光拾波裝置的製造方法及光拾波裝置的製作方法
2023-10-17 12:09:39
專利名稱：光拾波裝置的製造方法及光拾波裝置的製作方法
專利說明光拾波裝置的製造方法及光拾波裝置 [技術所屬的領域]本發明涉及光學式信息記錄重放裝置中使用的光拾波裝置，特別是涉及其光探測器的安裝方法。作為數位訊號的數據被記錄在光碟上的信息雖說由重放裝置讀取，但實際上是由重放裝置所具有的光拾波裝置進行該信息的讀取。光拾波裝置是將雷射光源發生的照射光照射在光碟上，檢測來自光碟的反射光，並變換成電信號的一種裝置，有以極高的精度被定位的光學裝置。
圖10是實公平8-7535號公報中公開的現有的光拾波裝置的俯視圖。在該圖中，101是光探測器，用來接收作為來自光碟的反射光的光信號(在本說明書中為了說明的方便，將來自光碟的反射光簡稱為「反射光」)，變換成與其對應的電信號，101a是光探測器101輸出該電信號用的引線部。102是柔性基板(以下稱FPC)，有輸入光探測器101的引線部101a輸出的電信號的導體部102a，引線部101a利用焊接部而被焊接固定在導體部102a上。104是通過圖中未示出的粘合劑層粘貼FPC102的例如由鐵製成的調整板，105是內部設置了圖中未示出的光學部件等的光學單元。106是以快速固化為目的而以點狀塗敷並固化了的紫外線固化型的第一粘合劑。107是覆蓋著第一粘合劑部106、在調整板104的全部周邊再以小珠狀塗敷並固化了的由雙組分的環氧樹脂構成的第二粘合劑。
圖11是圖10所示的現有的光拾波裝置的側剖面圖。在該圖中，對與圖10相同的要素標以相同的符號。另外，104a、105a分別是在調整板104及光學單元105上設置的通孔，來自圖中未示出的光碟的反射光108通過通孔104a及105a入射到光探測器101上。
光探測器接收來自光碟的反射光108，將盤上的信息作為電信號輸出。另外，檢測盤沿著光點的焦點方向的偏移和跟蹤方向的偏移，該信息也作為電信號輸出。關於這些光點的偏移的信息被輸入圖中未示出的物鏡傳動機構，用於光點的位置校正工作。反射光108有必要在光探測器101的受光面上準確地對準焦點，因此，光探測器101必須相對於光學單元105固定在以高精度被準確調整的位置上。
在現有的光拾波裝置的製造工序中，在光探測器101的位置調整時，光探測器101被焊接固定在調整板104上貼附的FPC102上，通過使固定著光探測器101的調整板104相對於光學單元105移動，進行光探測器101的位置調整。通常，通過FPC102一邊觀察從光探測器101輸出的電信號，一邊進行該位置調整，根據該電信號，確定光探測器101的最佳位置。
光探測器101的位置一旦確定，便在調整板104與光學單元105之間塗敷少量的第一粘合劑部106，通過短時間的紫外線照射使其固化。另外，再塗敷作為第二粘合劑部107的雙組分環氧樹脂，經過數分鐘至數小時緩慢地固化，將調整板104固定在光學單元105上。
可是，在這樣進行光探測器101的位置調整的情況下，由於調整板104與光學單元105的摩擦較大，所以難以進行其微調整，因此難以提高調整精度。
另外，光探測器101上有多個受光部列，在用一個光探測器101接收多條光束的光拾波裝置的情況下，還有必要高精度地進行以光探測器101的入射光軸方向為軸的旋轉方向的定位。在此情況下也由於上述的摩擦較大，所以難以提高調整精度。
另外如上所述，以往在光探測器101的位置調整結束後，用粘合劑固定調整板104和光學單元105。可是，由於粘合劑的溫度特性和固化時的收縮，粘合劑固化時光探測器101的位置離散，成為光探測器101的位置調整後可靠性下降的原因。
本發明就是為了解決以上這樣的課題而完成的，目的在於提供一種能提高光探測器相對於光學單元的位置調整的精度，同時能提高位置調整後的可靠性的光拾波裝置。本發明的第一方面所述的光拾波裝置的製造方法是這樣一種光拾波裝置的製造方法，該光拾波裝置備有有接收來自光碟的反射光的受光部列及輸出對應於上述受光部列接收的上述反射光的電信號的引線部的光探測器；固定上述光探測器、有輸入來自上述引線部的上述電信號的導體部的基板；以及固定上述基板、進行入射到上述受光部列的上述反射光的調整的光學單元，該光拾波裝置的製造方法的特徵在於，包括(a)將上述基板固定在上述光學單元的規定位置的工序；(b)在上述工序(a)之後進行、一邊使上述引線部接觸上述導體部，一邊進行上述光探測器的位置調整的工序；以及(c)將上述工序(b)中的上述位置調整結束後的上述光探測器固定在上述基板上的工序。
本發明的第二方面所述的光拾波裝置的製造方法是本發明的第一方面所述的光拾波裝置的製造方法，其特徵在於在上述工序(b)中，通過將上述光探測器按壓在上述基板側，進行上述引線部對上述導體部的接觸。
本發明的第三方面所述的光拾波裝置的製造方法是本發明的第二方面所述的光拾波裝置的製造方法，其特徵在於上述光探測器至少有一個以上的用於使上述光探測器按壓在上述基板上的探針接觸用的凹坑或突起。
本發明的第四方面所述的光拾波裝置的製造方法是本發明的第二或第三方面所述的光拾波裝置的製造方法，其特徵在於上述光探測器的上述引線部在上述反射光的光軸方向有彈性，上述工序(b)包括(d)通過調整將上述光探測器按壓在上述基板上的力，利用上述引線部的彈性，進行上述光探測器沿上述反射光的光軸方向的位置調整的工序。
本發明的第五方面所述的光拾波裝置的製造方法是本發明的第四方面所述的光拾波裝置的製造方法，其特徵在於上述光探測器的上述引線部備有彎曲部，以便在上述反射光的光軸方向有彈性。
本發明的第六方面所述的光拾波裝置的製造方法是本發明的第五方面所述的光拾波裝置的製造方法，其特徵在於上述光探測器的上述引線部的前端有比其他部分細的形狀。
本發明的第七方面所述的光拾波裝置的製造方法是本發明的第三至第六的任意一方面所述的光拾波裝置的製造方法，其特徵在於上述光探測器有多個上述受光部列，上述凹坑或突起中的一個在平面視圖中位於多個上述受光部列中的某一個的中心，上述工序(b)包括(e)進行在平面視圖中位於中心有上述凹坑或突起的上述受光部列的位置調整的工序；以及(f)通過以在上述工序(e)中進行了位置調整的、在平面視圖中位於上述受光部列的中心的上述凹坑或突起為軸，使上述光探測器旋轉移動，進行上述光探測器的位置調整的工序。
本發明的第八方面所述的光拾波裝置的製造方法是本發明的第一至第七的任意一方面所述的光拾波裝置的製造方法，其特徵在於通過將上述光探測器的上述引線部焊接在上述基板的上述導體部上，進行上述工序(c)。
本發明的第九方面所述的光拾波裝置備有有接收來自光碟的反射光的受光部列及輸出對應於上述受光部列接收的上述反射光的電信號的引線部、被固定在基板的規定位置上的光探測器，該光拾波裝置的特徵在於上述光探測器至少有一個以上的用於使上述光探測器按壓在上述基板上的探針接觸用的凹坑或突起。
本發明的第十方面所述的光拾波裝置是本發明的第九方面所述的光拾波裝置，其特徵在於上述光探測器的上述引線部在上述反射光的光軸方向有彈性。
本發明的第十一方面所述的光拾波裝置是本發明的第十方面所述的光拾波裝置，其特徵在於上述光探測器的上述引線部備有彎曲部，以便在上述反射光的光軸方向有彈性。
本發明的第十二方面所述的光拾波裝置是本發明的第十一方面所述的光拾波裝置，其特徵在於上述光探測器的上述引線部的前端有比其他部分細的形狀。
本發明的第十三方面所述的光拾波裝置是本發明的第九至第十二的任意一方面所述的光拾波裝置，其特徵在於上述光探測器有多個上述受光部列，上述凹坑或突起中的一個在平面視圖中位於多個上述受光部列中的某一個的中心。圖1是表示實施例1的光拾波裝置的製造工序中的光探測器的位置調整時的狀態的側剖面圖。
圖2是表示實施例1的光拾波裝置的光探測器的受光面的圖。
圖3是表示實施例1的光拾波裝置的光探測器及FPC的主要部分的放大俯視圖。
圖4是表示實施例2的光拾波裝置的光探測器及FPC的主要部分的放大側剖面圖。
圖5是表示在實施例2中將光探測器的突起部配置在光探測器的側面的結構圖。
圖6是表示實施例3的光拾波裝置中的光探測器的位置調整後的固定狀態的側剖面圖。
圖7是表示實施例4的光拾波裝置中的光探測器的位置調整後的固定狀態的側剖面圖。
圖8是表示實施例5的光拾波裝置的光探測器的受光面的圖。
圖9是表示實施例5的光拾波裝置的光探測器及FPC的主要部分的放大俯視圖。
圖10是現有的光拾波裝置的俯視圖。
圖11是現有的光拾波裝置的側剖面圖。實施例1
圖1是表示本發明實施例1的光拾波裝置的製造工序中的光探測器的位置調整時的狀態的側剖面圖。在該圖中，1是光探測器，用來接收作為來自光碟的反射光的光信號，變換成與其對應的電信號，1a是光探測器1輸出該電信號用的引線部。另外，10是由光探測器1接收反射光的受光面上具有的一個以上的受光部構成的受光部列，由該受光部列10接受反射光。
2是柔性基板(FPC)，有輸入來自光探測器1的引線部1a的電信號的導體部2a。4是通過圖中未示出的粘合劑貼附FPC2、保持FPC2的形狀及強度用的例如由鐵製成的輔助板。5是內部設置了圖中未示出的光學部件等、調整入射到光探測器1中的反射光的光學單元，4a及5a分別是在輔助板4及光學單元5上設置的通孔，來自光碟的反射光8通過通孔4a及5a入射到光探測器1上。11是將FPC2及輔助板固定在光學單元5上用的螺釘。
另外，12是一邊將光探測器1按壓在FPC2一側，一邊調整光探測器1的位置用的探針，13所示的箭頭表示探針12按壓光探測器1時的力。
圖2是表示有圖1所示的光探測器1的受光部列10的面(受光面)的圖。在該圖中，10a～10f分別是受光部，受光部列10由這些受光部10a～10f形成。在光探測器1的位置調整中，對受光部10a～10d的中心部進行調整，以便接收來自光碟的反射光8的中心光束。
另外，圖3是圖1所示的光探測器1及FPC2的主要部分的放大俯視圖。在該圖中，1b是使探針12接觸用的凹坑部。另外，由圖1可知，凹坑部1b設置在光探測器1的受光面的相反一側的面(即，與FPC2側相反一側的面，以下稱「上表面」)上。如圖3所示，在受光面的相反一側的面上的一對相向的角附近分別各配置一個凹坑部1b。探針12接觸在該凹坑部1b上，通過使探針12例如沿方向A、方向B、方向C、方向D移動，能進行位置調整。通過使探針12接觸凹坑1b，能更準確地進行光探測器1的位置調整。另外，通過用探針12以規定的力13按壓光探測器1，一邊使光探測器1的引線部1a接觸在FPC2的導體部2a上，一邊進行其位置調整。
以下，說明本實施例的光拾波裝置的製造工序。在本實施例中，與現有的製造工序不同，在將光探測器1固定在FPC2上之前，用螺釘11將FPC2及粘接了該FPC2的輔助板4固定在光學單元5上。
然後，通過使探針12接觸在光探測器1的上表面的凹坑部1b上，用探針12將光探測器1按壓在FPC2上，使引線部1a和導體部2a接觸。這時，凹坑部1b的位置最好配置在恆定的位置上，以便精度良好地確定光探測器1的初始位置。然後，在該狀態下移動探針12，使光探測器1例如沿方向A～D移動，進行光探測器1的位置調整。由於光探測器1單體和FPC2之間的摩擦力較小，所以能高精度地進行這時的光探測器1的位置調整。
通常，一邊通過FPC2觀察從光探測器1輸出的電信號，一邊進行光探測器1的位置調整，根據該電信號確定最佳位置。在本實施例中，進行光探測器1的位置調整時，光探測器1的引線部1a未被焊接在FPC2的導體部2a上。可是，通過用探針12將光探測器1按壓在FPC2上，使引線部1a和導體部2a接觸，所以根據從光探測器1輸出的電信號，能無問題地進行位置調整。
然後，如果確定了光探測器1的最佳位置，便可焊接固定引線部1a和導體部2a。由於焊錫的溫度特性比粘合劑的好，所以還能提高調整後的可靠性。
如上所述，如果採用本實施例，則由於在光探測器1的位置調整前將FPC2及輔助板4預先固定在光學單元5上，只調整光探測器1單體的位置，所以能使光探測器1的位置調整時的摩擦力小，能提高位置調整的精度。另外，位置調整時，由於用探針12將光探測器1按壓在FPC2上，使引線部1a和導體部2a接觸，能像以往那樣根據從光探測器1輸出的電信號進行位置調整。另外，由於用焊錫進行位置調整後的光探測器1的固定，所以與以往那樣用粘合劑進行位置調整後的固定的情況相比，能提高光探測器1的位置在位置調整後的可靠性。
另外，在圖3中，雖然示出了在光探測器1的上表面的一對相向的角附近分別各配置一個使探針12接觸用的凹坑部1b的結構，但凹坑部1b的位置及個數不限定於此，只要是用探針12一邊按壓光探測器1，一邊能進行其位置調整的位置及個數即可。
另外，在圖1中，作為在光探測器1的位置調整前預先將FPC2及輔助板4固定在光學單元5上的方法，雖然示出了螺釘11，但只要能牢固地固定，也可以採用其他固定方法，例如用粘合劑固定。在圖10及圖11所示的現有的光拾波裝置的製造方法中，由於對光學單元105及調整板104的位置關係進行微調整，所以不得不用粘合劑進行其間的固定。與此不同，在本實施例中，能使用螺釘11等預先將輔助板4固定在光學單元5上，還具有將輔助板4固定在光學單元5之間的方法的選擇面寬的優點。
實施例2
在實施例1中，示出了光探測器1在與FPC2側相反一側的面上有使探針12接觸用的凹坑部1b。可是，根據探針12的形狀，也可以代替凹坑部1b，而具有「突起部」的結構。
圖4是實施例2的光探測器1及FPC2的主要部分的放大側剖面圖。12是一邊將光探測器1按壓在FPC2一側，一邊調整光探測器1的位置用的探針，1c是鉤住探針12或被探針12抓住用的突起部。用探針12通過突起部1c按壓光探測器1，使光探測器1的引線部1a和FPC2的導體部2a接觸，再通過移動探針12，能進行光探測器1的位置調整。通過使探針12接觸在突起部1c上，能更準確地進行光探測器1的位置調整。
另外，由於光探測器1的接觸探針12的部分不是凹坑部，而是突起部，所以其配置的選擇面廣。例如，圖5中示出了將突起部1c配置在光探測器1的側面的結構。如實施例1所示，在使探針12接觸的部分是凹坑部的情況下，如果將凹坑部配置在光探測器1的側面，則使探針12接觸它，進行光探測器1的位置調整是困難的。可是，在使探針12接觸的部分是突起部的情況下，如圖5所示，即使將突起部1c配置在光探測器1的側面，也能將突起部1c鉤在探針12上或被探針12抓住，能容易地進行光探測器1的位置調整。
另外，在圖4及圖5中，雖然示出了在光探測器1的上表面的一對相向的角附近分別配置各一個使探針12接觸用的突起部1c的結構，但突起部1c的位置及個數不限定於此，只要是用探針12一邊按壓光探測器1，一邊能進行其位置調整的位置及個數即可。
實施例3
圖6是表示實施例3的光拾波裝置中的光探測器1的位置調整後的固定狀態的側剖面圖。在該圖中，14是通過將光探測器1的引線部1a固定在FPC2的導體部2a上而將光探測器1固定在FPC2上的焊錫。
另外，本實施例的光拾波裝置的製造工序中的其他結構要素與圖1所示的相同，所以這裡的說明從略。
如圖6所示，在本實施例中，引線部1a有使得從光探測器1到引線部1a的前端和導體部2a的接點的距離變長的彎曲部，因此在來自圖中未示出的光碟的反射光的光軸方向(反射光軸方向)有彈性。換句話說，引線部1a呈在反射光軸方向有彈性的彈簧形狀。因此，在光探測器1的位置調整時，通過變更用探針12按壓的力13的大小，能使光探測器1在反射光軸方向的位置發生變化。
就是說，本實施例的光探測器1的位置調整除了沿對光反射軸方向垂直的方向的位置調整以外，還通過調整用探針12按壓光探測器1的力，進行光探測器1沿光軸方向的位置調整。然後，在光軸方向的位置調整後的狀態下仍用探針12按壓光探測器1，如圖6所示，用焊錫14固定引線部1a的彎曲部。因此，此後即使將探針12從光探測器1放開，光探測器1沿光軸方向的位置也能保持在由探針12進行的調整位置。
如果採用本實施例，則由於在光探測器1的引線部1a上設有彎曲部，以便在反射光軸方向有彈性，所以通過改變用探針12按壓光探測器1的力，能進行光軸方向的位置調整。就是說，由於能進行三維調整，所以不需要進行光學單元5中的透鏡等光學部件沿光軸方向的調整。因此，能提高製造效率、以及減少光軸方向的調整機構的部件個數，能謀求降低光拾波裝置的成本。
另外，在本實施例中，光探測器1的引線部1a只要是在反射光軸方向具有彈性的結構即可，不用說並非將引線部1a的形狀限定於圖6所示的結構。
實施例4
圖7是表示實施例4的光拾波裝置中的光探測器1的位置調整後的固定狀態的側剖面圖。與實施例3相同，使引線部1a傾斜地彎曲，另外，通過使其前端細而在光軸方向具有彈性。
如果採用本實施例，則與上述的實施例3相同，通過調整由探針12施加的力，能進行光探測器1沿反射光軸方向的位置調整，明顯地能獲得實施例3的效果。
另外，由於引線部1a的前端細，所以與圖6所示的光探測器1相比，即使從光探測器1到引線部1a的前端和導體部2a的接點的距離短，也能獲得充分的彈性。就是說，有助於裝置的小型化。
實施例5
圖8是表示實施例5的光探測器1的受光面的圖。在該圖中，20是由受光部20a～20f構成的第一受光部列，21是由受光部21a～21f構成的第二受光部列。就是說，在本實施例中，光探測器1有兩個受光部列。另外，如上所述，在光探測器1有多個受光部列的情況下，在光探測器1的位置調整中，有必要高精度地進行以反射光軸方向為軸的旋轉方向的定位。
圖9是實施例5的光探測器1和FPC2的主要部分的放大俯視圖。該圖表示光探測器1的上表面，即圖8所示的受光面的相反一側的面。另外，1d及1e分別是進行光探測器1的位置調整時使探針12接觸用的凹坑部。如該圖所示，凹坑部1d被配置在光探測器1的上表面的相當於受光部列20的中心的位置(即，凹坑部1d在平面視圖中被配置在受光部列20的中心)，凹坑部1e被配置在光探測器1的上表面的角附近。通過用探針12按壓該凹坑部1d及1e，使光探測器1的引線部1a和FPC2的導體部2a接觸，再使探針12例如沿方向A、方向B、方向C、方向D移動，能進行位置調整。
另外，本實施例的光拾波裝置的製造工序中的其他結構要素與圖1所示的相同，所以這裡的說明從略。
以下，說明本實施例的光拾波裝置的製造工序。首先，與實施例1相同，使探針12接觸在光探測器1的上表面的凹坑部1d及1e上，通過用探針12將光探測器1按壓在FPC2上，使引線部1a和導體部2a接觸。然後，在該狀態下使探針12移動，從而使光探測器1例如沿方向A～D移動，進行光探測器1的位置調整。
首先，確定受光部列20的位置。一旦確定了受光部列20的位置，接著不使接觸在凹坑部1d上的探針的位置移動，而只使接觸在凹坑部1e上的探針沿方向F或方向E移動，進行以凹坑部1d為軸的旋轉方向的位置調整，確定受光部列21的位置。就是說，不使受光部列20的中心移動，就能精度良好地進行受光部列21的定位。另外，由於只調整光探測器1單體的位置，所以光探測器1的位置調整時的摩擦力較小，能進行高精度的位置調整。就是說，能進行伴隨旋轉方向的位置調整的受光部列20及21的定位，即能高精度地進行光探測器1的位置調整。
另外，在這裡的說明中，雖然將光探測器1的上表面使探針12接觸的部分作成「凹坑部」，但根據探針12的形狀的不同，也可以是實施例2所示的「突起部」。在此情況下，將突起部之一配置在平面視圖中受光部列20的中心，能獲得與以上的說明同樣的效果。如果採用本發明的第一方面所述的光拾波裝置的製造方法，則由於在工序(b)中使光探測器單體移動，所以能使位置調整時的摩擦力小，能提高位置調整的精度。另外，由於一邊使引線部接觸導體部，一邊進行位置調整，所以與以往一樣能根據從光探測器輸出的電信號進行位置調整。
如果採用本發明的第二方面所述的光拾波裝置的製造方法，則在本發明的第一方面所述的光拾波裝置的製造方法中，由於通過將光探測器按壓在基板側，進行工序(b)中的引線部對導體部的接觸，所以能一邊使引線部接觸導體部一邊容易地進行位置調整。
如果採用本發明的第三方面所述的光拾波裝置的製造方法，則在本發明的第二方面所述的光拾波裝置的製造方法中，由於光探測器至少有一個以上的用於使上述光探測器按壓在上述基板上的探針接觸用的凹坑或突起，所以能在工序(b)中的一邊使引線部接觸導體部一邊容易地進行位置調整。另外，通過使探針接觸凹坑部或突起進行位置調整，能更準確地進行光探測器的位置調整。
如果採用本發明的第四方面所述的光拾波裝置的製造方法，則在本發明的第二或第三方面所述的光拾波裝置的製造方法中，能進行光探測器的位置的三維調整，而不需要進行光學單元中的透鏡等光學部件沿光軸方向的調整。因此，能提高光拾波裝置的製造效率、以及減少光軸方向的調整機構的部件個數，從而謀求降低成本。
如果採用本發明的第五方面所述的光拾波裝置的製造方法，則在本發明的第四方面所述的光拾波裝置的製造方法中，能進行三維調整，而不需要進行光學單元中的透鏡等光學部件沿光軸方向的調整。因此，能提高光拾波裝置的製造效率、以及減少反射光的光軸方向的調整機構的部件個數，能謀求降低成本。
如果採用本發明的第六方面所述的光拾波裝置的製造方法，則在本發明的第五方面所述的光拾波裝置的製造方法中，由於光探測器的引線部的前端有比其他部分細的形狀，所以即使引線部的長度短，也能獲得充分的彈性，有助於裝置的小型化。
如果採用本發明的第七方面所述的光拾波裝置的製造方法，則在本發明的第三至第六的任意一方面所述的光拾波裝置的製造方法中，不使在工序(e)中位置調整後的受光部列的中心移動，能精度良好地進行其他受光部列的定位，即能提高有多個受光部列的光探測器的位置調整的精度。
如果本採用發明的第八方面所述的光拾波裝置的製造方法，則在本發明的第一至第七的任意一方面所述的光拾波裝置的製造方法中，由於通過將光探測器的引線部焊接在基板的導體部上，進行工序(c)，所以與以往那樣用粘合劑進行位置調整後的固定的情況相比，能提高光探測器的位置在位置調整後的可靠性。
如果採用本發明的第九方面所述的光拾波裝置，則由於光探測器至少有一個以上的使光探測器按壓在基板上的探針接觸用的凹坑或突起，所以在光拾波裝置的製造工序的光探測器的位置調整工序中，通過使光探測器移動的探針接觸凹坑部或突起，能更準確地進行光探測器的位置調整。
如果採用本發明的第十方面所述的光拾波裝置，則在本發明的第九方面所述的光探測器中，由於光探測器的引線部在反射光的光軸方向有彈性，所以在光拾波裝置的製造工序的光探測器的位置調整工序中，通過調整探針按壓光探測器的力，能進行光探測器沿反射光的光軸方向的位置調整。因此，能進行三維調整，而不需要進行設置光探測器的光學單元中的透鏡等光學部件沿光軸方向的調整。因此，能提高光拾波裝置的製造效率，以及減少反射光的光軸方向的調整機構的部件個數，從而謀求降低成本。
如果採用本發明的第十一方面所述的光拾波裝置，則在本發明的第十方面所述的光探測器中，由於光探測器的引線部備有彎曲部，以便在反射光的光軸方向有彈性，所以在光拾波裝置的製造工序的光探測器的位置調整工序中，通過調整探針按壓光探測器的力，能進行光探測器沿反射光的光軸方向的位置調整。因此，能進行三維的調整，而不需要進行設置光探測器的光學單元中的透鏡等光學部件沿光軸方向的調整。因此，能提高光拾波裝置的製造效率，以及減少的射光的光軸方向的調整機構的部件個數，從而謀求降低成本。
如果採用本發明的第十二方面所述的光拾波裝置，則在本發明的第十一方面所述的光探測器中，由於光探測器的引線部的前端有比其他部分細的形狀，所以即使引線部的長度短，也能獲得充分的彈性，有助於裝置的小型化。
如果採用本發明的第十三方面所述的光拾波裝置，則在本發明的第九至第十二的任意一方面所述的光探測器中，由於光探測器有多個受光部列，凹坑或突起中的一個在平面視圖中位於多個受光部列中的某一個的中心，所以在光拾波裝置的製造工序的光探測器的位置調整工序中，首先進行平面視圖的中心有凹坑或突起的受光部列的位置調整，然後，在平面視圖中以位於受光部列的中心的上述凹坑或突起為軸，使光探測器旋轉移動，進行光探測器的位置調整，從而不使先進行了位置調整的受光部列的中心移動，能精度良好地進行其他受光部列的定位。即，能提高有多個受光部列的光探測器的位置調整的精度。
權利要求
1.一種光拾波裝置的製造方法，上述光拾波裝置備有有接收來自光碟的反射光的受光部列及輸出對應於上述受光部列接收的上述反射光的電信號的引線部的光探測器；固定上述光探測器、有輸入來自上述引線部的上述電信號的導體部的基板；以及固定上述基板、進行入射到上述受光部列的上述反射光的調整的光學單元，該光拾波裝置的製造方法的特徵在於，包括(a)將上述基板固定在上述光學單元的規定位置的工序；(b)在上述工序(a)之後進行、一邊使上述引線部接觸上述導體部，一邊進行上述光探測器的位置調整的工序；以及(c)將上述工序(b)中的上述位置調整結束了的上述光探測器固定在上述基板上的工序。
2.如權利要求1所述的光拾波裝置的製造方法，其特徵在於在上述工序(b)中，通過將上述光探測器按壓在上述基板側，進行上述引線部對上述導體部的接觸。
3.如權利要求2所述的光拾波裝置的製造方法，其特徵在於上述光探測器至少有一個以上的用於使上述光探測器按壓在上述基板上的探針接觸用的凹坑或突起。
4.如權利要求2或3所述的光拾波裝置的製造方法，其特徵在於上述光探測器的上述引線部在上述反射光的光軸方向有彈性，上述工序(b)包括(d)通過調整將上述光探測器按壓在上述基板上的力，利用上述引線部的彈性，進行上述光探測器沿上述反射光的光軸方向的位置調整的工序。
5.如權利要求4所述的光拾波裝置的製造方法，其特徵在於上述光探測器的上述引線部備有彎曲部，以便在上述反射光的光軸方向有彈性。
6.如權利要求5所述的光拾波裝置的製造方法，其特徵在於上述光探測器的上述引線部的前端有比其他部分細的形狀。
7.如權利要求3至6中的任意一項所述的光拾波裝置的製造方法，其特徵在於上述光探測器有多個上述受光部列，上述凹坑或突起中的一個在平面視圖中位於多個上述受光部列中的某一個的中心，上述工序(b)包括(e)進行在平面視圖中在中心處有上述凹坑或突起的上述受光部列的位置調整的工序；以及(f)通過以在上述工序(e)中進行了位置調整的、在平面視圖中位於上述受光部列的中心的上述凹坑或突起為軸，使上述光探測器旋轉移動，進行上述光探測器的位置調整的工序。
8.如權利要求1至7中的任意一項所述的光拾波裝置的製造方法，其特徵在於通過將上述光探測器的上述引線部焊接在上述基板的上述導體部上，進行上述工序(c)。
9.一種光拾波裝置，備有有接收來自光碟的反射光的受光部列及輸出對應於上述受光部列接收的上述反射光的電信號的引線部、被固定在基板的規定位置上的光探測器，該光拾波裝置的特徵在於上述光探測器至少有一個以上的使得將上述光探測器按壓在上述基板上的探針接觸用的凹坑或突起。
10.如權利要求9所述的光拾波裝置，其特徵在於上述光探測器的上述引線部在上述反射光的光軸方向有彈性。
11.如權利要求10所述的光拾波裝置，其特徵在於上述光探測器的上述引線部備有彎曲部，以便在上述反射光的光軸方向有彈性。
12.如權利要求11所述的光拾波裝置，其特徵在於上述光探測器的上述引線部的前端有比其他部分細的形狀。
13.如權利要求9至12中的任意一項所述的光拾波裝置，其特徵在於上述光探測器有多個上述受光部列，上述凹坑或突起中的一個在平面視圖中位於多個上述受光部列中的某一個的中心。
全文摘要
本發明的課題在於提高光探測器相對於光學單元的位置調整的精度，同時提高光探測器的位置調整後的可靠性。在將光拾波裝置的光探測器1固定在柔性基板(FPC)2上之前，用螺釘11將FPC2及輔助板4固定在光學單元5上。然後，用探針12將光探測器1按壓在FPC2上，使引線部1a與導體部2a接觸。在該狀態下用探針12移動光探測器1單體，進行光探測器1的位置調整。由於光探測器1單體與FPC2之間的摩擦力較小，所以能進行高精度的調整。另外，由於使引線部1a與導體部2a接觸，所以能一邊通過FPC2觀察光探測器1輸出的電信號，一邊進行位置調整。然後，一旦確定了光探測器1的最佳位置，便將引線部1a與導體部2a焊接固定。
文檔編號G11B7/13GK1445763SQ0310166
公開日2003年10月1日 申請日期2003年1月14日 優先權日2002年3月18日
發明者岸上智, 竹下伸夫 申請人:三菱電機株式會社