集成電路測試連接裝置和方法
2023-10-23 11:53:57
專利名稱：集成電路測試連接裝置和方法
技術領域：
本發明涉及集成電路測試領域，特別是涉及一種集成電路測試連接裝置和一種集成電路測試連接方法。
背景技術：
集成電路(Integrated Circuit, IC)是一種微型電子器件,通過採用一定的工藝，把一個電路中所需要的電晶體、二極體、電阻、電容和電感等元件及布線互連在一起，製作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質基片上，然後封裝在一個管殼內，成為具有所需電路功能的微型結構。對電子產品進行功能測試時，一般是對電子產品的集成電路進行功能測試。對集成電路進行功能測試時，需要將集成電路的各個功能引腳通過集成電路轉接板連接到測試裝置。針對一些需要客戶設計集成電路的方案，不同的客戶設計的集成電路的各個功能模塊的排列和連接可能不同，則集成電路的走線就會不同，導致集成電路的各個功能引腳的輸出順序不同。對集成電路進行功能測試連接集成電路和測試裝置時，如果集成電路的功能引腳輸出順序不同，需要針對每一種具有不同引腳輸出順序的集成電路設計專用的集成電路轉接板。但是，針對同一方案的集成電路，其引腳中功能引腳的類別和各自的數量是確定的，區別僅在於各個引腳的排列順序可能不同。如果僅為了改變某幾個引腳的排列順序就重新設計一塊集成電路轉接板既浪費了材料又耗費人力，而且耗時較長、延長交期時間。
發明內容
基於此，有必要針對不同客戶設計的同一方案的集成電路在進行功能測試時，弓丨腳的輸出順序不同時需要設計不同的集成電路轉接板造成浪費材料、延長交期時間的問題，提供一種針對同一方案的集成電路每次進行測試時不需重新設計集成電路轉接板的集成電路測試連接裝置。同時，還提供一種集成電路測試連接方法。—種集成電路測試連接裝置，用於在對集成電路進行功能測試時連接所述集成電路和測試裝置，包括:集成電路轉接板，具有引腳為固定排列順序的轉接口和連接測試裝置的數據輸出接口 ；橋接轉板，具有用於連接所述集成電路的引腳的輸入接口和與所述轉接口對接的輸出接口，所述輸入接口和輸出接口的傳輸相同信號的引腳在所述橋接轉板內部一一對應連接。在其中一個實施例中，所述橋接轉板為印刷電路板。在其中一個實施例中，所述橋接轉板的輸出接口分別設有相應的信號通道標記。在其中一個實施例中，所述集成電路轉接板的轉接口和數據輸出接口分別設有相應的信號通道標記。在其中一個實施例中，所述橋接轉板通過雙排插針直接連接所述集成電路轉接板。在其中一個實施例中，所述橋接轉板通過單排插針連接跳線間接連接所述集成電路轉接板。在其中一個實施例中，所述集成電路為觸控集成電路，所述觸控集成電路引腳包括感應通道引腳、驅動通道引腳和地線引腳。一種集成電路測試連接方法，包括如下步驟:提供集成電路轉接板，所述集成電路轉接板具有引腳為固定排列順序的轉接口和連接測試裝置的數據輸出接口；獲取待測試的集成電路引腳定義；提供橋接轉板，所述橋接轉板具有用於連接所述集成電路的引腳的輸入接口和與所述轉接口對接的輸出接口，所述輸入接口和輸出接口的傳輸相同信號的引腳在所述橋接轉板內部一一對應連接；依次連接所述集成電路、橋接轉板、集成電路轉接以及測試裝置。 在其中一個實施例中，所述集成電路為觸控集成電路，所述觸控集成電路引腳包括感應通道引腳、驅動通道引腳和地線引腳。在其中一個實施例中，還包括在所述集成電路轉接板的各個接口絲印對應各個接口的通道標記的步驟。上述集成電路測試連接裝置和集成電路測試連接方法，在同一方案的集成電路測試過程中通過使用轉接口排列順序固定的集成電路轉接板，在集成電路功能測試過程中通過使用橋接轉板將集成電路引腳的順序與集成電路轉接板轉接口的排列順序調整一致。集成電路轉接板的轉接口的順序固定，通過橋接轉板實現將同一方案的引腳的順序不一致的集成電路的引腳調整一致，即集成電路轉接板的轉接口的順序，實現了同一方案的集成電路進行測試時使用同一集成電路轉接板。橋接轉板設計簡單、耗時短且成本低，避免了重新設計集成電路轉接板造成的材料浪費和交期時間較長的問題。
圖1為本發明一實施例的集成電路測試連接裝置模塊圖；圖2為調整觸控集成電路引腳的順序的示意圖；圖3為本發明一實施例的集成電路測試連接方法流程圖。
具體實施例方式—種集成電路測試連接裝置和一種集成電路測試連接方法，在同一方案的集成電路測試過程中通過使用固定的集成電路轉接板，在集成電路功能測試過程中通過使用橋接轉板將集成電路引腳的順序與集成電路轉接板轉接口的排列順序調整一致。集成電路轉接板的轉接口的順序固定，通過橋接轉板實現將同一方案的引腳的順序不一致的集成電路的引腳調整一致，即集成電路轉接板的轉接口的順序，實現了同一方案的集成電路進行測試時使用同一集成電路轉接板。橋接轉板設計簡單、耗時短且成本低，避免了重新設計集成電路轉接板造成的材料浪費和交期時間較長的問題。下面結合附圖和實施例對本發明集成電路測試連接裝置和集成電路測試連接方法進行進一步詳細說明。參考圖1，為本發明一實施例的集成電路測試連接裝置模塊圖。一種集成電路測試連接裝置300，包括橋接轉板310和集成電路轉接板330，用於在對集成電路100進行功能測試時連接集成電路100和測試裝置500。集成電路轉接板330具有引腳為固定排列順序的轉接口 331 (參考圖2)和連接測試裝置500的數據輸出接口332 (參考圖2)。橋接轉板310具有用於連接集成電路100的引腳的輸入接口 311和與轉接口 331對接的輸出接口 312。輸入接口 311和輸出接口 312的傳輸相同信號的引腳在橋接轉板310內部一一對應連接。在對同一個方案的集成電路100進行功能測試時，針對不同客戶完成的引腳順序不同的集成電路100，通過上述橋接轉板310將集成電路100引腳的順序調整與集成電路轉接板330的轉接口 331的固定的排列順序一致，並通過連接集成電路轉接板330連接測試裝置500進行功能測試。通過使用上述橋接轉板310，在測試同一個方案的集成電路100的功能時實現了使用同一標準的集成電路轉接板330，橋接轉板310相對於集成電路轉接板330設計簡單、耗時短且成本低，避免了每次測試都需要重新設計集成電路轉接板造成的材料浪費和交期時間較長的問題。具體的，上述橋接轉板310為印刷電路板(圖未示)，印刷電路板(Printed CircuitBoard,PCB)的引腳的輸入接口連接集成電路100的引腳輸出端，通過調整布線的順序調整集成電路100引腳的排列順序與集成電路轉接板330的轉接口 331的固定的排列順序一致並從橋接轉板310的引腳輸出接口輸出。針對同一個設計方案中引腳排列順序不同的集成電路100，在進行功能測試時，每次針對引腳輸出順序不同的集成電路100分別設計一個相應的印刷電路板，可通過手工焊接或印製布線調整引腳的排列順序。上述集成電路轉接板330連接在待測試觸控螢幕和測試儀器之間，一般用於調試、檢修，用於引入或引出信號。集成電路轉接板330 —般只有連接器和印製線，個別的設有簡單電路。上述集成電路轉接板330設有多個連接器，用於連接集成電路與測試裝置，而上述橋接轉板310隻有一個連接器，用於與上述集成電路轉接板330進行連接。連接器是指連接兩個有源器件的器件，用於傳輸電流或信號，亦稱作接插件、插頭和插座。如果每次進行測試都重新設計一個新的集成電路轉接板，這樣比較麻煩、浪費材料，且延長交期。在對同一設計方案的集成電路100進行測試時，先設計好集成電路轉接板330通道的排列順序即集成電路轉接板330的轉接口 331的固定的排列順序，並在集成電路轉接板330的轉接口 331和數據輸出接口 332分別標記相應的信號通道標記(參考圖2)。上述先行設計好通道的排列順序的集成電路轉接板330可稱為集成電路轉接公板，「公板」指的是一種標準設計方案，集成電路轉接公板是指針對同一設計方案的集成電路100、確定好通道排列順序的一種集成電路轉接板330，針對不同設計方案的集成電路100可分別設計相應的集成電路轉接公板。針對同一領域的設計方案的集成電路，上述集成電路轉接公板也可針對不同類別引腳按照預定順序分別設計多個通道，上述針對每種引腳類別分別設計多個通道的集成電路轉接板330可應用於各類別的引腳數量不多於上述集成電路轉接板330對應通道數量的集成電路100，使同一款IC的設計方案的集成電路100進行測試時只需要使用一種集成電路轉接公板，減少集成電路轉接板330的設計、節省成本，使集成電路100測試更加簡單、方便。參考圖2，為調整觸控集成電路引腳的順序的示意圖。上述集成電路100為觸控屏的集成電路即觸控集成電路。觸控屏又稱為「觸控螢幕」、「觸控面板」，是一種可接收觸頭等輸入訊號的感應式液晶顯示裝置，當接觸了屏幕上的圖形按鈕時，屏幕上的觸覺反饋系統可根據預先編程的程式驅動各種連結裝置，可用以取代機械式的按鈕面板，並藉由液晶顯示畫面製造出生動的影音效果。上述觸控集成電路引腳一般包括驅動通道引腳210、感應通道引腳220和地線引腳230 (參考圖2)。上述集成電路轉接板330的轉接口 331的固定排列順序為驅動通道引腳210和感應通道引腳220相鄰排列或相互分割排列並通過地線引腳230分隔驅動通道引腳和感應通道引腳。上述驅動通道引腳210和感應通道引腳220相互分割排列是指感應通道引腳220分隔驅動通道引腳210 (參考圖2)或驅動通道引腳210分隔感應通道引腳220 (圖未示)。參考圖2，集成電路轉接板330的轉接口 331的排列順序為感應通道引腳220平均分隔驅動通道引腳210，且通過地線引腳230隔開驅動通道引腳210和感應通道引腳220，途中虛線所指為通過橋接轉板310調整觸控集成電路引腳為相應與集成電路轉接板330的轉接口 331的排列順序一致的順序。在其他的實施例中，上述集成電路轉接板330的轉接口 331的排列順序也可以為感應通道引腳220按其他比例分隔驅動通道引腳210。在其他的實施例中，述集成電路轉接板330的轉接口 331的排列順序也可有其他選擇，例如驅動通道引腳210和感應通道引腳220通過地線引腳230相鄰排列，或驅動通道引腳210按照一定的分隔比例分隔感應通道引腳220。上述橋接轉板310與上述集成電路轉接板330連接時，分別在橋接轉板310上打公座(圖未示)和母座(圖未示)，通過雙排插針(圖未示)或單排插針(圖未示)連接橋接轉板310和集成電路轉接板330。可雙排插針直接連接橋接轉板310與集成電路轉接板330，可通過單排插針連接跳線(圖未示)間接連接橋接轉板310的轉接口 331。上述跳線是指連接電路板(PCB)兩需求點的金屬連接線。參考圖2，上述集成電路100為觸控集成電路時，上述驅動通道引腳210用符號DRV表示，感應通道引腳220用符號SEN表示，地線引腳230通過符號GND表示。上述集成電路轉接板330通過數據輸出接口 332連接測試裝置500，上述集成電路轉接板330的數據輸出接口 332包括地線接口、模擬電源線接口、復位線接口、數據線接口、失真線接口、中斷線接口和數字電源線接口，圖2所示上述地線接口、模擬電源線接口、復位線接口、數據線接口、失真線接口、中斷線接口和數字電源線接口分別通過絲印標記為相應的符號:GND、AVDD, /RST, SDA、SCL、INT 和 VDD10。圖3，為本發明一實施例的集成電路測試連接方法流程圖。參考圖1，一種集成電路測試連接方法，具體包括如下步驟:步驟SllO:提供集成電路轉接板，上述集成電路轉接板具有引腳為固定排列順序的轉接口和連接測試裝置的數據輸出接口。步驟S130:獲取待測試的集成電路引腳定義。上述引腳定義是指客戶針對設計出的集成電路引腳說明書中每個引腳具體的功能介紹。在客戶設計出集成電路時，同時給出集成電路相應引腳的定義方便後續通過集成電路引腳連接測試裝置。步驟S150:提供橋接轉板，上述橋接轉板具有用於連接上述集成電路的引腳的輸入接口和與上述轉接口對接的輸出接口，上述輸入接口和輸出接口的傳輸相同信號的引腳在上述橋接轉板內部一一對應連接。步驟S170:依次連接所述集成電路、橋接轉板、集成電路轉接以及測試裝置。具體的，上述集成電路100為觸控集成電路，上述觸控集成電路一般包括驅動通道引腳210、感應通道引腳220和地線引腳230 (參考圖2)。上述集成電路轉接板的轉接口的固定排列順序為驅動通道引腳210和感應通道引腳220相鄰排列或相互分割排列並通過地線引腳230分隔驅動通道引腳210和感應通道引腳220。上述驅動通道引腳210和感應通道引腳220相互分割排列是指感應通道引腳220分隔驅動通道引腳210 (參考圖2)或驅動通道引腳210分隔感應通道引腳220 (圖未示)。在其他的實施例中，上述集成電路轉接板330的轉接口 331的固定排列順序也可為感應通道引腳220按其他比例分隔驅動通道引腳210。在其他的實施例中，上述集成電路轉接板330的轉接口 331的固定排列順序也可有其他選擇，例如驅動通道引腳210和感應通道引腳220通過地線引腳230相鄰排列，或驅動通道引腳210按照一定的分隔比例分隔感應通道引腳220。進一步的，還包括在上述集成電路轉接板的各個接口絲印對應各個接口的通道標記的步驟(圖未示)。通過在集成電路轉接板330的轉接口 331對應的各個通道絲印相應的符號，以便進行測試時方便連接。以上所述實施例僅表達了本發明的幾種實施方式，其描述較為具體和詳細，但並不能因此而理解為對本發明專利範圍的限制。應當指出的是，對於本領域的普通技術人員來說，在不脫離本發明構思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬於本發明的保護範圍。因此，本發明專利的保護範圍應以所附權利要求為準。
權利要求
1.一種集成電路測試連接裝置，用於在對集成電路進行功能測試時連接所述集成電路和測試裝置，其特徵在於，包括: 集成電路轉接板，具有引腳為固定排列順序的轉接口和連接測試裝置的數據輸出接Π ； 橋接轉板，具有用於連接所述集成電路的引腳的輸入接口和與所述轉接口對接的輸出接口，所述輸入接口和輸出接口的傳輸相同信號的弓I腳在所述橋接轉板內部一一對應連接。
2.根據權利要求1所述的集成電路測試連接裝置，其特徵在於，所述橋接轉板為印刷電路板。
3.根據權利要求1所述的集成電路測試連接裝置，其特徵在於，所述橋接轉板的輸出接口分別設有相應的信號通道標記。
4.根據權利要求1所述的集成電路測試連接裝置，其特徵在於，所述集成電路轉接板的轉接口和數據輸出接口分別設有相應的信號通道標記。
5.根據權利要求1所述的集成電路測試連接裝置，其特徵在於，所述橋接轉板通過雙排插針直接連接所述集成電路轉接板。
6.根據權利要求1所述的集成電路測試連接裝置，其特徵在於，所述橋接轉板通過單排插針連接跳線間接連接所述集成電路轉接板。
7.根據權利要求1所述的集成電路測試連接裝置，其特徵在於，所述集成電路為觸控集成電路，所述觸控集成電路引腳包括感應通道引腳、驅動通道引腳和地線引腳。
8.一種集成電路測試連接方法，其特徵在於，包括如下步驟: 提供集成電路轉接板，所述集成電路轉接板具有引腳為固定排列順序的轉接口和連接測試裝置的數據輸出接口； 獲取待測試的集成電路引腳定義； 提供橋接轉板，所述橋接轉板具有用於連接所述集成電路的引腳的輸入接口和與所述轉接口對接的輸出接口，所述輸入接口和輸出接口的傳輸相同信號的弓I腳在所述橋接轉板內部一一對應連接； 依次連接所述集成電路、橋接轉板、集成電路轉接以及測試裝置。
9.根據權利要求8所述的集成電路測試連接方法，其特徵在於，所述集成電路為觸控集成電路，所述觸控集成電路引腳包括感應通道引腳、驅動通道引腳和地線引腳。
10.根據權利要求8所述的集成電路測試連接方法，其特徵在於，還包括在所述集成電路轉接板的各個接口絲印對應各個接口的通道標記的步驟。
全文摘要
本發明公開了一種集成電路測試連接裝置，在同一方案的集成電路測試過程中通過使用固定的集成電路轉接板，在集成電路功能測試過程中通過使用橋接轉板將集成電路引腳的順序與集成電路轉接板轉接口的排列順序調整一致。集成電路轉接板的轉接口的順序固定，通過橋接轉板實現將同一方案的引腳的順序不一致的集成電路的引腳調整一致，即通過調整集成電路轉接板的轉接口的順序，實現了同一方案的集成電路進行測試時使用同一集成電路轉接板。橋接轉板設計簡單、耗時短且成本低，避免了重新設計集成電路轉接板造成的材料浪費和交期時間較長的問題。同時，還公開了一種集成電路測試連接方法。
文檔編號G01R1/04GK103149388SQ201310048059
公開日2013年6月12日 申請日期2013年2月6日 優先權日2013年2月6日
發明者杜潤飛, 關賽新, 蔡榮軍 申請人:深圳歐菲光科技股份有限公司