光學測量裝置的製作方法
2023-09-19 19:16:30
專利名稱：光學測量裝置的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種光學測量裝置，特別是一種測量光學組件所用的光學測量裝置。
光學組件在製造完成後，通常需經過光學測量裝置的測量以確保光學組件的良率。如
圖1所示，於一光學測量儀器3中，光學組件4直立置放在展示臺31上進行測量，測量的光線經由一第一光纖準直器32射入光學組件4中，通過光學組件4的光線再射入一第二光纖準直器33中，所得的光線傳入一光偵測器(未顯示於圖1)轉換成所需的光譜圖。
現有的光學測量裝置為一平置式的測量裝置，光學組件直立置於展示臺上，使其容易造成傾斜的問題，所測量的值其再現性以及精準度都低。另外，由於置放操作不易，所以需花費較長的時間來更換光學組件，增加製造成本。再者，由於是一平置式裝置，所以在一定的區域中，每單位面積的產能較小，並不符合實際上的要求。
為實現上述目的，本實用新型提供一種光學測量裝置，測量一光學組件，光學測量裝置包含一基座、一第一光纖對準器、一第一光纖、一第二光纖對準器、一第二光纖以及一置放臺。其中，第一光纖對準器設置於基座之上；第一光纖定位於第一光纖對準器上，隨第一光纖對準器調整而移動；第二光纖對準器設置於基座之上，且與第一光纖對準器相對而設；第二光纖定位於第二光纖對準器上，隨第二光纖對準器調整而移動；置放臺設置於第一光纖對準器與第二光纖對準器之間，以置放光學組件。
與現有技術相比，在本實用新型中提供一種直立式的光學測量裝置，在一定的區域中，每單位面積的產能較大。再者，其具有一漏鬥狀特徵的置放臺，讓使用者在放置光學組件能夠輕易地實施，減少更換的時間。另外，光學組件平置於置放臺上，使其定位方便，所測量的精準度、再現性以及重現性較好。另外，進行測量時只需利用置放臺的旋轉軸來調整光學組件的位置與角度，在進行重複測量時，也可減少操作的時間，進而降低製造成本。
圖2為本實施例的光學測量裝置的示意圖。
圖3為本實施例的第一光纖對準器的示意圖。
圖4為本實施例的第二光纖對準器的示意圖。
圖5為本實施例的置放臺的示意圖。
如圖2所示，本實用新型提供一種光學測量裝置1，測量一光學組件2，光學測量裝置1包含一基座11、一第一光纖對準器12、一第一光纖13、一第二光纖對準器14、一第二光纖15以及一置放臺16。
其中，第一光纖對準器12設置於基座11之上；第一光纖13定位於第一光纖對準器12上，隨第一光纖對準器12調整而移動；第二光纖對準器14設置於基座11之上，且與第一光纖對準器12相對而設；第二光纖15定位於第二光纖對準器14上，隨第二光纖對準器14調整而移動；置放臺16設置於第一光纖對準器12與第二光纖對準器14之間，以置放光學組件2。
如圖3所示，第一光纖對準器12設置於基座11之上。第一光纖對準器12為一二軸位移平臺，具有一第一旋轉軸121、一第二旋轉軸122。其中，第一旋轉軸121使第一光纖對準器12沿著X軸移動；第二旋轉軸122使第一光纖對準器12沿著Y軸移動，第一旋轉軸121與第二旋轉軸122也有微調的功能。當然，第一光纖對準器12也可以一四軸位移平臺替代。
另外，如圖3所示，第一光纖13定位於第一光纖對準器12上，隨第一光纖對準器12調整而移動。在此，第一光纖13為一雙心光纖，同時可為一發射光纖，用以發射一光線；也可為一接收光纖，用以接收一光線。
再者，如圖4所示，第二光纖對準器14設置於基座11之上，且與第一光纖對準器12相對而設。第二光纖對準器14為一四軸位移平臺，具有一第一旋轉軸141、一第二旋轉軸142、一第三旋轉軸143以及一第四旋轉軸144。其中，第一旋轉軸141使第二光纖對準器14沿著X軸移動；第二旋轉軸142使第二光纖對準器14沿著Y軸移動；第三旋轉軸143使第二光纖對準器14沿著X軸旋轉；第四旋轉軸144使第二光纖對準器14沿著Y軸旋轉。該等旋轉軸均有微調的功能。當然，第二光纖對準器14也可以一二軸位移平臺替代。
在此，第二光纖15定位於第二光纖對準器14上，隨第二光纖對準器14調整而移動。第二光纖15為一雙心光纖，同時可為一發射光纖，用以發射一光線；也可為一接收光纖，用以接收一光線。
再請參考圖5，本實施例的置放臺16設置於第一光纖對準器12與第二光纖對準器14之間，以置放光學組件2。在此，置放臺16為一具有漏鬥形狀特徵的平臺，此特徵讓使用者能夠輕易地將欲測量的光學組件2擺放在置放臺16上，減少在置換光學組件2時所花費的時間。另外，由於光學組件2平置於置放臺16上，能夠減少位移產生的情形，讓光學組件2定位容易，增加測量的再現性、重複性以及精確性。當然，置放臺16也可以一二軸位移平臺替代。
如同第二光纖對準器14，置放臺16也為一四軸位移平臺，具有一第一旋轉軸161、一第二旋轉軸162、一第三旋轉軸163以及一第四旋轉軸164。其中，第一旋轉軸161使置放臺16沿著X軸移動；第二旋轉軸162使置放臺16沿著Y軸移動；第三旋轉軸163使置放臺16沿著X軸旋轉；第四旋轉軸164使置放臺16沿著Y軸旋轉。在此，該等旋轉軸也有微調的功能。
如圖2所示，本實施例中的第一光纖13、光學組件2與第二光纖15位於一直線上。
於本實施例中，某一範圍波長的光線由第一光纖13射入置放於置放臺16的光學組件2(如高密度多任務分合器，DWDM)，穿透過光學組件2的光線，接著進入第二光纖15中，光線再傳入光偵測器(未顯示於圖2)，最後得到光學組件2的一穿透光譜圖。
另外，當光線由第一光纖13射入置放於置放臺16的光學組件2，光學組件2所反射的光線，再次進入第一光纖13中，該光線再傳入光偵測器(未顯示於圖2)，最後得到光學組件2的一反射光譜圖。
相同地，光線也可由第二光纖15射入光學組件2中，偵測其穿透光譜以及反射光譜。
本實施例中的光偵測器(未顯示於圖2)用以偵測通過光學組件2的一光線，且分別與第一光纖13以及第二光纖15相連接。
在進行測量前，利用第一光纖對準器12以及第二光纖對準器14的旋轉軸，可以精確調整光源發射以及接收二端的角度與位置，在進行對準校正之後，即可固定不動，重複進行測量。接著，在進行光學測量時，只需利用置放臺16的旋轉軸調整光學組件2的位置與角度，而不必再次調整第一光纖對準器12以及第二光纖對準器14，可減少因調整所花費的時間，進而使操作更加方便。
於本實施例中，光學測量裝置1為一直立式的測量裝置。於一定的區域中，每單位面積的產能較大，在實際生產中的利用性也較高。
本實用新型所提供的光學測量裝置，為一直立型光學測量裝置。與現有技術相比，本實用新型的置放臺具有一漏鬥形的特徵，能讓使用者輕易地將欲測量的光學組件置放於置放臺中，能減少在置換光學組件時所花費的時間。另外，平置的光學組件不易造成位移，定位方便，進而增加測量的精確性、重複性以及再現性。再者，本實用新型在進行測量時只需利用置放臺的旋轉軸調整光學組件的位置與角度，當進行重複測量時，使其操作容易，也可減少操作的時間。另外，該直立型的特徵與平面式光學測量裝置相比，還增加了每單位面積的產量，符合實際利用上的要求。
上述僅為例示性的，而非為限制性的。任何未脫離本實用新型的精神與範疇，而對其進行的等效修改或變更，均應包含於本實用新型的權利要求範圍之中。
權利要求1.一種光學測量裝置，測量一光學組件，其特徵在於，該光學測量裝置包含一基座；一第一光纖對準器，設置於該基座之上；一第一光纖，定位於該第一光纖對準器上，隨該第一光纖對準器調整而移動；一第二光纖對準器，設置於該基座之上，且與該第一光纖對準器相對而設；一第二光纖，定位於該第二光纖對準器上，隨該第二光纖對準器調整而移動；以及一置放臺，設置於該第一光纖對準器與該第二光纖對準器之間，以置放該光學組件。
2.如權利要求1所述的光學測量裝置，其特徵在於該第一光纖、該光學組件與該第二光纖位於一直線上。
3.如權利要求1所述的光學測量裝置，其特徵在於該第一光纖為一發射光纖。
4.如權利要求1所述的光學測量裝置，其特徵在於該第一光纖為一接收光纖。
5.如權利要求1所述的光學測量裝置，其特徵在於該第二光纖為一發射光纖。
6.如權利要求1所述的光學測量裝置，其特徵在於該第二光纖為一接收光纖。
7.如權利要求1所述的光學測量裝置，其特徵在於該第一光纖對準器為一二軸位移平臺。
8.如權利要求1所述的光學測量裝置，其特徵在於該第一光纖對準器為一四軸位移平臺。
9.如權利要求1所述的光學測量裝置，其特徵在於該第二光纖對準器為一二軸位移平臺。
10.如權利要求1所述的光學測量裝置，其特徵在於該第二光纖對準器為一四軸位移平臺。
11.如權利要求1所述的光學測量裝置，其特徵在於該置放臺為一四軸位移平臺。
專利摘要本實用新型提供一種光學測量裝置，測量一光學組件，光學測量裝置包含一基座、一第一光纖對準器、一第一光纖、一第二光纖對準器、一第二光纖以及一置放臺。其中，第一光纖對準器設置於基座之上；第一光纖定位於第一光纖對準器上，隨第一光纖對準器調整而移動；第二光纖對準器設置於基座之上，且與第一光纖對準器相對而設；第二光纖定位於第二光纖對準器上，隨第二光纖對準器調整而移動；置放臺設置於第一光纖對準器與第二光纖對準器之間，以置放光學組件。
文檔編號G01B11/00GK2549427SQ02239298
公開日2003年5月7日 申請日期2002年6月28日 優先權日2002年6月28日
發明者呂聰傑, 陳士恩, 黃景宏 申請人:精碟科技股份有限公司