低速ttl光模塊誤碼測試儀的製作方法
2023-09-22 06:45:45 3
專利名稱：低速ttl光模塊誤碼測試儀的製作方法
技術領域：
低速TTL光模塊誤碼測試儀
技術領域：
本實用新型涉及光通信技術領域，尤其是涉及一種低速TTL光模塊誤碼測試儀。背景技術：
近年來，通信和計算機網絡技術發展迅猛，其中，光電子器件與微處理器和高速電 子器件同時起到了至關重要的推動作用。光器件的先進性、可靠性和經濟性會直接影響到 系統設備乃至整個網絡的生命力和市場競爭力。隨著低速TTL光模塊的產生，光模塊在工業控制領域也有著很廣泛的應用。然而 現在的TTL光模塊的序列發生器一般只產生偽隨機碼，無法全面模擬工業控制時低速TTL 光模塊的工作情況，從而影響到低速TTL光模塊誤碼測試效果。
實用新型內容本實用新型要解決的技術問題在於，針對現有技術的TTL光模塊誤碼測試儀的體 積大、效果不好的缺陷，提供一種體積較小、效果較好的低速TTL光模塊誤碼測試儀。為了解決上述技術問題，本實用新型提供一種低速TTL光模塊誤碼測試儀，包括用於產生測試的碼型信號及偽隨機碼的可調序列發生模塊；連接於所述可調序列發生模塊、用於通過輸入不同速率的時鐘產生不同速率的碼 元的時鐘選擇模塊；連接於所述可調序列發生模塊、用於將產生的碼元進行延時，以使信號同步的同 步調整模塊；連接於所述同步調整模塊、用於把經過延時的信號與收到的信號比較輸出的誤碼 檢測模塊；連接於所述誤碼檢測模塊、用於顯示誤碼測試結果的誤碼指示模塊。進一步，在上述光模塊誤碼測試儀中，所述可調序列發生模塊包括計數器及數據 選擇器。進一步，在上述光模塊誤碼測試儀中，所述計數器為32進位計數器。進一步，在上述光模塊誤碼測試儀中，所述數據選擇器為32選1數據選擇器。進一步，在上述光模塊誤碼測試儀中，所述誤碼指示模塊為外接有發光二極體的 異或門。本實用新型低速TTL光模塊誤碼測試儀能很好的模擬工業控制中光模塊的工作 狀態，尤其是對低速TTL光模塊進行測試，且體積小，功耗小，方便實用。
下面將結合附圖及實施例對本實用新型作進一步說明，附圖中圖1是本實用新型低速TTL光模塊誤碼測試儀較佳實施例的結構示意圖；具體實施方式請參閱圖1，圖1是本實用新型的低速TTL光模塊誤碼測試儀較佳實施例的結構示 意圖。低速TTL光模塊誤碼測試儀1用於測試待測光模塊10的接收和發送信號的功能，所 述測試儀包括可調序列發生模塊2、時鐘選擇模塊3、同步調整模塊4、誤碼檢測模塊5及誤 碼指示模塊6。其中，可調序列發生模塊2用於產生測試的碼型信號及偽隨機碼，其中所述碼型 信號為模擬突發信號的脈衝信號。本實施例誤碼測試儀的可調序列發生模塊2可產生32 位任意編碼(00000到11111)以及偽隨機碼。可調序列發生模塊2包括計數器22及數據選擇器對，用於產生脈衝信號。計數器22的基本功能是統計時鐘脈衝的個數，可以用於分頻、定時、產生節拍脈 衝等。本實施例採用32進位計數器與數據選擇器產生節拍脈衝。數據選擇器M為32選1數據選擇器，其用於經過選擇，把多個通信的數據傳送到 唯一的公共新數據通道上的電路，與計數器22組合產生脈衝信號。一般常用的集成數據選擇為8選1數據選擇器74LS151。74LS151有3個地址輸 入端C、B、A，可選擇Dtl到D7個數據源。利用74LS151的使能端可以把4片74LS151串聯起 來做32選1數據選擇器。為了達到32選1的目的還需要1片集成雙2線4線解碼器74139來控制三十二 進位計數器高2位的信號，從而控制每片74LS151的使能，使4個數據選擇器分別輸出0到 7位、8到15位、16到25位、26到32位的數據輸出。常用集成計數器有74160、74161、74163、74191、74190等等。本文使用2片同步清 零可設預置同步二進位計數器的74163來組成。2片74163可以組成256進位計數器，用反 饋清零法使2片74163在計數到11111時同時清零，這樣就跳過了 100000到11111111這 32個狀態，獲得32進位計數器。時鐘選擇模塊3連接於可調序列發生模塊2，用於通過輸入不同速率的時鐘產生 不同速率的碼元。本實施例的全局時鐘是8. 448M的，通過分頻以及選擇器來控制輸入的時 鍾，從而達到控制碼流速度的作用。同步調整模塊4連接於可調序列發生模塊2，用於將產生的碼元進行延時，以使信 號同步。由於是低速測試，對同步的要求不是特別高，不需要用專門的電路來實現位同步、 幀同步。本實施例中同步調整模塊4採用Icell將產生的碼元進行延時，使信號同步。誤碼檢測模塊5連接於同步調整模塊4，用於把經過延時的信號與收到的信號比 較輸出。誤碼指示模塊6連接於誤碼檢測模塊5，用於顯示誤碼測試結果。本實施例中誤碼 指示模塊6為外接有發光二極體的異或門，以進行誤碼指示。本實用新型低速TTL光模塊誤碼測試儀能很好的模擬工業控制中光模塊的工作 狀態，尤其是對低速TTL光模塊進行測試，且體積小，功耗小，方便實用。以上所述實施例僅表達了本實用新型的幾種實施方式，其描述較為具體和詳細， 但並不能因此而理解為對本實用新型專利範圍的限制。應當指出的是，對於本領域的普通 技術人員來說，在不脫離本實用新型構思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬 於本實用新型的保護範圍。因此，本實用新型專利的保護範圍應以所附權利要求為準。
權利要求1.一種低速TTL光模塊誤碼測試儀，其特徵在於，所述測試儀包括用於產生測試的碼型信號或偽隨機可調序列發生模塊；連接於所述可調序列發生模塊、用於通過輸入不同速率的時鐘產生不同速率的碼元的 時鐘選擇模塊；連接於所述可調序列發生模塊、用於將產生的碼元進行延時，以使信號同步的同步調 整模塊；連接於所述同步調整模塊、用於把經過延時的信號與收到的信號比較輸出的誤碼檢測 模塊；連接於所述誤碼檢測模塊、用於顯示誤碼測試結果的誤碼指示模塊。
2.根據權利要求1所述的低速TTL光模塊誤碼測試儀，其特徵在於所述可調序列發 生模塊包括計數器及數據選擇器。
3.根據權利要求2所述的低速TTL光模塊誤碼測試儀，其特徵在於所述計數器為32 進位計數器。
4.根據權利要求2或3所述的低速TTL光模塊誤碼測試儀，其特徵在於所述數據選 擇器為32選1數據選擇器。
5.根據權利要求1所述的低速TTL光模塊誤碼測試儀，其特徵在於所述誤碼指示模 塊為外接有發光二極體的異或門。
專利摘要本實用新型提供一種低速TTL光模塊誤碼測試儀，其包括用於產生測試的碼型信號或偽隨機可調序列發生模塊；連接於所述可調序列發生模塊、用於通過輸入不同速率的時鐘產生不同速率的碼元的時鐘選擇模塊；連接於所述可調序列發生模塊、用於將產生的碼元進行延時，以使信號同步的同步調整模塊；連接於所述同步調整模塊、用於把經過延時的信號與收到的信號比較輸出的誤碼檢測模塊；連接於所述誤碼檢測模塊、用於顯示誤碼測試結果的誤碼指示模塊。本實用新型低速TTL光模塊誤碼測試儀能很好的模擬工業控制中光模塊的工作狀態，尤其是對低速TTL光模塊進行測試，且體積小，功耗小，方便實用。
文檔編號H04B10/08GK201928279SQ201020693290
公開日2011年8月10日 申請日期2010年12月20日 優先權日2010年12月20日
發明者田明雄, 高慕雲 申請人:武漢元創光電科技有限公司