一種用於雷射掃描共焦顯微鏡的載物臺的製作方法
2023-05-25 20:47:26 3
專利名稱：一種用於雷射掃描共焦顯微鏡的載物臺的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種雷射掃描共焦顯微鏡(Laser Scanning ConfocalMicroscope, LSCM)的輔助設備，特別涉及一種用於雷射掃描共焦顯微鏡的載物臺。
背景技術：
雷射掃描共焦高溫成像儀是同時集高溫熱成像加熱系統、高溫伸展測量成像加熱系統、雷射掃描共焦顯微鏡於一體的先進精密設備。雷射掃描共焦高溫成像儀主要包括金相加熱爐、雷射掃描共焦顯微鏡及觀測成像系統、工作檯、溫控系統和微機系統等部分。[0003] 圖1為雷射掃描共焦高溫成像儀的工作原理的示意圖，如圖所示，其中金相加熱爐200採用紅外燈管302聚焦加熱，並通過熱電偶301測量溫度，爐身為橢圓形鍍金鏡面密封結構，加熱溫度範圍50 160(TC;最大加熱速率30(TC /s ;保溫時溫度起伏在士rC左右，測量誤差在O. 1%以內，由溫控系統302控制並實時監視。雷射掃描共焦顯微鏡及觀測成像系統的雷射掃描共焦顯微鏡100採用精密共焦空間濾波，形成物象共軛的獨特設計，雷射經物鏡焦平面上針孔形成點光源對設置在工作檯202上的坩堝201中的被測試樣品(簡稱試樣)掃描，掃描後可得到光學斷層圖像，可無損傷地對試樣作不同深度的層掃描和螢光強度測量。不同焦平面的光學切片經三維重建後能得到試樣的三維立體結構，並通過微機系統記錄在視頻文件中。 採用先進的LSCM能夠原位觀測高溫下材料的組織變化，可以直觀地分析同一試樣從低溫到高溫直到熔化以及在後續凝固過程中的組織連續變化情況，可以達到原位觀測的目的。但在實際使用過程中，還有一些不足 (1)有效信息易丟失。比如很多鋼鐵材料的典型組織特徵往往是在被觀測試樣的局部微觀區域內發現的，離開了這個區域就可能得不到有用的信息和結果。採用雷射掃描共焦高溫成像儀進行實際實驗時，我們在普通顯微鏡下觀測到的有價值區域，往往在轉移到雷射掃描共焦顯微鏡下時，由於兩種顯微鏡的成像原理不同，圖像對比度、襯度和亮度也完全不同，經常會造成那些有效微觀區域或特徵相、特徵組織(例如析出相、第二相、貝氏體、馬氏體、珠光體、夾雜物等)的"丟失"，從而無法捕捉到那些有價值的典型微觀組織(相)。這一問題經常導致一次試驗費用頗為昂貴的試驗無功而返，浪費了人力、物力和財力。 (2)試樣製備嚴格。用於LSCM觀測的試樣是放在小坩鍋中進行試驗的，試樣尺寸較小且有嚴格尺寸要求，使得試樣製備比較麻煩。但有時試驗只需室溫觀測的試樣，並不需要試樣如此嚴格，只需要一般的尺寸就行了，而目前設備對一般尺寸的試樣無法進行規範的室溫觀測和過程記錄。
實用新型內容為解決上述問題，本實用新型提供一種用於雷射掃描共焦顯微鏡的載物臺，可放置各種不同大小和規格的試樣，方便雷射掃描共焦顯微鏡對各種試樣的觀測。的載物臺，包括支撐套管、旋動螺杆和多個調節螺栓，所述旋動螺杆的一端位於所述支撐套管內，並與所述支撐套管螺紋連接，所述多個調節螺栓分布在所述支撐套管的管壁上，並與所述支撐套管螺紋連接。 所述多個調節螺栓均勻分布。[0010] 所述調節螺栓的數量為4個。 本實用新型的用於雷射掃描共焦顯微鏡的載物臺，擴展了現有技術的雷射掃描共焦高溫成像儀的功能，可以在試驗前便於對試樣的先期觀察或者單用於室溫觀察。[0012] 本實用新型的用於雷射掃描共焦顯微鏡的載物臺，可安裝各種大小規格的試樣，方便了試樣的安裝，並且方便了在觀測過程中對試樣位置的調節。
圖1為雷射掃描共焦高溫成像儀的工作原理的示意圖； 圖2為本實用新型的用於雷射掃描共焦顯微鏡的載物臺的結構示意圖； 圖3為圖2中用於雷射掃描共焦顯微鏡的載物臺的俯視圖； 圖4為本實用新型的用於雷射掃描共焦顯微鏡的載物臺安裝於雷射掃描共焦高溫成像儀的示意圖； 圖5為不規則試樣固定在本實用新型的用於雷射掃描共焦顯微鏡的載物臺的示意圖。
具體實施方式圖2為本實用新型的用於雷射掃描共焦顯微鏡的載物臺的結構示意圖，圖3為圖2中用於雷射掃描共焦顯微鏡的載物臺的俯視圖。如圖所示，本實用新型的用於雷射掃描共焦顯微鏡的載物臺包括支撐套管1、旋動螺杆2和多個調節螺栓3，所述旋動螺杆2的一端位於所述支撐套管1內，並與所述支撐套管1螺紋連接，所述多個調節螺栓3均勻分布在所述支撐套管1的管壁上，並與所述支撐套管1螺紋連接。 旋動螺杆2的端部和多個調節螺栓3 —起構成試樣10的放置區域。試樣10置於所述旋動螺杆2的端部，通過旋轉所述旋動螺杆2可以調節試樣10的上下位置，通過支撐套管1上的多個調節螺栓3 —起配合調節，可以調節試樣在所述旋動螺杆2的端部平面上的水平位置。這樣就可以實現試樣10的位置的三維調節，方便雷射掃描共焦顯微鏡的對試樣10的觀測。調節好位置後，旋緊所述多個調節螺栓3，可以夾緊試樣10。[0020] 在支撐套管1上設置用於和工作檯202連接的螺紋孔，方便本實用新型的用於雷射掃描共焦顯微鏡的載物臺的固定。 所述調節螺栓3的數量可以根據試樣的形狀來確定，優選地，所述調節螺栓3的數量為4個，四個對角方向對稱設置。 本實用新型的用於雷射掃描共焦顯微鏡的載物臺在使用時，可以直接將試樣10放在旋動螺杆2的端部，試樣10的被測平面向上，轉動旋動螺杆2調整到合適位置後，然後調整調節螺栓3使試樣到合適位置後固定，同時將本實用新型的用於雷射掃描共焦顯微鏡的載物臺工作檯202固定，就可以進行觀測了，如圖4所示的本實用新型的用於雷射掃描共焦顯微鏡的載物臺安裝於雷射掃描共焦高溫成像儀的示意圖。本實用新型的用於雷射掃描共焦顯微鏡的載物臺可設置在現有的雷射掃描共焦高溫成像儀旁邊，共用同一工作檯202。觀測前，將共焦顯微鏡移到本發明載物臺的正上方進行定位固定。 觀測過程中如需局部調整試樣10的前後左右位置，可通過微調調節螺栓3來實現；手動調節旋動螺杆2可以實現試樣10的上下微調功能。 圖5為不規則試樣固定在本實用新型的用於雷射掃描共焦顯微鏡的載物臺的示意圖，如圖所示，對於上下表面不平行或底部不規則(被測面為拋光平面)的試樣ll，安裝時，先在工作桌上放一張鏡頭紙，將上下表面不平行或底部不規則的試樣11的被測面放在鏡頭紙上，底部粘上一塊軟化的橡皮泥4，用於和旋動螺杆2端部的粘接；然後把本實用新型的載物臺倒扣，包圍住試樣ll，使得支撐套管1的上端面和試樣11的被測面在一個平面上；然後轉動旋動螺杆2使得試樣固定；然後將旋動螺杆2輕輕旋上，使其端部輕靠試樣11下表面，軟化的橡皮泥4能起到防止樣品亂翹動的效果；最後把安裝好試樣11的載物臺整體翻過來，再安裝在工作檯202上進行觀測。 本實用新型的載物臺可用於在試驗前對試樣微觀組織的室溫先期觀察，預先做到有一個大致的了解，特別是對典型微觀區域可以進行先期定位，隨後進行試樣的高溫加熱和觀察。這樣的話，由於是在同一顯微鏡下觀察的微觀組織形貌，在圖像的色澤、亮度和對比度上都沒有變化，所以我們就可以方便而且準確無誤地對樣品後期加熱過程中的微觀組織變化觀察有了針對性。另一方面，利用成像質量較高的共焦掃描雷射顯微鏡，可以對其他各種尺寸的試樣進行室溫觀察和微觀組織的紀錄，可以拍照記錄，還可以對觀察過程進行視頻記錄，實現觀察過程的連續記錄和顯微圖像的連續獲取。
權利要求一種用於雷射掃描共焦顯微鏡的載物臺，其特徵在於，包括支撐套管、旋動螺杆和多個調節螺栓，所述旋動螺杆的一端位於所述支撐套管內，並與所述支撐套管螺紋連接，所述多個調節螺栓分布在所述支撐套管的管壁上，並與所述支撐套管螺紋連接。
2. 如權利要求1所述的用於雷射掃描共焦顯微鏡的載物臺，其特徵在於，所述多個調 節螺栓均勻分布。
3. 如權利要求1所述的用於雷射掃描共焦顯微鏡的載物臺，其特徵在於，所述調節螺 栓的數量為4個。
專利摘要本實用新型公開了一種用於雷射掃描共焦顯微鏡的載物臺，其包括支撐套管、旋動螺杆和多個調節螺栓，所述旋動螺杆的一端位於所述支撐套管內，並與所述支撐套管螺紋連接，所述多個調節螺栓分布在所述支撐套管的管壁上，並與所述支撐套管螺紋連接。本實用新型的用於雷射掃描共焦顯微鏡的載物臺，可安裝各種大小規格的試樣，方便了試樣的安裝，並且方便了在觀測過程中對試樣位置的調節。
文檔編號G02B21/00GK201436599SQ20092007680
公開日2010年4月7日 申請日期2009年6月22日 優先權日2009年6月22日
發明者於豔, 吳建春, 方園 申請人:寶山鋼鐵股份有限公司