一種寄存器測試的方法和系統的製作方法

2023-09-11 22:35:35

專利名稱：一種寄存器測試的方法和系統的製作方法
技術領域：
本發明涉及測試領域，特別是涉及在一種寄存器測試的方法和系統。
技術背景寄存器是存儲計算機信息的最小單位，可由寄存器地址和寄存器內容來描 述，才艮據寄存器允許的操作方式，可以將寄存器分為讀寫寄存器、只讀寄存器、 讀清零寄存器和寫清零寄存器等各種屬性的寄存器。在計算機的軟體開發過程中，常需要使用各種屬性的寄存器，通過對各種 寄存器的組合使用，最終得以實現整個晶片完整的軟體功能。比如，在計算機 晶片中，需要使用不同屬性的寄存器。而在計算機晶片中，寄存器數量是非常龐大的，比如在包含了 IO個模塊的Vc0336晶片中，其寄存器的個數就達到了 1000多個，可見，當需要對某個晶片進行質量測試時，對該晶片中寄存器的測 試尤為重要。目前，寄存器測試的方法還以人工測試為主，具體地講，就是根據被測寄 存器的屬性，人工輸入寄存器的測試參數，來實現寄存器測試。寄存器的測試 參數包括測試數和/或測試命令。比如，被測寄存器的屬性為讀寫寄存器，在 進行測試時，先人工輸入一個數作為測試數，然後輸入"寫命令"、測試數和被 測寄存器地址，以實現向被測寄存器寫入該測試數；接著，輸入"讀命令，，和 被測寄存器地址，從該被測寄存器讀取數值，如果讀取的數值等於寫入的測試 數，則得到"工作正常，，的測試結果，否則，得到"工作不正常"的測試結果。 再如，被測寄存器的屬性為寫1清0，也就是當給寄存器寫入"1"時，該寄存 器寫'T，的位置被清零，因而對該屬性寄存器進行測試時，先人工輸入"寫命 令"、被測寄存器地址和常數"1"，向被測寄存器寫入l,接著，人工輸入"讀 命令"和被測寄存器地址，讀取該被測寄存器的值，如果讀出的值等於0，則 得到"工作正常"的測試結果，否則，得到"工作不正常"的測試結果。可見，對於不同屬性的被測寄存器，人工輸入的測試參數也不同，在對各 種屬性的寄存器進行測試時，需要人工根據寄存器屬性設定具體的測試參數值, 而寄存器的數量比較多，要人工對大量屬性不同的寄存器進行一次有效的測試， 需要花費大量的時間，工作量非常繁重。由於人工測試寄存器的工作量太大， 難免會出現寄存器的漏測或誤測等問題。因此，目前寄存器測試的方法，存在人工參與的比重較多，測試工作量較 大的問題。發明內容有鑑於此，本發明的主要目的在於提供一種寄存器測試的系統，該系統 能夠降低測試寄存器的工作量。本發明的第二個主要目的在於提供一種實現寄存器測試的方法，該方法 能夠降低測試寄存器的工作量。為了達到上述第一個目的，本發明提出的技術方案為 一種實現寄存器測 試的系統，該系統包4舌設置模塊，用於設置寄存器屬性與測試參數的對應關係；信息獲取模塊，用於獲取每一個被測寄存器的寄存器信息，所述寄存器信 息包括寄存器屬性；測試參數產生模塊，用於從所述信息獲取模塊獲取的寄存器信息中得到寄 存器屬性，產生與所述寄存器屬性對應的測試參數；執行模塊，用於利用所述測試參數產生模塊產生的測試參數，對所述被測 寄存器進行測試，得到被測寄存器的測試結果。所述測試參數產生模塊包括匹配單元和參數產生單元；所述匹配單元，用於根據預先設置的寄存器屬性與測試參數的對應關係， 匹配得到與所述被測寄存器的寄存器屬性對應的測試參數，所述測試參數包括
至少 一組測試命令和/或測試數；所述參數產生單元，用於根據匹配單元得到的所述測試參數，產生出每一 組測試命令和/或測試數，依次輸入到執行模塊。所述執行模塊包括測試參數接口單元和操作單元； 所述測試參數接口單元，用於接收來自測試參數產生模塊的測試參數； 所述操作單元，用於利用來自所述測試參數接口單元的測試參數，對被測寄存器進行測試操作，得到所述被測寄存器的測試結果。當所述測試參數包括至少一組測試命令和/或測試數時，所述執行模塊，進一步用於將執行完一組測試命令/測試數後得到的中間結果返回給所述測試參數產生模塊；所述測試參數產生模塊在接收到所述中間結果後，將產生出的下一組測試 命令和/或測試數輸入到執行模塊。較佳地，所述系統進一步包括測試結果存儲模塊；所述測試結果存儲模塊，用於存儲所述執行模塊得到的所述被測寄存器的 測試結果。較佳地，所述系統進一步包括寄存器列表模塊；所述寄存器列表模塊，用於存儲由所有被測寄存器的寄存器信息組成的寄 存器列表；所述信息獲取模塊，依次讀取所述寄存器列表中每一個被測寄存器的寄存 器信息。較佳地，所述系統進一步包括更新模塊；所述更新模塊，用於對所述寄存器列表模塊中的寄存器列表進行更新。 較佳地，所述系統進一步包括測試次數設置模塊； 所述測試次數設置模塊，用於預先設置對每一個被測寄存器的測試次數； 所述測試參數產生模塊，按照預先設置的測試次數，將產生出的被測寄存 器的測試參數連續輸入到執行模塊。較佳地，所述系統進一步包括測試結果顯示模塊；
所述測試結果顯示才莫塊，用於存儲所述執行模塊得到的所述被測寄存器的 測試結果。為了達到上述第二個目的，本發明提出的技術方案為 一種寄存器測試的 方法，該方法包4舌設置寄存器屬性與測試參數的對應關係，獲取每一個被測寄存器的寄存器 信息，所述寄存器信息包括寄存器屬性；從寄存器信息中提取寄存器屬性，產 生與所述寄存器屬性對應的測試參數；利用所述測試參數產生模塊產生的所述 測試參數，對所述被測寄存器進行測試，得到被測寄存器的測試結果。所述產生^f皮測寄存器的測試參數包括根據預先設置的寄存器屬性與測試參數的對應關係，匹配得到與被測寄存 器的寄存器屬性對應的測試參數，所述測試參數包括至少 一組測試命令和/或測 試數；產生與所述屬性信息對應的每一組測試命令和/或測試數。較佳地，在所述方法之前，進一步包括建立由所有被測寄存器的寄存器 信息構成的寄存器列表；所述獲取每一個被測寄存器的寄存器信息包括遍歷所述寄存器列表，依 次獲取所述寄存器列表中的每一個被測寄存器的寄存器信息。較佳地，所述方法之後進一步包括存儲所述被測寄存器的測試結果。 較佳地，所述方法之後進一步包括顯示所述被測寄存器的測試結果。 較佳地，所述方法在從寄存器信息中提取寄存器屬性之前進一步包括判 斷是否存儲所述被測寄存器的測試結果，在沒有存儲所述被測寄存器的測試結 果時或存儲的所述被測寄存器的測試結果為"工作不正常，，時，執行所述從寄 存器信息中提取寄存器屬性的步驟。綜上所述，本發明提出的一種寄存器測試的方法和系統，具有以下優點 第一、本發明能夠根據設置寄存器屬性與測試參數的對應關係，根據獲 取到的每個被測寄存器的寄存器屬性，自動產生出對每個被測寄存器的測試 參數，因而能夠降低測試寄存器的工作量。第二、本發明通過遍歷包含所有被測寄存器的寄存器信息的寄存器列表
來實現對每 一 個被測寄存器的測試，能夠避免寄存器的漏測或誤測等問題， 從而提高測試寄存器的準確性。第三、本發明還能夠在多人調試時，通過存儲的被測寄存器的測試結果， 在存儲的所述被測寄存器的測試結果為"工作正常"時，不再進行測試，從而 能夠進一步降低測試寄存器的工作量。因此，本發明提供的一種寄存器測試的方法和系統，能夠降低測試寄存 器的工作量。


圖1為本發明實現寄存器測試的第一個較佳實施例的系統結構示意圖； 圖2為本發明寄存器測試的第二個較佳實施例的方法流程示意圖； 圖3為本發明寄存器測試的第三個較佳實施例的方法流程示意圖。
具體實施方式
為使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合附圖及具體 實施例對本發明作進一步地詳細描述。本發明的技術方案是 一種實現寄存器測試的系統，該系統包括用於設 置寄存器屬性與測試參數對應關係的設置模塊、用於獲取每一個被測寄存器的 寄存器信息的信息獲取模塊，該寄存器信息包含寄存器屬性、用於產生與所述 寄存器屬性對應的測試參數的測試參數產生模塊和用於利用所述測試參數產生 模塊產生的所述測試參數，對所述被測寄存器進行測試的執行模塊。圖1為本發明實現寄存器測試的第一個較佳實施例的系統結構示意圖，該 系統包括設置模塊100、信息獲取模塊110、測試參數產生模塊120和執行模 塊130。其中，設置模塊IOO，設置寄存器屬性與測試參數的對應關係；本實施例 中，假設寄存器屬性包括讀寫寄存器和寫1清零寄存器兩種，則設置的讀寫寄 存器對應的測試參數為"寫命令，，和"測試數，，；"讀命令，，以及得出測試結果 的"比較命令"和"測試數"。設置的寫1清零寄存器對應的測試參數為"寫 命令，，和"i"、"讀命令，，以及最終得到測試結果的"比較命令，，和"0"。信息獲取模塊110,獲取每一個被測寄存器的寄存器信息，將每一個被測 寄存器的寄存器信息依次輸入到測試參數產生模塊120處理，這裡，被測寄存 器的寄存器信息包括被測寄存器的寄存器屬性、寄存器地址、寄存器名稱、 寄存器默認值、寄存器位寬或寄存器進位數等信息。測試參數產生模塊120，從信息獲^^莫塊IIO輸入的被測寄存器的寄存器 信息中得到寄存器屬性，產生與該寄存器屬性對應的測試參數產生出被測寄存 器的測試參數。執行模塊130,根據測試參數產生模塊130產生的被測寄存器的測試參數， 對被測寄存器進行測試，得到被測寄存器的測試結果。測試參數產生模塊120包括匹配單元121和參數產生單元122;匹配單元121,根據預先設置的屬性信息與測試參數的對應關係，匹配得 到與被測寄存器的寄存器屬性對應的測試參數，測試參數包括至少一組測試命 令和/或測試數；即預先設置出屬性與測試參數的對應關係，如前面提到的讀寫 寄存器對應的測試參數包括"寫命令，，和"測試數，，；"讀命令，，以及得出測試 結果的"比較命令"和"測試數"三組測試命令和/或測試數。參數產生單元122,根據匹配單元121得到的與所述寄存器屬性對應的被 測寄存器的測試參數，依次產生至少 一組測試命令和/或測試數。本實施例中，參數產生單元122按照預先設置的策略，產生出對所述#1測 寄存器進行測試的測試數。預先設置的數據策略可包括四種，分別是隨機數、 最大值、最小值和用戶輸入策略，其中，隨機數策略是指自產生一個隨機數， 進行寄存器測試；如果隨機數的數值太大，根據各個寄存器信息中的位寬或根 據預先設置的默認位寬進行截取，用截取後的值測試相應的寄存器；最小值策 略是用寄存器的最小值也就是O進行測試；最大值策略，則是根據寄存器信息 中的位寬或根據預先設置的默認位寬，計算出寄存器的最大值；用各個寄存器 自身的最大值進行測試；而用戶輸入策略是根據用戶輸入的數值，進行寄存器
測試；如果用戶輸入的數值太大，根據各個寄存器信息中的位寬或根據預先設 置的默認位寬進行截取，用截取後的值測試相應的寄存器。執行模塊130包括測試參數接口單元131和操作單元132;測試參數接口單元131，接收來自測試參數產生模塊120的測試參數；操作單元132，根據來自測試參數接口單元131的測試參數，對被測寄存器 進行測試操作，得到所述被測寄存器的測試結果。如圖1所示，操作單元132，還通過測試參數接口單元131向測試參數產生模 塊120返回執行完一組測試命令/測試數後得到的中間結果。測試參數產生模塊120中的參數產生單元122在接收到中間結果後，將產 生出的下一組測試命令和/或測試數輸入到執行模塊130。本實施例假設的是由個人計算機(PC機)直接完成每一個被測寄存器的 寄存器信息的獲取過程和每一個被測寄存器的測試過程，如果獲取過程和測試 過程由不同的作業系統，比如，獲取過程由PC機來實現而測試過程由嵌入式環 境來實現，則測試參悽t接口單元13l採用通過Usb或Uart或Jtag接口來接收來自測 試參數產生模塊120的測試參數，並需要將PC機上傳輸下來測試參數中的測試 命令如"讀命令"或"寫命令"解釋成嵌入式環境可以運行的命令，再輸入到 操作模塊132。系統還包括測試結果存儲^t塊140，存儲執行模塊130得到的被測寄存器的測試結果。 測試結果顯示模塊180,顯示執行模塊130得到的被測寄存器的測試結果。 系統還包括寄存器列表模塊150;存儲由所有被測寄存器組成的寄存器列表，該寄存器列表包含每一個被測寄存器的寄存器信息；這時，信息獲取模塊IIO依次獲取寄存器列表模塊150中的每一個被測寄存器的寄存器信息。當然，信息獲取模塊IIO也可以通過其它的方式獲取每一個被測寄存器的寄存器信息，比如，動態輸入方式。當系統包括寄存器列表模塊150時，系統還可以包括對寄存器列表^^莫塊150
中的寄存器列表進行更新的更新模塊160;這種更新包括刪除或新增被測寄存 器，或修改被測寄存器的某個寄存器信息。系統還可以包括測試次數設置模塊170,預先設置對每一個被測寄存器 的測試次數；測試參數產生模塊120,按照預先設置的測試次數，將產生出的被測寄存 器的測試參數連續輸入到執行模塊130。比如測試次數為兩次，則將產生出的 被測寄存器的測試參數連續兩次輸入到執行模塊130。圖2為本發明寄存器測試的第二個較佳實施例的方法流程示意圖，下面結 合流程圖，給出本發明的一個具體實施例。如圖2所示，具體包括以下步驟步驟201:設置寄存器屬性與測試參數的對應關係。本實施例，設置的寄存器屬性與測試參數的對應關係與第一個實施例相同。 這裡不一一贅述。步驟202:獲取每一個被測寄存器的寄存器信息。本實施例中，獲取每一個被測寄存器的寄存器信息的方法是可以通過遍 歷已建立的被測寄存器列表或通過動態接收的方式，獲取每一個被測寄存器的 寄存器信息。本實施例中，寄存器信息包括寄存器屬性、和/或被測寄存器的寄存器地 址、和/或寄存器名稱、和/或寄存器默認值、和/或寄存器位寬、和/或寄存器進 制數。對於每一個被測寄存器執行一次步驟203到204。步驟203:從寄存器信息中提取寄存器屬性，產生與所述寄存器屬性對應的 測試參數。本實施例中，產生與所述寄存器屬性對應的包括根據預先設置的寄存器 屬性與測試參數的對應關係，匹配得到與被測寄存器的寄存器屬性對應的測試 參數，所述測試參數包括至少一組測試命令和/或測試數；產生與屬性信息對應 的至少一組測試命令和/或測試數。針對:帔測寄存器的測試參數可以由至少一組 測試數和/或測試命令組成，比如，對於寫l清零寄存器，產生出的針對被測寄 存器的測試參數為"寫命令，，和"1"、"讀命令，，以及最終得到測試結果的"比
較命令"和"0"。步驟204:利用產生的針對被測寄存器的測試參數，對被測寄存器進行測試。本實施例中，由軟體程序實現對被測寄存器的測試時，利用產生的針對被 測寄存器的測試參數，對被測寄存器進行測試的方法是按照產生的測試參數， 依此調用相應的測試命令執行程序，調用測試命令執行程序的入口參數包括被 測寄存器的地址信息，從能夠實現對某個確定被測寄存器進行測試，當測試參 數包括測試數時，調用測試命令執行程序的入口參數中還包括測試數，最後， 由最後一個測試命令執行程序的運行結果，得到被測寄存器的測試結果。圖3為本發明寄存器測試的第三個較佳實施例的方法流程示意圖，如圖3所 示，具體包括以下步驟步驟300:設置寄存器屬性與測試參數的對應關係。本實施例中給出6種寄存器屬性分別是讀寫寄存器、只寫寄存器、讀清 零寄存器、寫清零寄存器、寫l清零寄存器和寫O清零寄存器。 步驟301:預先建立寄存器列表。本實施例中，寄存器列表是由所有被測寄存器的寄存器信息構成的。 步驟302:讀取寄存器列表中的 一個被測寄存器的寄存器信息。 步驟303:產生測試參數，按照測試參數對被測寄存器進行測試。 本實施例中，步驟303是根據被測寄存器的寄存器屬性匹配出對應的測試參數，並按照測試參數對被測寄存器進行測試的過程，本實施例中給出以上6種屬性具體測試過程。當被測寄存器的寄存器屬性為讀寫時，先將產生出的測試數，用"寫命令"寫入被測寄存器，然後，用"讀命令，，讀出被測寄存器的值，最後，用"比較命令，，比較讀出的值是否等於測試數，如果等於，則測試結果為"工作正常"，否則為"工作不正常"。當被測寄存器的寄存器屬性為只寫時，先將產生出的測試數，用"寫命令"寫入被測寄存器，然後，用"讀命令"讀出被測寄存器的值，最後，用"比較命令"比較讀出的值是否等於O，如果等於，則測試結果為"工作正常"，否則
為"工作不正常"。當被測寄存器的寄存器屬性為讀清零時，連續產生兩個"讀命令"，最後，用"比較命令，，判斷最後一個讀出的值是否等於O，如果等於，則測試結果為 "工作正常"，否則為"工作不正常"。當被測寄存器的寄存器屬性為寫清零時，先將產生出的測試數，用"寫命 令，，寫入被測寄存器，然後，用"讀命令"讀出被測寄存器的值，最後，用"比 較命令，，比較讀出的值是否等於o,如果等於，則測試結果為"工作正常"，否則為"工作不正常"。當被測寄存器的寄存器屬性為寫1清零時，先將數值"1"，用"寫命令" 寫入被測寄存器，然後，用"讀命令，，讀出被測寄存器的值，最後，用"比較命令，，比較讀出的值是否等於o,如果等於，則測試結果為"工作正常"，否則為"工作不正常"。當被測寄存器的寄存器屬性為寫0清零時，先將數值"0",用"寫命令"寫入被測寄存器，然後，用"讀命令"讀出被測寄存器的值，最後，用"比較命令，，比較讀出的值是否等於o，如果等於，則測試結果為"工作正常"，否則為"工作不正常"。可以看出，對應不同的寄存器屬性，對被測寄存器進行測試的測試參數是 不同的，有的測試參數包括測試數，有的不包括測試數，有的即使包括測試數， 也不需要產生測試數。本實施例假設需要產生測試數，並按照預先設置的數據 策略，產生出測試數後，還判斷產生出的測試數是否小於位寬，如果是，執行 測試過程，否則，先按照位寬截取產生的測試數後，再執行測試過程。這裡， 位寬是指寄存器所佔位數，當測試數超過該位數時，需要對其進行截取，否則是無效的測試數，位寬可以是l位、2位、8位和16位等。 步驟304:存儲被測寄存器的測試結果。步驟305:判斷是否所有寄存器均被測試完，如果是，執行步驟302，否則 執行步驟306。本實施例中，判斷是否所有寄存器均被測試完，就是判斷是否遍歷完寄存 器列表中的所有寄存器，如果是，重新執行步驟302，否則，執行步驟308。。 步驟306:輸出並顯示測試結果。本實施例在被測寄存器的測試結果為"工作不正常，，時，通過顯示測試結 果，提醒測試者進行相應處理。本實施例的步驟303中，還可以根據預先設置的測試次數，利用產生的 測試參數重複執行測試操作，以便能夠得到更為可靠的測試結果。本實施例中，還可以在步驟303前，增加判斷是否存儲了被測寄存器的 測試結果的步驟，如果存儲了被測寄存器的測試結果，並且測試結果為"工 作正常，，，可以不進行測試。以上僅為本發明的較佳實施例而已，並非用於限定本發明的保護範圍。 凡在本發明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應 包含在本發明的保護範圍之內。
權利要求
1、一種實現寄存器測試的系統，其特徵在於，該系統包括設置模塊，用於設置寄存器屬性與測試參數的對應關係；信息獲取模塊，用於獲取每一個被測寄存器的寄存器信息，所述寄存器信息包括寄存器屬性；測試參數產生模塊，用於從所述信息獲取模塊獲取的寄存器信息中得到寄存器屬性，產生與所述寄存器屬性對應的測試參數；執行模塊，用於利用所述測試參數產生模塊產生的測試參數，對所述被測寄存器進行測試，得到被測寄存器的測試結果。
2、 根據權利要求1所述的系統，其特徵在於，所述測試參數產生模塊包括 匹配單元和參數產生單元；所述匹配單元，用於根據預先設置的寄存器屬性與測試參數的對應關係， 匹配得到與所述被測寄存器的寄存器屬性對應的測試參數，所述測試參數包括 至少 一組測試命令和/或測試^:;所述參數產生單元，用於根據匹配單元得到的所述測試參數，產生出每一 組測試命令和/或測試數，依次輸入到執行模塊。
3、 根據權利要求1所述的系統，其特徵在於，所述執行模塊包括測試參 數接口單元和操作單元；所述測試參數接口單元，用於接收來自測試參數產生模塊的測試參數； 所述操作單元，用於利用來自所述測試參數接口單元的測試參數，對被測 寄存器進行測試操作，得到所述被測寄存器的測試結果。
4、 根據權利要求3所述的系統，其特徵在於，所述測試參數包括至少一組 測試命令和/或測試數；所述執行模塊，進一步用於將執行完一組測試命令/測試數後得到的中間結 果返回給所述測試參數產生模塊； 所述測試參數產生才莫塊在接收到所述中間結果後，將產生出的下一組測試 命令和/或測試數輸入到執行模塊。
5、 根據權利要求1所述的系統，其特徵在於，所述系統進一步包括測試 結果存儲模塊；所述測試結果存儲模塊，用於存儲所述執行模塊得到的所述被測寄存器的 測試結果。
6、 根據權利要求1或5所述的系統，其特徵在於，所述系統進一步包括 寄存器列表模塊；所述寄存器列表模塊，用於存儲由所有被測寄存器的寄存器信息組成的寄 存器列表；所述信息獲取模塊，依次讀取所述寄存器列表中每一個被測寄存器的寄存 器信息。
7、 根據權利要求6所述的系統，其特徵在於，所述系統進一步包括更新 模塊；所述更新模塊，用於對所述寄存器列表模塊中的寄存器列表進行更新。
8、 根據權利要求1所述的系統，其特徵在於，所述系統進一步包括測試 次數設置模塊；所述測試次數設置模塊，用於預先設置對每一個被測寄存器的測試次數； 所述測試參數產生模塊，按照預先設置的測試次數，將產生出的被測寄存 器的測試參數連續輸入到執行模塊。
9、 根據權利要求1所述的系統，其特徵在於，所迷系統進一步包括測試 結果顯示模塊；所述測試結果顯示模塊，用於顯示所述執行模塊得到的所述被測寄存器的 測試結果。
10、 一種寄存器測試的方法，其特徵在於，該方法包括 設置寄存器屬性與測試參數的對應關係，獲取每一個被測寄存器的寄存器信息，所述寄存器信息包括寄存器屬性；從寄存器信息中提取寄存器屬性，產生與所述寄存器屬性對應的測試參數；利用所述測試參數產生模塊產生的所述 測試參數，對所述被測寄存器進行測試，得到被測寄存器的測試結果。
11、 根據權利要求10所述的方法，其特徵在於，所述產生被測寄存器的測 試參數包括根據預先設置的寄存器屬性與測試參數的對應關係，匹配得到與被測寄存 器的寄存器屬性對應的測試參數，所述測試參數包括至少一組測試命令和/或測 試數；產生與所述屬性信息對應的每一組測試命令和/或測試數。
12、 根據權利要求10所述的方法，其特徵在於，在所述方法之前，進一步 包括建立由所有被測寄存器的寄存器信息構成的寄存器列表；所述獲取每一個被測寄存器的寄存器信息包括遍歷所述寄存器列表，依 次獲取所述寄存器列表中的每一個被測寄存器的寄存器信息。
13、 根據權利要求10所迷的方法，其特徵在於，所述方法之後進一步包括 存儲所述被測寄存器的測試結果。
14、 根據權利要求10所述的方法，其特徵在於，所述方法之後進一步包括 顯示所述被測寄存器的測試結果。
15、 根據權利要求10所述的方法，其特徵在於，所述方法在從寄存器信息 中提取寄存器屬性之前進一步包括判斷是否存儲所述被測寄存器的測試結果， 在沒有存儲所述被測寄存器的測試結果時或存儲的所述被測寄存器的測試結果 為"工作不正常"時，執行所述從寄存器信息中提取寄存器屬性的步驟。
全文摘要
本發明公開了一種實現寄存器測試的系統，該系統包括設置模塊，設置寄存器屬性與測試參數的對應關係；信息獲取模塊，獲取每一個被測寄存器的寄存器信息，所述寄存器信息包含寄存器屬性；測試參數產生模塊，從所述信息獲取模塊獲取的寄存器信息中得到寄存器屬性，產生與所述寄存器屬性對應的測試參數；執行模塊，利用所述測試參數產生模塊產生的所述測試參數，對所述被測寄存器進行測試，得到被測寄存器的測試結果。本發明還公開了寄存器測試的方法，使用本發明能夠降低寄存器測試的工作量。
文檔編號G11C29/00GK101131875SQ20071017543
公開日2008年2月27日 申請日期2007年9月29日 優先權日2007年9月29日
發明者馮備戰, 佔文靜, 遊明琦, 國 艾 申請人:北京中星微電子有限公司