串行埠測試裝置製造方法
2023-10-04 05:41:34
串行埠測試裝置製造方法
【專利摘要】本發明公開一種串行埠測試裝置，包括：串行信號接口，用於與串行埠連接，接收串行埠的信號輸入；選擇連接模塊，與所述串行信號接口連接，用於選擇測試模式；並具有用於與探棒連接的外露的觸點。上述串行埠測試裝置，通過選擇連接模塊根據串行信號接口輸入信號的類型進行選擇，可以選擇多種不同的測試類型對不同信號進行測試，因而具備較好的通用性；另外觸點外露，也可以方便地連接探棒，便於測試。
【專利說明】串行埠測試裝置
【技術領域】
[0001]本發明涉及串行埠的測試技術，特別是涉及一種串行埠測試裝置。
【背景技術】
[0002]串行埠包括RS232、RS422、RS485等三種模式，在產品出廠或者故障時，都需要對其進行測試。該測試至少包括對串行埠的開路輸出電壓和帶負載時的輸出電壓進行測試。
[0003]在測試開路輸出電壓時，由於串行埠的信號線和地線都需要使用探棒接在串行埠的引腳上。對於公頭接口，引腳被外圍的金屬殼保護，所以測試時探棒不易牢固接觸，易鬆脫，並且容易碰到鄰近的引腳；對於母頭接口，引腳嵌在內部，在測試時探棒難以接觸到信號，導致測試效率低，測試可靠性低。
[0004]在測試串行埠的帶負載輸出電壓時，臨時焊接負載電阻效率低、精度差、易丟失以及可重複使用性低。
[0005]另外，由於RS232、RS422、RS485等串行埠模式採用的信號傳輸標準不同，在測試不同的串行埠時需要將探棒進行相應的調整。
[0006]現有技術，沒有可以通用的、方便測試的串行埠測試裝置，造成測試人員時間和精力的浪費。
【發明內容】
[0007]基於此，有必要提供一種可以通用、方便測試的串行埠測試裝置。
[0008]一種串行埠測試裝置，包括:串行信號接口，用於與串行埠連接，接收串行埠的信號輸入；選擇連接模塊，與所述串行信號接口連接，用於選擇測試模式；並具有用於與探棒連接的外露的觸點。
[0009]在其中一個實施例中，所述串行信號接口為公接頭或母接頭，分別用於與串行埠的母接頭和公接頭連接。
[0010]在其中一個實施例中，所述選擇連接模塊具體用於根據所述串行埠的模式和測試類型進行選擇。
[0011]在其中一個實施例中，所述串行埠的模式為RS232、RS422和RS485中的一種，所述測試類型為測試開路電壓和測試負載電壓中的一種。
[0012]在其中一個實施例中，所述選擇連接模塊包括三針腳的第一針式連接器、第二針式連接器、第三針式連接器和第四針式連接器；所述第一針式連接器的第一針腳與所述第二針式連接器的第三針腳連接，所述第一針式連接器的第二針腳與所述串行信號接口的三個信號端中的第三信號端連接，所述第一針式連接器的第三針腳通過第一電阻接地；所述第二針式連接器的第二針腳與所述串行信號接口的三個信號端中的第二信號端連接，所述第二針式連接器的第一針腳與所述第三針式連接器的第二針腳連接；所述第三針式連接器的第一針腳通過第二電阻連接至所述第五針式連接器的第二針腳，所述第三針式連接器的第三針腳通過第三電阻連接至所述第六針式連接器的第一針腳；所述第四針式連接器的第一針腳通過第四電阻接地，所述第四針式連接器的第二針腳與所述串行信號接口的三個信號端中的第一信號端連接，所述第四針式連接器的第三針腳通過第五電阻接地。
[0013]在其中一個實施例中，所述選擇連接模塊還包括兩針腳的第五針式連接器和第六針式連接器，所述第三針式連接器的第一針腳通過第二電阻連接至所述第五針式連接器的第二針腳，所述第四針式連接器的第一針腳通過第四電阻連接至所述第五針式連接器的第二針腳，所述第三針式連接器的第三針腳通過第三電阻連接至所述第六針式連接器的第一針腳，所述第四針式連接器的第三針腳通過第五電阻連接至所述第六針式連接器的第一針腳，所述第五針式連接器的第一針腳和第六針式連接器的第二針腳均接地。
[0014]在其中一個實施例中，還包括與針式連接器配合的跳帽。
[0015]上述串行埠測試裝置，通過選擇連接模塊根據串行信號接口輸入信號的模式進行選擇，可以選擇多種不同的測試類型對不同信號進行測試，因而具備較好的通用性；另外觸點外露，也可以方便地連接探棒，便於測試。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0016]圖1為一實施例的串行埠測試裝置模塊圖；
[0017]圖2為DB9接口的示意圖；
[0018]圖3為圖1所示實施例串行埠測試裝置的電路原理圖。
【具體實施方式】
[0019]如圖1所示，為一實施例的串行埠測試裝置。該串行埠測試裝置10包括依次連接的串行信號接口 100和選擇連接模塊200。其中串行信號接口 100用於與串行埠連接，接收串行埠的信號輸入。選擇連接模塊200與串行信號接口 100連接，用於選擇測試模式，並具有用於與探棒連接的外露的觸點。
[0020]串行信號接口 100是與串行埠匹配的連接接口。本實施例的串行埠測試裝置主要對RS232、RS422和RS485串行埠模式進行測試。RS232、RS422和RS485串行埠模式一般都採用DB9接口，如圖2所示，是DB9接口的示意圖。在本實施例所涉及的測試中，主要關注DB9接口中的3個引腳，這3個引腳在不同的串行埠模式中，所傳輸的信號含義不同。另外，由於串行埠 DB9可以採用公接頭或母接頭，當串行埠 20為公接頭時，引腳202為插針，並被包圍在金屬殼204內；當串行埠 20為母接頭時，引腳202為分布於塑膠件中的插孔。因而串行信號接口 100相應的可以為母接頭或公接頭。串行信號接口 100將上述3個引腳的信號與串行埠 20對接後通過信號線引出，連接至選擇連接模塊200。
[0021]選擇連接模塊200具體用於根據所述串行埠的模式和測試類型進行選擇。串行埠的模式是指串行埠採用哪種標準或規範傳輸信號，本實施例中，所述串行埠的模式為RS232、RS422和RS485中的一種。測試類型是指需要對該串行埠做何種測試，本實施例中，所述測試類型為測試開路電壓和測試負載電壓中的一種。因此選擇連接模塊200具體是選擇RS232、RS422和RS485串行埠的模式中的一種進行開路電壓或負載電壓測試。該選擇使得選擇連接模塊200隻需要對固定的幾個觸點進行探測即可完成測試。
[0022]具體地，如圖3所示，選擇連接模塊200包括三針腳的第一針式連接器JPl、第二針式連接器JP2、第三針式連接器JP3和第四針式連接器JP4以及兩針腳的第五針式連接器JP5和第六針式連接器JP6。
[0023]第一針式連接器JPl的第一針腳JPl-1與第二針式連接器JP2的第三針腳JP2-3連接，第一針式連接器JPl的第二針腳JP1-2與串行信號接口 100的三個信號端中的第三信號端3連接，第一針式連接器JPl的第三針腳JP1-3通過第一電阻Rl接地。
[0024]第二針式連接器JP2的第二針腳JP2-2與串行信號接口 100的三個信號端中的第二信號端2連接，第二針式連接器JP2的第一針腳JP2-1與第三針式連接器JP3的第二針腳JP3-2連接。
[0025]第三針式連接器JP3的第一針腳JP3-1通過第二電阻R2連接至第五針式連接器JP5的第二針腳JP5-2，第三針式連接器JP3的第三針腳JP3-3通過第三電阻R3連接至第六針式連接器JP6的第一針腳JP6-1。
[0026]第四針式連接器JP4的第一針腳JP4-1通過第四電阻R4連接至第五針式連接器JP5的第二針腳JP5-2，第四針式連接器JP4的第二針腳JP4-2與串行信號接口 100的三個信號端中的第一信號端I連接，第四針式連接器JP4的第三針腳JP4-3通過第五電阻R5連接至第六針式連接器JP6的第一針腳JP6-1。
[0027]第五針式連接器JP5的第一針腳JP5-1和第六針式連接器JP6的第二針腳JP6-2均接地。
[0028]上述針式連接器通過與跳帽配合可以將串行信號接口 100的信號通過信號線導向不同的支路，從而實現串行埠模式的選擇和測試類型的選擇。
[0029]具體的測試過程描述如下。
[0030]當輸入為RS232串行埠模式時，第三信號端3為發送端信號，第二信號端2為接收端信號。
[0031]對該RS232串行埠進行無負載(開路)輸出電壓測試時，第一針式連接器JPl的第二針腳JP1-2與第三信號端3連接，並保持獨立(即不與其他的針腳連接)。此時RS232類型的輸入信號輸入到第一針式連接器JPl的第二針腳JP1-2上，將探棒與第二針腳JP1-2觸接即可測試開路電壓。
[0032]對該RS232串行埠進行帶負載輸出電壓測試時，第一針式連接器JPl的第二針腳JP1-2與第三信號端3連接，並且通過跳帽將第二針腳JP1-2和第三針腳JP1-3電連接，則RS232類型的輸入信號輸入到電阻Rl，將探棒與第二針腳JP1-2或第三針腳JP1-3觸接即可測試帶負載電壓。
[0033]當輸入為RS422信號模式時，第二信號端2為發送端正信號，第一信號端I為發送端負信號。
[0034]對該RS422串行埠進行無負載(開路)/差分輸出電壓測試時，第二針式連接器JP2的第二針腳JP2-2與第二信號端2連接，並保持獨立(即不與其他的針腳連接)，第四針式連接器JP4的第二針腳JP4-2與第一信號端I連接，並保持獨立(即不與其他的針腳連接)。此時RS422類型的輸入正信號輸入到第二針式連接器JP2的第二針腳JP2-2上，將探棒與第二針腳JP2-2觸接即可測試正端開路電壓；RS422類型的輸入負信號輸入到第四針式連接器JP4的第二針腳JP4-2上，將探棒與第二針腳JP4-2觸接即可測試負端開路電壓。
[0035]對該RS422串行埠進行帶負載/差分輸出電壓測試時，第二針式連接器JP2的第二針腳JP2-2與第二信號端2連接，並且通過跳帽將第二針腳JP2-2和第一針腳JP2-1電連接，同時，第三針式連接器JP3的第二針腳JP3-2也通過跳帽與第一針腳JP3-1連接；另一方面，第四針式連接器JP4的第二針腳JP4-2與第一信號端I連接，並且通過跳帽將第二針腳JP4-2和第一針腳JP4-1電連接。
[0036]此時RS422類型的輸入正信號輸入到電阻R2，RS422類型的輸入負信號則輸入到電阻R4，通過R2和R4給信號加上負載。將探棒與針腳JP2-l、JP2-2 JP3-1或JP3-2觸接即可測試帶負載正端電壓，將探棒與針腳JP4-1或JP4-2觸接即可測試帶負載負端電壓。
[0037]當輸入為RS485信號模式時，第二信號端2為發送端正信號，第一信號端I為發送
端負信號。
[0038]對該RS485串行埠進行無負載(開路)/差分輸出電壓測試時，第二針式連接器JP2的第二針腳JP2-2與第二信號端2連接，並保持獨立(即不與其他的針腳連接)，第四針式連接器JP4的第二針腳JP4-2與第一信號端I連接，並保持獨立(即不與其他的針腳連接)。此時RS485類型的輸入正信號輸入到第二針式連接器JP2的第二針腳JP2-2上，將探棒與第二針腳JP2-2觸接即可測試正端開路電壓；RS485類型的輸入負信號輸入到第四針式連接器JP4的第二針腳JP4-2上，將探棒與第二針腳JP4-2觸接即可測試負端開路電壓。
[0039]對該RS485串行埠進行帶負載/差分輸出電壓測試時，第二針式連接器JP2的第二針腳JP2-2與第二信號端2連接，並且通過跳帽將第二針腳JP2-2和第一針腳JP2-1電連接，同時，第三針式連接器JP3的第二針腳JP3-2也通過跳帽與第三針腳JP3-3連接；另一方面，第四針式連接器JP4的第二針腳JP4-2與第一信號端I連接，並且通過跳帽將第二針腳JP4-2和第三針腳JP4-3電連接。
[0040]此時RS485類型的輸入正信號輸入到電阻R3，RS485類型的輸入負信號則輸入到電阻R5，通過R3和R5給信號加上負載。將探棒與針腳JP2-l、JP2-2 JP3-2或JP3-3觸接即可測試帶負載正端電壓。將探棒與針腳JP4-2或JP4-3觸接即可測試帶負載負端電壓。
[0041]測試RS422共模輸出電壓，連接方式和RS422的帶負載輸出電壓的相同，即通過跳帽分別連接第二針式連接器JP2的第二針腳JP2-2和第一針腳JP2-1，第三針式連接器JP3的第二針腳JP3-2和第一針腳JP3-1，以及第四針式連接器JP4第二針腳JP4-2和第一針腳JP4-1，將探棒連接在第五針式連接器JP5的第二針腳J5-2接信號輸入，第一針腳J5-1接地，可以在RS422信號模式下進行共模輸出電壓測試。
[0042]測試RS485共模輸出電壓，連接方式和RS485的帶負載輸出電壓的相同，即通過跳帽分別連接第二針式連接器JP2的第二針腳JP2-2和第一針腳JP2-1，第三針式連接器JP3的第二針腳JP3-2和第三針腳JP3-3，以及第四針式連接器JP4第二針腳JP4-2和第三針腳JP4-3，將探棒連接第六針式連接器JP6的第一針腳J6-1接信號輸入，第二針腳J6-2接地，可以在RS485信號模式下進行共模輸出電壓測試。
[0043]上述實施例中，通過接入或者不接入跳帽，以及將跳帽進行不同的設置，可以實現三種信號模式的多種類型的測試，實現該測試裝置的通用。另外，採用針式連接器，可以方便地使用探棒進行測試。
[0044]可以理解，上述的針式連接器及其跳帽也可以替換為其他的形式，只要其具有外露的觸點以及可方便地改變連接支路即可。
[0045]以上所述實施例僅表達了本發明的幾種實施方式，其描述較為具體和詳細，但並不能因此而理解為對本發明專利範圍的限制。應當指出的是，對於本領域的普通技術人員來說，在不脫離本發明構思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬於本發明的保護範圍。因此，本發明專利的保護範圍應以所附權利要求為準。
【權利要求】
1.一種串行埠測試裝置，其特徵在於，包括: 串行信號接口，用於與串行埠連接，接收串行埠的信號輸入； 選擇連接模塊，與所述串行信號接口連接，用於選擇測試模式；並具有用於與探棒連接的外露的觸點。
2.根據權利要求1所述的串行埠測試裝置，其特徵在於，所述串行信號接口為公接頭或母接頭，分別用於與串行埠的母接頭和公接頭連接。
3.根據權利要求1所述的串行埠測試裝置，其特徵在於，所述選擇連接模塊具體用於根據所述串行埠的模式和測試類型進行選擇。
4.根據權利要求3所述的串行埠測試裝置，其特徵在於，所述串行埠的模式為RS232、RS422和RS485中的一種，所述測試類型為測試開路電壓和測試負載電壓中的一種。
5.根據權利要求3所述的串行埠測試裝置，其特徵在於，所述選擇連接模塊包括三針腳的第一針式連接器、第二針式連接器、第三針式連接器和第四針式連接器； 所述第一針式連接器的第一針腳與所述第二針式連接器的第三針腳連接，所述第一針式連接器的第二針腳與所述串行信號接口的三個信號端中的第三信號端連接，所述第一針式連接器的第三針腳通過第一電阻接地； 所述第二針式連接器的第二針腳與所述串行信號接口的三個信號端中的第二信號端連接，所述第二針式連接器的第一針腳與所述第三針式連接器的第二針腳連接； 所述第三針式連接器的第一針腳通過第二電阻接地，所述第三針式連接器的第三針腳通過第三電阻接地； 所述第四針式連接器的第一針腳通過第四電阻接地，所述第四針式連接器的第二針腳與所述串行信號接口的三個信號端中的第一信號端連接，所述第四針式連接器的第三針腳通過第五電阻接地。
6.根據權利要求5所述的串行埠測試裝置，其特徵在於，所述選擇連接模塊還包括兩針腳的第五針式連接器和第六針式連接器，所述第三針式連接器的第一針腳通過第二電阻連接至所述第五針式連接器的第二針腳，所述第四針式連接器的第一針腳通過第四電阻連接至所述第五針式連接器的第二針腳，所述第三針式連接器的第三針腳通過第三電阻連接至所述第六針式連接器的第一針腳，所述第四針式連接器的第三針腳通過第五電阻連接至所述第六針式連接器的第一針腳，所述第五針式連接器的第一針腳和第六針式連接器的第二針腳均接地。
7.根據權利要求5或6所述的串行埠測試裝置，其特徵在於，還包括與針式連接器配合的跳帽。
【文檔編號】G01R31/00GK103777087SQ201210410491
【公開日】2014年5月7日 申請日期:2012年10月24日 優先權日:2012年10月24日
【發明者】施向駒, 徐美裕 申請人:研祥智能科技股份有限公司