大平片光譜測試儀的製作方法

2023-09-19 22:58:35

專利名稱：大平片光譜測試儀的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及用於物質成分分析的光譜儀器領域，具體講就是涉及一種可以對大尺寸樣品小通光孔進行垂直測試的大平片光譜測試儀。
背景技術：
大平片光譜測試儀的基本工作原理是溶液中的物質在光的照射激發下，產生了對光的吸收效應，物質對光的吸收是具有選擇性的，各種不同的物質都具有其各自的吸收光譜，因此當某單色光通過溶液時，其能量就會被吸收而減弱，光能量減弱的程度和物質的濃 度有一定的比例關係，大平片光譜測試儀就是利用這一原理來對被分析樣品和標樣光強度的對比來分析物質成分的。大平片光譜測試儀在農產品、食品、衛生、醫藥、化工、人民生活等各個領域都有著廣泛的應用，是現代工業、農業、科學研究不可缺少的分析儀器。大平片光譜測試儀基本結構由光源、單色器、樣品室、光電檢測裝置和信號指示裝置五部分組成。大平片光譜測試儀有一個超大樣品室是放置被檢測樣品的地方，傳統的測試儀器樣品室體積較小，一旦待測試樣品為板型樣品時，樣品只能豎立在測試平臺上，不利於樣品的定位，嚴重地的影響了測試精度和測試準確性，如果需要測試尺寸大於80mmX IOOmm的樣品時，還需要將大塊樣品進行破壞，裁剪成小於80mmX IOOmm的尺寸才能測試，操作複雜，無法測試尺寸較大且不允許破壞的樣品。同時目前傳統的測試儀器在測試過程中，測試光斑較大，不適用於現有越來越多科學技術領域對測試光斑的要求。

實用新型內容本實用新型的目的提供一種大平片光譜測試儀，通過對傳統測試儀器中光路傳輸方向的改變，同時設計了超大的樣品室，以及可選擇不同大小的四檔測試光斑，縮小測試光斑，實現了大尺寸待測樣品的小通光孔測試，使待測樣品可以直接放在工作檯上測試，保證了測試精度和測試準確性，操作簡便，又可以不破壞測試樣品，節約了成本。技術方案為了實現上述的技術目的，本實用新型設計一種大平片光譜測試儀，包括外殼、底板、光源燈室、單色器、出射光狹縫組件、入射光狹縫組件、樣品室、檢測裝置、測試平臺、按鍵、顯示器、儀器面板和通訊接口，所述光源燈室裝在底板內，底板上光源燈室下方裝有單色器，出射光出狹縫組件和入射光狹縫組件分別安裝在單色器底座上互成90°垂直的相鄰二側面上，樣品室裝在底板的右側，檢測裝置和測試平臺都設置在樣品室內，外殼罩在底板上，外殼的正面上還設有儀器面板，儀器面板上設有顯示器和按鍵，外殼後側下部設有通訊接口，其特徵在於所述出射光狹縫組件和入射光狹縫組件各有四組狹縫，光譜帶寬依次分別為3nm、5nm、6. 6nm、IOnm0[0010]所述外殼由工程塑料製成。所述底板由2. Omm鈑金材料製成。所述光源燈室中光源為鎢燈。所述樣品室由I. Omm鈑金材料製成,尺寸規格為300mmX400mm。有益效果本實用新型大平片光譜測試儀進行了新的設計，單色光經透鏡再經45°的反射鏡將單色光垂直穿透過樣品再射到光電接收器，從而實現了樣品可以直接平放在放在工作檯上進行測試，確保了小孔徑樣品的定位，同時採用可調狹縫，減小了測試光斑，實現對大尺寸樣品小通光孔進行垂直測試，保證了測試精度和準確性。

附圖I是實用新型的立體結構圖。附圖2是本實用新型的俯視方向示意圖。附圖3是本實用新型的外形示意圖。
具體實施方式
以下結合附圖和實施例，對本實用新型做進一步說明。如附圖1、2和3所示，一種大平片光譜測試儀，包括工程塑料製成的外殼1、2. Omm鈑金材料製成底板2、光源燈室3、單色器4、出射光狹縫組件5、入射光狹縫組件6、樣品室7、檢測裝置8、測試平臺9、按鍵10、顯示器11、儀器面板12和通訊接口 13，所述光源燈室3裝在底板2內，底板2上光源燈室3下方裝有單色器4，出射光出狹縫組件5和入射光狹縫組件6分別安裝在單色器4底座上互成90°垂直的相鄰二側面上，樣品室7裝在底板2的右側，檢測裝置80和測試平臺90都設置在樣品室7內，外殼I罩在底板2上，外殼I的正面上還設有儀器面板12，儀器面板12上設有顯示器11和按鍵10，外殼I後側下部設有通訊接口 13，其特徵在於所述出射光狹縫組件5和入射光狹縫組件6各有四組狹縫，光譜帶寬依次分別為3nm、5nm、6. 6nm、IOnm0所述光源燈室3中光源為鎢燈。所述超大樣品室由I. Omm鈑金材料製成,尺寸規格為300mmX400mm。首先啟動大平片光譜測試儀，預熱20分鐘後儀器自動自檢完畢，接著開啟控制系統，聯機工作，儀器狹縫位置調至光譜帶寬為3nm，成像光斑小於直徑Imm位置，建立基線，根據需要輸入波長範圍，波長自動回到540nm;打開樣品室蓋，將樣品的通光孔對準光斑，儀器掃描，通過顯示器11即得測量結果。本實用新型大平片光譜測試儀進行了新的設計，單色光經透鏡再經45°的反射鏡將單色光垂直穿透過樣品再射到光電接收器，從而實現了樣品可以直接平放在放在工作檯上進行測試，確保了小孔徑樣品的定位，同時採用可調狹縫，減小了測試光斑，實現對大尺寸樣品小通光孔進行垂直測試，保證了測試精度和準確性。
權利要求1.一種大平片光譜測試儀，包括外殼(I)、底板(2)、光源燈室(3)、單色器(4)、出射光狹縫組件(5)、入射光狹縫組件(6)、樣品室(7)、檢測裝置(8)、測試平臺(9)、按鍵(10)、顯示器(11)、儀器面板(12)和通訊接ロ(13)，所述光源燈室(3)裝在底板(2)內，底板(2)上光源燈室(3)下方裝有単色器(4)，出射光出狹縫組件(5)和入射光狹縫組件(6)分別安裝在單色器(4)底座上互成90°垂直的相鄰ニ側面上，樣品室(7)裝在底板(2)的右側，檢測裝置⑶和測試平臺(9)都設置在樣品室(7)內，外殼⑴罩在底板(2)上，外殼⑴的正面上還設有儀器面板(12)，儀器面板(12)上設有顯示器(11)和按鍵(10)，外殼(I)後側下部設有通訊接ロ(13)，其特徵在幹 所述出射光狹縫組件(5)和入射光狹縫組件(6)各有四組狹縫，光譜帶寬依次分別為3nm、5nm、6. 6nm、IOnm0
2.如權利要求I所述的ー種大平片光譜測試儀，其特徵在於所述外殼(I)由工程塑料製成。
3.如權利要求I所述的ー種大平片光譜測試儀，其特徵在幹所述底板(2)由2.Omm鈑金材料製成。
4.如權利要求I所述的ー種大平片光譜測試儀，其特徵在幹所述光源燈室(3)中光源為鶴燈。
5.如權利要求I所述的ー種大平片光譜測試儀，其特徵在於所述樣品室由I.Omm鈑金材料製成，尺寸規格為300mmX400mm。
專利摘要一種大平片光譜測試儀，包括外殼(1)、底板(2)、光源燈室(3)、單色器(4)、出射光狹縫組件(5)、入射光狹縫組件(6)、樣品室(7)、檢測裝置(8)、測試平臺(9)、按鍵(10)、顯示器(11)、儀器面板(12)和通訊接口(13)，其特徵在於所述出射光狹縫組件(5)和入射光狹縫組件(6)各有四組狹縫，光譜帶寬依次分別為3nm、5nm、6.6nm、10nm。本實用新型通過對傳統大平片光譜測試儀中光路傳輸方向的改變，縮小測試光斑，實現了大尺寸待測樣品的小通光孔測試，使待測樣品可以直接放在工作檯上測試，保證了測試精度和測試準確性，操作簡便，又可以不破壞測試樣品，節約了成本。
文檔編號G01N21/31GK202512054SQ20122011605
公開日2012年10月31日 申請日期2012年3月23日 優先權日2012年3月23日
發明者馮邁東 申請人:上海欣茂儀器有限公司