用於嵌入式設備開發調試的通用接口設備的製作方法

2024-01-30 03:23:15

專利名稱：：用於嵌入式設備開發調試的通用接口設備的製作方法
技術領域：
：本發明涉及一種用於嵌入式設備開發調試的通用接口設備。
背景技術：
：目前的嵌入式設備開發調試設備，使現有的嵌入式開發調試比較麻煩，需要專門為設備製作調試線或者調試工具。這些工具靈活性不大，只能針對一種調試對象設備，而且使用不方便。在開發調試工作中，現有技術的設備使簡單的調試線容易損壞，這也無形中增加了開發調試的困難。
發明內容克服現有開發調試中所存在缺點，進一步提高嵌入式開發調試效率，節省開銷，乃是本發明所要解決的技術問題，為此，本發明的目的在於提供一種用於嵌入式設備開發調試的通用接口設備，該設備有靈活的配置程序和簡易的使用方法。本發明的技術方案如下本發明的一種用於嵌入式設備開發調試的通用接口設備，包括用於設備的控制和配置接口、活動升降支架、控制晶片、供電電源接口、JTAG調試接口、調試探針板、調試板(開發設備)、底座固定臺、以及復位按鍵，通過供電電源接口為控制晶片提供工作電壓，通過設備的控制和配置接口對設備進行控制和配置，使得調試探針板中的必要部分生效，然後這些調試探針板被壓下後與固定在底座臺上的調試板上的觸點連接，就可以通過JTAG調試接口進行調試；通過復位按鍵對調試對象復位。本發明的有益效果是通過靈活的配置，使得JTAG調試接口可開發調試不同的調試開發對象，從而提供了穩定而簡單的統一接口。本發明亦為不同的設備對象提供了簡易的配置界面，使得開發調試工作簡單化，穩定性好。圖1是本發明的總體結構框架示意圖。圖2a是本發明的第一種密度的探針板調試板示意圖。圖2a是本發明的第二種密度的探針板調試板示意圖。圖3是本發明使用狀態連接示意圖。圖4是本發明JTAG接口的截面示意圖。具體實施例方式下面根據圖l、圖2、圖3、和圖4給出本發明一個實施例，並通過對實施例的描述，進一步給出本發明的具體實施細節，使能更好地說明本發明的方法特徵和功能特色，而不是用來限定本發明的範圍。如圖1所示，通過供電電源接口4為控制晶片3提供工作電壓，通過設備控制和配置接口1對設備進行控制和配置，設備控制和配置接口1採用USB接口，使得調試探針板6中的必要部分生效。然後這些調試探針被壓下後與固定在底座臺8上的調試板7上的觸點連接，就可以通過JTAG調試接口5進行調試了，通過開機鍵9對調試對象加電。控制晶片3採用單片機開發。當收到USB配置命令時，如命令合法，對命令進行解析，並通過電路控制連接相應的調試探針板6上的探針，使所述探針與JTAG調試接口5引腳映射。最多可以同時映射16根探針，足夠使用。圖2a和圖2b示意了對於不同密度PCB板的使用方法。對於PCB板的不同要求可以對觸點(pad)間的距離要求有限制，本發明提供了對於這類情況的解決方法，使用不同密度的探針板。在配置調試套件軟體方面。首先，選擇針間距，這和調試對象的PCB布局密度有關。在PCB設計的時候，對於JTAG觸點(pad)的布局，需要根據情況選擇其中的一種，一般支持針間距是lram，2mm，3mm等幾種。並且相應地這些JTAG觸點、開關機鍵、復位鍵等需要設計在25水45cm的矩形區域內。然後選中針腳的編號，Ce探針被選中，在"探針編號"中會顯示Ce，然後"配置為"選擇框中選擇需要配置成的針腳名稱，如"RTCK"為JTAG接口的標準引腳之一。當按下"設置"按鍵後，就會通過USB總線配置，將Ce引腳和RTCK綁定。當"設置"成功後，會在右邊的編輯框中顯示。當一組參數全部設置完成後，可以保存到文件(默認為Default.txt)，下次可以方便使用配置。默認情況下，沒有默認配置文件或配置文件不合法及錯誤，開機後探針為斷路。在配置完成或者加載配置文件後才可以使用。通過命令可以清除配置。圖3是本發明使用狀態示意圖。PC端調試配置工具11通過USB總線12設置探針的映射關係，映射到如圖4所示的接口，另外，開關機鍵和復位鍵也需要映射。當配置完成後，就可以使用通常的JTAG調試器13通過JTAG線15連接調試架14進行調試了。本發明中對於命令格式，文件的保存格式作出如下具體規定。關於命令格式，採用統一的方式。tableseeoriginaldocumentpage5其中，OperateCode為一個字節(1)。Length為一個字節(1)。Data為n個字節，具體為Length域表明。tableseeoriginaldocumentpage6tableseeoriginaldocumentpage7關於文件格式的保存，採用ASCII碼表示，使用中括號間隔。PCB板測試點布局設計要求參考如下，1,所有觸點必須在PCB板一側；2，所有觸點必須分布在探針所確定的平面矩形中；3，儘量集中分布；4，觸點的間距根據lmm，2mm等單位距離的整數倍垂直水平分布。權利要求1、一種用於嵌入式設備開發調試的通用接口設備，包括設備控制和配置接口(1)、活動升降支架(2)、控制晶片(3)、供電電源接口(4)、JTAG調試接口(5)、調試探針板(6)、調試板(7)、底座固定臺(8)以及復位按鍵(9)，其特徵在於，通過供電電源接口(4)為控制晶片(3)提供工作電壓，通過設備控制和配置接口(1)對設備進行控制和配置，使得調試探針板(6)中的必要部分生效，所述調試探針板(6)被壓下後與固定在底座臺(8)上的調試板(7)上的觸點連接，就可以通過JTAG調試接口(5)進行調試，通過開機鍵(9)對調試對象加電。2、如權利要求1所述的用於嵌入式設備開發調試的通用接口設備，其特徵是，控制晶片(3)採用單片機開發。3、如權利要求1所述的用於嵌入式設備開發調試的通用接口設備，其特徵是，當控制晶片(3)收到USB配置命令時，對命令進行解析，如命令合法，則通過電路控制連接相應的調試探針板(6)上的探針，使所述探針與JTAG調試接口(5)引腳映射。全文摘要本發明提供一種用於嵌入式設備開發調試的通用接口設備，主要克服現有開發調試接口類型結構差異性大的缺點，在嵌入式設備開發中，一般都採用JTAG(JOINTTESTACTIONGROUP)作為調試接口，但是由於嵌入式設備的差異性，導致了JTAG調試接口的巨大差異，使得以前開發的接口設備無法重複使用，造成重大的資源浪費，也給開發人員帶來不便。同時由於嵌入式設備一般比較小，本發明針對這種情況還可以更換不同密度的探針板作為一種靈活的選擇。本發明通過對大多數設備的通用性進行提煉和總結，提出一種簡單方便，切實可行，功能強大的解決方法，提高了設備的重複使用率，明顯節約開發成本。文檔編號G01R31/317GK101458303SQ20071017232公開日2009年6月17日申請日期2007年12月14日優先權日2007年12月14日發明者斌吳申請人:希姆通信息技術(上海)有限公司