X射線檢測子模、x射線檢測模塊以及x射線ct裝置製造方法
2023-09-19 08:48:10 4
X射線檢測子模、x射線檢測模塊以及x射線ct裝置製造方法
【專利摘要】本實施方式的X射線檢測子模具備：基板；光電二極體，安裝在基板上；X射線檢測元件，對X射線進行檢測並轉換為光；光導波路，設於光電二極體與X射線檢測元件之間，光導波路以基板相對於X射線檢測元件的X射線檢測面傾斜配置的方式，連接X射線檢測元件和光電二極體。
【專利說明】X射線檢測子模、X射線檢測模塊以及X射線CT裝置
【技術領域】
[0001]本發明的實施方式涉及X射線檢測子模、X射線檢測模塊以及X射線CT裝置。
【背景技術】
[0002]X射線CT裝置被構成為具備隔著被檢體相對配置的X射線源以及X射線檢測器。X射線檢測器被構成為沿著與作為體軸方向的頂板的長度方向正交的方向(通道方向)，具備多個溝道(M通道)的檢測元件。
[0003]可以使用各種類型來作為X射線檢測器，在X射線CT裝置中，一般使用可小型化的閃爍檢測器。該閃爍檢測器的各檢測元件具備閃爍器和光電二極體(PD:Photo Diode)等光傳感器。閃爍器在前段吸收被校準的X射線，通過此吸收來產生螢光。H)通過光傳感器將突光轉換成電信號，並輸出至數據收集裝置(DAS:Data Acquisition System)。
[0004]即，根據X射線CT裝置，從X射線源對被檢體所在的剖面(以下稱為切面)扇狀地照射X射線光束，按X射線檢測器的檢測元件，將從被檢體所在的切面透射的X射線光束轉換成電信號並收集透射數據。 [0005]此外，X射線CT裝置中包括單切片X射線CT裝置和多切片X射線CT裝置。上述X射線CT裝置沿通道方向具備M通道的X射線檢測器，沿體軸方向構成I列，被稱為單切片X射線CT裝置。
[0006]與此相對，多切片X射線CT裝置與單切片X射線CT裝置相比較，構成為在X射線檢測器具備M通道的檢測元件，此外還沿著被檢體的體軸方向具備多個列(N列)的檢測元件。即，多切片X射線CT裝置的X射線檢測器被構成為整體上具有M通道XN列的檢測元件的X射線CT用二維檢測器(例如，參照專利文獻I)。
[0007]現有技術文獻
[0008]專利文獻
[0009]專利文獻I日本特開2003 - 121551號公報
[0010]發明所要解決的課題
[0011]再者，在以往的多切片X射線CT裝置中，具有M通道XN列的檢測元件的X射線檢測器在通道方向和體軸方向上排列，通過X射線檢測器以及DAS，形成對X射線進行檢測的X射線檢測部。此外，X射線檢測器和DAS是分開構成的，並被構成為通過軟電纜連接。
[0012]由於近年的X射線CT裝置中的多列化，該X射線檢測部在各系統中的檢測元件數的增大顯著。因此，為了處理增大的X射線檢測部的輸出信號，需要高效地配置包含於處理該輸出信號的DAS的ADC晶片。此外，今後，在向高精細化轉移的情況下，預計X射線檢測部的檢測元件數將進一步增大。
[0013]在此，在以往的連接方法中，安裝檢測元件的基板上存在安裝面積和容積的上限，因此，在安裝搭載了 ADC晶片的ADC基板的情況下，安裝數量上存在制約。此外，即使假設能夠安裝ADC基板，從檢測元件到ADC基板的信號配線距離也會變長，所存在的問題是:容易受到外來幹擾，並且信號的準確度降低。【專利附圖】
【附圖說明】
[0014]圖1為表示本實施方式的X射線CT裝置的硬體構成圖。
[0015]圖2為表示本實施方式的X射線管和X射線檢測器的構成的說明圖。
[0016]圖3為對本實施方式的X射線檢測子模的構成加以說明的說明圖。
[0017]圖4為表示通過本實施方式的X射線CT裝置來照射X射線，並生成所希望的切片圖像的圖像數據的圖像數據生成處理的流程圖。
[0018]圖5為對通過形成本實施方式的X射線檢測模塊的一部分的4個X射線檢測子模的構成，沿列方向(相對於圖5的紙面從右側至左側方向)輸出原始數據的方法加以說明的說明圖。
[0019]圖6為對通過形成本實施方式的X射線檢測模塊的一部分的4個X射線檢測子模的構成，沿通道方向(相對於圖6的紙面而言從左側向右側方向)輸出原始數據的方法加以說明的說明圖。
【具體實施方式】
[0020]參照附圖， 對本實施方式的X射線檢測子模、X射線檢測模塊以及X射線CT裝置加以說明。
[0021]本實施方式的X射線檢測子模具備:基板；光電二極體，安裝在基板上；X射線檢測元件，對X射線進行檢測並轉換為光；光導波路，設於光電二極體與X射線檢測元件之間，光導波路以基板相對於X射線檢測元件的X射線檢測面傾斜配置的方式，連接X射線檢測元件和光電二極體。
[0022]由此，X射線檢測子模不僅能夠減少外來幹擾的產生，還能夠使通過X射線檢測元件所檢測的信號的處理變得容易，提高空間利用效率，並能夠應對X射線檢測元件數的增大化。
[0023]此外，本實施方式的X射線檢測模塊為具有多個X射線檢測子模的X射線檢測模塊，其特徵在於，多個X射線檢測子模分別具備:基板；光電二極體，安裝在基板上；χ射線檢測元件，對X射線進行檢測並轉換為光；光導波路，設於光電二極體與X射線檢測元件之間，並且光導波路以基板相對於X射線檢測元件的X射線檢測面傾斜配置的方式，連接X射線檢測元件和光電二極體。
[0024]由此，X射線檢測模塊與X射線檢測子模相同地，不僅能夠減少外來幹擾的產生，還能夠使通過X射線檢測元件所檢測的信號的處理變得容易，提高空間利用效率，並能夠應對X射線檢測元件數的增大化。
[0025]此外，為了解決以往的課題，本實施方式的X射線CT裝置具備以下的4個特徵。
[0026]具體地講，第一特徵是:取代使用以往的配線基板(例如，剛撓性基板)，採用使用具有光學特性的物質製作的光導波路，形成I個X射線檢測子模。由此，能夠縮短並整理作為產生外來幹擾的原因的配線長。
[0027]第二特徵是:通過光導波路連接閃爍器與光電二極體，相對於閃爍器傾斜地配置安裝光電二極體的基板。由此，能夠提高X射線CT裝置內的空間利用效率。
[0028]第三特徵是:通過直接連接器連接各X射線檢測子模之間。由此，能夠不需要基板間的配線，並能夠減少外來幹擾的產生。
[0029]第四特徵是:通過雛菊鏈向所連接的X射線檢測子模的後段的連接器傳送輸出數據。由此，能夠削減基板上的配線數量。
[0030]通過具備上述的4個特徵，本實施方式的X射線CT裝置不僅能夠減少外來幹擾的產生，還能夠使通過X射線檢測元件所檢測的信號的處理變得容易，並能夠應對X射線檢測元件數的增大化。
[0031]接下來，參照以下所示的附圖，對本實施方式的X射線CT裝置的實施方式加以詳細說明。
[0032]在本實施方式的X射線CT裝置中包含X射線管和X射線檢測器一體地繞被檢體的周圍旋轉的旋轉/旋轉(ROTATE/ROTATE)類型和多個檢測元件呈環狀陣列，僅X射線管繞被檢體的周圍旋轉的固定/旋轉(STATIONARY/ROTATE)類型等各種類型，任何類型都適用本發明。在此，現在，作為佔主流的旋轉/旋轉類型加以說明。
[0033]此外，將入射X射線轉換為電荷的原理中佔主流的是:通過閃爍器等的螢光體將X射線轉換為光，並通過光電二極體等的光電轉換元件將此光轉換為電荷的間接變換形；和利用通過X射線進行的半導體內的電子正孔對的生成以及向此電極的移動即光導電現象的直接變換形。
[0034]此外，近年，將X射線管和X射線檢測器的多個對搭載於旋轉環的所謂多管球型的X射線CT裝置的成品化得以進步，其周邊技術的開發也在進步。在本實施方式的X射線CT裝置中，無論是以往以來的單管球型的X射線CT裝置，還是多管球型的X射線CT裝置，均可適用。在此，作為單 管球型的X射線CT裝置來加以說明。
[0035]圖1為表示本實施方式的X射線CT裝置I的硬體構成圖。
[0036]圖1所示的X射線CT裝置I由掃描裝置11以及圖像處理裝置12構成。X射線CT裝置I的掃描裝置11通常設置於檢查室，是為了生成關於被檢體(人體)0的攝影部位的X射線的透射數據而構成的。另一方面，圖像處理裝置12通常設置於與檢查室鄰接的控制室，是為了以透射數據為基礎來生成投影數據並進行重構圖像的生成/顯示而構成的。
[0037]X射線CT裝置I的掃描裝置11具備:作為X射線源的X射線管21、X射線檢測器22、光圈23、旋轉部25、控制器26、高壓電源27、光圈驅動裝置28、旋轉驅動裝置29、頂板30以及頂板驅動裝置(診視臺裝置)31。
[0038]X射線管21根據從高壓電源27供給的管電壓，向X射線檢測器22照射X射線。通過從X射線管21照射的X射線，形成扇形光束X射線或錐形光束X射線。
[0039]X射線檢測器22為在與作為被檢體O的體軸方向的頂板的長度方向正交的方向(通道方向)具有多個(M)通道，在頂板的長度方向(列方向)具有多個(N)列的X射線檢測元件的二維陣列型的X射線檢測器(也稱為多切片型檢測器。)。X射線檢測器22對從X射線管21照射，並從被檢體O透射的X射線進行檢測。
[0040]此外，X射線檢測器22由多個X射線檢測模塊構成。此外，X射線檢測模塊由多個X射線檢測子模構成。而且，多個X射線檢測子模分別安裝有對X射線進行檢測的閃爍器(X射線檢測元件)、將所檢測的X射線轉換成電信號的光電二極體、將光電二極體所輸出的電信號轉換為數位訊號的轉換元件。
[0041]轉換元件將X射線檢測器22的各X射線檢測元件所檢測的透射數據的電信號轉換為電壓信號並進行放大，進而轉換為數位訊號。X射線檢測器22介由控制器26，將此被轉換的數字數據(原始數據)輸出至圖像處理裝置12。另外，後面對X射線檢測器22的詳細內容加以記述。
[0042]光圈23通過光圈驅動裝置28，調整從X射線管21照射的X射線的列方向的照射範圍。即，光圈23通過光圈驅動裝置28來調整光圈23的開口，由此，變更列方向的X射線照射範圍。
[0043]旋轉部25被容納於掃描裝置11的架臺(未作圖示)，一體地保持X射線管21、X射線檢測器22以及光圈23。旋轉部25被構成為能夠在使X射線管21和X射線檢測器22對置的狀態下，使X射線管21、X射線檢測器22以及光圈23形成一體，繞被檢體O的周圍旋轉。
[0044]控制器26包括CPU (Central Processing Unit)以及存儲器。控制器26基於從圖像處理裝置12輸入的控制信號，進行X射線檢測器22、高壓電源27、光圈驅動裝置28、旋轉驅動裝置29以及頂板驅動裝置31等的控制，並執行掃描。 [0045]高壓電源27通過由控制器26進行的控制，向X射線管21供給X射線的照射所需的電力。
[0046]光圈驅動裝置28通過由控制器26進行的控制，進行用於調整光圈23的X射線的列方向的照射範圍的驅動。
[0047]旋轉驅動裝置29通過由控制器26進行的控制，以旋轉部25在維持其位置關係的狀態下繞開口部的周圍旋轉的方式，使旋轉部25旋轉。
[0048]頂板30載置被檢體O。
[0049]頂板驅動裝置31通過由控制器26進行的控制，以使頂板30沿z軸方向(體軸方向)移動的方式進行驅動。旋轉部25的中央部分具有開口，載置於此開口部的頂板30的被檢體O沿z軸方向被插入。
[0050]X射線CT裝置I的圖像處理裝置12對於從掃描裝置11的X射線檢測器22輸入的原始數據，進行對數轉換處理和靈敏度校正等的校正處理(預處理)，並生成投影數據。
[0051]此外，圖像處理裝置12對經過預處理的投影數據進行散射線的去除處理。圖像處理裝置12基於X射線照射範圍內的投影數據的值來進行散射線的去除，從作為對象的投影數據減去根據進行散射線校正的對象的投影數據或其鄰接投影數據的值的大小所推定的散射線，來進行散射線校正。圖像處理裝置12以所校正的投影數據為基礎，生成重構圖像。
[0052]此外，圖像處理裝置12是以計算機為基礎來構成的，能夠與醫院主幹的LAN (Local Area Network)等的網絡N彼此通信。此外,雖未作圖示,但圖像處理裝置12包括CPU、存儲器、HDD (Hard Disc Drive)、輸入裝置以及顯示裝置等的基本硬體。
[0053]接下來，對本實施方式的X射線管21和X射線檢測器22的構成加以說明。
[0054]圖2為表示本實施方式的X射線管21和X射線檢測器22的構成的說明圖。
[0055]如圖2所示，X射線管21和X射線檢測器22被相對配置於能夠沿著作為與被檢體O的體軸方向(或列方向A)幾乎垂直的平面內的通道方向C旋轉運動的位置。此外，X射線檢測器22包括多個X射線檢測模塊47。
[0056]作為一例，圖2所示的X射線檢測模塊47通過由4通道X4列配置的16個X射線檢測子模60，構成I個單位的X射線檢測模塊。即，X射線檢測模塊47中，由4通道X4列構成的16個基板50分別通過光導波路43被連接於各X射線檢測子模60的閃爍器41，形成作為I個單位的X射線檢測模塊。
[0057]在此，所謂I個單位並不受通道數或列數的限定，例如，能夠通過I通道X4列或2通道X2列來構成作為所希望的I個單位的X射線檢測模塊。
[0058]此外，如圖2所示，X射線檢測模塊47沿列方向A排列有4列X射線檢測子模60，相對於各X射線檢測子模60的閃爍器41分別傾斜(規定的角度)配置有基板50。
[0059]在此，所謂基板50傾斜配置是指:在具有閃爍器41的X射線檢測面和基板50彼此非平行的規定角度的位置上分別配置各基板50。
[0060]通過這樣的構成，本實施方式的X射線CT裝置I能夠提高X射線CT裝置I內的空間利用效率。
[0061]此外，X射線檢測子模60的基板50具備ADC44、連接器45以及遮蔽鉛(遮蔽膜)46。對於各基板50，沿列方向A鄰接的基板彼此通過連接器45連接。此外，在端Row (列方向上位於最端部的X射線檢測子模60)，沿通道方向C鄰接的基板50彼此通過連接器連接。 [0062]這樣，各基板50通過連接器45沿列方向A連接，由此，X射線檢測模塊47能夠通過雛菊鏈輸出信號，並且在端Row，也能夠通過雛菊鏈在相鄰基板50之間輸出信號。
[0063]因此，本實施方式的X射線檢測子模60能夠以X射線檢測模塊47為單位容易地實現數據的輸出，並能夠在削減各基板50間的配線數量的同時，減少外來幹擾的產生。並且，能夠使用由各種通道數和列數構成的X射線檢測模塊47，因此，能夠實現自由度高的傾斜配置，並能夠容易地實現所希望的X射線檢測器22。
[0064]此外，構成各X射線檢測子模60的基板50相對於各X射線檢測子模60的閃爍器41傾斜配置，對於該傾斜的傾斜狀態，並不做特別限定。即，通過傾斜的傾斜狀態，例如，即使載置於基板50的光電二極體42的上面相對於被檢體O以頭方向在下的方式傾斜，或以腳方向在下的方式傾斜，也同樣能夠實現。
[0065]此外，基板50所配置的傾斜的傾斜狀態在圖2中為沿列方向傾斜，但也可以是使其沿通道方向C傾斜。
[0066]另外，X射線CT裝置I沿通道方向C配置大量的檢測器(例如，1000個)，因此，若考慮X射線CT裝置I的組裝和維護，優選沿著圖示的列方向A傾斜地進行配置。
[0067]接下裡，對形成X射線檢測模塊47的X射線檢測子模60的構成詳細地加以說明。
[0068]圖3為對本實施方式的X射線檢測子模60的構成加以說明的說明圖。
[0069]在圖3㈧中示出從體軸沿通道方向觀察X射線檢測子模60的情況下的剖面圖。基板50相對於閃爍器41,以具有規定的角度α的方式,通過光導波路43被傾斜地配置。
[0070]基板50被構成為具備光電二極體42、ADC44、連接器45以及遮蔽鉛46。
[0071]光電二極體42介由光導波路43，從閃爍器41取得光並轉換為電信號。然後，光電二極體42將所轉換的電信號送出至ADC44。
[0072]光導波路43為用於相對於閃爍器41 (更具體地講，是相對於閃爍器41的X射線檢測面S)傾斜配置基板50的傳送路。該光導波路43為使用具有光學特性的物質所製成的傳送路。具體地講，是利用光的折射率的不同來引導直進性高的光的傳送路。此外，光導波路43為包含光纖的概念，光路具有與光纖相同的構造。另外，光導波路43—般具有薄片狀或板狀的構造，在本實施方式中，如圖所示，其特徵在於具有楔型的形狀。
[0073]ADC44若取得所轉換的電信號，則進行從模擬信號向數位訊號轉換的處理(A/D轉換處理)。然後，所轉換的數位訊號介由連接器45被送出至沿列方向A連接的下一個基板50。
[0074]在此，連接器45相對於紙面(圖3(A))設於閃爍器41與遮蔽鉛46之間，而連接器45的位置並不限定於此。例如，也可以相對於紙面(圖3(A))，將連接器45設於遮蔽鉛46的左側。該情況下，能夠使光電二極體42與ADC44接近，因此，能夠抑制由配線長引起的外來幹擾的產生。
[0075]遮蔽鉛46是為了遮蔽ADC44而設置的，為了防止ADC44不經意間被從基板50透射的X射線破壞，尺寸比ADC44的尺寸大的遮蔽鉛46被設置於基板50上載置有ADC44的面的相反側且與ADC44相對的位置。
[0076]具體地講，光電二極體42載置(安裝)於基板50，而ADC44載置於載置有此光電二極體42的面的相反側的面，因此，在隔著基板50相對的位置上，以覆蓋ADC44的方式設有遮蔽鉛46。
[0077]圖3(B)中為從X射線管21(圖2)的位置至X射線檢測器22 (圖2)的方向，即從正上方觀察X射線檢測子模60的情況下的說明圖。在從正上方觀察X射線檢測子模60的情況下，在基板50上設有閃爍器41、連接器45和遮蔽鉛46。
[0078]圖3 (C)中為相對於圖3 (A)從左側向右側觀察X射線檢測子模60的情況下的剖面圖。X射線檢測子模6 0在基板50上設有閃爍器41、光導波路43、光電二極體42、連接器45和遮蔽鉛46。此外，在與基板50的設有遮蔽鉛46的位置相反側的位置(相對位置)上設有ADC44。
[0079]在上述圖3中，以X射線檢測子模60的閃爍器41和基板50的位置關係為中心進行了說明，但本實施方式並不限於此。具體地講，對於從X射線檢測子模60去除閃爍器41的構成，也可以形成為進行光的檢測的光檢測子模。
[0080]接下裡，使用流程圖，對本實施方式的X射線CT裝置I的動作加以說明。
[0081](圖像數據生成處理)
[0082]圖4為表示通過本實施方式的X射線CT裝置I來照射X射線，並生成所希望的切片圖像的圖像數據的圖像數據生成處理的流程圖。
[0083]如圖4所示，首先，X射線CT裝置I的X射線管21和X射線檢測器22繞被檢體O的周圍螺旋狀地旋轉，通過來自控制器26的控制信號，通過來自高壓電源27的規定的管電壓所產生的管電流被供給至X射線管21。由此，所希望的能量X射線從X射線管21的各旋轉位置向被檢體O照射(步驟S001)。
[0084]從被檢體O透射的X射線通過構成X射線檢測器22的X射線檢測模塊47的各閃爍器41而被檢測。即，閃爍器41將射入X射線檢測器22的X射線轉換成光，並供給至光電二極體42 (步驟S003)。
[0085]光電二極體42將介由光導波路43從閃爍器41取得的光轉換為電信號(步驟S005)。
[0086]ADC44對被轉換為電信號的X射線檢測數據實施放大處理、A/D轉換處理等的處理(步驟S007)。由此，ADC44生成與由閃爍器41所檢測的X射線檢測數據對應的數位訊號(也將其稱為原始數據。)。
[0087]X射線檢測模塊47將由ADC44所生成的原始數據，介由連接器45，沿列方向A輸出(步驟S009)。
[0088]在此，使用附圖，對X射線檢測模塊47沿列方向A輸出原始數據的方法加以說明。
[0089]圖5為對通過形成本實施方式的X射線檢測模塊47的一部分的4個X射線檢測子模60的構成，沿列方向A(相對於圖5的紙面從右側至左側方向)輸出原始數據的方法加以說明的說明圖。另外，對於同一構成賦予同一符號，並適當省略說明。
[0090]圖5中，在沿列方向A鄰接的4個X射線檢測子模60的各基板50上，基板50之間以彼此重合的方式配置。此外，在具有閃爍器41的X射線檢測面和基板50彼此非平行的規定的角度的位置，分別配置有各基板50。
[0091]並且，如圖5所示，設於基板50的連接器45由設於基板50的X射線管21側(閃爍器41的X射線檢測面側)的連接器45A和設於基板50的X射線管21的相反側(閃爍器41的X射線檢測面的背面側)的連接器45B構成。
[0092]通過連接器45A和連接器45B連接沿列方向A鄰接的X射線檢測子模60的基板50之間，由此，X射線檢測模塊47通過雛菊鏈沿列方向A依次輸出原始數據。
[0093]此外，在本實施方式中，由ADC44數位訊號化後的原始數據，以依次被輸出的方式，從位於相對於紙面(圖5)最左側的基板50的ADC44的原始數據，經由連接器45A被輸出。此原始數據被輸出後， 相對於紙面(圖5)位於右鄰的基板50的ADC44的原始數據繼續被輸出。
[0094]像這樣，相對於紙面(圖5)位於最左側的基板50的ADC44的原始數據被最先輸出，通過雛菊鏈，位於右鄰的基板50的ADC44的原始數據接著被輸出，因此，X射線檢測模塊47能夠依次沿列方向A輸出各基板50的ADC44的原始數據。
[0095]然後，若圖4所示的步驟S009的沿列方向A輸出原始數據的處理結束，則X射線檢測模塊47在端Row，沿通道方向C輸出原始數據(圖4的步驟S011)。
[0096]在此，使用附圖，對X射線檢測模塊47沿通道方向C輸出原始數據的方法加以說明。
[0097]圖6為對通過形成本實施方式的X射線檢測模塊47的一部分的4個X射線檢測子模60的構成，沿通道方向C(相對於圖6的紙面從左側至右側方向)輸出原始數據的方法加以說明的說明圖。另外，對同一構成賦予同一符號，並適當地省略說明。
[0098]在圖6中示出4個X射線檢測子模60在端Row沿通道方向C鄰接配置的情況。如圖6所示，設於各X射線檢測子模60的基板50的連接器45C在端Row通過配線H連接。因此，在X射線檢測模塊47的端Row，能夠通過雛菊鏈沿通道方向C輸出原始數據。
[0099]此外，輸出原始數據的順序為從相對於紙面(圖6)位於最右側的X射線檢測子模60依次輸出原始數據。即，在圖6中，從相對於紙面(圖6)位於最右側的X射線檢測子模60的基板50的連接器45C依次輸出此列方向A的原始數據之後，從鄰接於此X射線檢測子模60的左側的X射線檢測子模60的基板50的連接器45C，介由配線H依次輸出此列方向A的原始數據。
[0100]另外，上述連接器45C為具有用於與連接器45A連接的形狀的連接器，與連接器45B等同。在圖5中所示的端Row的連接器45A(圖5的最左側的連接器45A)安裝該連接器45C，由此，能夠實現圖6中所示的端Row的雛菊鏈。
[0101]然後，若沿圖4所示的步驟SOll的通道方向C輸出原始數據的處理結束，則X射線檢測器22介由控制器26，向圖像處理裝置12輸出原始數據。
[0102]圖像處理裝置12若取得由X射線檢測模塊47生成的原始數據，則對該輸入的原始數據進行對數轉換處理和靈敏度校正等的校正處理(預處理)，並生成投影數據。此外，圖像處理裝置12對經預處理的投影數據進行散射線的去除處理等，並以所校正的投影數據為基礎來生成重構圖像(步驟S013)。
[0103]如以上說明的那樣，本實施方式的X射線CT裝置I在X射線檢測子模60，相對於閃爍器41，傾斜地配置安裝光電二極體42的基板50，並能夠在基板50上載置ADC44和光電二極體42。
[0104]此外，X射線檢測模塊47能夠通過多個X射線檢測子模60，實現由所希望的M通道XN列構成的X射線檢測模塊，因此，能夠縮短從閃爍器41到ADC44的配線長，並能夠調整配線長。
[0105]由此，本實施方式的X射線CT裝置I能夠抑制起因於配線長的外來幹擾的產生，並能夠提高信號的準確度。
[0106]此外，能夠通 過所希望的M通道XN列，容易地形成由X射線檢測子模60所形成的I個單位的X射線檢測模塊47，並且使用者通過傾斜配置X射線檢測模塊47，能夠形成所希望的X射線檢測器22。
[0107]此外，在圖4所示的流程圖中，步驟S009中，沿列方向A輸出從X射線檢測子模60的ADC44所輸出的原始數據之後，通過步驟SO11，沿通道方向C輸出原始數據，但並不限定於此。
[0108]例如，在構成同時收集方式的X射線CT裝置I的情況下，也可以交替執行步驟S009的沿列方向A輸出原始數據的方法和步驟SOll的沿通道方向C輸出原始數據的方法。
[0109]對本發明的幾個實施方式進行了說明，但這些實施方式是作為例子公開的，其意圖並不在於限定發明的範圍。這些實施方式能夠通過其他各種方式加以實施，在不脫離發明的主旨的範圍內，能夠進行各種省略、置換、變更。這些實施方式和其變形包含於發明的範圍和主旨內，同樣，也包含於權利要求書中所述的發明及其等同範圍內。
[0110]此外，在本發明的實施方式中示出沿流程圖的各步驟所記載的順序按時間序列進行的處理的例子，但並不一定按時間序列進行處理，還包含並列地或者單獨執行的處理。
【權利要求】
1.一種X射線檢測子模，其特徵在於，具備: 基板； 光電二極體，安裝於上述基板上； X射線檢測元件，對X射線進行檢測並轉換為光；以及 光導波路，設於上述光電二極體與上述X射線檢測元件之間， 上述光導波路以上述基板相對於上述X射線檢測元件的X射線檢測面傾斜配置的方式，連接上述X射線檢測元件和上述光電二極體。
2.根據權利要求1所述的X射線檢測子模，其特徵在於， 上述基板傾斜配置是指:在具有上述X射線檢測元件的X射線檢測面和上述基板彼此非平行的規定角度的位置上配置上述基板。
3.根據權利要求1或2所述的X射線檢測子模，其特徵在於， 還具備連接器， 上述連接器以支撐鄰接的X射線檢測子模的方式，連接於上述鄰接的X射線檢測子模的連接器。
4.根據權利要求1至3中的任一項所述的X射線檢測子模，其特徵在於， 還具備轉換元件，將上述光電二極體所輸出的電信號轉換為數位訊號， 上述轉換元件在與安裝有上述光電二極體的基板的面的同一側的面且與此轉換元件對置的位置上，設有遮蔽上述X射線的遮蔽膜。
5.一種X射線檢測模塊，具有多個X射線檢測子模，其特徵在於， 上述多個X射線檢測子模分別具備: 基板； 光電二極體，安裝於上述基板上； X射線檢測元件，對X射線進行檢測並轉換為光；以及 光導波路，設於上述光電二極體與上述X射線檢測元件之間， 並且，上述光導波路以上述基板相對於上述X射線檢測元件的X射線檢測面傾斜配置的方式，連接上述X射線檢測元件和上述光電二極體。
6.根據權利要求5所述的X射線檢測模塊，其特徵在於， 上述基板傾斜配置是指:在表示被檢體的體軸方向的列方向上鄰接的上述X射線檢測子模中，以該X射線檢測子模的基板之間彼此重合的方式，在具有上述X射線檢測元件的X射線檢測面和上述基板彼此非平行的規定角度的位置上配置上述基板。
7.根據權利要求5或6所述的X射線檢測模塊，其特徵在於， 上述多個X射線檢測子模分別具備連接器， 上述連接器以彼此支撐鄰接的上述X射線檢測子模的方式，連接於上述鄰接的X射線檢測子模的連接器。
8.根據權利要求7所述的X射線檢測模塊，其特徵在於， 上述多個X射線檢測子模的各連接器以沿表示被檢體的體軸方向的列方向，通過雛菊鏈來傳送數據的方式，連接於上述鄰接的X射線檢測子模的連接器。
9.根據權利要求7或8所述的X射線檢測模塊，其特徵在於， 上述多個X射線檢測子模的各連接器，以位於表示被檢體的體軸方向的列方向的終端的上述X射線檢測子模之間，在與上述列方向正交的通道方向上，通過雛菊鏈來傳送數據的方式，連接於上述鄰接的X射線檢測子模的連接器。
10.一種X射線CT裝置，其特徵在於，具備: X射線源，向被檢體照射X射線； 多個X射線檢測子模，具有:基板；光電二極體，安裝於上述基板上；x射線檢測元件，對上述X射線進行檢測並轉換為光；光導波路，設於上述光電二極體與上述X射線檢測元件之間；以及轉換元件，將上述光電二極體輸出的電信號轉換為數位訊號；以及圖像處理部，通過所轉換的上述數位訊號來重構上述被檢體的斷層圖像， 上述X射線檢測子模的光導波路以上述基板相對於上述X射線檢測元件的X射線檢測面傾斜配置的方式，連接上述X射線檢測元件與上述光電二極體。
【文檔編號】G01T1/20GK104023641SQ201380003727
【公開日】2014年9月3日 申請日期:2013年8月28日 優先權日:2012年8月29日
【發明者】橋本篤, 西島輝, 南部修也, 工藤洋二, 山崎正彥, 淺田朋範 申請人:株式會社東芝, 東芝醫療系統株式會社