X射線診斷裝置的製作方法

2023-10-11 23:16:09 8

專利名稱：X射線診斷裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及搭載有X射線平面檢測器的X射線診斷裝置，特別涉及用於檢測X射線平面檢測器的缺陷元件的狀態的X射線診斷裝置。
背景技術：
X射線診斷裝置通過對被檢體照射X射線並利用X射線平面檢測器檢測透射X射 線，由此得到被檢體的X射線圖像數據。並且，X射線診斷裝置通過利用圖像處理單元對X 射線圖像數據進行處理，而在顯示單元上顯示X射線圖像或透視圖像。很有可能在構成X射線平面檢測器的多個X射線檢測元件中存在缺陷元件。此外， 也存在X射線檢測元件後來變成缺陷元件的情況。因此，以往根據臨床之前的暗電流量或X 射線圖像的圖像信息檢測X射線平面檢測器的缺陷元件，對缺陷元件引起的缺陷像素進行 插補(例如專利文獻1、專利文獻2)。專利文獻1 日本特開2007-54359號公報專利文獻2 日本特開2006-280853號公報

發明內容
在上述現有技術中，在X射線平面檢測器的缺陷元件個別地分散的情況下，能夠 利用周圍的像素對缺陷元件引起的缺陷像素進行插補，但是，在X射線平面檢測器的缺陷 元件密集的情況下，也有可能不能夠利用周圍的像素對缺陷元件引起的缺陷像素進行插 補。因此，本發明的目的在於提供一種能夠檢測出X射線平面檢測器的異常狀態的X 射線診斷裝置。為了實現上述目的，X射線診斷裝置具備具有X射線管的X射線發生器、與X射 線發送器相對配置的X射線平面檢測器、基於從上述X射線平面檢測器讀出的X射線圖像 數據進行圖像處理的圖像處理單元、以及對進行了該圖像處理的X射線圖像或透視圖像進 行顯示的顯示單元，所述X射線診斷裝置包括缺陷像素檢測單元，根據上述X射線圖像數 據的像素信息檢測與上述X射線平面檢測器的缺陷元件對應的缺陷像素；聚塊程度檢測單 元，根據檢測出的上述缺陷像素檢測上述X射線平面檢測器的缺陷元件的聚塊程度；以及 異常判斷單元，基於上述聚塊程度，判斷上述X射線平面檢測器是否異常。通過與X射線 平面檢測器的缺陷元件對應的缺陷像素的聚塊程度，能夠掌握X射線平面檢測器的異常狀 態。此外，也可以是，上述缺陷像素檢測單元基於上述X射線圖像數據的全部像素的 平均像素值，檢測與上述X射線平面檢測器的缺陷元件對應的缺陷像素。此外，也可以是，具備塊數計數單元，該塊數計數單元對在以上述缺陷像素為中心 設置的二維搜索區域內包含的上述缺陷像素的塊數進行計數；上述異常判斷單元基於上述 塊數，判斷上述X射線平面檢測器是否異常。此外，也可以是，具備連續數計數單元，該連續數計數單元基於上述缺陷像素的位置信息，對相鄰的上述缺陷像素的連續數進行計數；上 述異常判斷單元基於上述連續數，判斷上述X射線平面檢測器是否異常。上述異常判 斷單元檢測上述X射線圖像數據中上述塊數或上述連續數最大的數， 在上述塊數或上述連續數為預先設定的閾值以上的情況下，判斷為異常。發明效果根據本發明，能夠檢測出X射線平面檢測器的異常狀態。


圖1是表示本發明的整體結構的圖。圖2是表示本發明的缺陷像素的位置和塊的圖。圖3是表示本發明的聚塊程度檢測單元的詳細情況的圖。圖4是表示本發明的缺陷像素的具體例的圖。圖5是表示本發明的顯示方式的圖。圖6是表示本發明的缺陷像素的連續的圖。圖7是表示本發明的第一實施方式 第三實施方式的動作的圖。圖8是表示本發明的第四實施方式的圖。圖9是表示本發明的第四實施方式、第五實施方式的動作的圖。圖10是表示本發明的第六實施方式、第七實施方式的圖。標號說明IOX射線發生器、12被檢體、14X射線平面檢測器、20信號處理部、22圖像收集單 元、24、圖像處理單元、26缺陷像素位置存儲單元、30聚塊程度檢測單元、32異常判斷單元、 34顯示單元、33操作臺
具體實施例方式(第一實施方式塊的計數)以下，利用

第一實施方式。圖1中示出了 X射線診斷裝置的整體結構。本 實施方式中的X射線裝置具有對被檢體12照射X射線的X射線發生器10、與X射線發生 器10相對配置、用於檢測被檢體12的透射X射線的X射線平面檢測器14、根據從X射線平 面檢測器14得到的X射線信息掌握缺陷像素的聚塊程度的信號處理部20、以及顯示X射線 平面檢測器14的狀態的顯示單元34。X射線發生器10例如具有由放出熱電子的陰極和接受電子而產生X射線的陽極構 成的X射線管。由X射線發生器10產生的X射線照射至被檢體12。X射線平面照射其14 例如通過將由半導體形成的X射線檢測元件按照二維方向排列而形成。信號處理部20具有收集從X射線平面檢測器18得到的X射線圖像數據的圖像 收集單元22、在所收集的X射線圖像數據中進行噪音除去等各種過濾處理的圖像處理單元 24、基於X射線圖像數據的像素信息檢測與缺陷元件對應的缺陷像素的缺陷像素檢測單元 26、存儲缺陷像素的位置信息的缺陷像素位置存儲單元28、根據所存儲的缺陷像素的位置 信息檢測缺陷像素的聚塊程度的聚塊程度檢測單元30、以及根據缺陷像素的聚塊程度判別 X射線平面檢測器18是否異常的判別單元32。
缺陷像素檢測單元26針對經由圖像收集單元22和圖像處理單元24得到的X射 線圖像數據，計算全部像素的平均像素值。並且，缺陷像素檢測單元26判別與X射線檢測 元件對應的X射線圖像數據的缺陷像素的像素值與全部像素的平均像素值之差是否大於 規定值A。另外，能夠通過操作臺33任意地設定規定值A。具體而言，缺陷像素檢 測單元26在I某一個像素的像素值_全部像素的平均像素 值I > A的情況下，由於某一個像素是像素值較低的像素，因此將該某一個像素作為缺陷像 素檢測出來。缺陷像素檢測單元26對X射線平面檢測器18的全部的X射線檢測元件進行 上述判別，檢測缺陷像素。並且，缺陷像素位置存儲單元28存儲缺陷像素的位置(坐標)。圖2㈧示出了在X射線圖像數據50中缺陷像素的位置已被存儲在缺陷像素位置 存儲單元28中的狀態。剖面線部52是缺陷像素。例如，在X射線圖像數據50的第一行， 最左端的缺陷像素(1，1)的位置被存儲在缺陷像素位置存儲單元28中。此外，在X射線圖 像數據50的第二行，缺陷像素(8，2)、(9，2)、(10，2)的位置被存儲在缺陷像素位置存儲單 元28中。在X射線圖像數據50的第三行，缺陷像素(8，3)、(9，3)、(11，3)的位置被存儲在 缺陷像素位置存儲單元28中。由此，X射線圖像數據50的全部的缺陷像素的位置都被存 儲在缺陷像素位置存儲單元28中。圖3示出了聚塊程度檢測單元30的詳細情況。聚塊程度檢測單元30具有塊數計 數單元301，該塊數計數單元301基於存儲在缺陷像素位置存儲單元28中的X射線圖像數 據50的缺陷像素的位置信息，對該缺陷像素周圍的缺陷像素進行計數。聚塊程度檢測單元 30具有連續數計數單元302、權重設定單元303、以及對這些單元進行選擇的選擇單元304。 操作臺33能夠對選擇單元304進行操作。本實施方式的選擇單元304選擇塊數計數單元 301。連續數計數單元302和權重設定單元303的詳細情況將在其他實施方式中進行說明。具體而言，塊數計數單元301首先在X射線圖像數據50中對缺陷像素的位置設定 二維搜索區域54。例如在X射線平面檢測器14的像素尺寸為125 μ m的情況下，該二維搜 索區域54為5X5的內核尺寸(kernel size)。眾所周知，製作X射線圖像時所需的高頻信 號為2. 0[lp/mm]。因此，在本實施方式中，以基於高頻信號能夠進行500 μ m的信號成分的 行走為基準，將二維搜索區域54設成了 5 X 5的內核尺寸。塊數計數單元301對在以某個缺陷像素為中心而設置的5X5的內核尺寸(長寬 為625μπι)的二維搜索區域54內包含的缺陷像素的個數進行計數。例如，在缺陷像素(1，1) 的情況下，由於二維搜索區域54內的缺陷像素僅有缺陷像素(1，1)，因此計數為塊數「1」。 在缺陷像素(8，2)的情況下，由於二維搜索區域54內有缺陷像素(8，2)、(9,2), (10，2)、 (8，3)、(9，3)、(8，4)、(9，4)、(10，4)，因此計數為塊數「8」。在缺陷像素(9，3)的情況下，由 於二維搜索區域 54 內有缺陷像素(8，2)、(9，2)、(10，2)、(8，3)、(9，3)、(11，3)、(8，4)、(9， 4), (10,4), (11,4),因此計數為塊數「10」。由此，塊數計數單元301對X射線圖像數據50 的全部的缺陷像素進行上述計數。圖2(B)是將本實施方式中被計數的塊數表示於X射線 圖像數據50的缺陷像素的位置上的圖。在聚塊程度檢測單元30的塊數計數單元301中所計數的塊數越多，與缺陷像素對 應的缺陷元件聚塊的可能性就越高。異常判斷單元32檢測X射線圖像數據50中塊數最大 的數，在存在塊數為閾值以上(例如「9」以上)的缺陷像素的情況下，判斷為「異常」。異常 判斷單元32在是塊數計數單元301中所計數的塊數不到閾值(例如「8」以下)的缺陷像素情況下、或者沒有檢測出缺陷像素的情況下、再或者缺陷像素的總數微小(例如2、3個程度)的情況下，判斷為「正常」。圖2(B)的X射線圖像數據50中塊數最大的數為「12」。異 常判斷單元32由於塊數「12」為閾值「9」以上，因此判斷為「異常」。也就是說，異常判斷單 元32對X射線平面檢測器14能否經得住臨床使用進行判斷。圖4示出了 X射線平面檢測器14的像素尺寸為125 μ m的情況下的缺陷像素的例 子。圖4(A)示出了存在1個像素的缺陷像素的情況。在存在1個像素的缺陷像素情況下， 成為缺陷像素52的最大長度176 μ m的假圖像。在如圖4(B)所示那樣存在2X3的內核尺 寸的缺陷像素的情況下，成為缺陷像素52的最大長度450μπι的假圖像。在如圖4(C)所示 那樣存在3X3的內核尺寸的缺陷像素的情況下，成為缺陷像素52的最大長度530 μ m的假 圖像。在存在3X3以上的內核尺寸的缺陷像素的情況下，最大長度超過530μπι，而成為不 能夠通過周圍像素進行校正的狀態。因此，在本實施方式中設定為，異常判斷單元32在存 在塊數「9」以上的缺陷像素的情況下判斷為「異常」。此外，若X射線平面檢測器14的像素尺寸為100 μ m,則在存在3 X 4以上的內核尺 寸的缺陷像素的情況下，最大長度超過500 μ m，而成為不能夠通過周圍像素進行校正的狀 態。因此，異常判斷單元32在存在塊數「12」以上的缺陷像素的情況下判斷為「異常」。塊 數的閾值依賴於X射線平面檢測器14的像素尺寸而可變。此外，操作者還能夠在操作臺33 任意地設定塊數的閾值，例如，能夠設定成X射線平面檢測器14即將成為「異常」之前的塊 數 「7」 或 「8」。在異常判斷單元32判斷為「異常」的情況下，如圖5所示，顯示單元34將「異常」 信息與由圖像處理單元24進行了各種過濾處理之後的X射線圖像一起顯示。在顯示單元 34上顯示了「異常」信息的情況下，操作者能夠向維護公司請求X射線平面檢測器14的更 換或修理。也就是說，操作者能夠根據與X射線平面檢測器14的缺陷元件對應的缺陷像素的 塊數，掌握X射線平面檢測器14的狀態。並且，操作者能夠對X射線平面檢測器14實施恰 當的處理。另外，以上將二維搜索區域54設定為5X5的內核尺寸，但是也可以是其他尺寸。 例如，能夠通過操作臺33任意地設定二維搜索區域54，能夠將二維搜索區域54設定為例如 3X3或7X7的內核尺寸。此外，本實施方式能夠在操作者正常進行X射線攝影時實施。此外，能夠在被稱作 用戶校準的、操作者進行X射線平面檢測器14的增益校正數據的取得和缺陷元件位置信息 的更新的情況下實施。(第二實施方式連續)利用圖1 6說明書第二實施方式。與第一實施方式的不同點在於，根據與缺陷 元件對應的缺陷像素的連續狀態判斷X射線平面檢測器14是否異常。本實施方式中的選 擇單元304選擇連續數計數單元302。聚塊程度檢測單元32的連續數計數單元302基於存儲在缺陷像素位置存儲單元 28中的X射線圖像數據50的缺陷像素的位置，對在上、下、左、右相鄰接的缺陷像素的連續 進行計數，檢測缺陷元件的連續狀態。例如，對於缺陷像素(1，1)，由於在上、下、左、右不存在相鄰接的缺陷像素，因此連續數計數單元302計數為連續數「O」。缺陷像素(5，4)與缺陷相數(5，5)連續，因此聚塊 程度檢測單元32計數為連續數「1」。在缺陷像素(8，2)的情況下，由於與(9，2)、(10,2), (8,3), (9,3), (11,3), (8,4), (9,4), (10,4), (11,4)連續，因此連續數計數單元 302 計數 為連續數「9」。由此，連續數計數單元302對X射線圖像數據50的全部的缺陷像素進行上 述計數。連續數計數單元302中所計 數的連續數越多，缺陷像素即缺陷元件越聚塊。異常 判斷單元32檢測X射線圖像數據50中連續數最大的數，在存在連續數為閾值以上(例如 「8」以上)的缺陷像素的情況下，判斷為「異常」。異常判斷單元32在存在連續數計數單元 302中所計數的連續數不到閾值(例如「7」以下)的缺陷像素的情況下，判斷為「正常」。圖 6的X射線圖像數據50中連續數最大的數為「9」。由於連續數「9」為「8」以上，因此異常 判斷單元32判斷為「異常」。也就是說，異常判斷單元32對X射線平面檢測器14能否經得 住臨床使用進行判斷。在異常判斷單元32判斷為「異常」的情況下，顯示單元34將「異常」信息與由圖 像處理單元24進行了各種過濾處理等各種處理之後的X射線圖像一起，如圖5所示那樣進 行顯示。在顯示單元34上顯示了「異常」信息的情況下，操作者能夠向維護公司請求X射 線平面檢測器14的更換或修理。也就是說，操作者能夠根據與X射線平面檢測器14的缺陷元件對應的缺陷像素的 連續數，掌握X射線平面檢測器14的狀態。並且，操作者能夠對X射線平面檢測器14實施 恰當的處理。另外，在本實施方式中，連續數計數單元302將上、下、左、右相鄰接的缺陷像素的 連續作為缺陷像素的連續數進行計數而檢測連續狀態。但是也可以是，連續數計數單元302 除了上、下、左、右之外還對左上、右上、左下、右下相鄰接的缺陷像素的連續數進行計數，來 檢測連續狀態。(第三實施方式塊計數+連續)利用圖1 6說明第三實施方式。與第一實施方式和第二實施方式的不同點在於， 根據與缺陷元件對應的缺陷像素的塊數和連續數來判斷X射線平面檢測器14是否異常。本 實施方式中的選擇單元304選擇塊數計數單元301和連續數計數單元302。如第一實施方式中所說明的那樣，塊數計數單元301基於存儲在缺陷像素位置存 儲單元28中的X射線圖像數據50的被判別為缺陷元件的全部缺陷像素的位置信息，對其 周圍的缺陷像素進行計數，連續數計數單元302基於存儲在缺陷像素位置存儲單元28中的 X射線圖像數據50的缺陷像素的位置，將與該缺陷像素相鄰接的缺陷像素的連續作為缺陷 相數的連續數進行計數。設定由塊數計數單元301所計數的塊數為「N」。設定由連續數計數單元302所計 數的連續數為「R」。異常判斷單元32檢測X射線圖像數據50中「N+R」最大的數，在存在 「N+R」為閾值以上(例如「15」以上)的缺陷像素的情況下，判斷為「異常」。異常判斷單元 32在存在「N+R」不到閾值(例如「14」以下)的缺陷像素的情況下，判斷為「正常」。具體而言，異常判斷單元32將圖2(B)所示的塊數和圖6所示的連續數在各個缺 陷像素中相加在一起。例如，在缺陷像素(1，1)的情況下，成為塊數「1」、連續數「0」，因此 「N+R」為1。在缺陷像素(8,2)的情況下，成為塊數「8」、連續數「9」，因此「N+R」為17。在缺陷像素(9，9)的情況下，成為塊數「3」、連續數「2」，因此「N+R」為5。由此，異常判斷單元 32通過塊數計數單元301和連續數計數單元302，對X射線圖像數據50的全部的缺陷像素 進行上述計數。X射線圖像數據50中「N+R」最大的數為「21」，由於為閾值以上(「15」以 上)，因此異常判斷單元32判斷為「異常」。在異常判斷單元32判斷為「異常」的情況下，顯示單元34將「異常」信息與由圖 像處理單元24進行了各種過濾處理等各種處理之後的X射線圖像一起，如圖5所示那樣進 行顯示。若操作者觀察到了在顯示單元34上顯示的「異常」信息，就能夠向維護公司請求 X射線平面檢測器14的更換或修理。也就是說，操作者根據與 X射線平面檢測器14的缺陷元件對應的缺陷像素的塊數 和連續數這樣兩個信息，能夠進一步高精度地掌握X射線平面檢測器14的狀態。並且，操 作者能夠對X射線平面檢測器14實施恰當的處理。(第一實施方式 第三實施方式動作)接下來，利用圖7對第一實施方式 第三實施方式的動作進行說明。缺陷像素檢測單元26基於經由圖像收集單元22和圖像處理單元24取得的X射 線圖像數據的缺陷像素的像素值與全部像素的平均像素值之差，檢測像素值低的缺陷像素
(5101)。在沒有檢測出缺陷像素的情況下，異常判斷單元32判斷為「正常」。顯示單元34 僅對由圖像處理單元24構成的X射線圖像進行顯示。在檢測出缺陷像素的情況下，聚塊程 度檢測單元30基於缺陷像素及其周圍的塊或缺陷像素的連續，檢測缺陷元件的聚塊程度
(5102)。若存在由聚塊程度檢測單元30所計數的塊數或連續數為閾值以上的缺陷像素， 則異常判斷單元32判斷為「異常」。此外，在存在由聚塊程度檢測單元30所計數的塊數或 連續數不到閾值的缺陷像素的情況下、或者缺陷像素檢測單元26所檢測出的缺陷像素的 總數微小的情況下，異常判斷單元32判斷為「正常」(S103)。在由異常判斷單元32判斷為「異常」的情況下，顯示單元34將「異常」信息與X射 線圖像一起顯示。在由異常判斷單元32判斷為「正常」的情況下，顯示單元34僅顯示X射 線圖像(S104)。(第四實施方式傾斜(加權))利用圖1 圖8說明第四實施方式。與第一實施方式 第三實施方式的不同點在 於，當在作為缺陷元件被檢測出來的缺陷像素組的規定方向上存在缺陷像素的情況下，施 加權重。本實施方式中的選擇單元304選擇塊數計數單元301和權重設定單元303、或者選 擇連續數計數單元和權重設定單元303。當在檢測出的缺陷像素組的例如傾斜方向上存在缺陷像素52的情況下，權重設 定單元303對塊數計數單元所計數的塊數、或者連續數計數單元302所計數的連續數施加 權重。權重設定單元303當在缺陷像素組的傾斜方向上存在1個缺陷像素的情況下，將權 重「W1」設為「1」，當在缺陷像素組的傾斜方向上存在2個缺陷像素的情況下，將權重「W1」 設為「2」。將塊數計數單元301所計數的塊數設為「N」。將連續數計數單元302所計數的連 續數設為「R」。將權重設定單元301所計數的權重設為「W1」。異常判斷單元32檢測X射線圖像數據50中「N+W1」最大的數，在存在「N+W1」為閾值以上(例如「9」以上)的缺陷像 素的情況下，判斷為「異常」。異常判斷單元32在存在「N+W1」不到閾值(例如「8」以下) 的缺陷像素的情況下，判斷為「正常」。例如在圖8 (A)的情況下，塊數為「3」，並在傾斜方向上存在2個缺陷像素，因此，權 重為「2」。因此，「N+W1」為「5」，所以異常判斷單元32判斷為「正常」。例如在圖8⑶的情況下，塊數為「7」，並在傾斜方向上存在2個缺陷像素，因此權 重為「2」。因此，「N+W1」為「9」，所以異常判斷單元32判斷為「異常」。例如在圖8(C)的情 況下，塊數為「9」，並在傾斜方向上存在2個缺陷像素，因此，權重為「2」。因此，「N+W1」為 「 11 」，所以異常判斷單元32判斷為「異常」。如圖8 (B)、圖8 (C)所示，在像素尺寸為125 μ m 的情況下，缺陷像素組的A-B間的長度為530μπι或548μπι。在該情況下，超過了最大長度 500 μ m。考慮到最大長度500 μ m，來設定異常判斷單元32的閾值。
在由異常判斷單元32判斷為「異常」的情況下，顯示單元34將「異常」信息與由 圖像處理單元24進行了各種過濾處理等各種處理之後的X射線圖像一起，如圖4所示那樣 進行顯示。另外，在本實施方式中，權重設定單元303當在缺陷像素組的傾斜方向上存在缺 陷像素的情況下施加權重，但是也可以是，當在縱向或橫向上存在缺陷像素的情況下也同 樣施加權重。此外，權重設定單元303也可以是使用連續數「R」進行判斷。(第五實施方式形狀不能夠進行校正的塊，缺陷像素被缺陷像素包圍(加權))接下來利用圖1 圖8說明第五實施方式。與第一實施方式 第四實施方式之間 的不同點在於，基於作為缺陷元件被檢測出來的缺陷像素組的形狀來施加權重。由缺陷像素(5，4)、(5,5)構成的塊由於在周圍有有效的像素，因此能夠通過插補 周圍的像素信息來對這些缺陷像素進行校正。但是，關於由(8，15)、(7，16)、(8，16)、(9， 16)、(7，17)、(8，17)、(9，17)構成的塊，在缺陷像素(8，16)的周圍(上下左右)沒有有效 的像素，因此不能夠對缺陷像素(8，16)進行校正。將權重設定單元303所計數的權重設為「W2」。權重設定單元303當在檢測出的缺 陷像素組內的某個缺陷像素的周圍沒有有效的像素的情況下，對塊數計數單元301所計數 的塊數、或者連續數計數單元302所計數的連續數施加權重「3」。異常判斷單元32檢測X射線圖像數據50中「N+W2」最大的數，在存在「N+W2」為 閾值以上(例如「9」以上)的缺陷像素的情況下，判斷為「異常」。異常判斷單元32在存 在「N+W2」不到閾值(例如「8」以下)的缺陷像素的情況下，判斷為「正常」。例如在缺陷像 素(8，16)的情況下，由於「N+W2」為「9」，因此，異常判斷單元32將缺陷像素(8，16)判斷為
「異常」。在由異常判斷單元32判斷為「異常」的情況下，顯示單元34將「異常」信息與由 圖像處理單元24進行了各種過濾處理等各種處理之後的X射線圖像一起，如圖4所示那樣 進行顯示。這樣，存在即使根據塊數或連續數被判斷為「正常」但通過施加權重卻成為「異常」 的情況。也就是說，操作者通過X射線平面檢測器14的權重信息，能夠更高精度地掌握X 射線平面檢測器14的狀態。並且，操作者能夠對X射線平面檢測器14實施恰當的處理。權重設定單元303當在檢測出的缺陷元件組內的某個缺陷像素的周圍沒有有效的像素的情況下，施加了權重「3」，但是，當在缺陷像素的除了上、下、左、右之外在左上、右上、左下、右下也沒有有效像素的情況下，可以進一步施加權重。(第四實施方式、第五實施方式動作)接下來，利用圖6對第四實施方式、第五實施方式的動作進行說明。缺陷像素檢測 單元26基於經由圖像收集單元22和圖像處理單元24取得的X射線圖像數據的缺陷像素 的像素值與全部像素的平均像素值之差，檢測像素值低的缺陷像素(S201)。在沒有檢測出缺陷像素的情況下，異常判斷單元32判斷為「正常」。顯示單元34 僅對由圖像處理單元24構成的X射線圖像進行顯示。在檢測出缺陷像素的情況下，聚塊程 度檢測單元30基於缺陷像素及其周圍的塊或缺陷像素的連續，檢測缺陷像素即缺陷元件 的聚塊程度(S202)。若存在由聚塊程度檢測單元30所計數的塊數或連續數為閾值以上的缺陷像素， 則異常判斷單元32判斷為「異常」。此外，在存在由聚塊程度檢測單元30所計數的塊數或 連續數不到閾值的缺陷像素的情況下、或者缺陷像素檢測單元26所檢測出的缺陷像素的 總數微小的情況下，異常判斷單元32判斷為「正常」(S203)。在S203判斷為「正常」的情況下，對聚塊程度檢測單元30所計數的塊數或連續數 施加基於缺陷像素的配置或塊的形狀的權重，若存在上述閾值以上的缺陷像素，則異常判 斷單元32判斷為「異常」(S204)。在異常判斷單元32判斷為「異常」的情況下，顯示單元34將「異常」信息與X射 線圖像一起顯示。在異常判斷單元32判斷為「正常」的情況下，顯示單元34僅顯示X射線 圖像(S205)。(第六實施方式圖像校正)接下來，利用圖2 圖10說明第六實施方式。與第一實施方式 第五實施方式之 間的不同點在於，在異常判斷單元32判斷為「正常」的情況下，對X射線圖像數據的缺陷像 素進行校正。在本實施方式中，具備對經由圖像收集單元22和圖像處理單元24得到的X射線 圖像數據進行校正、將校正後的X射線圖像顯示於顯示單元34的圖像校正單元38。圖像校 正單元38與異常判斷單元32相連接，被輸入由異常判斷單元32判斷的「異常」或「正常」 的信息。如上所述，當在第一實施方式 第五實施方式中由異常判斷單元32判斷為「正 常」的情況下，圖像校正單元38對X射線圖像數據的缺陷像素進行校正。圖像校正單元38 將缺陷像素周圍的有效像素的像素值平均化，將該缺陷像素置換為平均化後的像素值。具 體而言，圖像校正單元38計算例如缺陷像素(1,1)周圍的有效像素(2，1)、(1，2)、(2，2)的 像素值的平均值。並且，圖像校正單元38將缺陷像素(1，1)的像素值置換為計算出的平均 值。此外，圖像校正單元38計算例如缺陷像素(10,4)周圍的有效像素(10，3)、(9，5)、(10， 5)、(11,5)的像素值的平均值。並且，圖像校正單元38將缺陷像素(10，4)的像素值置換 為計算出的平均值。由此，圖像校正單元38對X射線圖像數據50的全部的缺陷像素進行 校正。並且，圖像校正單元38使校正後的X射線圖像顯示於顯示單元34。在異常判斷單元32判斷為「異常」的情況下，不進行X射線圖像數據的校正。顯示 單元34將「異常」信息與從圖像處理單元24輸出的未經校正的X射線圖像一起如圖5所示那樣進行顯示。如上所述，在異常判斷單元32判斷為「正常」的情況下，能夠基於有效像素對X射 線圖像數據的缺陷像素進行校正，並且顯示單元34能夠顯示校正後的X射線圖像。(第七實施方式維護伺服器)接下來，利 用圖2 圖10說明第七實施方式。與第一實施方式 第六實施方式之 間的不同點在於，經由網絡與維護伺服器36之間進行缺陷像素信息的聯絡，由第二異常判 斷單元40進行判斷。具備經由網絡與信號處理部20連接的維護伺服器36、第二異常判斷單元40和第 二顯示單元42。這些單元設置在維護公司中。從設置於全國各地的醫院中的多個X射線診斷裝置的信號處理部20輸出的缺陷 像素信息，經由網絡被輸入至維護伺服器36。具體而言，來自缺陷像素檢測單元26、缺陷像 素位置存儲單元28、聚塊程度檢測單元30的缺陷像素信息被輸入至維護伺服器36，其中缺 陷像素檢測單元26對X射線平面檢測器18的全部的X射線檢測元件進行與缺陷元件對應 的缺陷像素的檢測，缺陷像素位置存儲單元28對X射線圖像數據50的缺陷像素的位置進 行存儲，聚塊程度檢測單元30基於缺陷像素的位置信息對其周圍的缺陷像素進行計數從 而檢測聚塊程度。維護伺服器36將這些多個缺陷像素信息與時間信息一起進行存儲。第二異常判斷單元40與異常判斷單元32之間在所設定的閾值這一點不同。異常 判斷單元32檢測X射線圖像數據50中塊數最大的數，在存在塊數為閾值以上(例如「9」 以上)的缺陷像素的情況下，判斷為「異常」。而第二異常判斷單元40的閾值與異常判斷單 元32中設定的閾值相比設定得更低。具體而言，第二異常判斷單元40檢測X射線圖像數 據50中塊數最大的數，在存在塊數為閾值以上(例如「5」以上)的缺陷像素的情況下，判 斷為「異常」。通過將第二異常判斷單元40的閾值設定得低於異常判斷單元32中設定的閾值， 能夠在X射線平面檢測器14成為「異常」之前通知維護公司，維護公司能夠適當地進行X射 線平面檢測器14的更換或修理。(經過信息)維護伺服器36將取得缺陷像素信息的時間信息與缺陷像素信息一起存儲。例如， 設定在時間Tl時塊數為「3」，設定在從時間Tl經過規定時間之後的時間T2時塊數為「5」。 第二異常判斷單元40根據每單位時間的塊數的增加率((5-3) / (T2-T1))，計算還需要多少 時間((T2-T1)X3)塊數達到閾值以上(「9」以上)。第二顯示單元42顯示器剩餘時間。 因此，能夠在X射線平面檢測器14成為「異常」之前通知維護公司，維護公司能夠適當地進 行X射線平面檢測器14的更換或修理。另外，本實施方式特定了第一實施方式中說明的塊數，但是使用其他實施方式所 公開的連續數等也同樣能夠實施本實施方式。
權利要求
一種X射線診斷裝置，具備具有X射線管的X射線發生器、與X射線發送器相對配置的X射線平面檢測器、基於從上述X射線平面檢測器讀出的X射線圖像數據進行圖像處理的圖像處理單元、以及對進行了該圖像處理的X射線圖像或透視圖像進行顯示的顯示單元，所述X射線診斷裝置的特徵在於，包括缺陷像素檢測單元，根據上述X射線圖像數據的像素信息，檢測與上述X射線平面檢測器的缺陷元件對應的缺陷像素；聚塊程度檢測單元，根據檢測出的上述缺陷像素，檢測上述X射線平面檢測器的缺陷元件的聚塊程度；以及異常判斷單元，基於上述聚塊程度，判斷上述X射線平面檢測器是否異常。
2.如權利要求1所述的X射線診斷裝置，其特徵在於，上述缺陷像素檢測單元基於上述X射線圖像數據的全部像素的平均像素值，檢測上述 缺陷像素。
3.如權利要求1所述的X射線診斷裝置，其特徵在於，上述聚塊程度檢測單元具備塊數計數單元，該塊數計數單元對在以上述缺陷像素為中 心設定的二維搜索區域內包含的上述缺陷像素的塊數進行計數；上述異常判斷單元基於上述塊數，判斷上述X射線平面檢測器是否異常。
4.如權利要求1所述的X射線診斷裝置，其特徵在於，上述聚塊程度檢測單元具備連續數計數單元，該連續數計數單元基於上述缺陷像素的 位置信息，對相鄰的上述缺陷像素的連續數進行計數；上述異常判斷單元基於上述連續數，判斷上述X射線平面檢測器是否異常。
5.如權利要求3或4所述的X射線診斷裝置，其特徵在於，上述異常判斷單元基於上述塊數及上述連續數，判斷上述X射線平面檢測器是否異堂巾O
6.如權利要求3或4所述的X射線診斷裝置，其特徵在於，上述異常判斷單元檢測上述X射線圖像數據中上述塊數或上述連續數最大的數，在上 述塊數或上述連續數為預先設定的閾值以上的情況下，判斷為異常。
7.如權利要求3或4所述的X射線診斷裝置，其特徵在於，上述聚塊程度檢測單元具備權重設定單元，該權重設定單元當在由多個上述缺陷像素 構成的缺陷像素組的規定方向上存在上述缺陷像素的情況下，對上述塊數或上述連續數施 加權重，上述異常判斷單元基於被施加了上述權重的上述塊數或上述連續數，判斷上述X射線 平面檢測器是否異常。
8.如權利要求3或4所述的X射線診斷裝置，其特徵在於，上述聚塊程度檢測單元具備權重設定單元，該權重設定單元基於由多個上述缺陷像素 構成的缺陷像素組的形狀，對上述塊數或上述連續數施加權重，上述異常判斷單元通過被施加了上述權重的上述塊數或上述連續數，判斷上述X射線 平面檢測器是否異常。
9.如權利要求1所述的X射線診斷裝置，其特徵在於，具備第二異常判斷單元，該第二異常判斷單元設定有不同於上述異常判斷單元的閾值，基於上述缺陷像素及其周圍的上述缺陷像素，判斷上述X射線平面檢測器是否異常。
10.如權利要求9所述的X射線診斷裝置，其特徵在於，上述第二異常判斷單元基於每單位時間的塊數的增加率，計算上述X射線平面檢測器 被判斷為異常的時間。
11.如權利要求1所述的X射線診斷裝置，其特徵在於，在上述缺陷像素檢測單元沒有檢測出上述缺陷像素的情況下，或者上述缺陷像素的總 數微小的情況下，上述異常判斷單元將上述X射線平面檢測器判斷為正常。
12.如權利要求1所述的X射線診斷裝置，其特徵在於，具備圖像校正單元，該圖像校正單元將上述缺陷像素周圍的有效像素的像素值平均 化，並將上述缺陷像素置換為平均化了的像素值。
全文摘要
提供能夠適當掌握X射線平面檢測器的缺陷元件的狀態的X射線診斷裝置。X射線裝置具有具有X射線管的X射線發生器(10)、與X射線發生器(10)相對配置的X射線平面檢測器(14)、基於X射線平面檢測器(14)讀出的X射線圖像數據進行圖像處理的圖像處理單元(24)、和對進行了該圖像處理的X射線圖像或透視圖像進行顯示的顯示單元(34)，該X射線裝置包括缺陷像素檢測單元(26)，根據X射線圖像數據的像素信息，檢測與X射線平面檢測器(14)的缺陷元件對應的缺陷像素；異常判斷單元(32)，基於檢測出的缺陷像素及其周圍的缺陷像素，檢測X射線平面檢測器(14)的缺陷元件的聚塊程度，判斷X射線平面檢測器是否異常。
文檔編號A61B6/00GK101959461SQ20098010629
公開日2011年1月26日 申請日期2009年3月2日 優先權日2008年3月13日
發明者竹之內忍, 鈴木克己 申請人:株式會社日立醫療器械