寄存器調試方法及裝置的製作方法
2023-09-11 22:08:10 1
專利名稱：寄存器調試方法及裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及晶片設計及調試領域，尤其涉及一種寄存器調試方法及裝置。
背景技術：
在晶片設計、調試、應用過程中，最多的工作就是對各種狀態下的寄存器進行調試。目前，普遍的寄存器調試工具只提供了簡單的寄存器讀寫、寄存器說明或者寄存器批量讀寫等操作，在問題定位上主要依靠調試者的經驗和知識。在現有技術下，寄存器調試工具只提供了調試操作，但是沒有對寄存器調試結果進行直觀的顯示。調試者調試晶片中的寄存器時，如果經驗不夠豐富，對很多問題不夠熟悉，那麼就很難快速、準確地定位問題所在。
發明內容
本發明的目的是針對現有技術的缺陷，提供一種寄存器調試方法及裝置，從而直觀地顯示出晶片當前的工作狀態和需要對比的工作狀態之間的差別，快速、準確地定位問題所在。一方面，本發明提供了一種寄存器調試方法，所述寄存器調試方法包括將需要比對的第一寄存器數據存儲到緩存中，並且將該第一寄存器數據顯示在顯示窗中；讀取寄存器中的第二寄存器數據；對比所述第二寄存器數據和從所述緩存讀取的第一寄存器數據，如不同則在所述顯示窗中突出顯示所述第二寄存器數據。另一方面，本發明還提供了一種寄存器調試裝置，所述寄存器調試裝置包括存儲單元，用於將需要比對的第一寄存器數據存儲到緩存中，並且將該第一寄存器數據顯示在顯示窗中；讀取單元，用於讀取寄存器中的第二寄存器數據；比對單元，用於對比所述第二寄存器數據和從所述緩存讀取的第一寄存器數據， 如不同則在所述顯示窗中突出顯示所述第二寄存器數據。本發明實施例的寄存器調試方法和裝置通過調試裝置的視圖來直觀地顯示出晶片當前的工作狀態和需要對比的工作狀態之間的差別。通過這種直觀的界面提示，可以提高定位問題的速度，找到解決問題的最佳途徑。
圖1為本發明的寄存器調試方法實施例一的方法流程圖；圖2為本發明的寄存器調試方法實施例二的方法流程圖；圖3為本發明的寄存器調試方法實施例三的方法流程圖；圖4為本發明的寄存器調試方法實施例四的方法流程圖5為本發明的寄存器調試的一個實施例示意圖；圖6為本發明的寄存器調試裝置實施例的示意圖；圖7為本發明的寄存器調試裝置的顯示窗示意圖。
具體實施例方式本發明實施例中，調試裝置將寄存器按地址順序在顯示窗中進行排列顯示。將將需要比對的第一寄存器數據存儲到緩存中，並且將該第一寄存器數據顯示在顯示窗中，讀取寄存器中的第二寄存器數據，對比所述第二寄存器數據和從所述緩存讀取的第一寄存器數據，如不同則在所述顯示窗中突出顯示所述第二寄存器數據。本發明實施例藉助直觀的彩色標識界面顯示出了結果差異，直觀地顯示和定位出目前晶片工作狀態和需要對比的工作狀態之間的差別，從而迅速定位問題所在，極大地提高問題定位速度和問題解決速度下面通過附圖和實施例，對本發明的技術方案做進一步的詳細描述。圖1為本發明的寄存器調試方法實施例一的方法流程圖，具體包括如下步驟步驟110，將本地寄存器配置文件作為第一寄存器數據讀入緩存，並將該第一寄存器數據以相同的顏色顯示在調試裝置的顯示窗中。所述第一寄存器數據為寄存器的目標工作狀態。將第一寄存器數據讀入緩存是為了讓調試裝置在調試寄存器時，能夠更加快速地讀取第一寄存器數據。步驟120，讀取寄存器中的第二寄存器數據。所述第二寄存器數據為寄存器的當前工作狀態。步驟130，對比所述第二寄存器數據和從所述緩存讀取的第一寄存器數據。比對結果若相同，則執行步驟141，若不相同，則執行步驟142。根據比對結果，即可知道晶片寄存器的當前工作狀態與目標工作狀態之間的差異，從而確定晶片的工作是否存在問題，並定位出存在問題的寄存器。步驟141，如果步驟130比對出的結果為相同，則保持顯示窗中的第一寄存器數據及背景色不變。步驟142，如果步驟130比對出的結果為不相同，則在所述顯示窗中突出顯示所述第二寄存器數據，即將比對結果不一致的第二寄存器數據高亮和/或變色顯示在所述顯示窗中；或將比對結果不一致的所述第二寄存器數據背景色高亮和/或變色顯示在所述顯示窗中。步驟150，將第二寄存器數據存入緩存中作為寄存器的目標工作狀態，以備下一次調試使用。圖2為本發明的寄存器調試方法實施例二的方法流程圖，具體包括如下步驟步驟210，將上一次讀取的所述寄存器的第二寄存器數據作為第一寄存器數據讀入緩存，並將該數據顯示在顯示窗中。上一次讀取的所述寄存器的第二寄存器數據可以作為寄存器的目標工作狀態。步驟220，再次讀取寄存器中的第二寄存器數據。此次讀取的第二寄存器數據可以作為寄存器的當前工作狀態。步驟230，將第二寄存器數據與從緩存讀取中的第一寄存器數據做對比。比對結果若相同，則執行步驟對1，若不相同，則執行步驟對2。根據比對結果，即可知道晶片寄存器的當前工作狀態與目標工作狀態之間的差異，從而確定晶片的工作是否存在問題，並定位出存在問題的寄存器。步驟M1，如果步驟230比對出的結果為相同，則保持顯示窗中的第一寄存器數據及背景色不變。步驟M2，如果步驟230比對出的結果為不相同，則在所述顯示窗中突出顯示所述第二寄存器數據，即將比對結果不一致的第二寄存器數據高亮和/或變色顯示在所述顯示窗中；或將比對結果不一致的所述第二寄存器數據背景色高亮和/或變色顯示在所述顯示窗中。步驟250，將第二寄存器數據存入緩存中作為寄存器的目標工作狀態，以備下一次調試使用。圖3為本發明的寄存器調試方法實施例三的方法流程圖，具體包括如下步驟步驟310，將目前緩存中的數據作為寫入寄存器，並將寫入寄存器的數據顯示在顯示窗中。緩存中的數據作為第一寄存器數據，可以作為寄存器的目標工作狀態。步驟320，讀取寄存器中的第二寄存器數據。讀取的第二寄存器數據可以作為寄存器的當前工作狀態。步驟330，將第二寄存器數據與從緩存中讀取的第一寄存器數據做對比。比對結果若相同，則執行步驟341，若不相同，則執行步驟342根據比對結果，即可知道晶片寄存器的當前工作狀態與目標工作狀態之間的差異，從而確定晶片的工作是否存在問題，並定位出存在問題的寄存器。步驟341，如果步驟330比對出的結果為相同，則保持顯示窗中的第一寄存器數據及背景色不變。步驟342，如果步驟330比對出的結果為不相同，則在所述顯示窗中突出顯示所述第二寄存器數據，即將比對結果不一致的第二寄存器數據高亮和/或變色顯示在所述顯示窗中；或將比對結果不一致的所述第二寄存器數據背景色高亮和/或變色顯示在所述顯示窗中。步驟350，將第二寄存器數據存入緩存中作為寄存器的目標工作狀態，以備下一次調試使用。圖4為本發明的寄存器調試方法實施例四的方法流程圖。實施例一至實施例三中，當比對結果不一致時，都是將比對結果不一致的第二寄存器數據高亮和/或變色顯示在所述顯示窗中；或將比對結果不一致的所述第二寄存器數據背景色高亮和/或變色顯示在所述顯示窗中。如果要更加直觀地看出比對結果不一致的寄存器數目的多少，可以在調試裝置中設置一個計數器，使用該計數器對比對結果不一致的寄存器進行計數。當計數大於某個值時，以一種方式突出顯示比對結果不一致的第二寄存器數據，如將比對結果不一致的第二寄存器的背景色設置為紅色。當計數小於某個值時， 可以以另外一種方式突出顯示比對結果不一致的第二寄存器數據，如將比對結果不一致的第二寄存器的背景色設置為黃色。另外，調試者可以根據自己的需要，自主設置計數值大於或者小於哪個值時，以哪種方式突出顯示比對結果不一致的第二寄存器數據。圖4給出了根據比對結果，對寄存器背景色進行設置的方法流程圖，具體步驟如下當寄存器比對結果一致時，保持第一寄存器數據和背景色不變。當有寄存器比對結果不一致時，使用計數器計數比對結果不一致的寄存器，當計數大於η時，將比對結果不一致的寄存器設置為一種顏色，如紅色。當計數小於等於η時， 將比對結果不一致的寄存器設置為一種顏色，如黃色。這樣，當看到比對結果不一致的寄存器的背景色時，就可以知道比對結果不一致的寄存器有多少，非常直觀。圖5為本發明的寄存器調試的一個實施例的示意圖，如圖5所示，調試工具主要包括以下模塊模塊510，通信模塊可以直接與晶片中的調試單元進行通信。通過通信模塊，調試工具向晶片的控制單元發送讀取寄存器數據或者寫入寄存器的命令，晶片的調試單元接到此命令後，執行讀取寄存器或者寫入寄存器的操作，並且將結果返回給調試工具的調試單元。通信單元在接收到調試工具返回的操作結果後，將結果發送給顯示模塊。在接收到調試控制模塊的命令後，將數據發送給運算模塊。模塊520，顯示模塊接收到通信單元發送的數據後，將數據顯示在顯示窗中。顯示模塊在接收到運算模塊發送過來的比對結果後，根據比對結果，設置寄存器的背景色。模塊530，運算模塊在接收到調試控制模塊的比對命令後，將通信單元發送過來的兩次數據做比對，並且將比對結果發送給顯示模塊。模塊Μ0，調試控制模塊用於控制調試的整個流程。調試控制模塊在接收到調試者的調試操作後，給給通信模塊、顯示模塊、運算模塊發送不同的操作命令，使各個模塊正常運行，完成整個調試過程。圖6為本發明的寄存器調試裝置實施例的示意圖，如圖6所示單元610為存儲單元，用於將需要比對的第一寄存器數據存儲到緩存中，並且將該第一寄存器數據顯示在顯示窗中。存儲單元具體將需要比對的本地寄存器配置文件存儲到緩存中；或將上一次讀取所述寄存器的第二寄存器數據存儲到緩存中；或將準備寫入所述寄存器中的第二寄存器數據存儲到緩存中。存儲單元還用於將從所述寄存器中讀取的第二寄存器數據作為需要比對的第一寄存器數據存儲到緩存中單元620為讀取單元，用於讀取寄存器中的第二寄存器數據；單元630為比對單元，用於對比所述第二寄存器數據和從所述緩存讀取的第一寄存器數據，如不同則在所述顯示窗中突出顯示所述第二寄存器數據。比對單元具體利用計數器計數比對結果不一致的寄存器的數量，根據計數結果，將所述比對結果不一致的第二寄存器數據高亮和/或變色顯示在所述顯示窗中；或將所述比對結果不一致的第二寄存器數據背景色高亮和/或變色顯示在所述顯示窗中圖7為本發明的寄存器調試裝置的顯示窗示意圖，如圖7所示在調試裝置的顯示窗中，寄存器按地址順序進行排列顯示，首先將本地寄存器配置文件讀入緩存，並將讀入的數據以綠色背景顯示在顯視窗中。然後讀取寄存器，並將讀取的數據顯示在顯示窗中。比對本次讀取的數據和緩存中的數據，如果一致則保持寄存器綠色背景不變，如地址為10-53和56-5e的寄存器。如果數據有差別，就將寄存器背景色設置為粉紅色以示區別，如地址為OO-Of和M-55的寄存器。這樣就可以直觀的顯示出目前晶片工作狀態和需要對比的工作狀態之間，地址為OO-Of和M-55的寄存器數據比對結果不一致，數據發生了變化。專業人員應該還可以進一步意識到，結合本文中所公開的實施例描述的各示例的單元及算法步驟，能夠以電子硬體、計算機軟體或者二者的結合來實現，為了清楚地說明硬體和軟體的可互換性，在上述說明中已經按照功能一般性地描述了各示例的組成及步驟。 這些功能究竟以硬體還是軟體方式來執行，取決於技術方案的特定應用和設計約束條件。 專業技術人員可以對每個特定的應用來使用不同方法來實現所描述的功能，但是這種實現不應認為超出本發明的範圍。結合本文中所公開的實施例描述的方法或算法的步驟可以用硬體、處理器執行的軟體模塊，或者二者的結合來實施。軟體模塊可以置於隨機存儲器(RAM)、內存、只讀存儲器 (ROM)、電可編程ROM、電可擦除可編程ROM、寄存器、硬碟、可移動磁碟、CD-ROM、或技術領域內所公知的任意其它形式的存儲介質中。以上所述的具體實施方式
，對本發明的目的、技術方案和有益效果進行了進一步詳細說明，所應理解的是，以上所述僅為本發明的具體實施方式
而已，並不用於限定本發明的保護範圍，凡在本發明的精神和原則之內，所做的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發明的保護範圍之內。
權利要求
1.一種寄存器調試方法，其特徵在於，所述寄存器調試方法包括將需要比對的第一寄存器數據存儲到緩存中，並且將該第一寄存器數據顯示在顯示窗中；讀取寄存器中的第二寄存器數據；對比所述第二寄存器數據和從所述緩存讀取的第一寄存器數據，如不同則在所述顯示窗中突出顯示所述第二寄存器數據。
2.如權利要求1所述的寄存器調試方法，其特徵在於，所述將需要比對的第一寄存器數據存儲到緩存中具體為，將需要比對的本地寄存器配置文件存儲到緩存中；或將上一次讀取所述寄存器的第二寄存器數據存儲到緩存中；或將準備寫入所述寄存器中的第二寄存器數據存儲到緩存中。
3 如權利要求1所述的寄存器調試方法，其特徵在於，如不同則所述在所述顯示窗中突出顯示所述第二寄存器數據具體為，利用計數器計數比對結果不一致的寄存器的數量， 根據計數結果，在所述顯示窗中突出顯示所述第二寄存器數據。
4.如權利要求3所述的寄存器調試方法，其特徵在於，所述在所述顯示窗中突出顯示所述第二寄存器數據具體為，將所述第二寄存器數據高亮和/或變色顯示在所述顯示窗中；或將所述第二寄存器數據背景色高亮和/或變色顯示在所述顯示窗中。
5.如權利要求1所述的寄存器調試方法，其特徵在於，所述對比所述第二寄存器數據和從所述緩存讀取的第一寄存器數據之後還包括將從所述寄存器中讀取的第二寄存器數據作為需要比對的第一寄存器數據存儲到緩存中。
6.一種寄存器調試裝置，其特徵在於，所述寄存器調試裝置包括存儲單元，用於將需要比對的第一寄存器數據存儲到緩存中，並且將該第一寄存器數據顯示在顯示窗中；讀取單元，用於讀取寄存器中的第二寄存器數據；比對單元，用於對比所述第二寄存器數據和從所述緩存讀取的第一寄存器數據，如不同則在所述顯示窗中突出顯示所述第二寄存器數據。
7.如權利要求6所述的寄存器調試裝置，其特徵在於，所述存儲單元具體將需要比對的本地寄存器配置文件存儲到緩存中；或將上一次讀取所述寄存器的第二寄存器數據存儲到緩存中；或將準備寫入所述寄存器中的第二寄存器數據存儲到緩存中。
8.如權利要求6所述的寄存器調試裝置，其特徵在於，所述比對單元具體利用計數器計數比對結果不一致的寄存器的數量，根據計數結果，在所述顯示窗中突出顯示所述第二寄存器數據。
9.如權利要求8所述的寄存器調試裝置，其特徵在於，所述比對單元具體將所述第二寄存器數據高亮和/或變色顯示在所述顯示窗中；或將所述第二寄存器數據背景色高亮和 /或變色顯示在所述顯示窗中。
10.如權利要求6所述的寄存器調試裝置，其特徵在於，所述存儲單元還用於將從所述寄存器中讀取的第二寄存器數據作為需要比對的第一寄存器數據存儲到緩存中。
全文摘要
本發明涉及一種寄存器調試方法及裝置。本發明首先將需要比對的第一寄存器數據存儲到緩存中，並且將該第一寄存器數據顯示在顯示窗中；然後讀取寄存器中的第二寄存器數據；對比所述第二寄存器數據與從所述緩存中讀取的第一寄存器數據，如不同則在所述顯示窗中突出顯示所述第二寄存器數據。本發明通過直觀的顏色標識，可以使晶片問題定位更加迅速，調試速率成倍提高，能夠廣泛應用於晶片設計及調試領域。
文檔編號G06F11/22GK102360325SQ20111028837
公開日2012年2月22日 申請日期2011年9月26日 優先權日2011年9月26日
發明者周全 申請人:青島海信信芯科技有限公司