掃描束覆蓋投影的製作方法

2023-05-24 08:36:26

專利名稱：掃描束覆蓋投影的製作方法
掃描束覆蓋投影
背景技術：
「增強現實(augmented reality) 」是包括虛擬和真實世界元素的環境。例如，投 影儀可以在真實世界的對象上顯示(或者「覆蓋」)圖像。為了使投影圖像正確地覆蓋真實 世界環境，可能對圖像進行縮放和變形，以匹配真實世界對象或者在上面投影的表面。該縮 放和變形補償投影儀的投影角度、到真實世界對象的距離以及在真實世界中的投影表面上 的三維曲線。縮放和變形算法是公知的。如果可以使要投影的底層圖像中的足夠數目的點與投 影表面上的位置進行關聯，則可以使用公知的方法來使底層圖像縮放和變形，以匹配投影 表面。使底層圖像內的點與投影表面上的位置進行關聯可能是難題，尤其是在投影儀處於 移動中時。


圖1示出了根據本發明各種實施例的掃描束覆蓋投影系統；圖2示出了根據本發明各種實施例的用於掃描束覆蓋投影系統的同步信號的時 序圖，從所述同步信號可以確定點在投影表面上的位置；圖3示出了根據本發明各種實施例的方法的流程圖；圖4示出了根據本發明各種實施例的掃描束覆蓋投影系統；圖5示出了根據本發明各種實施例的將覆蓋圖像投影到三維表面上的掃描束覆 蓋投影系統；圖6示出了根據本發明各種實施例的具有參數收集和顯示能力的掃描束覆蓋投 影系統；以及圖7和圖8示出了根據本發明各種實施例的方法的流程圖。
具體實施例方式在以下詳細描述中，對附圖進行參考，附圖通過說明的方式示出了其中可以實踐 本發明的特定實施例。充分細節地描述了這些實施例，以使得本領域的技術人員能夠實踐 本發明。應當理解，儘管本發明的各種實施例是不同的，但是並非必須彼此排除。例如，在 不偏離本發明的精神和範圍的情況下，結合一個實施例在這裡描述的特定特徵、結構或特 性可以在其他實施例內被實現。另外，應當理解，在不偏離本發明的精神和範圍的情況下， 可以修改在每個公開的實施例內的各個元素的位置和布置。因此，以下詳細描述不是在限 制意義上進行的，並且本發明的範圍僅由適當解釋的所附權利要求以及權利要求授予其權 利的等價物的全部範圍來限定。在附圖中，相同的附圖標記在若干視圖中表示相同或類似 的功能。圖1示出了根據本發明各種實施例的掃描束覆蓋投影系統。如圖1所示，掃描束 覆蓋投影系統100包括能夠發出可能是雷射束的束112的光源110，該光源110可以是諸如 雷射二極體等的雷射光源。束112入射到掃描平臺114，該掃描平臺114可以包括基於微機電系統(MEMS)的掃描儀等，並且從掃描鏡116向外反射，以生成受控的輸出束124。水平驅 動電路118和垂直驅動電路120對掃描鏡116所偏向的方向進行調節，使得輸出束IM生 成光柵掃描126，從而在投影表面1 上產生顯示圖像。投影表面1 具有反射點130和132。反射點130和132可以被集成在投影表面 中，或者可以通過膠水、膠帶或任何其他方式來附著。反射點130和132可以包括任何類型 的可以反射所有或部分輸出束124的反射裝置或材料。例如，在一些實施例中，反射點130 和132可以是角形反射器或者回射器。又如，在其他實施例中，反射點130和132可以包括 具有漫射特點的反光帶。當受控輸出束IM通過反射點130或132中的一個時，光線如在133上所示的進行 反射。光檢測器(PD)134感測反射光。如以下更加完整描述的，可以將反射光的定時與光 柵掃描126的定時進行比較，以確定反射點相對於光柵掃描1 所繪製的圖像的位置。例 如，當反射點反射特定像素時，確定光柵掃描126內的像素的位置還確定反射點在光柵掃 描126內的位置。顯示控制器140包括定時電路142、圖像生成組件144、圖像變形引擎146和光源 驅動電路148。定時電路142向水平驅動電路118和垂直驅動電路120提供驅動信號，以控 制掃描鏡116的光柵掃描操作的定時。在一些實施例中，定時電路142產生垂直和水平同 步信號，從中導出用於驅動電路118和120的信號。在一些實施例中，水平驅動電路118和 垂直驅動電路120被合併，並且定時電路142產生一個複合信號來影響鏡子116的光柵掃 描操作。定時電路142還從PD 134接收一個或多個信號。這些信號提供關於光線何時從 投影表面向外反射的定時信息。例如，當受控輸出束1 掃描經過反射點132時，PD 134將 向定時電路142提供節點135上的信號。而且例如，當受控輸出束IM掃描經過反射點130 時(如圖1所示)，PD 134將向定時電路142提供節點135上的信號。定時電路142使從 PD 134接收到的信號的定時與其自己的內部定時信號進行關聯，以確定反射點在光柵掃描 中位於何處。以下參照圖2描述示例性定時。圖像生成組件144生成要投影的圖像。在一些實施例中，圖像生成組件144是包 括圖像靜態表示的數據存儲。例如，圖像生成組件144可以是諸如隨機存取存儲器或硬碟 驅動器的存儲器設備。在其他實施例中，圖像生成組件144可以是從外部顯示控制器140 接收圖像數據的輸入設備。圖像數據的最終來源不限制本發明。圖像變形引擎146從圖像生成組件144接收圖像數據。接收到的圖像數據與要在 投影表面1 上覆蓋的圖像相對應。圖像變形引擎146還從定時電路142接收信息。從定 時電路142接收到的信息允許圖像變形引擎146使投影表面上的位置與圖像數據中的點進 行關聯。作為響應，圖像變形引擎146對要投影的圖像進行縮放和變形。例如，定時電路 142可以向圖像變形引擎146提供(X，y)坐標，其中(x，y)坐標表示在投影表面上的位置 的光柵掃描內的位置。圖像數據可以包括標記，該標記允許圖像內的特定點與表示投影表 面上的位置的(x，y)坐標相關聯。然後，圖像變形引擎146可以對圖像進行變形和縮放，使 得圖像中的標記點覆蓋投影表面上的位置。可以用硬體、軟體或任何組合來實現顯示控制器140內示出的各種功能塊。例如， 圖像變形引擎146可以被實現為在處理器(未示出)上運行的軟體模塊。又如，可以用諸如專用集成電路(ASIC)的專用硬體中實現圖像變形引擎146。光源驅動電路148將縮放和變形圖像的像素信息轉換成適用於驅動光源110的調 制信號。在一些實施中，光源110包括一個或多個雷射二極體、以及產生驅動雷射二極體 的電流的光源驅動電路140。調製信號與掃描平臺114的操作同步，使得每個像素以其相 對光柵掃描126正確的位置中進行顯示。顯示控制器140還可以控制掃描束覆蓋投影系統 100的其他各種功能。圖2示出了根據本發明各種實施例的用於掃描束覆蓋投影系統的同步信號的時 序圖，從所述同步信號可以確定點在投影表面上的位置。如圖2的時序圖200所示，用於光 柵掃描1 (圖1)的垂直同步信號210和水平同步信號212用於計算反射像素在光柵掃描 內的X-Y位置，並且因此計算在投影表面上的特定位置。對於光柵掃描126的每個垂直掃描，垂直同步信號210生效(assert) —次，並且 對於光柵掃描126的每個水平掃描，水平同步信號212生效一次。垂直同步信號通常在垂 直掃描開始時生效，但是這不限制本發明。例如，如果垂直掃描在頂部開始並且向下前進， 則當輸出束在頂部時，垂直同步信號210可能生效。這在圖2中由垂直同步脈衝216和218 來圖示。類似地，水平同步信號212通常在水平掃描開始時生效，但是這不限制本發明。例 如，如果水平掃描在左側開始並向右前進，則當輸出束在左側時，水平同步信號212可能生 效。這在圖2中由水平同步脈衝230、232、234、236、238和240來圖示。當接收到光線時，光檢測器(PD 134，圖1)產生脈衝。在圖2中，光檢測器輸出 (PD輸出)信號214被示為具有兩個脈衝250和沈0。這裡，脈衝250和260被稱為「反射 脈衝」。反射脈衝250與從反射點132(圖1)反射的光線相對應，並且反射脈衝260與從反 射點130反射的光線相對應。通過確定相對水平同步脈衝的反射脈衝相位，可以從PD輸出信號214內的對應反 射脈衝計算反射像素的X位置。例如，可以通過確定反射脈衝250和水平同步脈衝232之 間的時間差(與相位延遲相對應)252來計算與反射脈衝250相對應的反射像素的X位置。 該時間差表示相對於光柵掃描126中的輸出束124的水平掃動的反射像素的定時，並且從 而與反射像素的X位置相對應。由於在光柵掃描126中的輸出束124的掃描在所有X上可 能不具有均勻速度，因此可能做出調整，以將時間差252映射到適當的X位置。由於沿著輸 出束124的水平掃描軌跡的每個像素與來自於水平同步脈衝的特定和可重複定時相位延 遲(例如25 相對應，因此可以進行該映射。類似地，通過確定相對於垂直同步脈衝的反射脈衝的相位，可以從PD輸出信號 214內的對應反射脈衝計算反射像素的Y位置。例如，通過確定反射脈衝250和垂直同步脈 衝216之間的時間差(與相位延遲相對應)2 ，可以計算與反射脈衝250相對應的反射像 素的Y位置。該時間差表示相對於光柵掃描126中的輸出光柵124的垂直掃描的反射像素 的定時，並且從而與反射像素的Y位置相對應。再一次，可以對在反射脈衝的定時和對應的 Y位置之間的映射進行調整，以應對掃描偽像(scanning artifact)，諸如變化的掃描速度 和垂直過掃描(其中，該束掃描經過觀察區域並且被消隱(blank))。圖2說明了兩個反射像素的時間測量。反射點132反射的像素引起反射脈衝250。 水平時間差在252處被測量，而垂直時間差在2M處被測量。類似地，反射點130反射的像 素引起反射脈衝260。水平時間差在262處被測量，並且垂直時間差在264處被測量。儘管圖2中示出了在圖2中測量兩個像素的時間差，但是這並不限制本發明。可以利用任何數 目的反射點，引起任何數目的反射脈衝。可以對這些反射脈衝中的每一個進行測量。在一個或多個實施例中，可以經由查找表進行對X和Y位置的計算，該查找表使用 測量的時間差作為進入查找表的地址。替選地，可以使用測量的時間差和已知的視頻輸出 對垂直同步脈衝和水平同步脈衝的相位偏移來代數地計算X-Y位置。在一些實施例中，光 檢測器很可能用於捕捉來自多於一個的像素從投影表面1 上的單個反射點的反射。在水 平方向上，這可能導致更長的反射脈衝寬度。可以通過將X位置確定為更長反射脈衝的中 心或者替選地確定為前沿來解決。然而，在垂直方向上，很可能從鄰近的掃描行生成多個反 射脈衝。位置確定解碼算法可以基於這樣的反射脈衝中的第一個或者基於所有反射脈衝的 平均垂直位置來計算Y位置。輸出束可以在一個方向上掃描然後回掃，或者輸出束可以在兩個方向上掃描。例 如，在一些實施例中，輸出束可以在從左到右掃描時繪製像素，而在從右向左回掃時進行消 隱。在其他實施例中，輸出束可以在從左向右和從右向左掃描時連續繪製像素。垂直掃描 也是如此。參考圖2描述的技術也適用於這些實施例中的每一個。另外，不論同步信號出 現在光柵掃描中的何處，在圖2中說明的技術都是適用的。如果同步信號在光柵掃描內的 位置是已知的，則可以應用偏移來補償其在光柵掃描內的位置。圖3示出了根據本發明各種實施例的方法的流程圖。方法300示出了可以用於將 圖像覆蓋到投影表面的動作，使得覆蓋圖像中的點與投影表面上的特定位置正確對準。在 310處，經由投影束的光柵掃描，將覆蓋圖像投影到表面上。這在圖1中示出，其中束IM在 光柵掃描126中前後上下進行掃描，以在表面1 上投影圖像。在320處，從表面上的反射點接收反射光。動作320與PD 134接收從反射點130 和132反射的光線相對應。在330處，生成與反射光線相對應的脈衝。通過PD 134在信號 線135上生成脈衝。在圖2中，在250和260處示出示例性反射脈衝。在340處，反射脈衝 的定時與光柵掃描的定時相關，以確定反射點的位置。如圖2中所示，可以通過將反射脈衝 的定時與垂直同步脈衝和水平同步脈衝的定時進行比較來實現關聯。在350處，可以使覆蓋圖像變形，以使圖像內的標記點與表面上的反射點的位置 對準。例如，如果已經將投影儀移動地更靠近投影表面，則覆蓋圖像可能已變得更小，並且 可以伸長覆蓋圖像，以使圖像與投影表面重新對準。類似地，如果投影儀向左或向右移動， 則表面上的反射點可能不再與圖像內的標記點對準。動作350將使得覆蓋圖像再次與投影 表面正確對準。圖4示出根據本發明各種實施例的掃描束覆蓋投影系統。掃描束覆蓋投影系統 400包括光源110、掃描平臺114、水平驅動電路118和垂直驅動電路120，參考圖1對它們 進行描述。掃描束覆蓋投影儀400對輸出束IM進行掃描，以生成光柵掃描126，從而在投 影表面1 上產生顯示圖像。投影表面128具有光檢測器430和432。光檢測器430和432可以被集成在投影 表面中，或者可以用膠水、膠帶或任何其他方式來附著。光檢測器430和432通過鏈路431 和433被耦接到定時電路442。光檢測器430和432在輸出束IM掃描通過時，檢測光線， 並且在鏈路431和433上生成反射脈衝。例如，當輸出束IM掃描經過光檢測器430時，在 鏈路431上生成反射脈衝。類似地，當輸出束IM掃描經過光檢測器432時，在鏈路433上
7產生反射脈衝。在一個或多個實施例中，鏈路131和133可以包括具有在光檢測器430和432以及 定時電路442之間連接的線纜的有線鏈路。替選地，鏈路131和133可以包括無線鏈路，諸 如射頻(RF)鏈路。在一個特定實施例中，鏈路131和133包括如由藍牙特定興趣組(SIG) 規定的藍牙鏈路，但是要求保護的主題事項的範圍在該方面不受限制。顯示控制器440包括定時電路442、圖像生成組件144、圖像變形引擎146和光源 驅動電路148。以上參照圖1描述了圖像生成組件144、圖像變形引擎146和光源驅動電路 148。定時電路442類似於定時電路142，例外之處是從與投影表面位於一處的光檢測器而 不是從與投影儀位於一處的光檢測器接收脈衝。在一些實施例中，如圖4中所示，定時電路442通過多個鏈路接收反射脈衝。在其 他實施例中，定時電路442通過單個復用鏈路接收反射脈衝。如上所述，鏈路可以是有線、 無線或任何組合。如上述參照圖1-3所描述的，定時電路442將接收到的反射脈衝與光柵掃描進行 關聯，以確定光檢測器在光柵掃描內的位置。圖4示出了與光檢測器與投影表面位於一處，而圖1示出光檢測器與投影儀位於 一處。在一些實施例中，光檢測器與投影表面和投影儀位於一處。圖5是示出了根據本發明各種實施例的將覆蓋圖像投影到三維表面上的掃描束 覆蓋投影系統。掃描束覆蓋投影系統510包括掃描投影儀512、顯示控制器140和光檢測 器(PD)134。以上參考先前附圖描述了 PD 134和顯示控制器140。掃描投影儀512可以包 括基於MEMS的雷射掃描儀，諸如以上參考圖1-4描述的內容。在操作中，掃描投影儀512在三維(3D)表面540上顯示覆蓋圖像570。3D表面 540包括與覆蓋圖像570內的標記點相關的反射點552,554,556,558,560和562。PD 134 檢測從在3D表面上的反射點反射的光線，並且可以如上所述確定點在光柵掃描內的位置。 然後，可以使覆蓋圖像570伸長和變形，使得覆蓋圖像570與3D投影表面的輪廓正確對準。3D表面540在圖5中被示為汽車模型。反射點被置於表面上的重要位置處，諸如 嵌條(molding)和保險槓的角部。覆蓋圖像可以包括建議的式樣特徵，諸如窗戶的形狀、 輪艙(wheel well)設計等。可以查看不同的覆蓋圖像，以允許快速視覺原型開發。由於投 影儀的視角改變(例如，投影儀移動)，因此覆蓋圖像保持與投影表面正確配準，並且設計 者可以從不同的視角快速查看不同的設計。該自動原型測試應用說明了一個用於掃描束覆 蓋投影的用途。例如，任何增強現實應用可以受益於從此處描述的覆蓋圖像對準能力。三維表面540被示出為具有反射點，並且掃描束覆蓋投影系統510示出為具有光 檢測器。在一些實施例中，3D表面540具有如上所述參考圖3附著或嵌入的光檢測器。掃 描束覆蓋投影儀510可以採取任何形式。例如，在一些實施例中，投影儀510可能是手持設 備、桌上型設備或固定設備。又如，在一些實施例中，投影儀510可以是用戶佩戴的設備的 一部分，諸如眼鏡。圖6示出了根據本發明各種實施例的具有參數收集和顯示能力的掃描束覆蓋投 影系統。掃描束覆蓋投影系統610包括顯示控制器140、PD134、掃描投影儀512和參數收 集組件620。在圖6中還示出了探針630和電路板650。掃描投影儀512將圖像投影到顯示表面上，在圖6中被示為電路板650。電路板650包括多個組件，通過集成電路652、6M和656來進行例示。為了將覆蓋圖像與投影表面 對準，電路板650可以包括如上所述的反射點，但是這不限制本發明。探針630提供參數測量能力。在圖6的示例之中，參數是溫度。探針630提供測 量的參數信息(溫度)，並將其提供給參數收集組件620。參數收集組件620向顯示控制器 140提供參數信息，顯示控制器140然後可以將該參數信息併入到顯示的圖像中。探針630包括反射點634。掃描覆蓋投影系統610可以使用這裡描述的技術，在用 於顯示圖像的光柵掃描內，確定反射點634的位置。探針630還包括按鈕632，以允許用戶 可以命令探針來測量溫度。在操作中，用戶(或自動系統)放置探針630來測量感興趣位置處(例如，在集成 電路上)的溫度。按下按鈕632，並且探針630測量溫度，並且將溫度值發送到參數收集組 件620。與按鈕按下的同時，掃描束覆蓋投影系統610還通過檢測從反射點634反射的光線 來確定探針630尖端的位置。然後，掃描覆蓋投影系統610可以使光柵掃描內的位置與參 數值關聯。在一些實施例中，將收集到的參數值併入顯示圖像內。例如，如圖6所示，進行了 三個溫度測量，並且將溫度值併入顯示圖像。集成電路652在880 V時被測量，集成電路6M 在650°C時被測量，集成電路656在720°C時被測量。通過來回移動探針630和按下按鈕 632來顯示更多溫度值。然後，將在投影表面上覆蓋地出現測量的溫度值。在一些實施例中，覆蓋的圖像包括直接參數測量之外的其他信息。例如，掃描束覆 蓋投影系統610可以使用測量的參數信息來查找要顯示的數據。顯示的數據可以包括通 過/失敗信息(用於測試反饋)、陰影、顏色等。在不偏離本發明的範圍的情況下，可以以任 何方式來響應於參數信息對圖像進行修改。圖7示出了根據本發明各種實施例的流程圖。在一些實施例中，通過掃描束覆蓋 投影系統執行方法700或其部分，在之前的附圖中示出了掃描束覆蓋投影系統的實施例。 在其他實施例中，通過電子系統中的硬體/軟體組件來執行全部或部分方法700。方法700 不受執行該方法的特定類型裝置的限制。方法700的各種動作可以用呈現的順序來執行， 或者可以用不同的順序執行。另外，在一些實施例中，圖7中列出的一些動作從方法700中 省略。方法700被示出開始於塊710，其中，光束掃描掠過三維表面以在表面上覆蓋圖 像。這與投影覆蓋圖像的公開的掃描光速覆蓋投影系統中的任何一個相對應。在720處， 3D表面上的位置與圖像內的標記點相關。這使用公開的技術或其等價物的任何一個來實 現。例如，反光鏡可以置於3D表面的各位置處，並且如圖2所示，反射的定時可以與光柵掃 描中的像素定時進行比較。在730處，對圖像進行修改以符合3D表面。這包括使圖像伸長和變形，使得圖像 中的標記點與3D表面上的位置對準。本發明的各種實施例不限於用於修改圖像的算法。在740處，移動投影儀，並且進一步修改圖像來匹配於新視角。例如，可以移動掃 描束覆蓋投影系統510(圖5)，以從不同角度照亮汽車形狀的表面。這將改變反射點相對於 圖像的位置。可以重新確定反射點的位置，並且然後，可以進一步使圖像伸長和變形來匹配 表面。即使投影儀移動，動作740也允許覆蓋圖像與投影表面保持適當的對準。在750處，收集參數信息。例如，在一些實施例中，可以如圖6所示，收集溫度數據。在其他實施例中，可以收集其他參數信息。在760處，參數信息被併入圖像內。在一些實施例中，可以省略動作750和760。例如，可以在沒有收集參數信息的情 況下，用覆蓋圖像照亮3D投影表面。在其他實施例中，可以省略動作740。例如，在不移動 投影儀的情況下，可以收集和顯示參數信息。方法700中示出的動作的組合不被認為是不 可或缺的。儘管已經結合特定實施例描述了本發明，但是應當理解，如本領域的技術人員容 易理解的那樣，在不偏離本發明的範圍的前提下，可以採取各種修改和變化。這樣的修改和 變化被認為是在本發明和所附權利要求的範圍內。
權利要求
1.一種方法，包括使光束掃描掠過對象以顯示圖像；接收表示所述對象上的點的反射；以及基於所述點的位置來修改所述圖像。
2.如權利要求1所述的方法，其中，使光束掃描掠過對象以顯示圖像包括將覆蓋投影 到三維對象上。
3.如權利要求2所述的方法，其中，接收反射包括接收來自位於所述三維對象上的反 射器的反射。
4.如權利要求2所述的方法，其中，修改所述圖像包括使所述覆蓋變形，以匹配所述 三維對象的當前視角。
5.如權利要求1所述的方法，其中，基於所述對象的位置來修改所述圖像包括基於相 對於所述掃描的反射到達時間來確定所述點的位置。
6.如權利要求1所述的方法，進一步包括移動正在掃描所述光束的投影儀；以及更新所述圖像。
7.如權利要求1所述的方法，進一步包括接收指示探針相對於所述對象的位置的至少一個反射；以及接收來自所述探針的參數信息。
8.如權利要求7所述的方法，進一步包括將所述參數信息併入所述圖像。
9.一種方法，包括通過以二維形式掃描光束，將圖像投影到顯示表面；確定所述光束何時通過所述顯示表面上的特定點；以及基於所述光束通過所述特定點的時間來使所述圖像變形。
10.如權利要求9所述的方法，其中，確定所述光束何時通過特定點包括檢測從所述 特定點反射的光線。
11.如權利要求9所述的方法，其中，確定所述光束何時通過特定點包括在所述特定 點處檢測光線。
12.如權利要求9所述的方法，其中，將所述圖像投影到所述顯示表面上包括將所述 圖像投影到三維顯示表面。
13.如權利要求12所述的方法，其中，確定所述光束何時通過所述顯示表面上的特定 點包括檢測從所述三維顯示表面上的所述特定點反射的光線。
14.一種裝置，包括掃描光束投影儀，所述掃描光束投影儀用於通過在顯示表面上以二維形式掃描光束來 顯示圖像；至少一個光檢測器，所述至少一個光檢測器用於檢測從所述顯示表面上的多個反射點 反射的光線；以及圖像變形引擎，所述圖像變形引擎用於基於所述圖像內的所述反射點的位置來使所述 圖像變形。
15.如權利要求14所述的裝置，其中，所述掃描光束投影儀包括微機電系統(MEMS)掃描鏡。
16.如權利要求14所述的裝置，進一步包括參數輸入接口，所述參數輸入接口用於接 收與所述圖像內的特定點相關的參數數據。
17.如權利要求14所述的裝置，其中，所述圖像變形引擎包括軟體模塊。
18.一種裝置，包括掃描投影儀，所述掃描投影儀用於在垂直方向和水平方向上使光束掃描掠過顯示錶 面，所述掃描投影儀源發垂直同步信號和水平同步信號；檢測器組件，所述檢測器組件用於檢測所述光束何時通過所述顯示表面上的特定點；定時電路，所述定時電路響應於所述檢測器組件、所述垂直同步信號和所述水平同步 信號，來確定所述光束通過所述顯示表面上的特定點的時間；以及圖像變形引擎，所述圖像變形引擎用於響應於所述定時電路來使所述掃描投影儀顯示 的圖像變形。
19.如權利要求18所述的裝置，其中，所述檢測器組件包括與所述掃描投影儀位於一 處的光電二極體。
20.如權利要求18所述的裝置，其中，所述檢測器包括與所述顯示表面位於一處的至 少一個光電二極體。
全文摘要
一種掃描束覆蓋投影系統(100)通過以光柵模式掃描光束(112)來在投影表面(128)上顯示圖像。當通過光束照亮時，投影表面上的反射點(130，132)將光線反射回投影系統。投影系統中的光檢測器(134)檢測反射光線，並且定時電路(142)確定反射點位於光柵模板中的何處。可以使圖像縮放和變形，以使圖像內的標記點與投影表面上的反射點的位置相關聯。
文檔編號H04N9/31GK102113316SQ200980129782
公開日2011年6月29日 申請日期2009年7月2日 優先權日2008年7月30日
發明者蘭黛爾·B·斯帕拉古 申請人:微視公司