液晶顯示器臨界點不良測試方法
2023-09-19 06:55:40 1
專利名稱：液晶顯示器臨界點不良測試方法
技術領域：
本發明涉及一種液晶顯示器測試方法，尤其是一種液晶顯示器臨界點不 良測試方法。
背景技術：
液晶顯示器在出廠之前，都需要經過嚴格的檢測，例如在液晶顯示器測 試階段需要進行常規電信號圖形檢測。常規電信號圖形檢測方法所利用的電
信號一般為按照VESA標準設定的常規信號程序，信號的電壓值設定以出廠時 實際工作電壓為基準，所以液晶顯示器內液晶分子按照接近設計值的理想工 作狀態進行偏轉。
這樣雖然可以最大限度的有針對性地模擬實際工作情況，但是對於相當 一部分接近臨界點的不良不能有效檢出，例如液晶分子偏轉不良，或者薄膜 電晶體(TFT)電特性不良等。由於在臨界點範圍的電壓環境下這種不良現象 若隱若現，因此這部分不良可能在最初檢測時並不能立即顯現，但在一段時 間使用後或外界環境發生變化時，這部分不良會出現，會造成後續工序的困 難，或給購買者造成損失。
發明內容
本發明的目的是提供一種液晶顯示器臨界點不良測試方法，通過輸入不 同於正常工作範圍的檢測用電壓，可以有效檢測出液晶顯示器的臨界點不良。
為實現上述目的，本發明提供了一種液晶顯示器臨界點不良測試方法， 包括步驟1、向液晶顯示器輸入不同於正常工作範圍的檢測用電壓值； 步驟2、採集液晶顯示器輸出的顯示圖形，通過判斷所述^r測圖形的均一
度銳化程度獲得液晶顯示器臨界點不良結果。
所述步驟l可以為向液晶顯示器輸入^r測用柵極正向開啟電壓VM,所
述才企測用柵極正向開啟電壓VeH較工作用柵極正向完全開啟電壓V。"氐20°/。~
50%。
所述步驟1也可以為向液晶顯示器輸入檢測用柵極負向關斷電壓Va, 所述檢測用柵極負向關斷電壓Va較工作用柵極負向完全關斷電壓V。FF高20% ~ 50%。
所述步驟1還可以為向液晶顯示器輸入;f企測用柵極正向開啟電壓L和 檢測用柵極負向關斷電壓I,所述檢測用柵極正向開啟電壓L較工作用柵極 正向完全開啟電壓V。n低20%~50%，所述檢測用柵極負向關斷電壓V^較工作 用柵極負向完全關斷電壓V附高20%~ 50°/。。
本發明液晶顯示器臨界點不良測試方法通過輸入不同於正常工作範圍的 檢測用電壓，使不易發現的電氣性不良和目視性不良得以顯現，可以有效檢 測出液晶顯示器的臨界點不良。
下面通過附圖和實施例，對本發明的技術方案做進一步的詳細描述。
圖1為本發明液晶顯示器臨界點不良測試方法的流程圖； 圖2為本發明第一實施例的示意圖； 圖3為本發明第二實施例的示意圖； 圖4為本發明第三實施例的示意圖。
具體實施例方式
圖1為本發明液晶顯示器臨界點不良測試方法的流程圖，具體為
步驟1 、向液晶顯示器輸入不同於正常工作範圍的檢測用電壓值；
步驟2、採集液晶顯示器輸出的顯示圖形，通過判斷所述檢測圖形的均一 度銳化程度獲得液晶顯示器臨界點不良結果。
本發明通過輸入不同於正常工作範圍的;f企測用電壓以有效;險測液晶顯示 器的臨界點不良，具體地，輸入不同於正常工作範圍的檢測用電壓是向液晶 顯示器輸入;f企測用柵極電壓，通過惡化溝道導通條件，改變載流子電流流量， 從而獲得液晶顯示器臨界點不良結果，即向TFT輸入4企測用^^及正向開啟電 壓VGH，使;險測用柵極正向開啟電壓VeH小於工作用柵極正向完全開啟電壓V0N， 或向TFT輸入檢測用柵極負向關斷電壓VCL,使檢測用柵極負向關斷電壓L大 於工作用柵極負向完全關斷電壓V。FF，或者上述的組合。進一步地，該鬥企測用 柵極正向開啟電壓L較工作用柵極正向完全開啟電壓V。J氐20%~50%,該檢 測用柵極負向關斷電壓L較工作用柵極負向完全關斷電壓V。ff高20%~ 50%。
本實施例液晶顯示器臨界點不良測試方法的工作原理為在對液晶面板 施加正常檢測電信號時，檢測圖形為0輝階至255輝階、紅/綠/藍的單色、 及由紅/綠/藍三色混色而成的灰色構成的檢測圖形組。其中主要包括LO輝 階全黑畫面，L63輝階深灰畫面，L127輝階中灰畫面，L255輝階白色畫面， L127輝階紅色畫面，L127輝階綠色畫面，L127輝階藍色畫面等。在輸入正常 檢測信號時，由於輸入的是柵極完全開啟和完全關斷信號，這樣只在最優條 件下測試了 TFT器件性能，而一些性能不佳的顯示屏沒有異常表現，因而很 容易造成漏判，給下一工序及最終用戶帶來隱患和損失。本發明通過降低柵 極開啟電壓、提高柵極關斷電壓，改變了電場條件，使得開啟和關斷功能並 不理想的TFT器件在改變後的電場條件發生異常開啟及關斷。由於信號電壓 Vd僅在柵極電壓開啟時才能正常傳輸，液晶分子在信號電壓Vd與公共極電壓 Vcom電壓之間形成的電場控制下進行偏轉。當柵極開啟電壓降低或柵極關斷 電壓提高到不能正常開啟及關斷時，該區域的信號電壓Vd不能正常傳輸，因 而造成信號電壓Vd與公共極電壓Vcom電壓之間形成的電場電壓異常，使得
該區域的液晶分子偏轉異常，從而造成正常偏轉液晶分子和偏轉異常的液晶
分子之間的反轉節拍不一致。對液晶面板而言，原本應為同一均一度的液晶
面板透射光在液晶分子偏轉正常區域和液晶分子偏轉異常區域間的差異明顯
顯現，因而銳化了液晶分子偏轉正常區域和液晶分子偏轉異常區域間的透光
差異，最終會使液晶顯示灰度均一度銳化變化，使本發明實現對臨界點不良
的檢測。
第一實施例
圖2為本發明第一實施例的示意圖。本實施例液晶顯示器臨界點不良測 試方法具體為向液晶顯示器輸入檢測用柵極正向開啟電壓VGH和檢測用棚-極
負向關斷電壓VGL,其中檢測用柵極正向開啟電壓VGH較工作用柵極正向完全開
啟電壓VGH低20%~50%,檢測用柵極負向關斷電壓V^等於工作用4冊極完全負 向關斷電壓VGL;採集液晶顯示器輸出的顯示圖形，通過判斷所述檢測圖形的 均一度銳化程度獲得液晶顯示器臨界點不良結果。
具體地，本實施例測試前，需要對液晶顯示器面板信號輸入源印刷電路 板(PCB )進行改造，切斷PCB原有的柵極正向完全開啟電壓V。n和柵極負向完
全關斷電壓V。ff輸入信號端點，用引線將該二信號輸入端點引出，連接至信號
發生器的相應的輸出端點，設定信號發生器檢測用柵極正向開啟電壓VGH，使
檢測用柵極正向開啟電壓VGH較工作用柵極正向完全開啟電壓VGH低20% ~ 50%, 並輸入PCB板，從而改變液晶顯示器面板信號；之後釆集液晶顯示器輸出的 顯示圖形，判斷該檢測圖形的均一度銳化程度，在正常(工作)電壓輸入情 況下，液晶顯示器面板的顯示均一度銳化程度在1%-3. 5°/。之間(50%灰度條件)， 在本實施例輸入的檢測用柵極正向開啟電壓VGH較工作用柵極正向完全開啟電 壓VGH低20% 50%。情況下，液晶顯示器面板的顯示均一度會明顯銳化，當液晶 顯示器存在臨界點不良時，該檢測圖形的均一度銳化程度會大於3. 5%。因此， 本實施例通過判斷檢測圖形的均 一度銳化程度可以獲得液晶顯示器臨界點不 良結果。圖形均一度銳化程度檢測採用現有的^r測手段和方法，不再贅述。
正常檢測時，柵源電壓差Ves與閾值電壓Vth之差Ves-VTH、柵源電壓差VDS 均工作在線形放大區，成正相關係。溝道本身改變導致液晶面板電器件、電 性能改變，進一步引起液晶分子偏轉正常區域和液晶分子偏轉異常區域間的 透光差異。本實施例通過施加檢測用柵極正向開啟電壓L可以改變柵源電壓 差Vm，而柵源電壓差V。s的改變將改變溝道的狀態。當柵源電壓差V。s與閾值
電壓VTH之差大於漏源電壓差V。s時(V。S-VTH>VDS)，溝道處於開啟狀態，載流子
電流量水平正常，整個電路處於正常工作狀態；當柵源電壓差L與閾值電壓 VTH之差等於漏源電壓差V。s時(Ves-VTH=VDS)，溝道處於臨界狀態，載流子電流 量水平發生改變但仍有電流流動，電路處於不穩定狀態；當柵源電壓差V。s與 閾值電壓VTH之差小於漏源電壓差V。s時(Ves-VTH<VDS)，電路關斷。
本實施例通過輸入檢測用柵極正向開啟電壓VeH，改變了柵源電壓差Vcs
與閾值電壓VTH之差，惡化溝道導通條件，改變溝道區的寬窄，改變載流子電
流流量從而更為容易檢測出潛在臨界不良。
對於15英寸~ 201英寸液晶顯示器，正常的工作用柵極正向完全開啟電 壓V。n為22V-26V，本實施例中，優選的向液晶顯示器輸入4企測用柵極正向開 啟電壓L為10V-21V,可有效檢測出液晶顯示器臨界點不良。 第二實施例
圖3為本發明第二實施例的示意圖。本實施例液晶顯示器臨界點不良測 試方法具體為向液晶顯示器輸入檢測用柵極正向開啟電壓L和檢測用柵極 負向關斷電壓Va，其中檢測用柵極正向開啟電壓VcH等於工作用柵極正向完全 開啟電壓V。N ，檢測用柵極負向關斷電壓Va較工作用柵極負向完全關斷電壓V, 高20%~50%;釆集液晶顯示器輸出的顯示圖形，通過判斷所述;f企測圖形的均 一度銳化程度獲得液晶顯示器臨界點不良結果。
本實施例測試具體過程和工作原理與第一實施例相同，在本實施例輸入 的檢測用柵極負向關斷電壓V"較工作用柵極負向完全關斷電壓V附高20% ~ 50%情況下，液晶顯示器面板的顯示均一度會明顯銳化，當液晶顯示器存在臨
界點不良時，該檢測圖形的均一度銳化程度會大於3. 5%。因此，本實施例通 過判斷檢測圖形的均一度銳化程度可以獲得液晶顯示器臨界點不良結果。同
樣的，本實施例施加的檢測用柵極負向關斷電壓Va可以改變柵源電壓差Vcs, 而柵源電壓差Ves的改變將改變溝道的狀態。本實施例通過輸入4企測用棚4及負 向關斷電壓Va,改變了柵源電壓差Ves與閾值電壓Vth之差，惡化溝道導通條 件，改變溝道區的寬窄，改變載流子電流流量從而更為容易檢測出潛在臨界 不良。
對於15英寸~ 201英寸液晶顯示器，正常的工作用柵極負向完全關斷電 壓V。ff為-6. 5V -8. 5V,本實施例中，優選的向液晶顯示器輸入檢測用柵極負 向關斷電壓L為-6V 0V，可有效檢測出液晶顯示器臨界點不良。 第三實施例
圖4為本發明第三實施例的示意圖。本實施例液晶顯示器臨界點不良測 試方法具體為向液晶顯示器輸入檢測用柵極正向開啟電壓V。h和檢測用柵極 負向關斷電壓I,其中檢測用柵極正向開啟電壓VcH較工作用柵極正向完全開 啟電壓V。n低20%~50%，檢測用柵極負向關斷電壓V^較工作用柵極負向完全 關斷電壓V哪高20°/ ~50°/。；採集液晶顯示器輸出的顯示圖形，通過判斷所述檢 測圖形的均 一度銳化程度獲得液晶顯示器臨界點不良結果。
本實施例測試具體過程和工作原理與第一實施例相同，不再贅述。在本 實施例輸入的檢測用柵極正向開啟電壓V"交工作用柵極正向完全開啟電壓V0N 低20%~50%和檢測用柵極負向關斷電壓Va較工作用柵極負向完全關斷電壓 Voff高20%~50°/。情況下，液晶顯示器面板的顯示均一度會明顯銳化，當液晶顯 示器存在臨界點不良時，該檢測圖形的均一度銳化程度會大於3. 5%。因此， 本實施例通過判斷檢測圖形的均 一度銳化程度可以獲得液晶顯示器臨界點不 良結果。同樣的，本實施例施加的檢測用柵極正向開啟電壓V。h和檢測用柵極 負向關斷電壓、l可以改變柵源電壓差Ves,而柵源電壓差L的改變將改變溝 道的狀態。本實施例通過輸入檢測用柵極正向開啟電壓VeH和檢測用柵極負向
關斷電壓Va,改變了柵源電壓差Ves與閾值電壓Vth之差，惡化溝道導通條件， 改變溝道區的寬窄，改變載流子電流流量從而更為容易衝企測出潛在臨界不良。 對於15英寸~ 201英寸液晶顯示器，正常的工作用相W及正向完全開啟電
壓V。n為22V 26V，正常的工作用柵極負向完全關斷電壓V附為-6. 5V--8. 5V, 本實施例中，優選的向液晶顯示器輸入4全測用衝冊4及正向開啟電壓L為10V~ 21V，向液晶顯示器輸入檢測用柵極負向關斷電壓Va為-6V 0V，可有效;險測 出液晶顯示器臨界點不良。
最後所應說明的是，以上實施例僅用以說明本發明的技術方案而非限制， 儘管參照較佳實施例對本發明進行了詳細說明，本領域的普通技術人員應當 理解，可以對本發明的技術方案進行修改或者等同替換，而不脫離本發明技 術方案的精神和範圍。
權利要求
1、一種液晶顯示器臨界點不良測試方法，其特徵在於，包括步驟1、向液晶顯示器輸入不同於正常工作範圍的檢測用電壓；步驟2、採集液晶顯示器輸出的顯示圖形，通過判斷所述檢測圖形的均一度銳化程度獲得液晶顯示器臨界點不良結果。
2、 根據權利要求1所述的液晶顯示器臨界點不良測試方法，其特徵在 於，所述步驟l具體為向液晶顯示器輸入檢測用柵極正向開啟電壓VeH，所 述檢測用柵極正向開啟電壓L較工作用柵極正向完全開啟電壓V。"氐20°/。~ 50%。
3、 根據權利要求1所述的液晶顯示器臨界點不良測試方法，其特徵在 於，所述步驟l具體為向液晶顯示器輸入^r測用柵極負向關斷電壓Va，所 述檢測用柵極負向關斷電壓Vca較工作用柵極負向完全關斷電壓V。汗高20% ~ 50%。
4、 根據權利要求1所述的液晶顯示器臨界點不良測試方法，其特徵在 於，所述步驟l具體為向液晶顯示器輸入檢測用柵極正向開啟電壓L和檢 測用柵極負向關斷電壓Va,所述;f企測用柵極正向開啟電壓V^較工作用柵極正 向完全開啟電壓V。"氐20%~50%，所述檢測用柵極負向關斷電壓L較工作用 柵極負向完全關斷電壓V哪高20%~ 50%。
全文摘要
本發明涉及一種液晶顯示器臨界點不良測試方法，包括步驟向液晶顯示器輸入不同於正常工作範圍的檢測用電壓；採集液晶顯示器輸出的顯示圖形，通過判斷所述檢測圖形的均一度銳化程度獲得液晶顯示器臨界點不良結果。本發明通過輸入不同於正常工作範圍的檢測用電壓，從而使不易發現的電氣性不良和目視性不良得以顯現，可以有效檢測出液晶顯示器的臨界點不良。
文檔編號G01R31/00GK101387764SQ20071012173
公開日2009年3月18日 申請日期2007年9月13日 優先權日2007年9月13日
發明者濤 徐 申請人:北京京東方光電科技有限公司