線路修復結構及其修複方法

2023-05-17 01:56:46 2

專利名稱：線路修復結構及其修複方法
技術領域：
本發明涉及平板顯示技術，特別涉及平板顯示裝置的線路修復結構及其修複方 法。
背景技術：
由於液晶顯示裝置具有輕、薄、佔地小、耗電小、輻射小等優點，被廣泛應用於各種 數據處理設備中，例如電視、筆記本電腦、行動電話、個人數字助理等。採用薄膜電晶體來 控制液晶顯示裝置中液晶分子排布的薄膜電晶體液晶顯示裝置(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display, TFT-LCD)是最常見的一種液晶顯示裝置。液晶顯示裝置包括相對設置的陣列基板、彩膜基板以及二者之間的液晶層，其中， 陣列基板上設置有掃描線、數據線以及由掃描線和數據線界定的像素電極，液晶顯示裝置 的基板由大量的顯示單元構成，同時設置有大量的掃描線和數據線，這些掃描線和數據線 分別通過設置於橫向和縱向一側的焊盤與其他信號裝置連接，所述掃描線與薄膜電晶體的 柵極相連，用於導通薄膜電晶體；所述數據線與薄膜電晶體的源極相連，用於給像素提供電 壓。但是在製造液晶顯示裝置的工藝過程中，大量設置的掃描線和數據線總會因為一些生 產缺陷，例如成膜質量的好壞、環境的潔淨度、劃傷、設備等，造成線路斷點。例如，若數據線 出現斷點缺陷，則與所述斷點的數據線相對應的像素電極就不能得到正常的數據信號，從 而形成顯示面板的顯示缺陷。實際上，所述斷點缺陷無論是出現在顯示區域還是外圍區域， 都可能會降低圖像的顯示品質。因此，液晶面板廠商會在其產品出廠前對其進行檢驗並對那些存在線路缺陷的產 品進行線路修復。在有關線路修復的現有技術中，通常是通過在顯示區域設置一至三條的修復環的 方式來修複線路斷導致的線缺陷。圖1顯示了一種現有技術中線路修復的布局示意圖。如
圖1所示，所述液晶顯示裝置包括多條數據線Dp D2......Dn(n為自然數)和二條修復環
R1、R2，所述修復環R1、R2是位於顯示區域的外圍，且用不同於數據線DpD2......Dn的材料
做成。在實際應用中，當顯示區域內有一條數據線，例如為數據線D1，出現斷點缺陷(對於 常白模式表現為亮線，對於常黑模式表現為暗線)時，可以利用修復環R1、R2中的任一者進 行修復。有兩種修複方法一是利用修復環Rl在Sll和S12處進行雷射熔接；二是利用修 復環R2在S21和S22處進行雷射熔接。當顯示區域有二條數據線，例如為數據線Dl、D2， 出現斷點缺陷時，可以利用修復環R1、R2進行修復。有兩種修複方法一是在Sll和S21處 進行雷射熔接修複數據線Dl的斷點，在S32和S42處進行雷射熔接修複數據線D2的斷點； 二是在S12和S22處進行雷射熔接修複數據線D2，在S31和S41處進行雷射熔接修複數據 線Dl的斷點。至此液晶顯示裝置顯示區域數據線斷導致的線缺陷修復成功。關於液晶顯示裝置的線路修復的更多細節另可在美國專利US10060187722所公 開的內容中找到。但，現有技術存在如下缺點一、所述修復環結構在修複線缺陷時，修複線缺陷的數量有一定的限制，只能修復兩條線缺陷；二、外圍線路區域沒有設計修復結構，當外圍線 路數據線產生斷點缺陷時就無法修復；三、在有些情況下，沒有設計針對掃描線的斷點缺陷 的修復環結構。

發明內容
本發明的目的是提供一種線路修復結構及其線路修複方法，以解決現有線路修復 技術中在能夠修復的斷點缺陷的類型、數量及其位置易受限的問題。為解決上述問題，本發明在一方面提供一種線路修復結構，所述線路修復結構包 括陣列基板，在所述陣列基板上具有以橫向和縱向方式交叉排列的掃描線和數據線；其特 徵在於，還包括短路棒，設於所述陣列基板的外圍區域，所述短路棒連接至少一條所述掃 描線和/或所述數據線；冗餘部，對應所述短路棒，至少一條所述冗餘部與至少一條所述短 路棒交叉，所述冗餘部位於所述陣列基板的顯示區域和/或外圍區域，所述冗餘部與至少 一條所述掃描線和/或所述數據線交叉。可選地，所述短路棒包括第一短路棒和第二短路棒，其中所述第一短路棒連接於 奇數條的掃描線或數據線，所述第二短路棒連接於偶數條的掃描線或數據線。可選地，所述第一短路棒和所述第二短路棒分別對應的冗餘部對稱分布。可選地，所述的第一短路棒和所述第二短路棒分別對應的冗餘部成同向分布。可選地，所述短路棒分為紅、綠、藍短路棒，分別連接於表徵紅、綠和藍三原色像素 的掃描線或數據線。可選地，所述的紅、綠、藍短路棒中的兩條短路棒分別對應的冗餘部對稱分布。可選地，所述的紅、綠、藍短路棒中的至少兩條短路棒分別對應的冗餘部成同向分布。可選地，所述短路棒與所述掃描線和/或數據線平行排列。可選地，所述短路棒設於同一導電層或不同導電層。可選地，所述導電層為掃描線導電層或數據線導電層。可選地，所述線路修復結構還包括切換開關，所述切換開關的柵極由所述冗餘 部中的一條或幾條組成，至少一條所述短路棒通過所述切換開關與所述掃描線或數據線連接。可選地，所述冗餘部與所述短路棒一起構成閉合環結構
可選地，所述冗餘部與所述短路棒一起構成非閉合環結構。可選地，所述非閉合環結構為U字形或己字形。可選地，部分所述冗餘部之間構成閉合環結構可選地，部分所述冗餘部之間構成非閉合環結構。可選地，所述非閉合環結構為U字形或己字形。可選地，所述冗餘部之間電性連接或絕緣連接。可選地，所述冗餘部由所述短路棒延伸形成。本發明在另一方面提供一種根據上述線路修復結構的修複方法，所述線路修複方 法包括當所述掃描線/數據線出現斷點時，確定出現斷點的掃描線/數據線；選定第一冗 餘部，所述第一冗餘部與所述出現斷點的掃描線/數據線交叉；確定修復的短路棒(並不是
5每一條修複線路都需要短路棒)，所述修復的短路棒與所述第一冗餘部對應；選定第二冗 餘部，所述第二冗餘部與所述修復的短路棒對應，所述第二冗餘部與所述出現斷點的掃描 線/數據線交叉，且所述第一冗餘部和所述第二冗餘部位於所述斷點兩側；將所述第一冗 餘部和所述第二冗餘部分別與所述出現斷點的掃描線/數據線連接。可選地，還包括對所述第一冗餘部或所述第二冗餘部進行切割，所述切割的位置 鄰近所述第一冗餘部或所述第二冗餘部與所述出現斷點的掃描線/數據線連接點。本發明所提供的線路修復結構及其修複方法，利用了用於防靜電和電性測試用的 短路棒，並由所述短路棒延伸在顯示區域和/或外圍區域形成的多條冗餘部，通過所述短 路棒及其對應的冗餘部構成線路修復電路。與現有技術相比，本發明的線路修復結構不僅 能同時修復一條或多條的掃描線和/或數據線導致的斷點缺陷，還能針對顯示區域和/或 外圍區域的斷點缺陷進行修復，大大提高修復的良率。


圖1為現有技術液晶顯示裝置的線路修復環的布局示意圖；圖2至圖19為本發明液晶顯示裝置的線路修復結構在第一實施方式中的布局示 意圖；圖20至圖26為本發明液晶顯示裝置的線路修復結構在第二實施方式中的布局示 意圖。
具體實施例方式本發明的發明人發現，在現有應用於平板顯示裝置的線路修復電路中，採用的多 是修復環結構，所述修復環結構在針對所能修復的產生斷點缺陷的區域、線路類型及其數 量都受到一定的限制，產品修復的良率較低，導致產品的報廢率較高，造成生產成本的上 升。在對本發明的技術內容進行詳細描述之前，需要說明的是，在以下各實施例中，所 述平板顯示裝置是以薄膜電晶體液晶顯示裝置為例，但並不限於薄膜電晶體液晶顯示裝 置，且為敘述方便，在這裡，我們是以數據線的斷點缺陷為例進行說明的。第一實施方式圖2示出了本發明液晶顯示裝置的線路修復結構在一個實施例中的布局示意圖。 如圖2所示，本實施例中，所述液晶顯示裝置是以薄膜電晶體液晶顯示裝置為例進行說明 的，其包括驅動電路101 ；用於防靜電和電性測試用的短路棒(Shorting Bar) 102、103，短 路棒102、103位於不同的導電層，例如短路棒102位於數據線導電層，而短路棒103則位於
掃描線導電層；多條數據線Dp D2......Dn(η為自然數)中的奇數條和偶數條分別與短路
棒102、103連接，例如數據線D1、D3......D21ri (k為自然數)連接於短路棒102，數據線D2,
D4……D2k(k為自然數)連接於短路棒103 ；分別串接在數據線D^ D2……Dn(η為自然 數)上的多個綁定端子104，綁定端子104鄰近於驅動電路101，用來將驅動電路101與多條
數據線D^D2......Dn連接，以將驅動電路101上的信號輸入到多條數據線D^D2……Dn；
與多條數據線D1A2......Dn交叉排列的掃描線(未予以圖示)；雷射切線區域105，用於在
顯示面板組裝時，沿著雷射切線區域105將面板進行雷射切割。
特別地，在本實施例中，所述液晶顯示裝置還包括與短路棒102對應的冗餘部 102-1、102-2、103-5、103-4，其中至少有一條所述冗餘部與短路棒102交叉，例如冗餘部
102-1、102-2分別由短路棒102的相對兩側延伸形成，而冗餘部103-5、103-4電性連接，且 冗餘部103-5與冗餘部102-1絕緣連接；與短路棒103對應的冗餘部103-1、103-2、103-3、
103-6，其中至少有一條所述冗餘部與短路棒103交叉，例如冗餘部103-1、103-2、103-3、 103-6由短路棒103延伸形成；短路棒102、103和其對應的冗餘部均位於外圍區域106。如 圖2所示，可以看出短路棒102和短路棒103分別對應的冗餘部呈對稱分布，使得所述短路 棒與其對應的冗餘部一起構成非閉合環結構。另外，冗餘部102-1、102-2與短路棒103的 構成材料相同，位於同一導電層。冗餘部103-1、103-2、103-3、103-4、103-5、103-6與短路 棒103的構成材料相同，位於同一導電層。其中，冗餘部103-1、103-2、103-3、103-6與短路棒103構成包括多個區段電性連
接的修復環路。其中冗餘部103-1、103-3與數據線DpD2......Dn同向；冗餘部103-2、103-6
與數據線01工2......Dn交叉排列並絕緣連接，其中冗餘部103-2相對靠近驅動電路101，且
在交叉AP1與冗餘部102-2絕緣連接；冗餘部103-6相對遠離驅動電路101。冗餘部103-4、 103-5、102-1、102-2與短路棒102構成包括多個區段電性連接的修復環路，其中冗餘部
102-1、102-2、103-5與數據線D1, D2......Dn同向；冗餘部103-4與數據線D1, D2......Dn
交叉排列並絕緣連接，且鄰近冗餘部103-6並相對遠離驅動電路101 ；冗餘部103-5在交叉 點P2與冗餘部102-1絕緣連接。所述絕緣連接具體指不同的導電線位於不同的導電層上 (所述不同的導電層之間具有絕緣介質)並形成交叉，具有交叉點，所述不同的導電線可以 通過例如熔接的方式電性連接起來。在通常情況下，所述交叉的導電線相互絕緣，只有在所 述交叉點進行雷射熔接後，所述交叉的導電線才通過在所述交叉點打出的接觸孔實現電性 連接。特別地，本實施例中，由於冗餘部103-2由其對應的短路棒103延伸形成的，且冗 餘部103-2與短路棒102對應的冗餘部102-2在交叉點P1絕緣連接，所以，冗餘部103-2也 可以作為短路棒102對應的冗餘部，為了敘述方便，可以將冗餘部103-2稱為公共冗餘部。在實際應用中，位於外圍區域106的導電線很容易被物理劃傷，當外圍區域106中 有一條數據線產生斷點缺陷時，首先，確定出現斷點的數據線。所述確定出現斷點的數據線 的方法可以是通過短路棒向所述數據線施加高電平信號，確定沒有信號的數據線即出現斷 點的數據線。然後，選定第一冗餘部，所述第一冗餘部與所述出現斷點的數據線交叉。接著， 確定修復的短路棒，所述修復的短路棒與所述第一冗餘部對應。再後，選定第二冗餘部，所 述第二冗餘部與所述修復的短路棒對應，所述第二冗餘部與所述出現斷點的數據線交叉， 且所述第一冗餘部與所述第二冗餘部位於所述斷點兩側。最後，將所述第一冗餘部和所述 第二冗餘部分別與所述出現斷點的數據線連接。在本實施例中，現以數據線D4產生斷點缺陷為例進行說明，具體地，線路修複方法 如圖3所示，首先，通過在短路棒上向所述數據線施加高電平信號的方法，確定數據線D4出 現了斷點；然後，在數據線D4的斷點的沿著數據線D4、靠近驅動電路101的一側選定一條冗 餘部103-2 ；接著，確定與冗餘部103-2對應的短路棒103 ；再後，根據所確定的短路棒103， 在數據線D4的斷點的沿著數據線D4、遠離驅動電路101的一側選定一條與短路棒103對應 的冗餘部103-6 ；最後，利用雷射熔接技術，在數據線D4與冗餘部103-2絕緣連接的交叉點
7P3和數據線D4與冗餘部103-6絕緣連接的交叉點P4用雷射打出接觸孔，將數據線D4與冗餘 部103-2、103-6連接在一起。這樣，包括短路棒103以及短路棒103對應的冗餘部103-1、 103-2、103-3、103-6在內的修復旁路就形成了，驅動電路101傳送給綁定端子104的信號， 如電流，就可以傳送給數據線D4 了。所述電流就可沿著圖3所示的箭頭方向流動，修復完 成由數據線D4產生的斷點缺陷。以上修複方法為較佳實施方式，另外，根據圖4介紹本發明線路修複方法的一種 可選實施方式，仍以數據線D4出現斷點為例。如圖4所示，顯示了線路修複方法在另一實施 例中的布局示意圖。修復步驟與圖3所示的修復步驟類似，具體包括通過在短路棒上向所 述數據線施加高電平信號的方法，確定數據線D4出現了斷點；在數據線D4的斷點的沿著數 據線D4、靠近驅動電路101的一側選定一條冗餘部103-2 ；接著，確定與冗餘部103-2對應 的短路棒102 ；根據所確定的短路棒102，在數據線D4的斷點的沿著數據線D4、遠離驅動電 路101的一側選定一條與短路棒102對應的冗餘部103-4 ；利用雷射熔接技術，在數據線D4 與冗餘部103-2絕緣連接的交叉點P3和數據線D4與冗餘部103-4絕緣連接的交叉點P5用 雷射打出接觸孔，將數據線D4與冗餘部103-2、103-4連接在一起。這樣，包括短路棒102以 及短路棒102對應的冗餘部103-2、102-2、102-1、103-5、103-4在內的修復旁路就形成了， 驅動電路101發出的信號也可以傳送給數據線D4。具體地，所述電流就可沿著圖4所示的 箭頭方向流動，修復完成由數據線D4產生的斷點缺陷。由上可知，本發明的線路修複方法，利用了線路修復結構，針對產生斷點缺陷的導 電線的斷點位置，在所述斷點的相對兩側可以靈活地各選定一條冗餘部，再確定包括所述 二條冗餘部在內的短路棒及其對應的其他冗餘部，利用雷射熔接技術，形成修復旁路。修復 方法簡潔便利、靈活多變。由此推廣，當外圍區域106有多條數據線產生斷點缺陷時，可以通過重複上述圖3 或圖4所示修複流程進行多條數據線的線路修復。現以數據線D4和數據線Dn_2出現斷點為 例。線路修複方法如圖5所示，在此，為敘述方便，在本實施例及其以下各實施例中，將通過 短路棒向所述數據線施加高電平信號以確定出現斷點的數據線的步驟予以省略。對於數據線D4，在數據線D4的斷點的沿著數據線D4、靠近驅動電路101的一側選 定一條冗餘部103-2 ；確定與冗餘部103-2對應的短路棒102 ；根據所確定的短路棒102，在 數據線D4的斷點的沿著數據線D4、遠離驅動電路101的一側選定一條與短路棒102對應的 冗餘部103-4 ；利用雷射熔接技術，在數據線D4與冗餘部103-2絕緣連接的交叉點P3、數據 線D4與冗餘部103-4絕緣連接的交叉點P5、冗餘部103-2與冗餘部102-2絕緣連接的交叉 點P1和冗餘部102-1與冗餘部103-5絕緣連接的交叉點P2進行雷射熔接，形成包括短路棒 102以及短路棒102對應的冗餘部103-2、102-2、102-1、103-5、103-4在內的修復旁路，驅動 電路101發出的信號也可以傳送給數據線D4。對於數據線Dn_2，在數據線D4的斷點的沿著數據線D4、靠近驅動電路101的一側選 定一條冗餘部103-2 ；確定與冗餘部103-2對應的短路棒103 ；根據所確定的短路棒103，在 數據線D4的斷點的沿著數據線D4、遠離驅動電路101的一側選定一條與短路棒103對應的 冗餘部103-6 ；利用雷射熔接技術，在數據線Dn_2與冗餘部103-2絕緣連接的交叉點P6和數 據線Dn_2與冗餘部103-6絕緣連接的交叉點P7進行雷射熔接，形成包括短路棒103以及短 路棒103對應的冗餘部103-2、103-1、103-3、103-6在內的修復旁路，驅動電路101發出的信號也可以傳送給數據線Dn_2。另外，由於在數據線D4與冗餘部103-2絕緣連接的交叉點P3和數據線Dn_2與冗餘 部103-2絕緣連接的交叉點P6都進行了雷射熔接，共用了冗餘部103-2。為能形成各自獨 立的電流流向，因此，所述線路修複方法還包括在冗餘部103-2上交叉點P3和交叉點P6之 間的部分打出用於斷開電路連接的切割線(如圖5所示)，使得冗餘部103-2依需要而斷 開。這樣，則分別對應數據線D4、Dn_2的電流就可沿著圖5所示的箭頭方向流動，修復完成 由數據線D4、Dn_2產生的斷點缺陷。在上述各實施例中，所述線路修復結構是布設在外圍區域，故能有效修復在發生 在外圍區域的一條或多條掃描線和/或數據線的斷點缺陷。圖2至圖5中的線路修復結構能夠修復發生在外圍區域的一條或多條掃描線和/ 或數據線的斷點缺陷。另見圖6，其為根據圖2所作的變化例。主要變化在於將冗餘部102-1、102_2、 103-1、103-3、103-5延伸至顯示區域107，顯示區域107的外側還包括與數據線D1,
D2......Dn交叉排列並絕緣連接的冗餘部103-2、103-4、103-6，其中冗餘部103-2相對靠近
驅動電路101，冗餘部103-4相對遠離驅動電路101，冗餘部103-6鄰近冗餘部103-4並相 對遠離驅動電路101。在圖6中，可以看出短路棒102和短路棒103分別對應的冗餘部呈對稱分布，使得 所述短路棒與其對應的冗餘部一起構成非閉合環結構，例如冗餘部103-4、103-9、103-8構 成U字形的非閉合環結構，冗餘部103-6、103-7、103-10構成U字形的非閉合環結構。在實際應用中，當顯示區域107中有一條數據線產生斷點缺陷時，以數據線D4出 現斷點為例。線路修複方法如圖7所示，在數據線D4的斷點的相對兩側分別選定冗餘部 103-2、103-6及其對應的短路棒103 ；在數據線D4與冗餘部103-2絕緣連接的交叉點P3和 數據線D4與冗餘部103-6絕緣連接的交叉點P4進行雷射熔接，形成包括短路棒103以及短 路棒103對應的冗餘部103-2、103-1、103-3、103-6在內的修復旁路，驅動電路101發出的 信號也可以傳送給數據線D4。當顯示區域107有多條數據線產生斷點缺陷時，現以數據線D4和數據線Dn_2出現 斷點為例。線路修複方法如圖8所示，對於數據線D4，在數據線D4的斷點的相對兩側選定 冗餘部103-2、103-4及其對應的短路棒102。在數據線D4與冗餘部103-2、103-4絕緣連接 的交叉點P3、P5、冗餘部103-2與冗餘部102-2的交叉點P1、冗餘部102-1與冗餘部103-5 的交叉點P2分別進行雷射熔接，形成包括短路棒102以及短路棒102對應的冗餘部103-2、 102-2、102-1、103-5、103-4在內的修復旁路，驅動電路101發出的信號也可以傳送給數據 線D4。對於數據線Dn_2，在數據線Dn_2的斷點的相對兩側選定冗餘部103-2、103-6及其對應 的短路棒103。在數據線Dn_2與冗餘部103-2、103-6絕緣連接的交叉點P6、P7進行雷射熔 接，形成包括短路棒103以及短路棒103對應的冗餘部103-2、103-1、103-3、103-6在內的 修復旁路，驅動電路101發出的信號也可以傳送給數據線Dn_2。另外，還包括在冗餘部103-2 上交叉點P3和交叉點P6之間的部分打出用於斷開電路連接的切割線(如圖8所示)，使得 冗餘部103-2依需要而斷開。這樣，則分別對應數據線D4、Dn_2的電流就可沿著圖8所示的 箭頭方向流動，修復完成由數據線D4、Dn_2產生的斷點缺陷。圖6至圖8中的線路修復結構能夠修復發生在顯示區域的一條或多條掃描線和/或數據線的斷點缺陷。進一步地，本發明的發明人對線路修復結構進行了適當的改進，使其布設在外圍 區域和顯示區域，能同時修復發生在外圍區域和顯示區域的一條或多條掃描線和/或數據 線的斷點缺陷。圖9示出了本發明液晶顯示裝置的線路修復結構在另一個實施例中的布局示意 圖。如圖9所示，所述薄膜電晶體液晶顯示裝置包括驅動電路101 ；用於防靜電和電性測 試用的短路棒102、103，短路棒102、103位於不同的導電層，其中短路棒102位於數據線導
電層，短路棒103位於掃描線導電層；多條數據線隊、D2......Dn(η為自然數)中的奇數條
和偶數條分別與短路棒102,103交錯連接；分別串接在數據線D1J2……Dn(η為自然數)
上的多個綁定端子104，綁定端子104鄰近於驅動電路101 ；與多條數據線01為......Dn(η
為自然數)交叉排列的掃描線(未予以圖示)；雷射切線區域105，用於在顯示面板組裝時， 沿著雷射切線區域105將面板進行雷射切割。在本實施例中，與短路棒102對應的冗餘部102-1、102-2、103-4、103-5、103-8、 103-9，冗餘部102-1、102-2分別由短路棒102的相對兩側延伸形成，冗餘部103-4、103-5、 103-8、103-9電性連接，且冗餘部103-5與冗餘部102-1絕緣連接；與短路棒103對應的 冗餘部 103-1、103-2、103-3、103-6、103-7、103-10，冗餘部 103-1、103-2、103-3、103-6、 103-7、103-10由短路棒103延伸形成；冗餘部103-2與冗餘部103-4之間的區域為外圍 區域106，冗餘部103-6與冗餘部103-8之間的區域為顯示區域107。如圖9所示，冗餘部
102-1、102-2與短路棒103的構成材料相同，位於同一導電層。冗餘部103-1、103-2、103-3、
103-4、103-5、103-6、103-7、103-8、103-9、103-10與短路棒 103 的構成材料相同，位於同一 導電層。其中，冗餘部103-1、103-2、103-3、103-6、103-7、103-10 與短路棒 103 構成包括多
個區段電性連接的修復環路，冗餘部103-1、103-3、103-7與數據線D1^D2......Dn同向，冗
餘部103-2、103-6、103-10與數據線01、仏......Dn交叉排列並絕緣連接，冗餘部103-2在
交叉點P1與冗餘部102-2絕緣連接；冗餘部103-4、103-5、103-8、103-9電性連接，構成包
括多個區段電性連接的修復環路，冗餘部103-5、103-9與數據線Dp D2......Dn同向，冗餘
部103-4、103-8與數據線DpD2......Dn交叉排列並絕緣連接，冗餘部103-5在交叉點P2與
冗餘部102-1絕緣連接。在本實施例中，為敘述方便，我們是以在顯示區域中數據線產生的斷點缺陷為例 進行說明。在實際應用中，當顯示區域107中有一條數據線產生斷點缺陷時，以數據線D4出 現斷點為例。線路修複方法可以參見圖10、11。在圖10中，在數據線D4的斷點的沿著數據線D4、靠近驅動電路101的一側選定一 條冗餘部103-6 ；確定與冗餘部103-6對應的短路棒103 ；根據所確定的短路棒103，在數據 線D4的斷點的沿著數據線D4、遠離驅動電路101的一側選定一條與短路棒103對應的冗餘 部103-10 ；利用雷射熔接技術，在數據線D4與冗餘部103-6絕緣連接的交叉點P8和數據線 D4與冗餘部103-10絕緣連接的交叉點P9用雷射打出接觸孔，將數據線D4與冗餘部103-6、 103-10連接在一起。這樣，包括冗餘部103-6、103-7、103-10在內的修復旁路就形成了。具 體地，電流就可沿著圖10所示的箭頭方向流動，修復完成由數據線D4產生的斷點缺陷。
在圖11中，在數據線D4的斷點的沿著數據線D4、靠近驅動電路101的一側選定一 條冗餘部103-4 ；確定與冗餘部103-6對應的短路棒102 ；根據所確定的短路棒102，在數據 線D4的斷點的沿著數據線D4、遠離驅動電路101的一側選定一條與短路棒102對應的冗餘 部103-8 ；利用雷射熔接技術，在數據線D4與冗餘部103-4絕緣連接的交叉點P5和數據線 D4與冗餘部103-8絕緣連接的交叉點Pltl用雷射打出接觸孔，將數據線D4與冗餘部103-4、 103-8連接在一起，形成包括冗餘部103-4、103-9、103-8在內的修復旁路。具體地，電流就 可沿著圖11所示的箭頭方向流動，修復完成由數據線D4產生的斷點缺陷。本發明顯示區域107內的冗餘部103-4、103-6、103-8、103_10均可以作類似於冗 餘部103-2的設計，即冗餘部103-4於冗餘部103-3有交叉，冗餘部103-8與冗餘部103-7 有交叉，冗餘部103-6與冗餘部103-9有交叉，冗餘部103-10與冗餘部103-9有交叉；還可 以去掉冗餘部103-6，使冗餘部103-4與冗餘部103-3有交叉，去掉冗餘部103-10，使冗餘 部103-8和冗餘部103-7有交叉。對應的修複方法與圖4和圖5類似。當顯示區域107中有二條數據線產生斷點缺陷時，現以數據線D4和數據線Dn出現 斷點為例。線路修複方法可以參見圖12、13。在圖12中，在數據線D4的斷點的相對兩側分別選定冗餘部103-6、103-10 (所述 冗餘部103-6、103-10與短路棒103對應)，進而確定建立對應數據線D4的修復旁路所涉及 的冗餘部103-6、103-7、103-10。利用雷射熔接技術，在數據線D4與冗餘部103-6絕緣連接 的交叉點P8和數據線D4與冗餘部103-10絕緣連接的交叉點P9用雷射打出接觸孔，將數據 線D4與冗餘部103-6、103-10連接在一起，形成包括冗餘部103-6、103-7、103-10在內的修 復旁路。同理，在數據線0 的斷點的相對兩側分別選定冗餘部103-4、103-8(所述冗餘部 103-4、103-8與短路棒102對應)，進而確定建立對應數據線Dn的修復旁路所涉及的冗餘部 103-4、103-9、103-8。利用雷射熔接技術，在數據線Dn與冗餘部103-4絕緣連接的交叉點 P11和數據線Dn與冗餘部103-8絕緣連接的交叉點P12用雷射打出接觸孔，將數據線Dn與冗 餘部103-4、103-8連接在一起，形成包括冗餘部103-4、103-9、103-8在內的修復旁路。具 體地，電流就可沿著圖12所示的箭頭方向流動，修復完成由數據線D4、Dn產生的斷點缺陷。在圖13中，在數據線D4的斷點的相對兩側分別選定冗餘部103-4、103-8 (所述冗 餘部103-4、103-8與短路棒102對應)，進而確定建立對應數據線D4的修復旁路所涉及的冗 餘部103-4、103-9、103-8。利用雷射熔接技術，在數據線D4與冗餘部103-4絕緣連接的交叉 點P5和數據線D4與冗餘部103-8絕緣連接的交叉點Pltl用雷射打出接觸孔，將數據線D4與 冗餘部103-4、103-8連接在一起，形成包括冗餘部103-4、103-9、103-8在內的修復旁路。同 理，在數據線Dn的斷點的相對兩側選定冗餘部103-6、103-10 (所述冗餘部103-6、103-10與 短路棒103對應)，進而確定建立對應數據線Dn的修復旁路所涉及的冗餘部103-6、103-7、 103-10。利用雷射熔接技術，在數據線Dn與冗餘部103-6絕緣連接的交叉點P13和數據線 Dn與冗餘部103-10絕緣連接的交叉點P14用雷射打出接觸孔，將數據線Dn與冗餘部103-6、 103-10連接在一起，形成包括冗餘部103-6、103-7、103-10在內的修復旁路。具體地，電流 就可沿著圖13所示的箭頭方向流動，修復完成由數據線D4、Dn產生的斷點缺陷。圖13所示的修複方法是一種可選修複方法，其中冗餘部103-4和冗餘部103_6均 可以用冗餘部103-2來代替，具體步驟和圖7、圖8類似。由上可知，根據圖9所提供的線路修復結構，能同時修復發生在外圍區域和顯示
11區域的一條或二條掃描線和/或數據線的斷點缺陷。因此，本發明的發明人還設想，對圖9所示的線路修復結構作了進一步的改進。變化例一如圖14所示，在圖9所示的線路修復結構的基礎上，在冗餘部103-4和103_8的 末端處另設有冗餘部103-11。冗餘部103-11與冗餘部103-4和103-8處於不同的導電層 (在本實施例中，冗餘部103-4和103-8處於掃描線導電層，則冗餘部103-11處於數據線導 電層)，冗餘部103-11的相對兩側可與冗餘部103-4和103-8實現絕緣連接，即在雷射熔接 的情況下，冗餘部103-11的相對兩側可與冗餘部103-4和103-8實現電性連接。在圖14中，冗餘部103-4、103-9、103-8、103-11構成閉合環結構，而冗餘部103_6、 103-7、103-10構成U字形的非閉合環結構。其中冗餘部之間構成的閉合環也可以位於外圍區域，以及冗餘部之間構成的U字 形的非閉合環也可以位於外圍區域。在圖14中，冗餘部103-4、103-11、103-8、103-9所構成的閉合環結構可以修復發 生在顯示區域107的二條數據線的斷點缺陷；而103-6、103-7、103-10所構成的非閉合環結 構可以修復發生在顯示區域107的一條數據線的斷點缺陷。至於針對發生在外圍區域106 的斷點缺陷的修複方法可參見圖3至圖5所揭露的內容，在此不再累贅。圖14所示的結構為一較佳實施例，其中冗餘部之間還可以根據需要構成多個閉 合環，或一條冗餘部對應多個閉合環，構成比合環的冗餘部103-11隻要滿足與所述冗餘 部103-11交叉的另一條短路棒對應的冗餘部103-6不在同一金屬層即可滿足要求。變化例二 如圖15所示，在圖9所示的線路修復結構的基礎上，在冗餘部103-6和103-10的 末端處另設有冗餘部103-13。冗餘部103-13與冗餘部103-6和103-10處於不同的導電層 (在本實施例中，冗餘部103-6和103-10處於掃描線導電層，則冗餘鄯103-13處於數據線 導電層)，冗餘部103-13的相對兩側可與冗餘部103-6和103-10實現絕緣連接，即在雷射 熔接的情況下，冗餘部103-13的相對兩側可與冗餘部103-6和103-10實現電性連接。在圖15中，冗餘部103-4、103-9、103-8構成U字形的非閉合環結構，而冗餘部 103-6、103-7、103-10、103-13 構成閉合環結構。在圖15中，冗餘部103-6、103-7、103-10、103-13所構成的閉合環結構可以修復發 生在顯示區域107的二條數據線的斷點缺陷；而103-4、103-9、103-8所構成的非閉合環結 構可以修復發生在顯示區域107的一條數據線的斷點缺陷。同樣，至於針對發生在外圍區 域106的斷點缺陷的修複方法可參見圖3至圖5所揭露的內容，在此不再累贅。變化例三如圖16所示，參考了圖12、14的線路修復結構特點，在冗餘部103_4和103_8的 末端處另設有絕緣連接的冗餘部103-11，在冗餘部103-6和103-10的末端處另設有絕緣 連接的冗餘部103-13，其中冗餘部103-11與冗餘部103-4和103-8處於不同的導電層，冗 餘部103-13與冗餘部103-6和103-10處於不同的導電層(在本實施例中，冗餘部103-4、 103-6,103-8和103-10處於掃描線導電層，則冗餘部103-11、103-13處於數據線導電層)。在圖16中，冗餘部103-4、103_9、103_8、103-11構成閉合環結構，而冗餘部103_6、 103-7、103-10、103-13構成閉合環結構。
在圖16中，冗餘部103-4、103-11、103-8、103_9所構成的閉合環結構可以修復發 生在顯示區域107的二條數據線的斷點缺陷；冗餘部103-6、103-7、103-10、103-13所構成 的閉合環結構同樣可以修復發生在顯示區域107的二條數據線的斷點缺陷。至於針對發生 在外圍區域106的斷點缺陷的修複方法可參見圖3至圖5所揭露的內容，在此不再累贅。變化例四如圖17所示，在圖9所示的線路修復結構的基礎上，首先，將冗餘部103-8與冗 餘部103-10交換位置(也就是將冗餘部103-10移至顯示區域107的內側)，並在冗餘部 103-4和103-8的末端處另設有冗餘部103-11。冗餘部103-11與冗餘部103-4和103-8 處於不同的導電層(在本實施例中，冗餘部103-4和103-8處於掃描線導電層，則冗餘部 103-11處於數據線導電層)，冗餘部103-11的相對兩側可與冗餘部103-4和103-8實現絕 緣連接，即在雷射熔接的情況下，冗餘部103-11的相對兩側可與冗餘部103-4和103-8實 現電性連接。在圖17中，冗餘部103-4、103-9、103-8、103-11構成閉合環結構，而冗餘部103_6、 103-7、103-10構成U字形的非閉合環結構。在圖17中，冗餘部103-4、103-11、103-8、103_9所構成的閉合環結構可以修復發 生在顯示區域107的二條數據線的斷點缺陷；而103-6、103-7、103-10所構成的非閉合環結 構可以修復發生在顯示區域107的一條數據線的斷點缺陷。至於針對發生在外圍區域106 的斷點缺陷的修複方法可參見圖3至圖5所揭露的內容，在此不再累贅。變化例五如圖18所示，在圖9所示的線路修復結構的基礎上，首先，將冗餘部103-8與冗 餘部103-10交換位置(也就是將冗餘部103-10移至顯示區域107的內側)，並在冗餘部 103-6和103-10的末端處另設有冗餘部103-13。冗餘部103-13與冗餘部103-6和103-10 處於不同的導電層(在本實施例中，冗餘部103-6和103-10處於掃描線導電層，則冗餘部 103-13處於數據線導電層)，冗餘部103-13的相對兩側可與冗餘部103-6和103-10實現 絕緣連接，即在雷射熔接的情況下，冗餘部103-13的相對兩側可與冗餘部103-6和103-10 實現電性連接。在圖18中，冗餘部103-4、103-9、103-8構成U字形的非閉合環結構，而冗餘部 103-6、103-7、103-10、103-13 構成閉合環結構。在圖18中，冗餘部103-6、103-7、103-10、103-13所構成的閉合環結構可以修復發 生在顯示區域107的二條數據線的斷點缺陷；而103-4、103-9、103-8所構成的非閉合環結 構可以修復發生在顯示區域107的一條數據線的斷點缺陷。同樣，至於針對發生在外圍區 域106的斷點缺陷的修複方法可參見圖3至圖5所揭露的內容，在此不再累贅。需要注意的是，在本實施例中，在圖18中，冗餘部103-13是與冗餘部103-6和冗 餘部103-10處於不同的導電層，但並不以此為限，在其他實施例中，冗餘部103-13也可以 設於與冗餘部103-6和冗餘部103-10相同的導電層上。其中，冗餘部103-13也可以與冗餘部103-6為位於同一層。冗餘部103_4、103_6、 103-8、103-10也可以與其對應的短路棒一起修復外圍區域的斷點缺陷。變化例六如圖19所示，參考了圖15、17的線路修復結構特點，在冗餘部103-4和103_8的
13末端處另設有絕緣連接的冗餘部103-11，在冗餘部103-6和103-10的末端處另設有絕緣 連接的冗餘部103-13，其中冗餘部103-11與冗餘部103-4和103-8處於不同的導電層，冗 餘部103-13與冗餘部103-6和103-10處於不同的導電層(在本實施例中，冗餘部103-4、 103-6,103-8和103-10處於掃描線導電層，則冗餘部103-11、103-13處於數據線導電層)。在圖19中，冗餘部103-4、103-9、103-8、103-11構成閉合環結構，而冗餘部103_6、 103-7、103-10、103-13構成閉合環結構。在圖19中，冗餘部103-4、103-11、103-8、103_9所構成的閉合環結構可以修復發 生在顯示區域107的二條數據線的斷點缺陷；冗餘部103-6、103-7、103-10、103-13所構成 的閉合環結構同樣可以修復發生在顯示區域107的二條數據線的斷點缺陷。至於針對發生 在外圍區域106的斷點缺陷的修複方法可參見圖3至圖5所揭露的內容，在此不再累贅。第二實施方式如圖20所示，在本實施例中，所述薄膜電晶體液晶顯示裝置包括與像素三原色 對應的三條短路棒R、G、B(分別以201、202和203予以標示)，短路棒R、G、B可以位於不同 的導電層，例如短路棒R位於數據線導電層，短路棒G、B位於掃描線導電層；由冗餘部和數 據線/掃描線構成的切換開關，本實施例中，構成切換開關的冗餘部為兩條，即並行的二個 柵極204a、204b，其相對兩側電性連接於外圍的電路板205，例如為柔性電路板(Flexible PrintedCircuit Board ；FPC)；通過柵極204a、204b，分別與短路棒R、G、B連接的多條數據 線隊、D2……Dn(n為自然數)；分別串接在數據線Dp D2……Dn(n為自然數)上的多個 綁定端子206，綁定端子206鄰近於柵極204 ；在柵極204a、204b和短路棒R、G、B之間還包 括與數據線隊、込……Dn對應的引線(未予以標示)；與多條數據線口」込……Dn交叉 排列的掃描線(未予以圖示)。在本實施例中，短路棒R延伸形成有冗餘部201-1，冗餘部201-1是與短路棒R電 性連接並與短路棒G、B絕緣連接。短路棒G延伸形成有冗餘部202-1、202-2，其中冗餘部
202-1與數據線Di、D2......Dn同向，冗餘部202-2與數據線D:、D2......Dn交叉排列並絕緣
連接；短路棒B延伸形成有冗餘部203-1、203-2，其中冗餘部203-1與數據線D」D2......Dn
同向，冗餘部203-2與數據線Dp D2......Dn交叉排列並絕緣連接。可以看出，短路棒G延
伸形成冗餘部與短路棒B延伸形成冗餘部成同向分布，即冗餘部202-1與冗餘部203-1同 向，冗餘部202-2與冗餘部203-2同向，使得所述短路棒與其對應的冗餘部一起構成非閉合 環結構，例如為U字形。在本實施例中，柵極204a、204b與冗餘部202_2、203-2之間的區域即為外圍區域 207。如圖20所示，冗餘部201-1與短路棒R的構成材料相同，位於同一導電層；冗餘部 202-1、202-2、203-1、203-2與短路棒G、B的構成材料相同，位於同一導電層。在實際應用中，位於外圍區域207的導電線很容易被物理劃傷，當在外圍區域207 有一條數據線產生斷點缺陷時，以數據線D4出現斷點為例。具體修複方法如圖21所示，對 於數據線D4，在數據線D4的斷點的沿著數據線D4、靠近電路板205的一側選定作為冗餘部 的柵極204a ；確定與柵極204a對應的短路棒R ；根據所確定的短路棒R，在數據線隊的斷點 的沿著數據線D4、遠離電路板205的一側選定一條與短路棒R對應的冗餘部202-2 ；利用激 光熔接技術，在數據線D4與冗餘部202-2絕緣連接的交叉點B2、數據線D4與柵極204a連接 的交叉點、對應於數據線D4的引線與柵極204a連接的交叉點以及短路棒R的冗餘部201-1與短路棒G連接的交叉點Bi用雷射打出接觸孔，將數據線D4與冗餘部202-2、柵極204a連
接在一起。另外，由於在數據線D4與柵極204a連接的交叉點和對應於數據線D4的引線與柵 極204a連接的交叉點都進行了雷射熔接，為能形成各自獨立的電流流向，因此，所述線路 修複方法還包括在數據線D4與柵極204連接的交叉點和對應於數據線D4的引線與柵極204 連接的交叉點的二外側打出用於斷開電路連接的切割線(如圖21所示)，使得柵極204a依 需要而斷開。這樣，包括短路棒R以及短路棒R對應的冗餘部201-1、202-1、202-2在內的修復 旁路就形成了，電路板205傳送給綁定端子206的信號，如電流，就可以傳送給數據線D4 了。 具體地，所述電流就可沿著圖21所示的箭頭方向流動，修復完成由數據線D4產生的斷點缺 陷。當在外圍區域207有多條數據線產生斷點缺陷時，現以數據線D1和D2出現斷點 為例。線路修複方法如圖22所示，簡略地，對於數據線D1，分別在數據線D1與冗餘部203-2 絕緣連接的交叉點B4、數據線D1與柵極204a連接的交叉點、對應於數據線D1的引線與柵 極204a連接的交叉點以及短路棒R的冗餘部201-1與短路棒B連接的交叉點B3用雷射打 出接觸孔；並在數據線D1與柵極204a連接的交叉點和對應於數據線D1的引線與柵極204a 連接的交叉點的二外側打出用於斷開電路連接的切割線；形成包括短路棒R以及短路棒R 對應的冗餘部201-1、203-1、203-2在內的修復旁路，修復完成由數據線D1產生的斷點缺陷 (對應數據線Di的電流流向如圖22所示)。同理，對於數據線D2，分別在數據線D2與冗餘部202-2絕緣連接的交叉點B5、數 據線D2與柵極204b連接的交叉點以及對應於數據線D2的引線與柵極204b連接的交叉點 用雷射打出接觸孔；並在數據線D2與柵極204b連接的交叉點和對應於數據線D2的引線與 柵極204b連接的交叉點的二外側打出用於斷開電路連接的切割線；形成包括短路棒G以及 短路棒G對應的冗餘部202-1、202-2在內的修復旁路，修復完成由數據線D2產生的斷點缺 陷(對應數據線D2的電流流向如圖22所示)。類似地，圖23顯示了本發明線路修復結構用於修複數據線D1和D3產生斷點缺陷 的示意圖，在此不再贅述。再有，如圖24，在圖20所示的線路修復結構的基礎上，與短路棒G、B類似，短路棒 R延伸形成有與短路棒R電性連接的冗餘部201-1和與冗餘部201-1在不同層並絕緣連接 的冗餘部201-2。短路棒R、短路棒G和短路棒B分別延伸形成冗餘部之間成同向分布，即 冗餘部201-1、冗餘部202-1與冗餘部203-1同向，冗餘部201-2、冗餘部202-2與冗餘部 203-2同向，使得所述短路棒與其對應的冗餘部一起構成例如為U字形的非閉合環結構。在上述實施例中，所述線路修復結構能夠修復發生在外圍區域的一條或多條掃描 線和/或數據線的斷點缺陷，而不能對發生在顯示區域內的斷點缺陷進行修復。因此，本發 明的發明人對線路修復結構進行了適當的改進。如圖25所示，在圖20所示的線路修復結構的基礎上，增加了分別對應於短路棒G 和短路棒B的冗餘部202-3、202-4和203-3，203-4，使得形成的線路修復結構除布設於外 圍區域207之外還布設於顯示區域208。可以看出，短路棒G延伸形成冗餘部與短路棒B 延伸形成冗餘部成同向分布，即冗餘部202-1與冗餘部203-1同向，冗餘部202-2與冗餘部203-2同向，冗餘部202-3與冗餘部203-3同向，冗餘部202-4與冗餘部203-4同向，使得所 述短路棒與其對應的冗餘部一起構成非閉合環結構，例如為己字形。這樣，就能同時修復發 生在外圍區域207和顯示區域208的一條或多條掃描線和/或數據線的斷點缺陷。具體的 線路修複方法可參閱圖21至圖23中的內容。另外，如圖26，在圖14所示的線路修復結構的基礎上，增加了分別對應於短路棒R 的冗餘部201-3、201-4、短路棒G的冗餘部202-3、202-4和短路棒B的冗餘部203-3，203-4， 使得形成的線路修復結構除布設於外圍區域207之外還布設於顯示區域208。可以看出， 短路棒R、短路棒G和短路棒B分別延伸形成冗餘部之間成同向分布，即冗餘部201-1冗餘 部202-1與冗餘部203-1同向，冗餘部201-2、冗餘部202-2與冗餘部203-2同向，冗餘部 201-3、冗餘部202-3與冗餘部203-3同向，使得所述短路棒與其對應的冗餘部一起構成例 如為己字形的非閉合環結構。這樣，就能同時修復發生在外圍區域207和顯示區域208的 一條或多條掃描線和/或數據線的斷點缺陷。具體的線路修複方法可參閱圖21至圖23中 的內容。可選地，本發明的所述短路棒201還可以進一步的包括另一條冗餘部，所述另一 條冗餘部可以將所述短路棒201與所述冗餘部201-2交叉，這樣所述短路棒201、所述榮譽 簿201-1、201-2以及所述另一條冗餘部可以形成一個閉合環，形成的所述閉合環可以修復 兩條斷線；當然所述短路棒202和203也可以包括各自的另一條冗餘部。可選地，所述短路棒202還可以包括一條其它冗餘部，所述其它冗餘部可以與冗 餘部202-2、202-3、202-4形成閉合環，所述閉合環也可以修復兩條斷線。可選地，所述線路修復結構也可以根據需要包括構成切換開關的三個柵極甚至更 多的柵極，這都是本領域的技術人員較容易想到的，所以不再進行闡述。總之，本發明的線路修復結構及其修複方法靈活簡單，並可以修復多條斷線，能在 很大程度上降低不良率，降低製造成本。雖然本發明己以較佳實施例披露如上，但本發明並非限定於此。任何本領域技術 人員，在不脫離本發明的精神和範圍內，均可作各種更動與修改，因此本發明的保護範圍應 當以權利要求所限定的範圍為準。
權利要求
一種線路修復結構，所述線路修復結構包括陣列基板，在所述陣列基板上具有以橫向和縱向方式交叉排列的掃描線和數據線；其特徵在於，還包括短路棒，設於所述陣列基板的外圍區域，所述短路棒連接至少一條所述掃描線和/或所述數據線；冗餘部，對應所述短路棒，至少一條所述冗餘部與至少一條所述短路棒交叉，所述冗餘部位於所述陣列基板的顯示區域和/或外圍區域，所述冗餘部與至少一條所述掃描線和/或所述數據線交叉。
2.根據權利要求1所述的線路修復結構，其特徵在於，所述短路棒包括第一短路棒和 第二短路棒，其中所述第一短路棒連接於奇數條的掃描線或數據線，所述第二短路棒連接 於偶數條的掃描線或數據線。
3.根據權利要求2所述的線路修復結構，其特徵在於，所述第一短路棒和所述第二短 路棒分別對應的冗餘部對稱分布。
4.根據權利要求2所述的線路修復結構，其特徵在於，所述的第一短路棒和所述第二 短路棒分別對應的冗餘部成同向分布。
5.根據權利要求1所述的線路修復結構，其特徵在於，所述短路棒分為紅、綠、藍短路 棒，分別連接於表徵紅、綠和藍三原色像素的掃描線或數據線。
6.根據權利要求5所述的線路修復結構，其特徵在於，所述的紅、綠、藍短路棒中的兩 條短路棒分別對應的冗餘部對稱分布。
7.根據權利要求5所述的線路修復結構，其特徵在於，所述的紅、綠、藍短路棒中的至 少兩條短路棒分別對應的冗餘部成同向分布。
8.根據權利要求2或5所述的線路修復結構，其特徵在於，所述短路棒與所述掃描線和 /或數據線平行排列。
9.根據權利要求2或5所述的線路修復結構，其特徵在於，所述短路棒設於同一導電層 或不同導電層。
10.根據權利要求9所述的線路修復結構，其特徵在於，所述導電層為掃描線導電層或 數據線導電層。
11.根據權利要求1或2或5所述的線路修復結構，其特徵在於，還包括切換開關，所 述切換開關的柵極由所述冗餘部中的一條或幾條組成，至少一條所述短路棒通過所述切換 開關與所述掃描線或數據線連接。
12.根據權利要求1所述的線路修復結構，其特徵在於，所述冗餘部與所述短路棒一起 構成閉合環結構
13.根據權利要求1所述的線路修復結構，其特徵在於，所述冗餘部與所述短路棒一起 構成非閉合環結構。
14.根據權利要求13所述的線路修復結構，其特徵在於，所述非閉合環結構為U字形或 己字形。
15.根據權利要求1所述的線路修復結構，其特徵在於，部分所述冗餘部之間構成閉合 環結構
16.根據權利要求1所述的線路修復結構，其特徵在於，部分所述冗餘部之間構成非閉 合環結構。
17.根據權利要求16所述的線路修復結構，其特徵在於，所述非閉合環結構為U字形或 己字形。
18.根據權利要求1所述的線路修復結構，其特徵在於，所述冗餘部之間電性連接或絕緣連接。
19.根據權利要求1所述的線路修復結構，其特徵在於，所述冗餘部由所述短路棒延伸 形成。
20.根據一種根據權利要求1至19中任一項所述的線路修復結構的修複方法，所述線 路修複方法包括當所述掃描線/數據線出現斷點時，確定出現斷點的掃描線/數據線； 選定第一冗餘部，所述第一冗餘部與所述出現斷點的掃描線/數據線交叉； 確定修復的短路棒，所述修復的短路棒與所述第一冗餘部對應； 選定第二冗餘部，所述第二冗餘部與所述修復的短路棒對應，所述第二冗餘部與所述 出現斷點的掃描線/數據線交叉，且所述第一冗餘部和所述第二冗餘部位於所述斷點兩 側；將所述第一冗餘部和所述第二冗餘部分別與所述出現斷點的掃描線/數據線連接。
21.根據權利要求20所述的線路修複方法，其特徵在於，還包括對所述第一冗餘部或 所述第二冗餘部進行切割，所述切割的位置鄰近所述第一冗餘部或所述第二冗餘部與所述 出現斷點的掃描線/數據線連接點。
全文摘要
一種平板顯示裝置的線路修復結構及其修複方法，所述線路修復結構包括短路棒，設於所述陣列基板的外圍區域，所述短路棒連接至少一條所述掃描線和/或所述數據線；冗餘部，對應所述短路棒，至少一條所述冗餘部與至少一條所述短路棒交叉，所述冗餘部位於所述陣列基板的顯示區域和/或外圍區域，所述冗餘部與至少一條所述掃描線和/或所述數據線交叉。與現有技術相比，本發明的線路修復結構不僅能同時修復一條或多條的掃描線和/或數據線導致的斷點缺陷，還能針對顯示區域和/或外圍區域的斷點缺陷進行修復，大大提高修復的良率。
文檔編號G02F1/13GK101930128SQ200910054058
公開日2010年12月29日 申請日期2009年6月24日 優先權日2009年6月24日
發明者李治福, 杜雷, 梁豔峰, 溫琳, 趙文剛, 黃賢軍 申請人:上海天馬微電子有限公司