光纖直流磁光探測系統和方法
2023-09-14 05:08:25
專利名稱：光纖直流磁光探測系統和方法
技術領域：
本發明涉及光學應用領域，具體而言，涉及光纖直流磁光探測系統和方法。
背景技術：
由於直流輸電具有大容量、高傳輸效率、低電磁輻射等優點，在現代新一代能源傳 輸中開始被重視。由於是直流輸電，傳輸線上的電流無法通過採用電磁感應的互感器來測 量，如何測量直流電流成為技術難題。有人通過霍爾效應來測量直流電流，但其靈敏度較 低，設備成本較高且很難進行高壓絕緣。 目前，法拉第效應等磁光效應廣泛應用於電流和磁場的測量。法拉第效應可由磁 光玻璃、磁光晶體、或光纖等材料來實現。由於通常磁光效應的載體光強是一直流信號，且 很難保證在幾年甚至十幾年的使用壽命內保持不變。如果用磁光效應來測量直流磁場或電 流，就會碰到電流信號和光強信號無法分開的難題。 如圖1所示，為相關技術中的光纖磁光測量系統，該系統由電源和信號處理模塊 400、磁光探頭100和傳導的光纖裝置200構成。電源和信號處理模塊400發出的雷射通過 光纖裝置200傳導到磁光探頭100中，磁光探頭根據一定的光學原理，如法拉第磁光效應，
設計來感知磁光探頭ioo所處環境的磁場，並把磁場信號轉變成光信號，光信號載在上述
雷射中通過光纖裝置200傳回電源和信號處理模塊400，電源和信號處理模塊400根據收到
的光信號，經過數據處理，得到測量點的有關磁場信息。 圖1所示系統的測量過程可由下式(1)描述 I = I0(l+ClH) (1) 其中I表示電源和信號處理模塊400中光電探測器測到的光信號，I。是與雷射發 光光強、透過率等相關的參數；Cl是磁光參數，與磁光材料及磁光探頭100的偏振檢測機構 有關，H是被測磁場。通常情況下，1。和q都會受環境因素的影響。如果被測的磁場H是 交流的，可以對直流成分I。和交流成分I。 Cl H分別測量，並相除從而得到q H。如果q不 隨溫度變化，測量結果將能很好地反映被測磁場，否則，需要去除環境因素對q的影響。如 果被測的磁場H是直流信號，上述方法將不能去除I。，進而導致測量的結果不準確。
同時，發明人在實現本發明的過程中發現應用各種材料進行磁光測量，都會受到 溫度、應力等環境因素或被測磁場的強度影響，這些影響將會導致測量不準確。特別是，發 明人發現石榴石磁光晶體等材料，在一定強度的直流或交變外磁場作用下，其微觀磁疇會 產生不規律的擾動，進而影響光學特性，使測量出現不確定性。並且，針對這些問題目前尚 未提出合理的解決方案。
發明內容
本發明旨在提供一種光纖直流磁光探測系統和方法，能夠通過實時校正的方法來 去除環境因素的影響而得到準確的測量數據等。 根據本發明的一個方面，本發明實施例提供了一種光纖直流磁光探測系統，所述系統包括電源和信號處理模塊、光纖裝置、參考裝置和磁光探頭；其中，電源和信號處理 模塊，用於通過所述光纖裝置向所述磁光探頭髮送雷射；以及分兩路接收來自所述磁光探 頭的由所述雷射承載的光信號，並分別將兩路光信號轉變為兩路電信號，根據所述參考裝 置發送的參考磁場脈衝信號對所述兩路電信號進行處理，得到所述測量點的自身磁場信息 和/或電流信息； 光纖裝置，用於將來自所述電源和信號處理模塊的雷射分成兩路，分別將所述兩 路雷射發送至所述磁光探頭的兩端，以及將來自所述磁光探頭的光信號分兩路發送至所述 電源和信號處理模塊； 參考裝置，用於在測量點產生一個幅值和形狀已知的參考磁場脈衝信號； 磁光探頭，用於檢測所述測量點的磁場信號，將所述磁場信號轉變為光信號，所述
磁場信號為所述參考磁場脈衝信號和所述測量點產生的自身磁場信號疊加後的信號；還用
於接收所述兩路雷射，將轉變後的光信號分別承載在所述兩路雷射上發送。 根據本發明的另一個方面，本發明實施例提供了一種光纖直流磁光探測方法，所
述方法包括 電源和信號處理模塊發送雷射； 光纖裝置將所述雷射分成兩路，分別將所述兩路雷射發送至所述磁光探頭的兩
丄山
順； 磁光探頭接收所述兩路雷射，並檢測所述測量點的磁場信號，將所述磁場信號轉 變為光信號，將轉變後的光信號分別承載在所述兩路雷射上發送；所述磁場信號為參考磁 場脈衝信號和所述測量點產生的自身磁場信號疊加後的信號；其中所述參考磁場脈衝信號 是參考裝置在測量點產生的幅值和形狀已知的信號； 所述光纖裝置將來自所述磁光探頭的光信號分兩路發送至所述電源和信號處理 模塊； 所述電源和信號處理模塊分兩路接收來自所述磁光探頭的光信號，並分別將兩路 光信號轉變為兩路電信號，根據所述參考磁場脈衝信號對所述兩路電信號進行處理，得到 所述測量點的自身磁場信息和/或電流信息。 採用參考裝置產生的參考磁場脈衝信號校正測量到的信號，來去除環境因素對測 量的影響，進而得到準確的測量數據，提高了系統的測量精度。解決了高靈敏度、大量程直 流電流的測量難題。
附圖用來提供對本發明的進一步理解，構成本申請的一部分，本發明的示意性實
施例及其說明用於解釋本發明，並不構成對本發明的不當限定。在附圖中 圖1示出了相關技術中光纖磁光探測系統的結構框圖； 圖2示出了本發明實施例1提供的光纖直流磁光探測系統的結構框圖； 圖3示出了本發明實施例2提供的光纖直流磁光探測系統的結構櫃圖； 圖4示出了本發明實施例2提供的光電探測器中探測到的信號中成分組成和關係
的示意圖； 圖5示出了本發明實施例3提供的光纖直流磁光探測系統的結構框 圖6示出了本發明實施例4提供的光纖直流磁光探測方法的流程圖。
具體實施例方式
下面將參考附圖並結合實施例，來詳細說明本發明。
實施例1 如圖2所示，本實施例提供了一種光纖直流磁光探測系統，該系統包括磁光探頭 100、光纖裝置200、參考裝置300和電源和信號處理模塊400，其中，磁光探頭100和參考裝 置300被至於測量點周圍，測量點的位置可以是高電勢，電源和信號處理模塊400置在安全 的近地低電勢的地方，它們之間通過電絕緣的傳導光纖裝置200連接；
電源和信號處理模塊400，用於通過光纖裝置200向磁光探頭100發送雷射；以及 分兩路接收來自磁光探頭100的並承載在上述雷射上的光信號，並分別將兩路光信號轉變 為兩路電信號，根據參考裝置300發送的參考磁場脈衝信號對兩路電信號進行處理，得到 測量點的自身磁場信息和/或電流信息； 光纖裝置200，用於將來自電源和信號處理模塊400的雷射分成兩路，分別將兩路 雷射發送至磁光探頭100的兩端，以及將來自磁光探頭100的並承載在上述雷射上的光信 號分兩路發送至電源和信號處理模塊400 ; 參考裝置300，用於在測量點產生幅值和形狀已知的參考磁場脈衝信號；
磁光探頭IOO，用於檢測測量點的磁場信號，將磁場信號轉變為光信號，磁場信號 為參考磁場脈衝信號和測量點產生的自身磁場信號疊加後的信號；還用於接收兩路雷射， 將轉變後的光信號分別承載在兩路雷射上發送。 本實施例採用的是法拉第磁光效應的光纖直流磁場或電流的測量方法，能夠對測
量的結果進行實時校準，解決了高靈敏度、大量程直流電流的測量難題。 本實施例提供的系統採用參考裝置產生的參考磁場脈衝信號校正測量到的信號，
來去除環境因素對測量的影響，進而得到準確的測量數據；同時，本系統由於採用了光學方
法，信號傳播路徑全部採用絕緣體，進而實現了的高壓電網中的安全隔離。 實施例2 參見圖3，本實施例提供了一種光纖直流磁光探測系統，該系統包括磁光探頭
100、光纖裝置200、參考裝置300和電源和信號處理模塊400，其中，磁光探頭100和參考裝
置300被至於測量點周圍，測量點的位置可以是高電勢，電源和信號處理模塊400置在安全
的近地低電勢的地方，它們之間通過電絕緣的傳導光纖裝置200連接； 其中，電源和信號處理模塊400至少包括雷射器41、光電探測器42a和42b，控制
和信號處理模塊44 ; 雷射器41，用於通過光纖裝置200向磁光探頭100發送雷射； 兩個光電探測器42a和42b，用於分別接收來自磁光探頭100的並承載在上述雷射
上的光信號，分別將光信號轉變為電信號後發送； 控制和信號處理模塊44，用於接收兩個光電探測器42a和42b發送的電信號，根據 參考裝置300發送的參考磁場脈衝信號對電信號進行處理，得到測量點的自身磁場信息和 /或電流信息。 光纖裝置200包括連接的光纖若干和一個分路器21、以及兩個迴路器22a和22b，
6雷射器41發出雷射經過分路器21被分成兩路，分別經過迴路器22a和22b從磁光探頭100 的兩端進入，並以相反的方向通過磁光探頭100中的磁敏材料，經由另一端發出去，然後分 別通過迴路器22b和22a，到光電探測器42a和42b上進行光電轉換。參考裝置300的作用 是在測量點上產生幅值和形狀已知，且不受環境因素變化的參考磁場脈衝信號，該參考磁 場脈衝信號與被測直流磁場信號線性疊加後被磁光探頭100感知。這樣，由於兩路光經過 磁光探頭100的光路完全一樣而方向相反，使得光電探測器42a和42b上檢測的信號可由 公式(2)和(3)表示: Ia = Ia0[l+Cl(H+Hr)] (2) Ib = Ib0[l-Cl(H+Hr)] (3) 式中Ia和Ib是光電探測器42a和42b檢測到的信號，Ia。和Ib。是與兩光路透過
率、分路器21分光比及探測器靈敏度等相關的參數，Cl是與磁光探頭100在某時刻環境條
件下的磁光靈敏參數，H是被測磁場，&是參考脈衝磁場。參數Ia。、 Ib。及Cl都可能受環境
因素影響。 如圖4所示，為光電探測器42a和42b上信號元素之間的關係，由圖4可以看出，
參考脈衝磁場信號的幅值IM和IA可以在信號中分離，即
Ira = IaoClHr (4)
Irb = IboClHr (5)
從而可知幅值比例Q (6)
々0 八Z) 這樣，通過下式進行數據處理就可得到與環境因素直流項無關的信號
S = Ia_Ib rab = Ia。Cl (H+Hr) (7) 如下式所示，信號S中的直流項用S表示，脈衝用Sr，它們還可以相互分開，進一步 進行相除就可得到被測磁場與參考磁場的比例 S = IacAH (8)
Sr = Ia(|ClHr (9)r = |"=, (10) 由於，參考磁場的脈衝幅值是一不變量，通過測得的r，就可以得到被測直流磁場 的值。由於本實施例提供的系統中的控制和信號處理模塊44進行數據處理後，去除了受環 境因素影響的參數Ia。、 Ib。及q，所以測量結果完全由參考磁場脈衝信號的精度來決定，根 據參考磁場脈衝信號可以確定被測的磁場信號，提高了測量的準確度。
實施例3 參見圖5，本實施例提供了一種光纖直流磁光探測系統，該系統包括兩個磁光探 頭100a和100b、光纖裝置200、參考裝置300和電源和信號處理模塊400，其中，磁光探頭 100a和100b、參考裝置300被至於測量點(例如:載流導體)800周圍，測量點800的位置 可以是高電勢，電源和信號處理模塊400置在安全的近地低電勢的地方，它們之間通過電 絕緣的傳導光纖裝置200連接； 本實施例中的電源和信號處理模塊400包括兩個雷射器41a和41b ;參考雷射器
743 ;光電探測器42a、42b、42c和42d ;控制和信號處理模塊44 ;參考雷射器43可根據控制 和信號處理模塊44的指令在指定的時刻發出指定強度和形狀的參考雷射。指定強度是一 個預先指定的光強度，能使參考裝置300產生高精度、高重複性的磁場信號。其中，雷射器 41a、光電探測器42a、42b為一組光處理子模塊，雷射器41b，光電探測器42c和42d為另一 組光處理子模塊； 本實施例的磁光探頭100由磁光探頭100a和100b組成，它們對稱地放置在測量 點800的兩側，用來感應測量點800中電流產生的磁場。測量點800中的直流電流方向是 與示意的紙面垂直，向內或外都可以。 光纖裝置200至少包括光纖、分路器和迴路器，本實施例中光纖裝置200包括光 纖、兩個分路器21a和21b，四個迴路器22a、22b、22c和22d，他們的連接關係如圖5所示； 其中，光纖、分路器21a，迴路器22a、22b為一組傳輸模塊，光纖、分路器21b、迴路器22c和 22d為另一組傳輸模塊； 雷射器41a發出的雷射被引入分路器21a中，分路器21a將該雷射均分成兩束，經 過迴路器22a和22b後，分別從磁光探頭100a的兩端進入，並以相反的方向通過磁光探頭 100a中的磁敏材料，經由另一端出去，然後分別通過迴路器22c和22d，傳輸到光電探測器 42a和42b上進行光電轉換。同樣，雷射器41b發的雷射被引入分路器21b中，分路器21b 將該雷射均分成兩束，經過迴路器22c和22d後，分別從磁光探頭100b的兩端進入，並以相 反的方向通過磁光探頭100b中的磁敏材料，經由另一端出去，然後分別通過迴路器22c和 22d，到光電探測器42c和42d上進行光電轉換。 參考裝置300包括傳導光纖31、光電轉換模塊32、導線33、線圈34a和34b、溫度 補償器件35(可選的)；傳導光纖31將參考雷射器43發送的參考雷射信號傳輸到光電轉 換模塊32中；光電轉換模塊32將參考雷射信號轉變成參考電流信號；線圈34a、34b及溫 度補償器件35通過導線33串接，並聯到光電轉換模塊32的電流輸出端；線圈34a和34b 分別套在磁光探頭100a和100b的外面；參考雷射信號產生的光電流經過線圈34a和34b 產生已知恆定的參考磁場脈衝信號；參考磁場脈衝信號和被測磁場線性疊加後被磁光探頭 100a和100b檢測；溫度補償器件35的作用是補償由於溫度變化造成線圈34a和34b光電 管電阻變化，進而造成參考電流的漂移。 根據上述系統，本實施例光電探測器42a、42b、42c和42d上探測到的信號將可由
下列的式子來描述 Ia = Ia。[l+c應+Hn)] (11) Ib = Ib。[l—q(H,Hn)] (12) Ic = Ic0[l+c2(H2_Hr2)] (13) Id = Id0[l_c2(H2-Hr2)] (14) 上列式中Ia、 Ib、 Ia、 Ib分別表示四個光電探測器42a、42b、42c和42d檢測到的信
號；Ia。、 Ib。、 I。。、 Id。是與四光路透過率、分路器分光比及探測器靈敏度等相關的參數；cp c2 是與磁光探頭在某時刻環境條件下的磁光靈敏參數；&、 H2是被測直流電流在兩磁光探頭 處產生的磁場，由於磁光探頭100a和100b分別放置在測量點800對稱的兩側，所以&、 H2 可能相近，但並一定相等；Hn、 Hrt是相同的光電流產生的參考磁場脈衝信號，可能由於線圈 的結構造成它們不完全相等，但它們各自是一個確定值。
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根據本實施例中描述的信號處理方法，分別處理從兩個磁光探頭中返回來的信
號，可以得到被測磁場和參考磁場的比值
formula see original document page 9 從而得到不受環境因素影響的與測量點800中直流電流相對應的測量值
formula see original document page 9
如果進一步考慮測量點800的外磁場幹擾，測量點800的磁場包括測量點800中 電流產生的磁場和外磁場幹擾，即formula see original document page 9
式中I表示測量點800中的電流；Hdis是幹擾磁場；a p a工是確定的參數。對測
到的信號進行差分就可去除幹擾磁場；formula see original document page 9 上式中ri和r2為測量所得到，a p a丄和Hrl、 Hr2是已知量或確定量，所以根據巧
和IV就可準確地得到所需測的直流電流值。在實際操作中，a"、和Hn、H^並不需要去
測定，由於式(21)確定，可以用其它標準設備的測量值對設備進行標定。 採用法拉第磁光效應的光纖直流磁場或電流的測量方法，根據參考磁場脈衝信號
能夠對測量的結果進行實時校準，解決了高靈敏度、大量程直流電流的測量難題，並且能夠
得到較為準確的測量結果；同時，本系統由於採用了光學方法，信號傳播路徑全部採用絕緣
體，進而實現了的高壓電網中的安全隔離。 實施例4 參見圖7，本發明實施例提供了一種光纖直流磁光探測方法，該方法以在實施例1
提供的系統上實現為例進行說明，該方法包括 步驟501，電源和信號處理模塊400發送雷射； 步驟502，光纖裝置200將雷射分成兩路，分別將兩路雷射發送至磁光探頭100的 兩端； 步驟503，磁光探頭100接收兩路雷射，並檢測測量點的磁場信號，將磁場信號轉 變為光信號，將轉變後的光信號分別承載在兩路雷射上發送；磁場信號為參考磁場脈衝信 號和測量點產生的自身磁場信號疊加後的信號；其中參考磁場脈衝信號是參考裝置300在 測量點產生的幅值和形狀已知的信號， 步驟504，光纖裝置200將來自磁光探頭100的光信號分兩路發送至電源和信號處 理模塊400 ; 步驟505，電源和信號處理模塊400分兩路接收來自磁光探頭100的光信號，並分別將兩路光信號轉變為兩路電信號，根據參考磁場脈衝信號對兩路電信號進行處理，得到 測量點的磁場信息和/或電流信息。 本實施例採用法拉第磁光效應的光纖直流磁場或電流的測量方法，根據參考磁場 脈衝信號能夠對測量的結果進行實時校準，解決了高靈敏度、大量程直流電流的測量難題， 並且能夠得到較為準確的測量結果；同時，本系統由於採用了光學方法，信號傳播路徑全部 採用絕緣體，進而實現了的高壓電網中的安全隔離。 以上實施例中的磁光探頭100中感知磁場的材料，可以是磁光玻璃，也可以是磁 光晶體，也可以是光纖本身。磁光探頭100在測量中的數量可以是一個也可以是多個。電 源和信號處理模塊400中可以設置一套光電探測器，也可以是多套，用於檢測是否有光或 電信號傳輸過來，該光電探測器可以應用差分等各種技術。所有這些變項，都不妨礙本實施 例提供的系統的實施。儘管在上述實施例中採用磁光晶體測量系統進行描述，但並不妨礙 對採用本發明精髓的各種應用的涵蓋。 從以上的描述中，可以看出，本發明上述的實施例實現了如下技術效果 採用法拉第磁光效應的光纖直流磁場或電流的測量方法，能夠對測量的結果進行
實時校準，解決了高靈敏度、大量程直流電流的測量難題，並且能夠得到較為準確的測量結
果；同時，本系統由於採用了光學方法，信號傳播路徑全部採用絕緣體，進而實現了的高壓
電網中的安全隔離。 顯然，本領域的技術人員應該明白，上述的本發明的各模塊或各步驟可以用通用 的計算裝置來實現，它們可以集中在單個的計算裝置上，或者分布在多個計算裝置所組成 的網絡上，可選地，它們可以用計算裝置可執行的程序代碼來實現，從而可以將它們存儲在 存儲裝置中由計算裝置來執行，或者將它們分別製作成各個集成電路模塊，或者將它們中 的多個模塊或步驟製作成單個集成電路模塊來實現。這樣，本發明不限制於任何特定的硬 件和軟體結合。 以上所述僅為本發明的優選實施例而已，並不用於限制本發明，對於本領域的技 術人員來說，本發明可以有各種更改和變化。凡在本發明的精神和原則之內，所作的任何修 改、等同替換、改進等，均應包含在本發明的保護範圍之內。
權利要求
一種光纖直流磁光探測系統，其特徵在於，所述系統包括電源和信號處理模塊、光纖裝置、參考裝置和磁光探頭；其中，電源和信號處理模塊，用於通過所述光纖裝置向所述磁光探頭髮送雷射；以及分兩路接收來自所述磁光探頭的由所述雷射承載的光信號，並分別將兩路光信號轉變為兩路電信號，根據所述參考裝置發送的參考磁場脈衝信號對所述兩路電信號進行處理，得到所述測量點的自身磁場信息和/或電流信息；光纖裝置，用於將來自所述電源和信號處理模塊的雷射分成兩路，分別將所述兩路雷射發送至所述磁光探頭的兩端，以及將來自所述磁光探頭的光信號分兩路發送至所述電源和信號處理模塊；參考裝置，用於在測量點產生一個幅值和形狀已知的參考磁場脈衝信號；磁光探頭，用於檢測所述測量點的磁場信號，將所述磁場信號轉變為光信號，所述磁場信號為所述參考磁場脈衝信號和所述測量點產生的自身磁場信號疊加後的信號；還用於接收所述兩路雷射，將轉變後的光信號分別承載在所述兩路雷射上發送。
2. 根據權利要求1所述的系統，其特徵在於，所述電源和信號處理模塊包括 雷射器，用於通過所述光纖裝置向所述磁光探頭髮送雷射；兩個光電探測器，用於分別接收來自所述磁光探頭的由所述雷射承載的光信號，分別 將所述光信號轉變為電信號後發送；控制和信號處理模塊，用於接收所述兩個光電探測器發送的電信號，根據所述參考裝 置發送的參考磁場脈衝信號對所述電信號進行處理，得到所述測量點的磁場信息和/或電 流信息。
3. 根據權利要求1所述的系統，其特徵在於，所述光纖裝置包括 分路器，用於將來自所述電源和信號處理模塊的雷射分成兩路；第一迴路器和第二迴路器，用於分別將所述分路器發出的兩路雷射發送至所述磁光探 頭的兩端，以及分別接收來自所述磁光探頭髮送的由所述雷射承載的光信號，並分別將所 述光信號發送至所述電源和信號處理模塊。
4. 根據權利要求1所述的系統，其特徵在於，所述電源和信號處理模塊包括兩組光處 理子模塊、控制和信號處理模塊和參考雷射器，其中，所述兩組光處理子模塊都包括雷射器，用於通過所述光纖裝置向一個磁光探頭髮送雷射；兩個光電探測器，用於分別接收來自所述磁光探頭的由所述雷射承載的光信號，分別 將所述光信號轉變為電信號後發送；控制和信號處理模塊，用於接收所述兩組光處理子模塊發送的電信號，根據所述參考 裝置發送的參考雷射信號對所述電信號進行處理，得到所述測量點的磁場信息和/或電流 信息；參考雷射器，用於在指定時間通過所述光纖裝置向所述參考裝置發送指定強度的參考 雷射信號；相應地，所述參考裝置，用於根據所述參考雷射信號在測量點產生幅值和形狀已知的 參考磁場脈衝信號；相應地，所述光纖裝置包括兩組傳輸模塊，所述兩組傳輸模塊都包括 分路器，用於將來自一組光處理子模塊的雷射分成兩路；兩個迴路器，用於分別將所述分路器發出的兩路雷射發送至一個磁光探頭的兩端，以 及分別接收來自所述磁光探頭髮送的由所述雷射承載的光信號，並分別將所述光信號發送 至所述電源和信號處理模塊；相應地，所述磁光探頭為兩個，分別對稱地置於所述測量點的兩側。
5. 根據權利要求4所述的系統，其特徵在於，所述參考裝置包括 光電轉換模塊，用於通過傳導光纖接收來自所述電源和信號處理模塊的參考雷射信 號，將所述參考雷射信號轉變為電流信號輸出；以及套在一個磁光探頭外面的第一線圈和套在另一個磁光探頭外面的第二線圈，所述第一 線圈和所述第二線圈通過導線並聯到所述光電轉換模塊的電流輸出端以接收所述電流信 號，用以產生幅值和形狀已知的參考磁場脈衝信號。
6. 根據權利要求5所述的系統，其特徵在於，所述第一線圈和所述第二線圈之間串接有溫度補償器，用於補償由於溫度變化造成所 述第一線圈和所述第二線圈的電阻變化。
7. 根據權利要求1-6中任一權利要求所述的系統，其特徵在於，所述磁光探頭中感知 磁場的材料是磁光玻璃、磁光晶體或光纖。
8. —種光纖直流磁光探測方法，其特徵在於，所述方法包括 電源和信號處理模塊發送雷射；光纖裝置將所述雷射分成兩路，分別將所述兩路雷射發送至所述磁光探頭的兩端； 磁光探頭接收所述兩路雷射，並檢測所述測量點的磁場信號，將所述磁場信號轉變為 光信號，將轉變後的光信號分別承載在所述兩路雷射上發送；所述磁場信號為參考磁場脈 衝信號和所述測量點產生的自身磁場信號疊加後的信號；其中所述參考磁場脈衝信號是參 考裝置在測量點產生的幅值和形狀已知的信號；所述光纖裝置將來自所述磁光探頭的光信號分兩路發送至所述電源和信號處理模塊；所述電源和信號處理模塊分兩路接收來自所述磁光探頭的光信號，並分別將兩路光信 號轉變為兩路電信號，根據所述參考磁場脈衝信號對所述兩路電信號進行處理，得到所述 測量點的自身磁場信息和/或電流信息。
全文摘要
本發明提供了一種光纖直流磁光探測系統和方法，屬於光學應用領域。所述系統包括電源和信號處理模塊、光纖裝置、磁光探頭和參考裝置，本發明在所述系統中安裝了參考裝置，通過該參考裝置產生的參考磁場脈衝信號可以校正測量到的信號，來去除環境因素對測量的影響，進而得到準確的測量數據，提高了系統的測量精度。
文檔編號G01R19/00GK101769999SQ20091020216
公開日2010年7月7日 申請日期2009年12月31日 優先權日2009年12月31日
發明者袁海駿 申請人:上海舜宇海逸光電技術有限公司