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一種光通信設備系統穩定性的模擬測試方法

2024-04-07 06:29:05 1

專利名稱:一種光通信設備系統穩定性的模擬測試方法
技術領域:
本發明涉及光通信產品測試領域。
背景技術:
對於使用光信號的通信設備,光接收端的信號發生異常變化,比如光纖由於外間的環境變化使得其內部的雷射發生瞬間異常衰減甚至間斷,在光接受端出現異常恢復後,設備系統能否迅速地恢復正常,是衡量一個光通信設備穩定性的一個重要方面。
圖1是一個簡單的MSP網絡,如圖所示,NE1-NE4為光網絡通信設備,該MSP網絡是由光網絡通信設備通過光纖組成的一個閉環網。當NE2從第一組光纖接受發現異常後,網絡能夠正常保護,當光信號恢復後,網絡保護在一定的時間後將執行恢復,但NE2在接受光信號出現異常後,若NE2系統不能正確處理,那麼光信號恢復後,網絡就可能會出現兩種情況網絡不能在規定時間後執行保護恢復;網絡可以在規定時間後執行保護恢復,但恢復後,網絡出現異常。
圖1僅是一個簡單的例子,凡是涉及到光信號接口的設備都有可能在外界光信號出現異常而使得系統處理失常,從而使得系統外界光信號異常條件恢復後,系統不能正常恢復,比如SDH(光同步數字傳輸系統)、GE(千兆光口乙太網)、FE(百兆光口乙太網)等等都可能會出現這些問題。因此,對於光口異常的穩定性測試對於這些設備很有必要。
在現有的技術中主要通過以下兩個方法進行光口異常測試1)通過拔插光纖或者關斷髮雷射器來進行光口異常測試。
2)通過調整機械衰減器來進行光口異常測試。
上面兩個方法都有比較大的缺陷(1)方法一中的拔插光纖的控制光口的異常測試時間太長(異常至少在100ms以上),而關斷髮雷射器的時間太短(一般在1ms以內),1ms~100ms之間的異常,該方法基本無法進行控制;另外該方法只能進行通斷控制,無法進行光功率異常衰減控制。
(2)方法二中的測試方法控制時間很長,經常需要秒級的時間才能產生相應的光功率異常;並且該方法很難進行光的快速通斷控制。
綜上所述,現有技術中的測試方法很難進行光功率異常的時間控制以及幅度控制,這就導致很難進行光功率瞬間突變、光功率連續突變等方面的異常測試。

發明內容
本發明提供一種光通信設備的系統穩定性模擬測試方法,包括下列步驟A)將被測試設備接入一光網絡中;B)在被測試設備的光接收端與雷射發生器之間接入一可調光衰減裝置;C)通過改變所述可調光衰減裝置的衰減量,使被測試設備的光接收端所接收的光功率產生變化;D)恢復正常光功率後,檢測被測試設備的系統是否工作正常。
所述的可調光衰減裝置為程控可調光衰減裝置。
所述步驟C中改變所述可調光衰減裝置的衰減量是通過控制軟體來實現的。
所述可調光衰減裝置包括參數輸入輸出模塊接收用戶給出的測試參數,並將測試參數傳遞給測試參數解釋模塊;測試參數解釋模塊根據測試參數產生相應的時間和衰減量的二維數據;當前衰減控制模塊根據當前時間的衰減量產生控制信號,並將控制信號送至快速衰減產生模塊;快速衰減產生模塊根據控制信號的大小產生相應的光衰減量,實現光功率變化。
所述步驟C)包括31)通過控制軟體調節光功率衰減量,使得被測試設備出現零星的問題,保持幾秒級時間後,恢復正常光功率;32)通過控制軟體調節光功率衰減量,使得被測試設備出現比較嚴重的問題,保持幾秒級時間後,恢復正常光功率;33)通過控制軟體調節光功率衰減量,使得被測試設備出現很嚴重的問題,保持幾秒級時間後,恢復正常光功率。
所述步驟C)包括41)通過控制軟體產生突發低光功率,使該低光功率在被測試設備的容限內,保持幾毫秒級時間後,恢復正常光功率;42)通過控制軟體產生突發低光功率,使該低光功率稍大於被測試設備的容限,保持幾毫秒級時間後,恢復正常光功率;43)通過控制軟體產生突發低光功率,使該低光功率小幅度超出被測試設備的容限,保持幾毫秒級時間後,恢復正常光功率;44)通過控制軟體產生突發低光功率,使該低光功率大幅度超出被測試設備的容限,保持幾毫秒級時間後,恢復正常光功率。
所述步驟C)包括51)通過控制軟體連續產生多次低光功率,每次低光功率的維持時間為毫秒級,間隔時間為毫秒級,並使該低光功率在設備的容限內,之後恢復正常光功率;52)通過控制軟體連續產生多次低光功率,每次低光功率的維持時間為毫秒級,間隔時間為毫秒級,並使該低光功率稍大於被測試設備的容限,之後恢復正常光功率;
53)通過控制軟體連續產生多次低光功率,每次低光功率的維持時間為毫秒級,間隔時間為毫秒級,並使該低光功率小幅度超出被測試設備的容限,之後恢復正常光功率;54)通過控制軟體產生連續產生多次低光功率,每次低光功率的維持時間為毫秒級,間隔時間為毫秒級,並使該低光功率大幅度超出被測試設備的容限,之後恢復正常光功率。
所述產生的控制信號為電壓信號或電流信號。
採用本發明的測試方法,可以進行光功率異常時間控制以及幅度控制,實現對光通信設備在光功率瞬間突變、光功率連續突變等情況下,系統穩定性的測試。


圖1為現有技術中的MSP光網絡示意圖。
圖2為本發明方法實施例方框圖。
圖3為本發明方法測試流程圖。
圖4為本發明方法具體實施方式
方框圖之一。
圖5為本發明方法具體實施方式
方框圖之二。
圖6為本發明方法具體實施方式
方框圖之三。
具體實施例方式
參見圖2,由光通信設備NE1-NE4組成一閉環的MSP光網絡,使被測試設備NE2的光接收端連接一個程控可調光衰減裝置,該程控可調光衰減裝置包括四個功能模塊,如圖所示,分別為參數輸入輸出模塊、測試參數解釋模塊、當前衰減控制模塊和快速衰減產生模塊。圖3為上述四個功能模塊的工作流程示意圖,各模塊的功能如下所述參數輸入輸出模塊可以通過硬體鍵盤輸入參數,由該裝置中的控制軟體進行讀取;或者由計算機軟體輸出參數,通過接口輸入到該程控可調光衰減裝置中;測試參數解釋模塊通過軟體對輸入的參數進行解釋,主要是根據這些參數產生相應的時間和衰減量的二維數據;當前衰減控制模塊根據當前時間的衰減量,產生一個控制信號(電壓信號或者電流信號),並將該控制信號送至快速衰減產生模塊;快速衰減產生模塊根據當前衰減控制模塊輸出的控制信號產生相應的衰減量,控制光信號功率產生相應的變化。
圖4為模擬異常低光功率情況下,測試光通信設備系統穩定性的方框圖。其測試原理如上所述,其具體的測試方法如下(1)通過控制軟體緩慢調節光功率衰減量,使得被測試設備出現零星的問題(比如小誤碼),保持一段比較長的時間後(比如秒級時間),恢復光功率正常後,檢測被測試設備在一定的時間內是否可以自動恢復正常;(2)通過控制軟體緩慢調節光功率衰減量,使得被測試設備出現比較嚴重的問題(比如大誤碼,或者出現比較嚴重的告警等等),保持一段比較長的時間後(比如秒級時間),恢復光功率正常後,檢測被測試設備在一定的時間內是否可以自動恢復正常;(3)通過控制軟體緩慢調節光功率衰減量,使得被測試設備出現很嚴重的問題(比如SDH中的LOF或者LOS之類的告警等等),保持一段比較長的時間後(比如秒級時間),恢復光功率正常後,檢測被測試設備在一定的時間內是否可以自動恢復正常。
圖5為模擬突發低光功率情況下,測試光通信設備系統穩定性的方框圖。其測試原理如上所述,其具體的測試方法如下(1)通過控制軟體產生突發低光功率,其低光功率在設備的容限內,一般產生異常時間t為毫秒級,恢復光功率正常後,檢測被測試設備在一定的時間內是否可以自動恢復正常;
(2)通過控制軟體產生突發低光功率,其低光功率稍稍超出了設備的容限(比如小誤碼),一般產生異常時間t為毫秒級,恢復光功率正常後,檢測被測試設備在一定的時間內是否可以自動恢復正常;(3)通過控制軟體產生突發低光功率,其低光功率有一定程度地超出了設備的容限(比如大誤碼),一般產生異常時間t為毫秒級,恢復光功率正常後,檢測被測試設備在一定的時間內是否可以自動恢復正常;(4)通過控制軟體產生突發低光功率,其低光功率遠遠超出了設備的容限(比如SDH中的LOF或者LOS之類的告警等等),一般產生異常時間t為毫秒級,恢復光功率正常後,檢測被測試設備在一定的時間內是否可以自動恢復正常。
圖6為模擬連續低光功率情況下,測試光通信設備系統穩定性的方框圖。其測試原理如上所述,其具體的測試方法如下(1)通過控制軟體產生連續低光功率,其低光功率在設備的容限內,一般產生異常時間t1、間隔時間t2為毫秒級,連續次數n為幾十、幾百或者幾千次以上,恢復光功率正常後,檢測被測試設備在一定的時間內是否可以自動恢復正常;(2)通過控制軟體產生連續低光功率,其低光功率稍稍超出了設備的容限(比如小誤碼),一般產生異常時間t1、間隔時間t2為毫秒級,連續次數n為幾十、幾百或者幾千次以上,恢復光功率正常後,檢測被測試設備在一定的時間內是否可以自動恢復正常;(3)通過控制軟體產生連續低光功率,其低光功率有一定程度地超出了設備的容限(比如大誤碼),一般產生異常時間t1、間隔時間t2為毫秒級,連續次數n為幾十、幾百或者幾千次以上,恢復光功率正常後,檢測被測試設備在一定的時間內是否可以自動恢復正常;(4)通過控制軟體產生連續低光功率,其低光功率遠遠超出了設備的容限(比如SDH中的LOF或者LOS之類的告警等等),一般產生異常時間t1、間隔時間t2為毫秒級,連續次數n為幾十、幾百或者幾千次以上,恢復光功率正常後,檢測被測試設備在一定的時間內是否可以自動恢復正常。
以上所述,僅為本發明較佳的具體實施方式
,但本發明的保護範圍並不局限於此,任何熟悉本技術領域的技術人員在本發明揭露的技術範圍內,可輕易想到的變化或替換,都應涵蓋在本發明的保護範圍之內。因此,本發明的保護範圍應該以權利要求書的保護範圍為準。
權利要求
1.一種光通信設備的系統穩定性模擬測試方法,包括下列步驟A)將被測試設備接入一光網絡中;B)在被測試設備的光接收端與雷射發生器之間接入一可調光衰減裝置;C)通過改變所述可調光衰減裝置的衰減量,使被測試設備的光接收端所接收的光功率產生變化;D)恢復正常光功率後,檢測被測試設備的系統是否工作正常。
2.如權利要求1所述的光通信設備的系統穩定性模擬測試方法,其特徵在於所述的可調光衰減裝置為程控可調光衰減裝置。
3.如權利要求1或2所述的光通信設備的系統穩定性模擬測試方法,其特徵在於,所述步驟C中改變所述可調光衰減裝置的衰減量是通過控制軟體來實現的。
4.如權利要求1或2所述的光通信設備的系統穩定性模擬測試方法,其特徵在於所述可調光衰減裝置包括參數輸入輸出模塊接收用戶給出的測試參數,並將測試參數傳遞給測試參數解釋模塊;測試參數解釋模塊根據測試參數產生相應的時間和衰減量的二維數據;當前衰減控制模塊根據當前時間的衰減量產生控制信號,並將控制信號送至快速衰減產生模塊;快速衰減產生模塊根據控制信號的大小產生相應的光衰減量,實現光功率變化。
5.如權利要求3所述的光通信設備的系統穩定性模擬測試方法,其特徵在於所述步驟C)包括31)通過控制軟體調節光功率衰減量,使得被測試設備出現零星的問題,保持幾秒級時間後,恢復正常光功率;32)通過控制軟體調節光功率衰減量,使得被測試設備出現比較嚴重的問題,保持幾秒級時間後,恢復正常光功率;33)通過控制軟體調節光功率衰減量,使得被測試設備出現很嚴重的問題,保持幾秒級時間後,恢復正常光功率。
6.如權利要求3所述的光通信設備的系統穩定性模擬測試方法,其特徵在於所述步驟C)包括41)通過控制軟體產生突發低光功率,使該低光功率在被測試設備的容限內,保持幾毫秒級時間後,恢復正常光功率;42)通過控制軟體產生突發低光功率,使該低光功率稍大於被測試設備的容限,保持幾毫秒級時間後,恢復正常光功率;43)通過控制軟體產生突發低光功率,使該低光功率小幅度超出被測試設備的容限,保持幾毫秒級時間後,恢復正常光功率;44)通過控制軟體產生突發低光功率,使該低光功率大幅度超出被測試設備的容限,保持幾毫秒級時間後,恢復正常光功率。
7.如權利要求3所述的光通信設備的系統穩定性模擬測試方法,其特徵在於所述步驟C)包括51)通過控制軟體連續產生多次低光功率,每次低光功率的維持時間為毫秒級,間隔時間為毫秒級,並使該低光功率在設備的容限內,之後恢復正常光功率;52)通過控制軟體連續產生多次低光功率,每次低光功率的維持時間為毫秒級,間隔時間為毫秒級,並使該低光功率稍大於被測試設備的容限,之後恢復正常光功率;53)通過控制軟體連續產生多次低光功率,每次低光功率的維持時間為毫秒級,間隔時間為毫秒級,並使該低光功率小幅度超出被測試設備的容限,之後恢復正常光功率;54)通過控制軟體產生連續產生多次低光功率,每次低光功率的維持時間為毫秒級,間隔時間為毫秒級,並使該低光功率大幅度超出被測試設備的容限,之後恢復正常光功率。
8.如權利要求4所述的光通信設備的系統穩定性模擬測試方法,其特徵在於所述產生的控制信號為電壓信號或電流信號。
全文摘要
本發明有關一種光通信設備的系統穩定性模擬測試方法,包括步驟A)將被測試設備接入一光網絡中;B)在被測試設備的光接收端與雷射發生器之間接入一程控可調光衰減裝置;C)通過控制軟體改變所述程控可調光衰減裝置的衰減量,使被測試設備的光接收端所接收的光功率產生變化;D)恢復正常光功率後,檢測被測試設備的系統是否工作正常。採用本發明的測試方法,可以進行光功率異常時間控制以及幅度控制,實現對光通信設備在光功率瞬間突變、光功率連續突變等情況下,系統穩定性的測試。
文檔編號H04B10/08GK1725672SQ20041006958
公開日2006年1月25日 申請日期2004年7月20日 優先權日2004年7月20日
發明者王燾濤 申請人:華為技術有限公司

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