檢驗機及其連接夾具的製作方法

2023-09-19 03:48:10 1

本發明涉及一種連接夾具和一種用於檢驗計量器的計量器檢驗機。特別地，本發明涉及夾具和檢驗處於倒置姿態的計量器(例如刻度盤)的計量特性的計量器檢驗機，其中當檢驗所述計量器時，觸針頭指向上。

背景技術：

已知刻度盤是作為一種比較器的實例。刻度盤包括立軸式和槓桿式。圖14示出了一種立軸式刻度盤10。接著是參考圖14的刻度盤的簡要說明。

刻度盤10包括圓柱殼體11，能夠垂直放置的心軸15，以及從殼體11伸出的杆20。刻度盤面(顯示器)12設置在殼體11的前面。齒輪機構(圖中未示出)設置在殼體11的內部，所述齒輪機構放大所述心軸15的位移並將改變量傳送至指針13。觸針頭16設置到心軸15的底端。所述杆20可滑動地支撐心軸15。

心軸15穿過殼體11插入，且心軸15的頂端從殼體11中伸出。然後，為了保護心軸15的頂端部分，在殼體11的側面設置帽21。圖15示出了帽21與殼體11分離的狀態。殼體11的側面(圖15中未示出)鑽入一個孔，心軸15的頂端部分通過該孔伸出，且中空的陽螺紋部分14設置到所述孔的外周。所述帽21能夠擰到所述陽螺紋部分14上。

另外，止動螺釘18可以螺紋旋入心軸15的頂端部分內。所述止動螺釘18包括從止動螺釘18張開的凸緣19。所述凸緣19由於緊靠所述孔的邊沿(更精確地，陽螺紋部分14的邊沿)因而是心軸15的止動器。所述帽21設計有足夠的內徑和深度以允許止動螺釘18垂直移動。

在這一點上，刻度盤性能在ISO463(http：//www.iso.org/iso/home/store/catalogue_ics/catalogue_detail_ics.htm？csnumber＝42802)和JISB 7503(http：//kikakurui.com/b7/B7503-2011-01.html)中規定。刻度盤的製造商必須檢驗他們的產品以決定刻度盤是否滿足如ISO 463和JISB7503中規定的規定值。當檢驗刻度盤時，必須檢驗指示精度、測量力和重複精度。

檢驗刻度盤包含大量的測量情況，且必須重複執行，其需要大量的時間和精力。鑑於此，申請人(刻度盤的一個製造商)已經開發了計量器檢驗機以使得刻度盤的檢驗有效地和容易地根據既定的檢驗標準(例如，日本專利公開號No.H04-31531，日本專利號No.2645576，日本專利公開號No.2002-122402，以及日本專利公開號No.2002-122404)執行。下文是現有的計量器檢驗機的簡要說明。計量器檢驗機的外觀視圖在圖16中示出，計量器檢驗機的內部構造在圖18中示出。圖17展示了刻度盤已經布置在計量器檢驗機上的狀態。計量器檢驗機100包括牢固地固定刻度盤10的託架110。託架110通過夾住刻度盤10的杆20牢固地固定刻度盤10。刻度盤10可以以多種大小出現，因此設置託架110以便自由地上升和下降從而改變高度位置。特別地，具有導軌121的背板120直立在殼體130上，且託架110可以沿著導軌121自由地上升和下降。另外，託架110可以通過操作把手111而固定就位。

計量器檢驗機100包括測量心軸140，其設置成能夠沿垂直方向前進和後退。如同在圖18示出的內部結構中一樣，電機131和滾珠螺杆132安裝在殼體130內部。滾珠螺杆132由於電機131的驅動力在垂直方向前進和後退。特別地，電機驅動力使所述滾珠螺杆132轉動和停止，並且旋轉螺母133。相應地，滾珠螺杆132前進和後退。滾珠螺杆132前進/後退的量可以由編碼器134精確地探測到。編碼器134的尺寸平行於滾珠螺杆132設置，並且探測頭固定到滾珠螺杆132。另外，平坦的觸針頭141可以擰進測量心軸140的頂端部分。

引入一種示例性方案(protocol)，其利用計量器檢驗機100執行刻度盤10的檢驗(請看圖19)。該方案是想檢驗刻度盤10顯示的測量值與真實值有多少不同。計量器檢驗機100自動提升測量心軸140至一個僅僅不到大概20mm的點。從這個點開始，檢驗員手動地提升測量心軸140，移動測量心軸140的位置直到指針13指向20mm。(測量心軸140的精細的調整可以利用控制臺150上的開關151或滾輪按鈕152執行)。此刻測量心軸140的位置由編碼器134測量。編碼器134的測量值得以獲取並在電腦160上記錄。

對30mm、40mm等等執行相同的操作，以及測量刻度盤10的整個測量範圍內的指示精度。此外，為了確定重複精度，在刻度盤10的整個測量範圍上將相同的方案重複預定的若干次數。

計量器檢驗機100能自動地提升和下降測量心軸140，且能精確地測量測量心軸140的位移量。因此，當使用計量器檢驗機100時，刻度盤10的檢驗被理解為是簡易的和有效的。

ISO463在2006年修訂並且JISB7503在2011年修訂。如下的內容經過這些修訂加入。「沒有被製造商指明的計量特性必須沿所有方向，在量程內的所有位置符合MPE和MPL的值」。刻度盤的最大容許誤差(MPE)是指示值允許的指示誤差的最大值。容許極限(MPL)是由測量力規範所容許的測量力的閾值。

根據修訂，一種情形可能出現，要求檢驗即使是位於觸針頭的一個不同於典型向下指向姿勢的方位上時是否滿足規定值。一個代表性的例子，例如想像一種情況是使用者想要即使是位於觸針頭的一個不同於典型向下指向姿勢的方位上仍然執行測量的能力。因此，製造商需要一種策略以使得刻度盤的檢驗即使是位於觸針頭的一個不同於典型向下指向姿勢的方位上也成為可能。

技術實現要素：

本發明考慮到以上提到的情形而研發，以及當檢驗計量器時使得觸針頭指向上的倒轉姿勢下的簡易和精確檢驗成為可能。

根據本發明的一個方面的夾具是一種倒轉姿勢檢驗夾具，用於將計量器以倒轉姿勢布置在計量器檢驗機上，從而在設置到計量器檢驗機上以便自由提升和下降的測量心軸移動至預定位置時，利用計量器檢驗機基於計量器的顯示值，能夠檢驗處於倒轉姿勢的計量器的精度。夾具包括沿第一方向延伸的第一柱狀構件；第二柱狀構件；以及第三柱狀構件。第二柱狀構件沿正交於第一方向的第二方向延伸且構造為通過使第二柱狀構件的第一端接合到第一柱狀構件的第一端而沿第二方向伸出的懸臂梁。第三柱狀構件沿第二方向延伸且構造為通過使第三柱狀構件的第一端接合到第一柱狀構件的第二端而沿與第二柱狀構件相同的方向伸出的懸臂梁。夾具還包括接合到第三柱狀構件的觸針頭接收構件，使得位於計量器的心軸的最前端的觸針頭所形成接觸的表面面對第二柱狀構件。夾具還包括設置到第二柱狀構件上且構造成可附接至測量心軸的夾具固定部。

根據本發明的另一個方面，測量心軸在夾具上移動的方向優選為第一方向。

根據本發明的另一個方面，觸針頭所形成接觸的觸針頭接收構件的表面優選是平面。

根據本發明的另一個方面，觸針頭所形成接觸的觸針頭接收構件的表面優選是相對於觸針頭凹陷的曲面。

根據本發明的另一個方面，曲面的曲率優選是夾具固定部和曲面之間的距離的倒數。

根據本發明的另一個方面，觸針頭所形成接觸的觸針頭接收構件的表面優選由圓柱體的內圓周表面構成。

根據本發明的另一個方面，圓柱體的中心軸線優選正交於第一方向和第二方向。

根據本發明的另一個方面，觸針頭所形成接觸的觸針頭接收構件的表面優選由球形表面構成。

根據本發明的另一個方面，夾具優選進一步包括沿第一方向延伸的第四柱狀構件，以及第一到第四柱狀構件優選成形為單一環形構件，其中第二柱狀構件的第二端接合到第四柱狀構件的第一端，並且第三柱狀構件的第二端接合到第四柱狀構件的第二端。

根據本發明的另一個方面，觸針頭接收構件和夾具固定部優選布置在第一柱狀構件和第四柱狀構件的中心位置。

根據本發明的另一個方面，計量器檢驗機構造成能夠移動計量器的心軸，當計量器的心軸移動時，所述計量器檢驗機基於計量器的顯示值檢驗計量器的精度。所述計量器檢驗機包括：測量心軸，該測量心軸設置成自由地提升和下降，所述測量心軸移動計量器的心軸；以及倒轉姿勢檢驗夾具，將計量器以倒轉姿勢布置在計量器檢驗機上從而能夠檢驗在倒轉姿勢下的計量器的精度。夾具包括沿第一方向延伸的第一柱狀構件；第二柱狀構件；以及第三柱狀構件。第二柱狀構件沿正交於第一方向的第二方向延伸且構造成通過使第二柱狀構件的第一端接合到第一柱狀構件的第一端而沿第二方向伸出的懸臂梁。第三柱狀構件沿第二方向延伸且構造成通過使第三柱狀構件的第一端接合到第一柱狀構件的第二端而沿與第二柱狀構件相同的方向伸出的懸臂梁。夾具還包括接合到第三柱狀構件的觸針頭接收構件，使得位於計量器的心軸的最前端的觸針頭所形成接觸的表面面對第二柱狀構件。夾具還包括設置到第二柱狀構件和構造成與測量心軸可連接的夾具固定部。

根據本發明，當檢驗計量器時，能夠在觸針頭指向上的倒轉位置進行簡易且精確的檢驗。

本發明由如下詳細說明和附圖闡明。參考附圖僅僅是為了幫助理解而不是用來限制本發明。

附圖說明

本發明以下文詳細的說明書的方式進一步說明，藉助本發明的示例性實施例的非限制性示例，參考提到的多個附圖，其中相同的參考標記在整個附圖的幾個視圖中表示相似的部分，並且其中：

圖1示出刻度盤的檢驗姿勢；

圖2示出所述刻度盤的檢驗姿勢；

圖3示出所述刻度盤的檢驗姿勢；

圖4示出所述刻度盤的檢驗姿勢；

圖5示出所述刻度盤的檢驗姿勢；

圖6示出所述刻度盤的檢驗姿勢；

圖7示意性地示出了根據第一實施例的倒轉姿勢夾具的配置；

圖8是示出了根據第一實施例的倒轉姿勢夾具固定到計量器檢驗機的測量心軸上的透視圖；

圖9是根據第一實施例的倒轉姿勢夾具的Y-Z平面上的橫截面分解圖；

圖10示出了根據第一實施例的夾具的使用姿勢；

圖11是示意性地示出了根據第一實施例的夾具和刻度盤的心軸的位置關係的部分放大圖；

圖12示意性地示出了根據第二實施例的倒轉姿勢夾具的配置；

圖13是示意性地示出了根據第三實施例的倒轉姿勢夾具的配置的透視圖；

圖14示出了刻度盤；

圖15示出了刻度盤；

圖16示出了計量器檢驗機；

圖17示出了計量器檢驗機；

圖18示出了計量器檢驗機；以及

圖19示出了刻度盤檢驗的示例性方法的解釋圖；

具體實施方式

此處所示的詳情是通過舉例的方式並且目的只是為了本發明實施例的說明性討論，並且為了提供什麼被認為是本發明的原理和概念性方面的最有用的和容易理解的說明的目的而展示。就這一點而言，沒有做出嘗試去展示本發明的比為了本發明的基礎理解必要的更詳細的結構細節，說明書結合附圖使得本發明的形式如何在實際中實施對本領域的技術人員來說更加明顯。

下文中，參考附圖描述本發明的實施例。同一附圖標記在多個附圖的每個附圖中指定為相同的元件，且必要時省略重複的說明。

第一實施例

在ISO和JIS標準中，刻度盤的計量特性服從如「沒有由製造商指明的計量特性必須在所有方向……符合MPE和MPL的值」的規定。因此，在使用者具有特殊需求的情形下，例如有需求在一種不同於正常姿勢的姿勢下(觸針頭指向下)執行檢驗。

考慮刻度盤10的內部結構等等，可能需求的檢驗姿勢可以分成如下六種模式。六種檢驗模式參考圖1到6如下文說明。

(A)觸針頭指向下(正常姿勢)

(B)觸針頭指向上(倒轉姿勢)

(C)觸針頭指向右(此處刻度標記指向上)

(D)觸針頭指向右(此處刻度標記指向下)

(D)觸針頭指向右(此處刻度標記指向使用者)

(D)觸針頭指向右(此處刻度標記指向遠離使用者)

在本說明書中，「指向使用者」也可以稱為「前」、「向前」或「向外」以及「遠離使用者」也可以稱為「後部」、「向後面」或「向裡」。

依照使用者使用的姿勢，檢驗必須在這六種模式中的至少一種中執行。明顯地，在本實施例中，檢驗處於「(A)觸針頭指向下」的刻度盤10可以利用與現有技術中描述的那些相同的常規方法完成。因此，省略處於「(A)觸針頭指向下」檢驗的說明。

提供根據本實施例在(B)倒轉姿勢下進行的檢驗(下文稱為倒轉姿勢檢驗)的說明。在本實施例中，為了執行倒轉姿勢檢驗夾具被用來將刻度盤10以倒轉姿勢布置在計量器檢驗機100上。圖7是示意性地示出了根據第一實施例的倒轉姿勢檢驗夾具200的配置的透視圖。

在下文中，夾具的配置利用三個互相正交的方向X，Y和Z進行描述。X方向還可以稱為第二方向，以及Y方向還可以稱為第一方向。

倒轉姿勢檢驗夾具200包括柱狀構件201到203，觸針頭接收構件(也稱為觸針頭接收器)211，夾具固定孔220，以及夾緊螺釘221。柱狀構件201到203和觸針頭接收構件211例如用鐵構造。

柱狀構件201到203配置為四邊形的柱狀構件，例如在垂直於長度方向(X方向)的橫截面(Y-Z平面)具有矩形形狀。在下文中，柱狀構件201也可以稱為第二柱狀構件，柱狀構件202也可以稱為第一柱狀構件，以及柱狀構件203也可以稱為第三柱狀構件。

柱狀構件201是沿水平方向(X方向)延伸的構件。柱狀構件202是沿垂直方向(Z方向)延伸的構件，且其下(Z(-)側)端部分與柱狀構件201連接。柱狀構件203是沿與柱狀構件201相同的方向(圖7中的X(+)方向)延伸的構件，且與柱狀構件202的上(Z(+)側)端部分連接。特別地，倒轉姿勢檢驗夾具200具有一種配置，其中兩個懸梁臂(柱狀構件201和203)從柱狀構件202沿相同的水平方向(X(+)方向)伸出，其沿垂直(Z)方向延伸。

觸針頭接收構件211是在柱狀構件203的垂直方向下側(Z(-)側)依附到表面203A的構件。在本實施例中，觸針頭接收構件211配置為長方體。刻度盤10的觸針頭16在觸針頭接收構件211的垂直方向下側(Z(-)側)接觸表面211A。

夾具固定孔220形成為沿垂直(Z)方向鑽穿柱狀構件201的孔，計量器檢驗機100的測量心軸140可以穿過該孔插入。特別地，夾具固定孔220的直徑可以理解為大於計量器檢驗機100的測量心軸140的直徑。

圖8是透視圖，示出了固定到計量器檢驗機100的測量心軸140的倒轉姿勢夾具200。圖9是倒轉姿勢夾具200的Y-Z橫截面上的橫截面分解圖。平坦觸針頭141安裝到測量心軸140的最前端且測量心軸140插入在柱狀構件201的垂直方向下側(Z(-)側)穿過表面201A的夾具固定孔220。螺孔222從Y(-)側貫穿至夾具固定孔220鑽入柱狀構件。陰螺紋設置到螺孔222的內表面上。然後，夾緊螺釘221擰入螺孔222中且利用夾緊螺釘221施加壓力到測量心軸140，其使得倒轉姿勢檢驗夾具200容易地固定到測量心軸140。

上文給出了平坦觸針頭141安裝到測量心軸140的最前端的一個例子的說明，但是這個說明僅僅是示例性的。一種情況也是可能的，其中平坦觸針頭141沒有安裝到測量心軸140的最前端，或者安裝不同的觸針頭。

上文給出了夾緊螺釘221從Y(-)側擰入的例子的說明。然而，只要夾緊螺釘221能被擰入螺孔222，夾緊螺釘221就可以從Y(+)側，或從X(+)側或X(-)側擰入。

上文描述的夾具固定孔220，夾緊螺釘221以及螺孔222還可以稱為設置到柱狀構件201的夾具固定部或夾具固定器。然而，這個夾具固定部僅僅是示例性的並且只要倒轉姿勢檢驗夾具200能被固定到計量器檢驗機100的測量心軸140上，也可以使用其它配置。

圖10示出了使用中的倒轉姿勢夾具200。計量器檢驗機100的主體的配置與圖16中示出的配置類似，且因此省略其說明。刻度盤10利用倒轉姿勢檢驗夾具200以倒轉姿勢設置在計量器檢驗機100上。特別地，計量器檢驗機100的測量心軸140沿倒轉的方位通過夾具固定孔220，夾緊螺釘221擰入螺孔222中，且倒轉姿勢檢驗夾具200固定到測量心軸140上。這時候，雖然固定到託架110上的刻度盤10上位置的方位是倒轉的，該位置與在正常朝向時的探測類似。因此，如圖10中所示，當使用夾具200時，刻度盤10可以以倒轉姿勢布置在計量器檢驗機100上且除了姿勢是倒轉的，可以最小化對檢驗結果的影響。

當將刻度盤10以倒轉姿勢布置在計量器檢驗機100上時，託架110當然被充分向上移動以防止託架110幹擾。

當刻度盤10採用這種方式以倒轉姿勢布置在計量器檢驗機100上時，刻度盤10的檢驗能夠採用一種與現有技術描述的方案顯著類似的方案實施。當計量器檢驗機100的測量心軸140被提升和下降時，刻度盤10也與測量心軸140整體地提升和下降。當觸針頭16接觸時，心軸15被向內壓。此刻，測量指示精度和重複精度。採用這種方法，通過利用倒轉姿勢檢驗夾具200將刻度盤10以倒轉姿勢布置在計量器檢驗機100上，在倒轉姿勢下((B)觸針頭指向上)刻度盤10的檢驗可以利用計量器檢驗機100執行。

根據這一配置，通過利用具有上文描述的簡易配置的倒轉姿勢檢驗夾具200，保持垂直倒轉的刻度盤的檢驗可以不用設計任何特殊的測量例如改變檢驗機本身的姿勢就可容易地執行。另外，通過替換固定到倒轉姿勢檢驗夾具200的心軸上的機構，倒轉姿勢檢驗夾具200可以應用到具有不同形狀的心軸的多種檢驗機上。而且，在刻度盤上與檢驗機接觸以便將刻度盤固定到檢驗機上的位置類似於刻度盤在正常方位被檢驗的情形。因此，與正常方位的在測量條件方面的差別可以絕對地最小化。

第二實施例

在第一實施例中，可以存在刻度盤10的心軸15的軸線不正交於觸針頭接收構件211的垂直方向下側(Z(-)側)上的表面的情形。圖11是部分放大圖，示意性地示出了根據第一實施例倒轉姿勢檢驗夾具200和刻度盤10的心軸15的位置關係。如圖11中所示，刻度盤10固定從而刻度盤10的心軸15的軸線與垂直方向對齊。然而，當觸針頭接收構件211向垂直方向下側移動且按壓刻度盤10的心軸15時，觸針頭接收構件211接收來自刻度盤10的心軸15的反作用力。在倒轉姿勢檢驗夾具200中，柱狀構件201到203具有由它們組成的材料確定的彈性。因此，由於來自觸針頭16的反作用力，彎曲在以夾具固定孔220作為固定點的倒轉姿勢檢驗夾具200中逐漸發展，柱狀構件201固定到計量器檢驗機100的測量心軸140上的夾具固定孔220。

當研究由於這種現象對接近觸針頭接收構件211的區域的影響時，隨著觸針頭接收構件211朝垂直方向下側(Z(-)側)移動，觸針頭接收構件211以逆時針方向旋轉。結果，在觸針頭接收構件211的垂直方向下側(Z(-)側)上的表面211A不再垂直於刻度盤10的心軸15的軸線，且觸針頭接收構件211按壓刻度盤10的觸針頭16所用的力F被分解成垂直向下的力Fv和水平方向力Fh。換言之，隨著觸針頭接收構件211垂直向下移動時，施加到刻度盤10的心軸15上的垂直向下(Z(-)方向)壓力減少。結果，檢驗精度因為由觸針頭接收構件211的位移量導致的施加到刻度盤10的心軸15上的壓力的波動而可能變差。

作為回應，在本實施例中，為了解決上文提到的問題，提供了針對觸針頭接收構件具有額外改進的倒轉姿勢檢驗夾具300的說明。圖12示出了倒轉姿勢檢驗夾具300，其用於將刻度盤10以倒轉姿勢布置在計量器檢驗機100上。倒轉姿勢檢驗夾具300具有這種配置，其中根據第一實施例的倒轉姿勢檢驗夾具200的觸針頭接收構件211由觸針頭接收構件212代替。倒轉姿勢檢驗夾具300而不是觸針頭接收構件212的配置類似於倒轉姿勢檢驗夾具200的配置，且因此省略其說明。

類似於觸針頭接收構件211的觸針頭接收構件212連接到柱狀構件203的垂直方向下側(Z(-)側)的表面203A。在本實施例中，觸針頭接收構件212的形狀為觸針頭接收構件212的垂直方向下側(Z(-)側)的表面212A與觸針頭接收構件211相比朝向垂直方向上側(Z(+)側)彎曲。在這個例子中，彎曲的底面212A由具有沿著Y方向的中心軸線的圓柱體的外圓周表面構成。

根據這種配置，甚至當觸針頭接收構件212隨著觸針頭接收構件212向垂直方向下側(Z(-)側)移動而逆時針方向旋轉時，觸針頭接收構件212的垂直方向下側(Z(-)側)上的表面也在觸針頭接收構件212與刻度盤10的觸針頭16接觸的位置垂直於刻度盤10的心軸15的軸線。結果，不管垂直方向(Z方向)位移量，觸針頭接收構件212可以向刻度盤10的心軸15施加固定強度的垂直向下的按壓力。

在本實施例中，當從夾具300的夾具固定孔220到觸針頭接收構件212的底面212A的距離定義為L時，底面212A的曲率優選為1/L。在這樣一種情形下，底面212A可以與觸針頭16形成接觸以便抵消夾具300的旋轉方向位移，其對防止檢驗精度變差是有用的。

鑑於以上所述，本配置能夠防止倒轉姿勢檢驗夾具200可能發生的檢驗結果變差，且使得獲得更精確的檢驗結果。

第三實施例

給出根據第三實施例倒轉姿勢檢驗夾具400的說明。圖13示意性地示出了根據第三實施例的倒轉姿勢夾具400的配置。

倒轉姿勢檢驗夾具400具有這樣配置，其中柱狀構件204加到倒轉姿勢檢驗夾具200，柱狀構件204具有與柱狀構件202相同的長度方向。柱狀構件204沿垂直方上側(Z(+)側)的端部接合到柱狀構件203的X(+)側處的端部，即，到與接合於柱狀構件202的端部相反側的端部。柱狀構件204的垂直方下側(Z(-)側)的端部接合到柱狀構件201的X(+)側處的端部，即，到與接合於柱狀構件202的端部相反側的端部。因此，柱狀構件(也稱為柱體)201到204配置為連續的環形構件。下文中，柱狀構件204也稱為第四柱狀構件。

在本配置中，柱狀構件201和203的兩端部都配置為橫越柱狀構件202和204之間的水平方向(X方向)，其在垂直方向(Z方向)延伸。因此，甚至當安裝到柱狀構件201的觸針頭接收構件211和觸針頭16接觸時，倒轉姿勢檢驗夾具400也不太可能沿旋轉方向移動。因此，如第二實施例，可以避免由於施加到刻度盤10的心軸15上的壓力的波動導致的檢驗精度變差。

在本實施例中，考慮到施加到刻度盤10的觸針頭16上的力平衡，觸針頭接收構件211和夾具固定孔220優選分別布置在柱狀構件201和203的中間部分。

其它實施例

此外，本發明不限制於上文描述的實施例，並且可以按需要在不脫離本發明範圍的前提下改造。例如，在上文所述的實施例中，描述了具有垂直於長度方向的四邊形截面的柱狀構件；然而，這些說明僅僅是示例性的。垂直於柱狀構件的長度方向的橫截面可以是非四邊形的多邊形形狀，或者可以是圓的或橢圓的。

在上文所述的實施例中，說明了一個例子，其中根據第二實施例的觸針頭接收構件212具有由圓柱體的外圓周表面配置的曲面；然而，這種說明僅僅是示例性的。觸針頭接收構件212的曲面也可以由一些其他的曲面配置代替，例如球面。

根據第二實施例的觸針頭接收構件212當然也可以應用到根據第三實施例的夾具400。

注意到前述的例子僅僅是為了解釋的目的而提供而絕不是對本發明的限制。雖然參考示例性實施例說明了本發明，可以理解的是此處使用的文字是說明和示出文字，而不是限制文字。在如目前陳述的和修改的附加權利要求的範圍內，不脫離本發明的範圍和精神在其多個方面可以做出改變。雖然本發明此處參考特定的結構、材料和實施例進行說明，本發明不是想被限制到此處公開的細節；而是，本發明延伸至所有功能上等價的結構、方法和使用，其是在附加權利要求的範圍內。

本發明不限制到上文所述的實施例，並且多種變化和改造在不脫離本發明的範圍下是可能的。