一種磁芯高溫測試儀的製作方法

2023-10-23 14:00:22

一種磁芯高溫測試儀的製作方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種磁芯高溫測試儀，包括底座、高溫箱、控制箱、控制器，所述高溫箱固定在底座上，所述高溫箱由箱體、箱門組成，所述箱體內部放置有控制箱，所述箱門上開設有通孔，所述箱門的外側在通孔下方設有固定架，所述固定架的外端連接有擋塊，所述固定架上放置有控制器，所述控制器上伸出的電纜穿過通孔與箱體內的控制箱相連接。本實用新型中，將磁芯放入箱體內部即可對磁芯進行性能檢測，當需要更改參數時，直接更改控制器就可以完成調參數再次測試，即能夠在不用多次開閉箱門的情況下方便快捷得對磁芯的功耗參數等性能進行測試，提高了工作效率、降低了工人的操作強度。
【專利說明】一種磁芯高溫測試儀
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種測試儀器，尤其是一種磁芯高溫測試儀。
【背景技術】
[0002]磁芯是指由各種氧化鐵混合物組成的一種燒結磁性金屬氧化物，例如:錳-鋅鐵氧體和鎳-鋅鐵氧體是典型的磁芯體材料；錳-鋅鐵氧體具有高磁導率和高磁通密度的特點，且在低於IMHz的頻率時，具有較低損耗的特性；鎳_鋅鐵氧體具有極高的阻抗率、不到幾百的低磁導率等特性，及在高於IMHz的頻率亦產生較低損耗等；鐵氧體磁芯用於各種電子設備的線圈和變壓器中。在磁芯生產完成準備出廠前，需要對磁芯的性能進行檢測，現有的一種針對磁芯性能測試的高溫測試儀，其將具有可以調節設備參數的控制器放置在機器內部，這樣雖然能夠節省其空間，但是每次需要調節參數時就要將箱門打開再改變參數，這樣一次性只能測試單次的參數，效率底下，所需人工的操作強度也比較大。

【發明內容】

[0003]為解決上述問題，本實用新型提供一種磁芯高溫測試儀，能夠在不用多次開閉箱門的情況下方便快捷得對磁芯的功耗參數等性能進行測試。
[0004]為達到上述目的，本實用新型採用的技術方案是:一種磁芯高溫測試儀，包括底座、高溫箱、控制箱、控制器，所述高溫箱固定在底座上，所述高溫箱由箱體、箱門組成，所述箱體內部放置有控制箱，所述箱門上開設有通孔，所述箱門的外側在通孔下方設有固定架，所述固定架的外端連接有擋塊，所述固定架上放置有控制器，所述控制器上伸出的電纜穿過通孔與箱體內的控制箱相連接。
[0005]進一步的，所述底座下方固定有滑輪架，所述滑輪架上安裝有滑輪。
[0006]本實用新型的有益效果:本實用新型中，將磁芯放入箱體內部即可對磁芯進行性能檢測，當需要更改參數時，直接更改控制器就可以完成調參數再次測試，即能夠在不用多次開閉箱門的情況下方便快捷得對磁芯的功耗參數等性能進行測試，提高了工作效率、降低了工人的操作強度。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0007]圖1為本實用新型的結構示意圖。
[0008]圖中:1、底座；11、滑輪架；12、滑輪；2、高溫箱；21、箱體；22、箱門；23、通孔；24、固定架；25、擋塊；3、控制箱；4、控制器；41、電纜。
【具體實施方式】
[0009]下面結合附圖及實施例對本實用新型作進一步描述:
[0010]參見附圖1所示，一種磁芯高溫測試儀，包括底座1、高溫箱2、控制箱3、控制器4，所述高溫箱2固定在底座I上，所述高溫箱2由箱體21、箱門22組成，所述箱體21內部放置有控制箱3，所述箱門22上開設有通孔23，所述箱門22的外側在通孔23下方設有固定架24，所述固定架24的外端連接有擋塊25，所述固定架24上放置有控制器4，所述控制器4上伸出的電纜41穿過通孔23與箱體21內的控制箱3相連接。
[0011]進一步的，所述底座I下方固定有滑輪架11，所述滑輪架11上安裝有滑輪12。
[0012]上述實施例只為說明本實用新型的技術構思及特點，其目的在於讓熟悉此項技術的人士能夠了解本實用新型的內容並據以實施，並不能以此限制本實用新型的保護範圍。凡根據本實用新型精神實質所作的等效變化或修飾，都應涵蓋在本實用新型的保護範圍之內。
【權利要求】
1.一種磁芯高溫測試儀，包括底座(I)、高溫箱(2)、控制箱(3)、控制器(4)，其特徵在於:所述高溫箱(2)固定在底座(I)上，所述高溫箱(2)由箱體(21)、箱門(22)組成，所述箱體(21)內部放置有控制箱(3 )，所述箱門(22 )上開設有通孔(23 )，所述箱門(22 )的外側在通孔(23)下方設有固定架(24)，所述固定架(24)的外端連接有擋塊(25)，所述固定架(24)上放置有控制器(4)，所述控制器(4)上伸出的電纜(41)穿過通孔(23)與箱體(21)內的控制箱(3)相連接。
2.根據權利要求1所述的一種磁芯高溫測試儀，其特徵在於:所述底座(I)下方固定有滑輪架(11)，所述滑輪架(11)上安裝有滑輪(12 )。
【文檔編號】G01R33/12GK203587787SQ201320676251
【公開日】2014年5月7日 申請日期:2013年10月30日 優先權日:2013年10月30日
【發明者】顏茂山 申請人:泰州茂翔電子器材有限公司