集成電路元件測試插座、插座基板、測試機及其製作方法
2023-10-05 11:34:54 4
專利名稱：集成電路元件測試插座、插座基板、測試機及其製作方法
技術領域：
本發明涉及一種集成電路元件測試設備及其製作方法，尤其涉及其中 的集成電路元件測試插座者。
背景技術：
一般集成電路元件在進行終端測試(Final Test)時，集成電路元件的電 性接點或接腳需要與測試插座(Socket)中的探針做壓合的動作。因此，測 試信號可通過探針傳至測試臺(Tester)而判讀集成電路元件的好壞。公知所 使用的測試插座(Socket)，其探針嵌在插座基底而呈懸臂狀，測試時，極 容易因集成電路元件置入測試插座時刮除集成電路元件腳位或焊點上的 焊錫而導致使用壽命(Life Time)與合格率(Yidd)下降以及探針損傷，同時， 因探針積蓄過多刮落的焊錫亦造成集成電路元件卡料現象。為了解決此問 題，己有技術TW447178披露了一種非懸臂式的彈簧探針(pogo pin)結構， TW539128中披露一種以彈簧探針為基礎的測試插座，TW485243披露一 種以彈簧探針為基礎的插座基板。前述的已有技術雖然改善了懸臂式探針 的不利，然而卻仍未解決當集成電路元件放入測試插座時若方位偏差而造 成的探針損傷與卡料問題。
發明內容
為了解決上述問題，本發明提供一種集成電路元件測試插座(Socket)， 包含插座本體，鄰近中央部位形成有凹陷部，並且在此凹陷部設有多個彈 性接觸端子。另外，定位導持承座，容設於該凹陷部，此定位導持承座具 有中央開口，用以接受並導正待測的集成電路元件的方位，在此中央開口 的底部形成有多個容許彈性接觸端子穿出的端子孔。而且，另有鎖合元件
與彈性保持元件，將定位導持承座限制於凹陷部活動。
因此，本發明的主要目的是提供一種集成電路元件測試插座，可導正 待測的集成電路元件的方位以有效解決刮錫問題，且進一步地增加彈性接 觸端子的使用壽命。
本發明的次要目的是提供一種集成電路元件測試插座，可有效增加測 試上的穩定性，且更可以提升測試插座的使用壽命。
本發明的另一目的是提供一種插座基板，其設置有集成電路元件測試 插座，可導正待測的集成電路元件的方位以有效解決刮錫問題，且進一步 地增加彈性接觸端子的使用壽命。
本發明的另一 目的是提供一種插座基板，其設置有集成電路元件測試 插座，可有效增加測試上的穩定性，且更可以提升測試插座的使用壽命。
本發明的另 一 目的是提供一種集成電路元件測試機，其設置有集成電 路元件測試插座，可有效解決刮錫問題，且進一步地增加彈性接觸端子的 使用壽命。
本發明的另一 目的是提供一種集成電路元件測試機，其設置有集成電 路元件測試插座，可有效增加測試上的穩定性，且更可以提升測試插座的 使用壽命。
本發明的另一目的是提供一種集成電路元件測試插座的製作方法，此 集成電路元件測試插座可導正待測的集成電路元件的方位以有效解決刮 錫問題，且進一步地增加彈性接觸端子的使用壽命。
本發明的另一目的是提供一種集成電路元件測試插座的製作方法，集 成電路元件測試插座可有效增加測試上的穩定性，且更可以提升測試插座 的使用壽命。
圖1是根據本發明所提出的第一實施例的一種集成電路元件測試插座 的示意圖。
圖2A是根據本發明所提出的第二實施例的另一種集成電路元件測試 插座的示意圖。
圖2B是根據本發明所提出的第二實施例的一種由至少一個導持元件 所組配而成的定位導持承座組成的示意圖。
圖3是根據本發明所提出的第三實施例的另一種集成電路元件測試插 座的示意圖。
圖4是根據本發明所提出的第四實施例的一種插座基板的示意圖。
圖5是根據本發明所提出的第五實施例的一種集成電路元件測試機的 示意圖。
主要元件標記說明
集成電路元件測試插座20、 30、40
插座本體21、 31、41
凹陷部211、 411
彈性接觸端子2111
定位導持承座22、 32、42
中央開口221、
肩部222
螺栓231
螺孔232
定位導持元件321
端子孔2211
鎖合元件23、 33、43
彈性保持元件24、 34、44
定位導持承座組成32
導持元件 321
插座基板 500
集成電路元件測試機 600
分類機 601
測試臺 60具體實施例方式
由於本發明主要披露一種集成電路元件測試插座，其中所利用的集成 電路元件測試基本原理，已為所屬技術領域的技術人員所能明了，故以下 文中的說明，不再作完整描述。同時，以下文中所對照的附圖，是表達與 本發明特徵有關的結構示意圖，並未亦不需要依據實際尺寸完整繪製，盍 先敘明。
首先請參照圖1，本發明所提供的第一較佳實施例，為一種集成電路 元件測試插座20 ，主要包含有插座本體21、定位導持承座22、鎖合元件 23和彈性保持元件24。插座本體21鄰近中央部位形成有一凹陷部211， 凹陷部211內設有多個彈性接觸端子2111，並且凹陷部211內可以容設此 定位導持承座22。定位導持承座22將受測的集成電路元件導正並予以適 當定位，以避免方位不正的集成電路元件損傷彈性接觸端子2111或產生 錯誤的測試結果。定位導持承座22具有中央開口 221，用以接收集成電路 元件，在中央開口 221的底部形成有多個容許彈性接觸端子2111穿出的 端子孔2211。另外，有鎖合元件23和彈性保持元件24，可以將定位導持 承座22限制於凹陷部211活動。
上述的實施例中，鎖合元件23為多個螺栓231與插座本體21配合的 多個螺孔232，螺孔232可設於凹陷部211的底部，或設於鄰近於凹陷部 211與插座本體21的交界處。鎖合元件23鎖合時，定位導持承座22並未 完全貼合於凹陷部211，其間設有適當的間隙，可容許定位導持承座22 有微量的位移。另外，在定位導持承座22上，也可設有多個通孔(圖中未 示出)供螺栓231穿設後，鎖合於插座本體21的螺孔232。為了使集成電
路元件測試插座20的體積控制在某一設定的範圍，不要過於龐大，定位 導持承座22可進一步凹設有肩部222供螺栓231頭部抵靠之。上述的肩 部222可設置於設置於定位導持承座22的四邊外牆處，或設置於通孔處 (圖中未示出)。
再者，在上述的實施例中，定位導持承座22的多個端子孔2211和多 個彈性接觸端子2111之間設有適當的間隙，因此可容許彈性接觸端子2111 在橫向的微量位移，以保護端子。
另外，在上述的實施例中，插座本體21的凹陷部211與定位導持承 座22呈近似的四邊形，以將定位導持承座22收容於凹陷部211內。而定 位導持承座22的中央開口部221形狀則可配合受測的集成電路元件的形 狀而設計。
另外，在上述的實施例中，多個彈性接觸端子2111可視需要排列於 插座本體21凹陷部211的底部四邊、底部兩對邊或底部兩鄰邊，以利於 不同類型的集成電路元件的測試。相對地，在定位導持承座22的中央開 口部221，對應在插座本體21凹陷部211的底部四邊、底部兩對邊或底部 兩鄰邊的多個彈性接觸端子2111，亦設有多個端子孔2211。此外，多個 彈性接觸端子2111可選擇彈簧探針為宜，與集成電路元件接觸時，端子 兩端可沿著軸向伸縮運動。
上述的實施例中，彈性保持元件24容設於凹陷部211與定位導持承 座22之間，當受測的集成電路元件置入定位導持承座22內，可提供緩衝 作用避免彈性接觸端子2111或集成電路元件因撞擊而損壞，同時提供彈 性保持力，使定位導持承座22定位於適當的位置。彈性保持元件24可以 為多個螺旋彈簧、或橡膠墊，或具有類似彈性的元件皆可。凹陷部可進一 步設置適當數量的容置孔212用以收容上述彈性保持元件24，此容置孔 212亦可依需要設置於配合的定位導持承座22的底面。
請參照圖2A與2B，本發明進一步提供第二較佳實施例，為另一種集 成電路元件測試插座30。此集成電路元件測試插座30的插座本體31、鎖 合元件33和彈性保持元件34的特徵主要如前述第一實施例所述，然而其
定位導持承座32是由多個導持元件321所組配而成的，因此可提供更佳 的方位微調效果，在本實施例使用2個導持元件321。
請參照圖3，本發明進一步提供第三較佳實施例，為另一種集成電路 元件測試插座40 ，其插座本體41形成有多個凹陷部411，用以容設多個 定位導持承座42，故可同時執行大量與批次的集成電路元件測試作業。其 中的凹陷部411、定位導持承座42、鎖合元件43和彈性保持元件44的特 徵主要如前述的第一實施例或第二實施例所述。
請參照圖4，本發明進一步提供第四較佳實施例，為一種插座基板500， 主要包含有至少一個集成電路元件測試插座，例如2個、4個、6個、8 個、12個或16個，目的在同一時間對多個集成電路元件進行測試。而此 集成電路元件測試插座的特徵主要如前述第一較佳實施例的集成電路元 件測試插座20所述；亦可以如第二較佳實施例的集成電路元件測試插座 30所述，集成電路元件測試插座30的定位導持承座32是由多個導持元件 321所組配而成；亦可以如第三較佳實施例的集成電路元件測試插座40 所述，其插座本體41形成有多個凹陷部411，用以容設多個定位導持承座 42。
請參照圖5，本發明進一步提供第五較佳實施例，為一種集成電路元 件測試機600，主要包含有分類機601(Handler)和測試臺602。更進一步地， 測試臺602容設有至少一個插座基板500，此插座基板500的特徵如前述 的第四較佳實施例所述。
本發明進一步提供第六較佳實施例，為一種集成電路元件測試插座制 作方法，可用於製作集成電路元件測試插座20或集成電路元件測試插座 30，其步驟包含有
提供插座本體，其鄰近中央部位形成有凹陷部；
提供多個彈性接觸端子，設於插座本體的凹陷部；
提供定位導持承座，容設於插座本體的凹陷部，定位導持承座具有中 央開口，中央開口的底部形成有多個容許彈性接觸端子穿出的端子孔；以 及
提供鎖合元件與彈性保持元件，將定位導持承座限制於插座本體。
上述的實施例中，插座本體、定位導持承座、鎖合元件和彈性保持元 件的特徵主要如前述的第一較佳實施例或第二較佳實施例所述。
本發明進一步提供第七較佳實施例，為一種集成電路元件測試插座40 的製作方法，其步驟包含有
提供插座本體41，此插座本體41形成有多個凹陷部411，而且在插 座本體多個凹陷部411內設有多個彈性接觸端子，並且可以容設多個定位 導持承座42;
提供多個定位導持承座42，各定位導持承座42具有中央開口，在中 央開口的底部形成有多個容許彈性接觸端子穿出的端子孔；以及
提供多個鎖合元件43與多個彈性保持元件44將多個定位導持承座42 固設於插座本體41。
上述的實施例中，插座本體41、定位導持承座42、鎖合元件43與彈 性保持元件44的特徵主要如前述的第三較佳實施例所述。
以上所述僅為本發明的較佳實施例，並非用以限定本發明的權利範 圍；同時以上的描述，對於所屬技術領域的技術人員應可明了及實施，因 此其它未脫離本發明所揭示的精神下所完成的等效改變或修飾，均應包含 在權利要求中。
權利要求
1.一種集成電路元件測試插座，其特徵在於至少包含插座本體，鄰近中央部位形成有凹陷部；多個彈性接觸端子，設於該凹陷部；定位導持承座，容設於該凹陷部，該定位導持承座具有中央開口以容置受測的集成電路元件，該中央開口的底部形成有多個容許上述這些彈性接觸端子穿出的端子孔；以及至少一個鎖合元件與至少一個彈性保持元件，將該定位導持承座限制於該凹陷部內活動。
2. 根據權利要求1所述的集成電路元件測試插座，其特徵在於該鎖合 元件為多個螺栓與該插座本體對應的多個螺孔。
3. 根據權利要求2所述的集成電路元件測試插座，其特徵在於該定位 導持承座進一步凹設有肩部供螺栓頭抵靠之。
4. 根據權利要求1所述的集成電路元件測試插座，其特徵在於該定 位導持承座由多個導持元件所組配而成。
5. 根據權利要求1所述的集成電路元件測試插座，其特徵在於上述 這些端子孔排列於定位導持承座的中央開口部的底部四邊、底部兩對邊或 底部兩鄰邊，同時上述這些彈性接觸端子排列於該凹陷部的底部四邊、底 部兩對邊或底部兩鄰邊，而且上述這些彈性接觸端子的兩端可沿著軸向伸 縮。
6. 根據權利要求1所述的集成電路元件測試插座，其特徵在於該彈 性保持元件為多個彈簧，同時上述這些彈簧容設於該凹陷部與該定位導持 承座之間。
7. —種集成電路元件測試插座，其特徵在於包含插座本體，形成有多個凹陷部；多個彈性接觸端子，設於上述這些凹陷部； 多個定位導持承座，容設於上述這些凹陷部，各定位導持承座具有中 央開口，該中央開口的底部形成有多個容許上述這些彈性接觸端子穿出的 端子孔；以及多個鎖合元件與多個彈性保持元件，將上述這些定位導持承座限制於 上述這些凹陷部活動。
8. —種插座基板，主要包含有至少一個集成電路元件測試插座，其 特徵在於該集成電路元件測試插座包含插座本體，鄰近中央部位形成有凹陷部；多個彈性接觸端子，設於該凹陷部；定位導持承座，容設於該凹陷部，該定位導持承座具有中央開口，該 中央開口的底部形成有多個容許上述這些彈性接觸端子穿出的端子孔；以及至少一個鎖合元件與至少一個彈性保持元件，將該定位導持承座限制 於該凹陷部內活動。
9. 一種插座基板，主要包含有至少一個集成電路元件測試插座，其 特徵在於該集成電路元件測試插座包含 插座本體，形成有多個凹陷部；多個彈性接觸端子，設於上述這些凹陷部；多個定位導持承座，容設於上述這些凹陷部，各定位導持承座具有中 央開口 ，該中央開口的底部形成有多個容許上述這些彈性接觸端子穿出的 端子孔；以及多個鎖合元件與多個彈性保持元件，將上述這些定位導持承座限制於 上述這些凹陷部活動。
10. —種集成電路元件測試機，主要包含有分類機和測試臺，該測試 臺容設有插座基板，該插座基板包含有至少一個集成電路元件測試插座， 其特徵在於-該集成電路元件測試插座包含 插座本體，鄰近中央部位形成有凹陷部；多個彈性接觸端子，設於該凹陷部；定位導持承座，容設於該凹陷部，該定位導持承座具有中央開口，該中央開口的底部形成有多個容許上述這些彈性接觸端子穿出的端子孔；以 及至少一個鎖合元件與至少一個彈性保持元件，將該定位導持承座限制 於該凹陷部內活動。
11. 一種集成電路元件測試機，主要包含有分類機和測試臺，該測試 臺容設有插座基板，該插座基板包含有至少一個集成電路元件測試插座， 其特徵在於該集成電路元件測試插座包含 插座本體，形成有多個凹陷部；多個彈性接觸端子，設於上述這些凹陷部；多個定位導持承座，容設於上述這些凹陷部，各定位導持承座具有中 央開口，該中央開口的底部形成有多個容許上述這些彈性接觸端子穿出的端子孔；以及多個鎖合元件與多個彈性保持元件，將上述這些定位導持承座限制於 上述這些凹陷部活動。
12. —種集成電路元件測試插座的製作方法，其特徵在於包含有 提供插座本體，鄰近中央部位形成有凹陷部； 提供多個彈性接觸端子，設於該凹陷部；提供定位導持承座，容設於該凹陷部，該定位導持承座具有中央開口， 該中央開口的底部形成有多個容許該彈性接觸端子穿出的端子孔；以及提供至少一個鎖合元件與至少一個彈性保持元件，將該定位導持承座 限制於該凹陷部內活動。
13. —種集成電路元件測試插座的製作方法，其特徵在於包含 提供插座本體，形成有多個凹陷部； 提供多個彈性接觸端子，設於上述這些凹陷部；提供多個定位導持承座，容設於上述這些凹陷部，各定位導持承座具 有中央開口，該中央開口的底部形成有多個容許該彈性接觸端子穿出的端 子孔；以及提供多個鎖合元件與多個彈性保持元件，將上述這些定位導持承座限 制於上述這些凹陷部活動。
全文摘要
本發明披露一種集成電路元件測試插座(Socket)、插座基板(socketboard)、測試機(tester)及其製作方法，其中的測試插座包含插座本體，鄰近中央部位形成有凹陷部，並且在此凹陷部設有多個彈性接觸端子。另外，定位導持承座，容設於該凹陷部，此定位導持承座具有中央開口，用以接受並導正待測的集成電路元件的方位，在此中央開口的底部形成有多個容許彈性接觸端子穿出的端子孔。而且，另有鎖合元件與彈性保持元件，將定位導持承座限制於凹陷部活動。
文檔編號G01R1/06GK101363873SQ20071014018
公開日2009年2月11日 申請日期2007年8月8日 優先權日2007年8月8日
發明者朱華正, 溫進光 申請人:京元電子股份有限公司