監控物理量的方法和電路布置的製作方法

2023-08-13 22:07:11

專利名稱：監控物理量的方法和電路布置的製作方法
技術領域：
本發明涉及監控物理量的一種電路布置和方法，其中尤其是在電信設備上應用的物理量，以及診斷按照本發明的電路布置的一種方法。
對於數字部件，電源電壓通過電壓監控模塊來監控。如果電源電壓理論值的偏差達到或超過一定的閾值，則電壓監控模塊引發整個數字部件的復位，以下稱接通電源的復位，以便阻止不確定的邏輯-狀態。同樣，在接通電源電壓時，整個數字部件用一個接通電源的復位-信號負責，其作用是使數字部件只有在規定的時間之後或電源電壓達到穩定狀態時才進入運行狀態。
對於對故障安全性有一定最低要求的系統，通常的是藉助於內置或外部的機構、以規律性的時間間隔和/或按操作要求，在不斷的運行中進行診斷或自檢，一般稱為在線診斷。希望也將電壓監控模塊納入到該在線診斷中，因為正是這些模塊有相對高的故障概率，即電壓監控模塊有相對高的FIT Rate-Failure in Time Rate(故障率)。
如果在電壓監控模塊的在線診斷範圍內要測試具體功能的話，就是說通過在電壓監控模塊相應信號輸入端的輸入來模擬例如電源電壓波動，電壓監控模塊何以產生一個激活的接通電源的復位-信號，則該接通電源的復位-信號同樣導致部件整個邏輯包括位於其上的處理器的復位。這些處理器之一，通常情況在整個診斷過程的範圍內是作為一個測試步驟來引發電壓監控測試。因為該測試如同例如接通電源電壓或電源電壓劇烈波動一樣被引發，對於處理器來說就很難區分是部件剛剛被接通-「真的」接通電源的復位-還是電壓監控模塊的一個測試-「模擬的」接通電源的復位-對接通電源的復位負責。
其次，與部件啟動過程的接通電源的復位銜接。如果例如大的存儲範圍要格式化或大的數據量要從慢慢非易失存儲器加載到工作存儲器，該啟動過程或部件在接通電源的復位後啟動就需要有一個不小的時間間隔。
此問題的眾所周知的解決辦法是應用一個存儲寄存器，例如靜態RAM存儲器，它不會因無斷電的純復位而被清除，以便在「真」和「模擬」接通電源的復位進行區分。該寄存器在每次接通電源的復位後被讀區。這區分為三種情況-在存儲寄存器中有「測試-數據模式」。
這是在此位置繼續下去的在線診斷範圍內「模擬」接通電源復位的標誌。
-在存儲寄存器中有「運行-數據模式」。
這是」真」復位的標誌，它例如由於通過電壓監控模塊的電壓波動或通過部件復位而引發。
-在存儲寄存器中既無「測試-數據模式」又無「運行-數據模式」。這是接通電源電壓後」真」接通電源復位的標誌。處理器立即用「運行數據模式」寫滿寄存器，實現通常的部件-啟動。
然而這三種情況的區分，例如受物理效應的限制，不是在所有情況都是明確唯一的。例如沒有規定靜態RAM存儲器在無工作電壓時還保持數據模式多久。能發生這種情況，即雖然部件已經切斷了較長時間，甚至是數分鐘，存儲寄存器還保持著「運行-數據模式」。也能有這種情況，即「測試-數據模式」已經寫入存儲寄存器，復位不是通過測試信號，而是通過一個偶然出現的電壓波動被引發，不能從這些情況中區分出復位是通過測試信號引發的。
本發明的任務是，改進已知的監控物理量的方法和電路布置。
這些任務通過權利要求1以及9來解決。
優選的實施型是與權利要求有關的對象。
按照本發明，通過電路布置來解決任務，其中包括-第一監控模塊RG1去監控至少一個物理量U1、U2，採用傳輸信號的措施在被監控的物理量U1、U2從其預設的理論值範圍偏差時，經第一輸出信號線路裝置PON_RES1_L_I向分析電路A和第一輸入信號線路裝置PON_TEST1_L_O去輸入第一測試信號，此時就像通過被監控的物理量從其理論值範圍的偏離那樣，通過第一測試信號能產生第一監控模塊RG1的相同的狀態交換，-至少一個另外的監控模塊RG2去監控至少一個物理量U1、U2，藉助傳輸信號的措施在被監控的物理量U1、U2從其預設的理論值範圍偏離時，經另外輸出信號線路裝置PON_RES2_L_I向分析電路A和另外的輸入信號線路裝置PON_TEST2_L_O去輸入另外的測試信號，此時就像通過被監控的物理量與其理論值範圍的偏差那樣，通過另外的測試信號能產生其它監控模塊RG2的相同的狀態交換，-屬於分析電路A的連接元件V1，用於將經第一輸出信號線路裝置PON_RES1_L_I和另外輸出信號線路裝置PON_RES2_L_I傳輸信號連接為由此產生的輸出信號PON_RES，-屬於分析電路A的第一寄存器裝置RTR，用於將在第一輸入信號線路裝置PON_TEST1_L_O上的第一測試信號和在另外輸入信號線路裝置PON_TEST2_L_O上的第二測試信號分開施加，此時第一寄存器裝置RTR包括從控制單元S接受控制信息(SI)的元件。
-屬於分析電路A的第二寄存器裝置RIR，它們連接到第一輸出信號線路裝置PON_RES1_L_I和另外輸出信號線路裝置PON_RES2_L_I並包括傳輸狀態信息ZI到控制單元S的元件。
-屬於分析電路A的控制單元S，包括用於分析第二寄存器裝置RIR狀態信息ZI的元件和發送控制信息SI到第一寄存器裝置RTR上的元件。
該改進後的電路布置的一個主要優點在於，監控通過至少兩個獨立的監控模塊RG1、RG2進行，這樣通過適當選擇分析電路A的連接元件V1，與只用一個監控模塊的電路布置相比，就達到了改進的結果。尤其有可能的是，對至少兩個獨立的監控模塊RG1、RG2進行互不相關的測試。與已知的解決辦法相比，有了顯著優點，即不用引發包括測試邏輯和診斷邏輯在內的整個數字部件的復位或置零，就能測試監控模塊RG1、RG2。
還有的優點是，監控模塊的信號藉助於邏輯「與」功能來連接-權利要求2。這樣，只有一個通過至少兩個監控模塊RG1、RG2同時確定的狀態，能為數字部件產生一個有效的復位-信號PON_RES。監控模塊之一的單個復位-信號在該模塊的測試範圍內，不引發整個數字部件的復位。
為了確保分析電路A的可靠性和檢測故障，將分析電路納入到高一級單元的自檢-或診斷策略-權利要求3和4。尤其是對於專門用途的集成的電路，所謂的ASICs，提供有以內置自檢(Bilt-in SelfTest)形式的方法和電路技術的實現，這些都能以簡單的方式應用到分析電路A或分析電路A的部分上-權利要求4。
電路布置適用於對所有物理量的監控，對於這些物理量，例如出自安全原因或為了避免部件受損以及為了測試相應的監控模塊，偏離理論值範圍就要求復位-權利要求5。
監控電壓、電流和溫度對於電子部有特殊的意義-權利要求6。在對電壓監控的情況下就能避免不確定的邏輯狀態。如果監控電流和/或溫度，能通過中斷運行避免由於過高的損耗功率造成的損壞。
在電子邏輯部件中，通常出現兩個給邏輯模塊供電的電壓U1、U2，按照權利要求7，這兩個電壓由相應的兩個監控模塊監控。
對於用高脈衝頻率驅動的脈衝的電子邏輯部件，要求在激活電路邏輯之前達到穩定的脈衝狀態。按照權利要求8，經不同的輸出信號線路裝置設置帶各自時間特性曲線的復位-信號，這樣相對於取消為脈衝產生的電路部分的復位-信號，就有可能取消為電路邏輯的復位-信號。
對監控模塊RG1、RG2進行測試，在這種情況下-第一步通過控制裝置S選擇第一監控模塊RG1，-第二步將此選擇所代表的控制信息SI傳輸給第一寄存器裝置RTR，-第三步藉助於第一輸入信號線路裝置PON_TEST1_L_O將測試信號傳輸給監控模塊RG1，-第四步由第二寄存器裝置RIR產生的、代表輸出信號線路裝置PON_RES1_L_I、PON_RES2_L_I信號的狀態信息ZI，通過控制裝置S被接受並檢測第一輸出信號線路裝置PON_RES1_L_I的信號是否是一個有效的復位-信號和置零信號，另外的輸出信號線路裝置PON_RES2_L_I是否是任意一個有效的、不同於復位-信號的信號，-第五步可預置的時間間隔終結後隨著在第四步中有效復位-信號的確定而開始，終結之後通過控制裝置S查驗，第一輸出信號線路裝置PON_RES1_L_I的信號是否返回到任意有效的、不同於復位-信號的信號。
-對於所有其它監控模塊RG2，將第一步至第五步相應進行重複。
藉助於此方法，就能有利地使用按照本發明的電路布置，以便互不相關地測試至少兩個獨立的RG1、RG2。由此與已知的解決辦法相比，主要的優點達到了，即不用引發包括測試邏輯和診斷邏輯在內的整個數字部件的復位，就能測試監控模塊RG1、RG2。
以下將按照本發明的電路布置和按照本發明的方法以兩張圖作為

圖1是按照本發明的電路布置的示意圖，依據它闡明本發明用於監控物理量的原理，在此涉及的物理量是電壓U1。
圖2是按照本發明的電路布置監控兩個電壓U1、U2應用的示意圖。
圖1中示出的是被監控的電壓U1，它由第一接通電源的復位-發生器RG1(以下稱電壓監控模塊RG1)和第二接通電源的復位-發生器RG2(以下稱電壓監控模塊RG2)來監控。在電壓U1與預設的理論值範圍有偏差時，例如額定值5V時允許偏差為額定值的±5％，第一電壓監控模塊RG1在第一復位-線路PON_RES1_L_I(用於Power-on_Reset1_Low-active_Input)產生一個復位-信號，該線路是第一電壓監控模塊RG1的輸出線路； 第二電壓監控模塊RG2在第二復位-線路PON_RES2_L_I(用於Power-on_Reset2_Low-active_Input)產生一個復位-信號，該線路是第二電壓監控模塊RG2的輸出線路。
第一電壓監控模塊RG1包括一個輸入線路PON_TEST1_L_O(用於Power-on_Test1_Low-active_Output)，經過它可將第一測試信號輸入到第一電壓監控模塊RG1中。第一測試信號輸入到第一電壓監控模塊RG1中，導致電壓監控模塊RG1的自檢，通過該自檢將一個有效的復位-信號輸出到第一復位-線路PON_RES1_L_I上。
第二電壓監控模塊RG2包括一個輸入線路PON_TEST2_L_O(用於Power-on_Test2_Low-active_Output)，經過它可將第二測試信號輸入到第二電壓監控模塊RG2中。第二測試信號輸入到第二電壓監控模塊RG2中，導致電壓監控模塊RG2的自檢，通過該自檢將一個有效的復位-信號輸出到第二復位-線路PON_RES2_L_I上。
在正常運行狀態，就是說被監控的電壓U1在預設的理論值範圍之內且沒有測試信號經輸入線路PON_TEST1_L_O、PON_TEST2_L_O輸入到電壓監控模塊RG1、RG2，輸出到復位線路PON_RES1_L_I、PON_RES2_L_I的是與復位-信號不同的信號。一個在復位-線路上不同於復位-信號的信號普通形式，是持續高電平代表的邏輯狀態「1」，而一個活性復位-信號是較低電平代表的邏輯狀態「0」。信號線路的這個特性也被稱作為「Low-Aktiv」。按照本發明的電路布置，可將復位-線路PON_RES1_L_I、PON_RES2_L_I上的信號毫無困難地應用到其它形式上。
復位-線路PON_RES1_L_I、PON_RES2_L_I的信號是分析電路A上的輸入信號，而電壓監控模塊RG1、RG2的輸入線路PON_TEST1_L_O、PON_TEST2_L_O的信號是分析電路A的輸出信號。
按照本發明，分析電路A包括至少四個元件，這四個元件能任意組合。這四個元件的具體情況如下-連接電路V1，將第一復位-線路PON_RES1_L_I和第二復位-線路PON_RES2_L_I的信號作為輸入信號，將一個藉助於邏輯「與」功能形成的合成復位-信號PON_RES作為輸出信號，-復位-標記-寄存器RIR，中間存儲第一復位-線路PON_RES1_L_I和第二復位線路PON_RES2_L_I的信號，並包括用於此目的存儲單元的相應個數，-復位-測試-寄存器RTR，將分離的信號施加到電壓監控模塊RG1、RG2的入口線路PON_TEST1_L_O、PON_TEST2_L_O上，-控制S，將控制信息SI發送到復位-標記-寄存器RIR，從復位-標記-寄存器RIR讀出狀態信息並控制電壓監控模塊RG1、RG2的診斷。
分析電路A在這種情況能是部件的組成部分-未示出。根據按本發明電路布置的有利擴展，能將分析電路A納入到部件的診斷中。控制S就同時控制另外的、控制部件其它功能單元診斷的診斷控制，或者控制S通過集中控制來控制-未示出。
分析電路A可以是現代化專用集成電路-application specificintegrated circuit ASIC-未示出。為了確保分析電路A的可靠性，從而尤其是連接電路V1的可靠性以及整個系統的高可實用性，就將分析電路A全部或部分包括到ASIC的內置自檢方法BIST中，這在技術上是眾所周知的-未示出。
按照本發明監控電壓U1的方法，以上面已經說明的步驟在控制S中進行。
關於圖2，下面指明的是與圖1有關的、本發明對語音交換系統中處理器的存儲部件所闡明的學說的應用。
圖2指出了第一要監控的電壓U1和第二要監控的電壓U2，兩者由第一電壓監控模塊RG1和第二電壓監控模塊RG2監控。對於典型的邏輯部件，例如能用額定值為2.5伏和3.3伏以及相應所屬的第一和第二理論值範圍監控第一電壓U1和第二電壓U2。
不是每個只有一個復位-線路，而是兩個電壓監控模塊RG1、RG2的每個都有兩個復位-線路。當第一電壓U1與所屬的第一理論值範圍或第二電壓U2與所屬的第二理論值範圍有偏差時以及在接通電源電壓時，第一電壓監控模塊RG1在第一復位-線路PON_RES1_L_I和一條第三復位-線路PLL_Rest1_L_I(用於PLL_RESET1_Low-active_Input)上產生一個復位-信號，這兩個線路是電壓監控模塊RG1的兩個出口線路。以同樣方式，第二電壓監控模塊RG2在第一電壓U1與所屬的第一理論值範圍或第二電壓U2與所屬的第二理論值範圍有偏差時以及在接通電源電壓時，在第二復位-線路PON_RES2_L_I和一條另外的復位-線路上產生一個復位-信號，該另外的復位-線路總共供給三個復位-線路信號一條第四復位-線路PLL_RES2_HSA_L_I(用於PLL_Reset2_HighSpeedDlockDomainA_Low-active_Input)、一條第五復位-線路PLL_RES2_HSB_L_I(用於PLL_Rese2_HighSpeedClockDomainB_Low-active_Input)和一條第六個復位-線路PLL_RES2_75__L_I(用於PLL_Reset2_75MhzClockDomain_Low-active_Input)。
出自電路技術考慮，對於這個實施例要求將復位-信號就像下面闡述的那樣總共分配到六個復位-線路上。電壓監控和產生接通電源的復位-信號是為一個模塊ACMY(ASIC forCommonMemory)而進行，ACMY是一個高度複雜的ASIC，它也有三個不同脈衝範圍，通過三個-未示出-單獨的相位調節環PLL(鎖相環)控制。用於這些PLL的復位-信號通過下面的四個復位-線路來提供第三復位-線路PPL_RES1_L_I、第四復位-線路PLL_RES2_HSA_L_I、第五復位-線路PLL_RES2_HSB_L_I和第六個復位-線路PLL_RES1_75_L_I，而第一復位-線路PON_RES1_L_I和第二復位-線路PON_RES2_L_I提供用於通過三個PLL發出脈衝的電路邏輯的復位-信號。
一旦脈衝狀態穩定，就要把電路邏輯置於它的運行狀態。為了達到這種情況，要使電路邏輯通過在第一復位-線路PON_RES1_L_I和第二復位-線路PON_RES2_L_I上延長了的復位-信號，與其它四個復位-線路的復位-信號相比，比三個PLL晚一些激活。
三個PLL要用不同的復位-信號照管。這對測試PLL提供了優點，因為這樣就有可能使每個PLL以及由PLL照管的脈衝範圍單獨進行測試。在按照本發明電路布置上發生的作用也只是就此而言，第二電壓監控模塊RG2的PLL-復位-信號總共供給復位-線路第四復位-線路PLL_RES2_HAS_L_I、第五復位-線路PLL_RES2_HAS_L_I和第六個復位-線路PLL_RES2_75_L_I。
第一電壓監控模塊RG1，如已經與圖1的關係中闡明的那樣，表明有第一入口線路PON_TEST1_L_O，經此線路第一測試信號可輸入給第一電壓監控模塊RG1。第一測試信號輸入到第一電壓監控模塊RG1中，導致電壓監控模塊RG1的自檢，通過它一個有效的復位-信號相應地輸出到第一復位-線路PON_RES1_L_I和第二復位-線路PLL_RES1_L_I上。
此外第一電壓監控模塊RG1還表明有第三入口線路，它與中央復位-線路MAN_RESET_L連接。該中央復位-線路，例如與一臺手動引發復位的設備相連接。經與中央復位-線路連接的第三輸入線路向第一電壓監控模塊RG1輸入一個有效的復位-信號，導致相應的向第一復位-線路PON_RES1_L_I和第三復位-線路PLL_RES1_L_I上輸出有效復位信號。
第二電壓監控模塊RG2，如已經與圖1的關係中闡明的那樣，表明有第二入口線路PON_TEST2_L_O，經此線路第二測試信號可輸入給第二電壓監控模塊RG2。第二測試信號輸入到第二電壓監控模塊RG2中，導致電壓監控模塊RG2的自檢，通過它一個有效的復位-信號相應地輸出到第二復位-線路PON_RES2_L_I、第四復位-線路PLL_RES2_HSA_L_I、第五復位-線路PLL_RES2_HSB_L_I和第六個復位-線路PLL_RES2_75_L_I上。
此外第二電壓監控模塊RG2還表明有第四入口線路，它與中央復位-線路MAN_RESET_L連接。經與中央復位-線路連接的第四輸入線路向第二電壓監控模塊RG2輸入一個有效的復位-信號，導致相應的向第二復位-線路PON_RES2_L_I、第四復位-線路PLL_RES2_HSA_L_I、第五復位-線路PLL_RES2_HSB_L_I和第六個復位-線路PLL_RES2_75_L_I上輸出有效復位信號。
所說的六個復位-線路是ASIC ACMY的入口線路，從它那裡只表明了為電壓監控和其測試所要求的元件。第一電壓監控模塊RG1的第一入口線路PON_TEST1_L_I和第二電壓監控模塊RG2的第二入口線路PON_TEST2_L_I是ASIC ACMY的出口線路。
這六個復位-線路，在ASIC ACMY之內，與四個提供四個生成復位-信號的連接元件如下列方式連接-第一復位-線路PON_RES1_L_I的信號和第二復位-線路PON_RES2_L_I的信號，在第一連接元件V1中，連接成第一生成的復位-信號PON_RES。
-第三復位-線路PLL_RES1_L_I的信號和第四復位-線路PLL_RES2_HSA_L_I的信號，在第二連接元件V2中，連接成第二生成的復位-信號PLL_RES1。
-第三復位-線路PLL_RES1_L_I的信號和第五復位-線路PLL_RES2_HSB_L_I的信號，在第三連接元件V3中，連接成第三生成的復位-信號PLL_RES2。
-第三復位-線路PLL_RES1_L_I的信號和第六個復位-線路PLL_RES2_75_L_I的信號，在第四連接元件V4中，連接成第四生成的復位-信號PLL_RES3。
此外，六個復位-線路在ASIC ACMY之內，與復位-標誌-寄存器RIR的入口連接，它與圖1的區別在於有相應的六個入口和較大數量的存儲單元供使用。這在圖2中用圖示給出。復位-標誌-寄存器，如圖1所示，與控制S相連接，這在圖2中沒有詳細表示出。
ASIC ACMY的輸出線路(第一輸入線路PON_TEST1_L_O和第二輸入線路PON_TEST2_L_O)，在ASIC ACMY之內與圖1的復位-測試-寄存器RTR相連接-未表示出。復位-測試-寄存器RTR與控制S相連接-未表示出。
按照圖2的電路布置的測試方法，與按照圖1所闡述的電路布置的測試方法相符合，在步驟四和五有修正。修正涉及的情況是，按照圖2的電路布置，對於第一電壓監控模塊RG1表明有兩個復位-線路，對於第二電壓監控模塊RG2表明有四個復位-線路。與此相應的是，在方法的步驟四和五中要考慮兩個或四個復位-線路，它們在各種時間間隔過去之後又返回到任意有效的、與復位-信號有別的信號，即在步驟五中，要為相同模塊的不同復位-線路設置不同的時間間隔。
在優先選擇的實施例中使用的連接元件V1、V2、V3和V4，使以有效復位-信號為基礎的邏輯「與」功能成為現實。因為有效復位-信號能用邏輯狀態「0」來代表，例如在低活性的信號線路情況，在電路設計時就必須選擇相應於現有入口的信號和所希望的出口信號的電路技術現實。為了實現邏輯功能設計電路邏輯和電路布置的方法，例如對於低活性邏輯電路，在技術上是眾所周知，這能使本發明毫無困難地適應相應的具體顯示的情況。
權利要求
1.監控物理量(U1、U2)的電路布置，包括-第一監控模塊(RG1)去監控至少一個物理量(U1、U2)，利用傳輸信號的手段在被監控的物理量(U1、U2)從其預設的理論值範圍偏離時，經第一輸出信號線路裝置(PON_RES1_L_I)向分析電路(A)和第一輸入信號線路裝置(PON_TEST1_L_O)去輸入一個第一測試信號，此時就像通過被監控的物理量從其理論值範圍的偏離那樣，通過另外的測試信號能產生第一監控模塊(RG1)的相同的狀態交換，-至少一個另外的監控模塊(RG2)去監控同樣的物理量(U1、U2)，利用傳輸信號的手段在被監控的物理量(U1、U2)從其預設的理論值範圍偏離時，經另外輸出信號線路裝置(PON_RES2_L_I)向分析電路(A)和另外輸入信號線路裝置(PON_TEST2_L_O)去輸入另外的測試信號，此時就像通過被監控的物理量從其理論值範圍的偏離那樣，通過另外的測試信號能產生其它監控模塊(RG2)的相同的狀態交換，-屬於分析電路(A)的連接單元(V1)，用於將經第一輸出信號線路裝置(PON_RES1_L_I)和另外輸出信號線路裝置(PON_RES2_L_I)所傳輸的信號連接為由此產生的輸出信號(PON_RES)，-屬於分析電路(A)的第一寄存器裝置(RTR)，用於分別在第一輸入信號線路裝置(PON_TEST1_L_O)上施加第一測試信號和在第二輸入信號線路裝置(PON_TEST2_L_O)上施加第二測試信號，此時第一寄存器裝置(RTR)包括用於從控制裝置(S)接受控制信息(ZI)的裝置。-屬於分析電路(A)的第二寄存器裝置(RIR)，它們連接到第一輸出信號線路裝置(PON_RES1_L_I)和另外輸出信號線路裝置(PON_RES2_L_I)並包括用於傳輸狀態信息(ZI)到控制裝置(S)的裝置。-屬於分析電路A的控制裝置(S)，包括用於分析第二寄存器裝置(RIR)狀態信息(ZI)的裝置和發送控制信息(SI)到第一寄存器裝置(RTR)上的裝置。
2.如權利要求1的電路布置，其特徵在於連接元件(V1)是一個邏輯「與」功能實現的門電路。
3.如權利要求1或2之一的電路布置，其特徵在於分析電路(A)是部件的一部分，在這裡分析電路(A)是部件診斷對策的組成部分。
4.如權利要求1或2之一的電路布置，其特徵在於分析電路(A)是專用集成電路的部分Application SpecificIntegrated Circuit ASIC，其中，ASIC的集成自檢內置自檢BIST，包括分析電路(A)。
5.如權利要求1至4之一的電路布置，其特徵在於至少一個被監控的物理量(U1、U2)是任意選擇的物理量，當它與預設的理論值範圍有偏差時可產生一個復位信號。
6.如權利要求1至5之一的電路布置，其特徵在於至少一個被監控的物理量(U1)是從電壓、電流和溫度中任意選擇的。
7.如權利要求1至6之一的電路布置，其特徵在於至少一個被監控的物理量是從至少兩個電壓(U1、U2)中任意選擇的，這兩個電壓分別由監控模塊(RG1、RG2)監控。
8.如權利要求1至7之一的電路布置，其特徵在於監控模塊(RG1、RG2)分別指出多個輸出信號線路裝置(PON_RES1_L_I、PLL_RES1_L_I、PON_RES2_L_I、PLL_RES2_HAS_L_I、PLL_RES2_HAS_L_I、PLL_RES2_75_L_I)，經相同監控模塊(RG1、RG2)多個輸出信號線路裝置傳輸的信號分別有各自的時間特性曲線。
9.監控至少一個物理量(U1)的方法，依此-物理量(U1)通過第一監控模塊(RG1)監控，當第一監控模塊(RG1)監控的物理量(U1)與預設的理論值範圍出現偏差時，提供一個經第一輸出信號線路裝置(PON_RES1_L-I)到分析電路(A)的信號，-第一測試信號可經第一輸入信號線路裝置(PON_TEST1_L_O)輸入到第一監控模塊(RG1)，就像被監控的物理量(U1)從其理論值範圍偏離那樣，第一測試信號引起第一監控模塊(RG1)的相同狀態變化。-物理量(U1)通過至少一個另外的監控模塊(RG2)監控，通過監控模塊(RG2)在被監控的物理量(U1)與其預設的理論值範圍有偏差時，經另外的輸出信號線路裝置(PON_RES2_L_I)向分析電路(A)提供信號。-第二測試信號可經另一個輸入信號線路裝置(PON_TEST2_L_O)輸入到另一個監控模塊(RG2)，就像被監控的物理量從其理論值範圍偏離那樣，第二測試信號引起另一個監控模塊(RG2)的相同狀態變化。-經分析電路(A)的第一輸出信號線路裝置(PON_RES！_L_I)和另外輸出信號線路裝置(PON_RES2_L_I)輸送的信號，通過是分析電路(A)組成部分的連接元件(V1)，連接成產生的輸出信號(PON_RES)。-通過分析電路(A)，藉助於第一寄存器裝置(RTR)，可將第一和第二測試信號分別施加到第一輸入信號線路裝置(PON_TEST1_L_O)和第二輸入信號線路裝置(PON_TEST2_L_O)上，此時通過第一寄存器裝置(RTR)分析控制單元(S)的控制信息(SI)。-通過分析電路(A)，藉助於第二寄存器裝置(RIR)，將第一輸出信號線路裝置(PON_RES1_L_I)和另外輸出信號線路裝置(PON_RES2_L_I)的信號分接出來並將狀態信息(ZI)傳輸給控制單元(S)。-通過分析電路(A)，藉助於控制單元(S)，分析第二寄存器裝置(RIR)的狀態信息(ZI)並將控制信息(SI)發送給第一寄存器裝置(RTR)。
10.如權利要求9的方法，其特徵在於進行監控模塊(RG1、RG2)測試，此時-第一步通過控制單元(S)選擇第一監控模塊(RG1)，-第二步將該選擇代表的控制信息(SI)傳輸到第一寄存器裝置(RTR)，-第三步藉助於第一輸入信號線路裝置(PON_TEST1_L_O)將第一測試信號傳輸到第一監控模塊(RG1)，-第四步通過控制單元(S)接受由第二寄存器裝置(RIR)產生的、代表輸出信號線路裝置(PON_RES1_L_I、PON_RES2_L_I)的信號並接著查驗，第一輸出信號線路裝置(PON_RES1_L_I)的信號是否是一個有效的復位-信號或置零信號，另外輸出信號線路裝置(PON_RES2_L_I)的信號是否是一個任意有效的、有別於復位-信號的信號，-第五步在一個可預設的時間間隔過去之後，其過程是隨著在第四步中確定有效復位-信號開始的，通過控制單元(S)查驗，第一輸出信號線路裝置(PON_RES1_L_I)的信號是否回到任意有效的、有別於復位-信號的信號，-第一至第五步要為所有另外監控模塊(RG2)相應地重複一遍。
11.如權利要求9或10之一的方法，其特徵在於在連接元件(V1)中，將經第一輸出信號線路裝置(PON_RES1_L_I)和另外輸出信號線路裝置(PON_RES2_L_I)傳輸給分析電路(A)的信號按照邏輯與-功能連接。
12.如權利要求9至1之一的方法，其特徵在於分析電路(A)被一個其組成部分是分析電路(A)的部件的診斷策略包括。
13.如權利要求9至11之一的方法，其特徵在於用於專用集成電路專用集成電路ASIC的集成自檢內置自檢BIST的方法包括分析電路(A)，所述集成電路的組成部分是分析電路(A)。
14.如權利要求9至13之一的方法其特徵在於至少有一個被監控的物理量(U1)要由任意選擇的物理量構成，對於這些物理量當與預設的理論值範圍有偏差時可產生一個置零信號。
15.如權利要求9至14之一的方法，其特徵在於至少有一個被監控的物理量(U1)由電壓、電流和溫度中任意選擇的一個構成。
16.如權利要求9至15之一的方法，其特徵在於至少有一個被監控的物理量要由至少兩個電壓(U1、U2)中選擇的一個構成，這兩個電壓分別由兩個監控模塊(RG1、RG2)監控。
17.如權利要求9至16之一的方法，其特徵在於通過監控模塊(RG1、RG2)，輸出分別藉助於多個輸出信號線路裝置(PON_RES1_L_I、PLL_RES1_L_I、PLL_RES2_L_I、PLL_RES2_HSA_L_I、PLL_RES2_HSB_L_I、PLL_RES2_75_L_I)的信號，此時經多個相同監控模塊(RG1、RG2)的輸出信號線路裝置傳輸的信號，分別有一個自己的時間特性。
全文摘要
監控物理量，尤其是在電信設備上應用的方法和電路布置。對於數字部件，電源電壓(U1、U2)通過電壓監控模塊(UR1、UR2)來監控。電源電壓(U1、U2)與其預設的理論值範圍有偏差時，電壓監控模塊(RG1、RG2)引發整個數字部件復位，以便阻止難下定義的邏輯－狀態。同樣，在接通電源電壓(U1、U2)時產生一個接通電源的復位－信號，這導致使數字部件在一個確定的時間之後才過渡到運行狀態。對於對其故障安全性有一定最低要求的系統，通常是進行在線診斷。所希望的是，將電壓監控模塊(RG1、RG2)也納入到該在線診斷中。一個電壓監控測試，像例如接通電源一樣，產生同樣的接通電源復位，一個「真」接通電源的復位是很難與一個「模擬」的區分的。按照本發明這就得到解決，此時監控是通過至少兩個互不相關的監控模塊(RG1、RG2)進行，其信號通過連接元件(V1、V2、V3、V4)連接。這就使兩個獨立的監控模塊(RG1、RG2)互不相關地進行測試成為可能。
文檔編號H04B17/00GK1433115SQ02144398
公開日2003年7月30日 申請日期2002年10月14日 優先權日2002年1月14日
發明者H·－J·賽茨 申請人:西門子公司