。
8.如權利要求1所述測試元件，其特徵在於所述測試針的針體的頂端設置有一扁形限位，所述限位的頂部呈球狀，所述針體的底端為梅花形齒。
9.如權利要求1所述測試元件，其特徵在於所述測試針的針體的上部靠近頂端處設置有固定頭，所述固定頭為一圓柱形的塑膠膠粒。
專利摘要本實用新型公開了一種測試元件，為一種長直線形的金屬測試針。使用時配合測試儀，從而實現了插入式測試集成電路板的線路的方法。因此本實用新型相對現有技術不僅結構簡單，大大降低了生產成本和工藝的複雜性，同時延長了測試元件的使用壽命，增強了測試的穩定性，另外也減小了測試的最小點間距，擴大了測試範圍，而且還可以實現多塊集成電路板同時測試，從而提高了工效。
文檔編號G01R1/067GK2634484SQ0326630
公開日2004年8月18日 申請日期2003年6月26日 優先權日2003年6月26日
發明者王俊峰 申請人:王俊峰