Pic控制器在系統調試方法及系統的製作方法

2024-02-08 19:18:15

專利名稱：Pic控制器在系統調試方法及系統的製作方法
技術領域：
本發明涉及單片機控制領域，特別涉及PIC控制器(PeripheralInterfaceController,外圍接口控制器)在系統調試方法及系統。
背景技術：
PIC控制器所有的中檔晶片全部提供在系統編程功能，在系統編程可以縮減大量
的開發時間，使產品更快的被推向市場。在系統編程功能需要通過兩條主要線路與三條輔
助線路實現，其中，兩條主要線路包括時鐘線(CLOCK)與數據線(DATA);三條輔助線路包括
編程電壓線(Programming voltage)、電源線(POWER)和地線(GROUND)。 PIC控制器的製造商Microchip提供了仿真器，用於通過PIC控制器的編程接口
編程時鐘接口 (PGC)、編程數據接口 (PGD)、編程電壓接口 (VPP)、電源接口 (VDD)、地線接口
(VSS)實現對PIC控制器進行在系統編程和調試。而這種仿真器對用戶是透明的，通過這種
仿真器對PIC控制器進行在系統調試，對於用戶來說調試代碼不具有通用性。 現有技術中除了採用PIC控制器的製造商提供的仿真器對PIC控制器在系統調試
外，還可以通過PIC控制器可使用接口中任意可用1/0接口對PIC控制器在系統調試。但
PIC控制器的1/0接口有限，在某些情況下會出現PIC控制器的1/0接口資源缺乏的現象。

發明內容
為了解決上述問題，本發明提供了 PIC控制器在系統調試方法及系統，目的是增強調試代碼的通用性，提高PIC控制器的接口利用率。
本發明一方面提供了 PIC控制器在系統調試方法，該方法包括通過PIC控制器的
編程接口對所述PIC控制器進行在系統編程，使所述PIC控制器的接口中至少兩個接口用
作通信接口 ；以及通過所述PIC控制器的所述通信接口對所述PIC控制器進行在系統調試。 較優的，通信接口為所述PIC控制器的編程時鐘接口和編程數據接口 。 較優的，PIC控制器的編程數據接口作為通信接口時，編程數據接口由PIC控制器驅動。 較優的，PIC控制器的編程時鐘接口作為通信接口對PIC控制器進行在系統調試時，用於接收外部調試指令，PIC控制器的編程數據接口作為通信接口對PIC控制器進行在系統調試時，用於向外部發送PIC控制器運行時的信息。 本發明另一方面提供了實現PIC控制器在系統調試系統，包括PIC控制器、編程/調試單元以及連接PIC控制器和編程/調試單元的在系統編程連接器，編程/調試單元通過在系統編程連接器，利用pic控制器的編程接口對pic控制器進行在系統編程，使pic控
制器的至少兩個接口用作通信接口 ；以及PIC控制器通過所述至少兩個接口接收來自編程
/調試單元的調試指令並執行該調試指令，並通過至少兩個接口將根據該調試指令運行的信息輸出給所述編程/調試單元。 較優的，還包括第一二極體、第二二極體、電阻、第一電容和第二電容。其中，所述
3pic控制器的在系統編程接口編程電壓接口 、電源接口 、地線接口 、編程時鐘接口 、編程數據接口分別與所述在系統編程連接器的1#接口 、3#接口 、5#接口 、7#接口和9#接口對應連接。 較優的，編程電壓接口與所述在系統編程連接器的3#接口之間的連接線一端通過第一二極體與外界電源相連，另一端通過第一電容與地線相連。其中，編程電壓接口與所述在系統編程連接器的3#接口之間的連接線與地線之間有串聯連接的電阻和第二電容，所述串聯連接的電阻和第二電容與第一電容並聯連接。 電阻與第二二極體串聯連接在所述編程電壓接口與所述在系統編程連接器的3#接口之間的連接線和所述編程電壓接口與所述在系統編程連接器的1#接口之間的連接線之間。 本發明有益效果本發明提高了 pic控制器的接口利用率，減少了需求的接口資源，並且有利於調試代碼的通用。


附圖用來提供對本發明的進一步理解，並且構成說明書的一部分，與本發明的實
施例一起用於解釋本發明，並不構成對本發明的限制。在附圖中 圖1是根據本發明的pic控制器在系統調試方法流程圖； 圖2是根據本發明實施例的pic控制器在系統調試方法的流程圖； 圖3是根據本發明的pic控制器在系統調試系統的結構框圖； 圖4是根據本發明實施例的pic控制器在系統調試系統的連接圖。
具體實施例方式
以下結合附圖對本發明的優選實施例進行說明，應當理解，此處所描述的優選實施例僅用於說明和解釋本發明，並不用於限定本發明。 本發明的基本思想是通過對pic控制器在系統編程使pic控制器中至少2個接口作為通信接口 ，通過該通信接口實現對pic控制器的調試。 圖1是根據本發明的pic控制器在系統調試方法流程圖。如圖1所示，對pic控制器進行在系統調試包括以下步驟 s110 :通過pic控制器的編程接口對所述pic控制器進行在系統編程，使所述pic控制器的至少兩個接口用作通信接口 ；pic控制器的編程接口包括編程電壓接口、電源接口 、地線接口 、編程時鐘接口和編程數據接口 ，這些接口為編程用接口 ，不具備通信接口所具有的異步收發功能，在系統編程使pic控制器中至少兩個原本不具有通信接口功能的接口轉換成通信接口 ，使之具備異步收發功能。 s120 :通過步驟s110中產生的pic控制器的通信接口對所述pic控制器進行在系統調試。可以通過上述通信接口中的一個作為發送接口，用於向外界發送pic控制器運行時的信息，另一個作為接收接口，用於接收外界輸入的調試指令，pic控制器根據調試指令運行，然後再將根據調試指令運行的信息通過發送接口發出，如此往復，通過分析比較pic控制器前後發出的運行時的信息，可以達到調試的目的。 圖2是根據本發明的pic控制器在系統調試系統的結構框圖。如圖2所示，本發明的PIC控制器在系統調試系統包括PIC控制器200、編程/調試單元202以及連接PIC控制器200和編程/調試單元202的在系統編程連接器204。編程/調試單元202通過在系統編程連接器204，利用PIC控制器200的編程接口對PIC控制器進行在系統編程，使PIC控制器的至少兩個接口用作通信接口 ；以及PIC控制器200通過所述至少兩個接口接收來自編程/調試單元202的調試指令並執行該調試指令，並通過至少兩個接口將根據該調試指令運行的信息輸出給所述編程/調試單元202。 圖3是根據本發明實施例的PIC控制器在系統調試方法流程圖。如圖3所示，對PIC控制器進行在系統調試包括以下步驟 S310 :通過PIC控制器的編程接口對所述PIC控制器進行在系統編程，使PIC控制器的編程接口中的編程時鐘接口和編程數據接口用作通信接口。其中，PIC控制器的編程數據接口用作通信接口時，編程數據接口由該PIC控制器驅動。可以使PIC控制器的編程數據接口作為發送接口 ，使編程時鐘接口作為接收接口 。 S320 :通過用作發送接口的PIC控制器的編程數據接口 ，以及用作接收接口的PIC控制器的編程時鐘接口 ，對該PIC控制器進行在系統調試。調試時，編程數據接口用於向外界發送PIC控制器運行時的信息，編程時鐘接口用於接收外界輸入的調試指令，PIC控制器根據調試指令運行。通過反覆使用編程數據接口和編程時鐘接口分別向PIC控制器發送調試指令，接收接PIC控制器按照調試指令運行時的運行信息，通過分析比較，可以達到調試的目的。 圖4是根據本發明實施例的PIC控制器在系統調試系統的連接圖。如圖4所示，本實例的PIC控制器在系統調試系統包括PIC控制器400、在系統編程連接器402、編程/調試單元403、第一二極體Dl、第二二極體D2、電阻R、第一電容Cl和第二電容C2。
其中，PIC控制器400的在系統編程接口 401的編程電壓接口 401-1、電源接口401-2、地線接口 401-3、編程時鐘接口 401-4、編程數據接口 401-5分別與所述在系統編程連接器402的1#接口 402-1、3#接口 402-2、5#接口 402_3、7#接口 402-4和9#接口 402-5對應連接。 電源接口 401-2與在系統編程連接器的3#接口 402-2之間的連接線一端通過第
一二極體Dl與外界電源VDD相連，另一端通過第一電容Cl與地線相連。 電源接口 401-2與在系統編程連接器的3#接口 402-2之間的連接線與地線之間
有串聯連接的電阻R和第二電容C2，所述串聯連接的電阻R和第二電容C2與第一電容Cl
並聯連接。 電阻R與第二二極體D2串聯連接在電源接口 401-2與在系統編程連接器的3#接口 402-2之間的連接線和編程電壓接口 401-1與所述在系統編程連接器的1#接口 402-1之間的連接線之間。 編程/調試單元403通過系統編程連接器的1#接口 402_1、3#接口 402_2、5#接口 402-3、7#接口 402-4和9#接口 402-5，利用PIC控制器400的在系統編程接口 401對PIC控制器400進行在系統編程，使PIC控制器400的編程時鐘接口 401-4和編程數據接口401-5用作通信接口 ，具體的，編程時鐘接口 401-4用作接收接口 ，編程數據接口 401-5用作發送接口。 PIC控制器400通過與在系統編程連接器的7#接口 402-4相連接的編程時鐘接口 401-4接收來自編程/調試單元403的調試指令並執行該調試指令，通過與在系統編程連接器的9#接口 402-5相連接的編程數據接口 401-5將根據該調試指令運行的信息輸出給所述編程/調試單元403。 本實施例通過復用PIC控制器的編程時鐘接口和編程數據接口提高了PIC控制器的接口利用率，減少了需求的接口資源，並且有利於調試代碼的通用。 綜上所述，本發明通過對PIC控制器編程使PIC控制器中至少2個接口作為通信接口 ，並通過該通信接口實現對PIC控制器的調試，提高了 PIC控制器的接口利用率，減少了需求的接口資源，並且有利於調試代碼的通用。 以上僅為本發明的優選實施例而已，並不用於限制本發明，對於本領域的技術人員來說，本發明可以有各種更改和變化。凡在本發明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發明的保護範圍之內。
權利要求
PIC控制器在系統調試方法，其特徵在於，包括通過PIC控制器的編程接口對所述PIC控制器進行在系統編程，使所述PIC控制器的至少兩個接口用作通信接口；以及通過所述PIC控制器的所述通信接口對所述PIC控制器進行在系統調試。
2. 根據權利要求1所述的PIC控制器在系統調試方法，其特徵在於，所述至少兩個接口包括編程時鐘接口和編程數據接口 。
3. 根據權利要求2所述的PIC控制器在系統調試方法，其特徵在於，所述PIC控制器的編程數據接口作為通信接口時由所述PIC控制器驅動。
4. 根據權利要求3所述的PIC控制器在系統調試方法，其特徵在於，所述PIC控制器的編程時鐘接口作為通信接口對所述PIC控制器進行在系統調試時，用於接收外部調試指令；以及所述PIC控制器的編程數據接口作為通信接口對所述PIC控制器進行在系統調試時，用於向外部發送所述PIC控制器運行時的信息。
5. PIC控制器在系統調試系統，包括PIC控制器、編程/調試單元以及連接所述PIC控制器和所述編程/調試單元的在系統編程連接器，其特徵在於所述編程/調試單元通過所述在系統編程連接器，利用所述PIC控制器的編程接口對所述PIC控制器進行在系統編程，使所述PIC控制器的至少兩個接口用作通信接口 ；以及所述PIC控制器通過所述至少兩個接口接收來自所述編程/調試單元的調試指令並執行該調試指令，並通過所述至少兩個接口將根據該調試指令運行的信息輸出給所述編程/調試單元。
6. 根據權利要求5所述的PIC控制器在系統調試系統，其特徵在於，還包括第一二極體、第二二極體、電阻、第一電容和第二電容，其中，所述PIC控制器的在系統編程接口編程電壓接口 、電源接口 、地線接口 、編程時鐘接口 、編程數據接口分別與所述在系統編程連接器的1#接口 、3#接口 、5#接口 、7#接口和9#接口對應連接，所述電源接口與所述在系統編程連接器的3#接口之間的連接線一端通過第一二極體與外界電源相連，另一端通過第一電容與地線相連，所述電源接口與所述在系統編程連接器的3#接口之間的連接線與地線之間有串聯連接的電阻和第二電容，所述串聯連接的電阻和第二電容與第一電容並聯連接，所述電阻與第二二極體串聯連接在所述電源接口與所述在系統編程連接器的3#接口之間的連接線和所述編程電壓接口與所述在系統編程連接器的1#接口之間的連接線之間。
全文摘要
本發明提供了PIC控制器在系統調試方法及系統，PIC控制器在系統調試方法包括通過PIC控制器的編程接口對所述PIC控制器進行在系統編程，使所述PIC控制器的至少兩個接口用作通信接口；以及通過所述PIC控制器的所述通信接口對所述PIC控制器進行在系統調試。本發明提高了PIC控制器的接口利用率，減少了需求的接口資源，並且有利於調試代碼的通用。
文檔編號G05B19/05GK101750993SQ20081024005
公開日2010年6月23日 申請日期2008年12月17日 優先權日2008年12月17日
發明者張耀東, 楊洪剛 申請人:北京誼安醫療系統股份有限公司