用於流測定儀的偏移同步測試的光熱光譜系統以及使用該光熱光譜系統的方法與流程
2023-04-30 02:12:51
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背景技術：
側流測定儀(lateralflowassay，lfa)可以是檢測分析物在樣本中的存在的紙基設備。lfa是護理診斷工具的公共點。lfa通過穿過多孔膜(例如，紙)芯吸(例如，毛細作用)感興趣的樣本起作用，其中化學反應可以發生在多孔膜的表面中或表面上。lfa可以在其中含有共軛物材料。共軛物材料典型地被配製以提供溶解、反應、著色、標記或鍵合到樣本中的所懷疑分析物所必需的(多種)溶劑和(多種)反應物。因此，如果分析物存在，共軛物或其成分將與樣本中的分析物反應。共軛物材料可以包括被配置用於提供分析物、已反應分析物或分析物-共軛物絡合物的存在的指示的指示劑材料。典型地，lfa的讀出可以是沿著lfa的長度的某一點處的視覺變化。許多lfa包括在lfa的遠端附近的分析物收集材料，由此分析物和鍵合到其上的任何指示劑顆粒以較大濃度結合，以便提供陽性或陰性結果的視覺或其他指示。
結合光熱光譜測定讀取器的系統可以增強lfa的靈敏度和超過視覺檢測的類似測定結果。光熱光譜測定讀取器可以檢測來自lfa的用感興趣的樣本飽和的表面的熱輻射。與樣本中的分析物反應的共軛物材料可以吸收來自光的能量。光熱光譜測定讀取器可檢測來自lfa的表面上的受輻照的共軛物材料的熱響應，所述熱響應可以提供分析物的存在的指示。
光熱光譜測定讀取器和lfa的製造商和用戶繼續尋求具有改進的檢測能力的光熱光譜測定讀取器和lfa。
技術實現要素：
在此所披露的實施例涉及光熱光譜裝置以及用於流測定儀的偏移同步測試的系統。還披露了使用並操作此類光熱光譜系統的方法。
在一個實施例中，披露了一種用於檢測分析物在布置於流測定儀中的樣本中的存在的系統，所述流測定儀中具有光學吸收指示劑顆粒。所述系統包括光源，所述光源被定位並被配置用於輻照流測定儀和其中的光學吸收指示劑顆粒的至少一部分。所述系統進一步包括光熱光譜測定讀取器，所述光熱光譜測定讀取器被配置用於捕獲包括光學吸收指示劑顆粒的流測定儀的多個熱信號。所述系統另外包括控制系統，所述控制系統包括可操作地耦接到光源和光熱光譜測定讀取器上的控制電路系統。控制電路系統被配置用於以漸進偏移的時間間隔使光源和光熱光譜測定讀取器的操作同步。
在一個實施例中，披露了一種檢測分析物在樣本中的存在的方法。所述方法包括將在其中包括多個光學吸收指示劑顆粒的流測定儀提供到檢測裝置的託架。所述方法還包括啟動檢測裝置的操作，所述檢測裝置包括光源和光熱光譜測定讀取器，所述光熱光譜測定讀取器被配置用於捕獲在其中包括多個光學吸收指示劑顆粒的流測定儀的多個熱信號。所述方法進一步包括將多個光脈衝從光源發射到流測定儀的至少一部分上。所述方法另外包括以漸進地偏移的時域間隔使多個熱信號的捕獲基本上同步，所述多個熱信號是流測定儀的利用多個光脈衝輻照的至少一部分的。所述方法包括捕獲流測定儀的利用多個光脈衝輻照的至少一部分的多個熱信號中的一個或多個。所述方法進一步包括至少部分地基於多個熱信號確定分析物在樣本中的存在。
來自所披露的實施例中的任何的特徵可以彼此結合使用而不具有限制。另外，本領域的普通技術人員通過考慮以下詳細說明和附圖將明了本披露的其他特徵和優點。
前述概述僅僅是說明性的，並且並不意圖以任意方式作為限制。除了上文描述的說明性方面、實施例以及特徵之外，通過參考圖示以及以下詳細描述將明了另外的方面、實施例以及特徵。
附圖簡述
圖1a-1c是根據實施例在使用過程中的側流測定儀的等距視圖，所述橫向流動測定可以由在此所披露的光熱光譜系統的實施例中的任一者讀取。
圖2a和圖2b分別是對應的lfa在結合到光學吸收指示劑顆粒上的分析物存在和不存在時的光熱響應的示意性表示。
圖3a是針對具有不同金納米顆粒濃度的樣本的溫度變化對時間的圖表。
圖3b是針對具有不同金納米顆粒濃度的樣本的根據時間變化的溫度變化對時間的圖表。
圖4a是根據實施例的用於檢測分析物在lfa中的存在的系統的等距視圖。
圖4b是圖4a的系統的側視圖。
圖4c是根據實施例的包括罩蓋的圖4a的系統的等距視圖。
圖4d是根據實施例的在使用過程中的圖4a的系統的一部分的等距視圖。
圖4e是根據實施例的在使用過程中的圖4a和圖4d的系統的一部分的等距視圖。
圖5a是根據實施例的用於檢測分析物在側流測定儀中的存在的系統的示意圖。
圖5b是根據實施例的用於檢測分析物在側流測定儀中的存在的系統的示意圖。
圖6是根據實施例的檢測分析物在樣本中的存在的方法的流程圖。
圖7a是根據實施例的來自用於檢測分析物在樣本中的存在的系統的信號之間的漸進時域延遲的圖形表示。
圖7b是根據實施例的來自用於檢測分析物在樣本中的存在的系統的信號之間的漸進時域延遲的圖形表示。
圖8a是根據時間變化的溫度變化對時間曲線的圖表，所述圖表具有利用由任意量隔開的測量點構造的比較曲線。
圖8b是時間上的離散時域延遲點用於構建根據時間變化的溫度變化曲線對時間曲線的一組圖表。
具體實施方式
在此所披露的實施例涉及用於流測定儀(例如，lfa)的偏移同步測試的光熱光譜系統。還披露了操作並使用此類光熱光譜系統的方法。
lfa可以出於多種目的而用於提供護理測試點，作為非限制性示例，這些目的諸如藥物測試、妊娠測試、生育力測試和針對傳染性病原體的測試，諸如流行性感冒病毒、肝炎病毒和人類免疫缺陷病毒(hiv)。lfa和類似的流測定儀通過使在其中包括分析物的樣本經由毛細作用移動穿過一段毛細血管床來起作用。在毛細血管運輸過程中，樣本中的分析物被暴露給被配置用於與分析物反應以幫助其檢測的共軛物材料。共軛物可以在其中含有指示劑顆粒(例如，光學吸收指示劑顆粒、標籤劑或顏色分子)。指示劑顆粒被結合到共軛物分子上或另外被配置用於與分析物、經反應分析物分子或分析物-共軛物絡合物反應，並且當以較大數量聚集(例如，結合到指示條上)時提供其視覺或其他指示。分析物的檢測可取決於足夠大量的用於提供其可辨別的視覺指示的分析物的不存在或存在。然而，在傳染的早期階段期間，分析物可能不以足以由測定視覺上可檢測的數量存在於受感染對象的系統中。
用於檢測分析物在樣本中的存在的系統可以使用結合到分析物上的光學吸收指示劑顆粒(例如，標籤劑分子或其一部分，諸如金納米顆粒)的熱特徵來確定分析物是否存在於樣本中。光源可以輻照lfa的一部分並且從而提升在其中的任何光學吸收指示劑顆粒的溫度。熱檢測器，諸如光熱光譜測定讀取器可以測量lfa的利用光輻照的部分並針對測量被捕獲的時點確定lfa的所述部分的溫度。強光和/或熱吸收劑的指示劑顆粒，諸如金納米顆粒將比lfa中的其他材料吸收更多來自光源的輻射。這種吸收能量的大多數被轉換成熱量，這引起來自指示劑顆粒和周圍材料的紅外輻射的增加，這將比在其中不具有光學吸收指示劑顆粒的那些部分更容易地表明在熱測量，諸如光熱光譜上。類似地，lfa的在其中具有更高濃度的光學吸收指示劑顆粒的部分將在光激勵時生成更多的熱量，並且與流測定儀的在其中具有更低濃度的光學吸收指示劑顆粒的部分具有不同的熱特徵。一系列熱信號(例如，溫度測量、光熱光譜圖像或紅外圖像)可以用順序地偏移的時域間隔來測量，或來自光源的輻照時間的延遲可以用於確定用於熱信號的理想捕獲時間。理想捕獲時間為給定分析物提供時間上的根據時間變化的最大溫度變化定位和時間上(如與樣本的輻照隔開)樣本應該被測試以便為檢測分析物提供最高靈敏度的瞬間。
適用於此類測量的系統包括光源、光熱光譜測定讀取器和控制系統，所述控制系統用於基本上同步由光源進行的一系列輻照與由光熱光譜測定讀取器進行的熱信號的捕獲之間的時間關係。基於所述一系列熱信號，諸如以來自由光源進行的一系列輻照中的每一個的每個漸進地延時捕獲的那些，根據時間變化的溫度變化對時間的曲線可以被構建以表明理想的檢測時間。可以在理想的檢測時間對樣本進行測試，以便向結合到光學吸收顆粒上的分析物提供最大靈敏度，這樣使得早期檢測可以實現。
圖1a-1c描繪了lfa101在使用過程中的可以由在此所披露的光熱光譜系統的實施例中的任一者讀取的對應地不同時點處的實施例。應當注意，在此所披露的光熱光譜系統的實施例中的任一者可以讀取具有不同配置的流測定儀，並且圖1a-1c中所示的lfa101僅是適合的流測定儀的示例。lfa101包括背襯層102，所述背襯層具有第一末端104和第二末端106。背襯層102支撐鄰近於第一末端104的樣本襯墊108、共軛物襯墊110、具有測試線114和控制線116的薄膜112、以及鄰近於第二末端106的芯吸襯墊118。可能在其中具有分析物122的樣本120可以被應用於樣本襯墊108，其中，樣本經由毛細作用從第一末端104穿過樣本襯墊108、共軛物襯墊116和薄膜112行進至第二末端106處的芯吸襯墊118。樣本120中的任何分析物122可以鍵合到共軛物材料124上，包括其中的任何指示劑顆粒被攜帶至薄膜112，其中，共軛物-分析物絡合物經由與測試線114中的多個捕獲分子128(例如，抗體或能夠保留分析物、共軛物或指示器顆粒中的一種或多種的其他分子)中的一個或多個的交互被收集在測試線114上。分析物122、分析物-共軛物絡合物、共軛物分子或樣本120中的其他材料中的一些可以穿過測試線114並經由多個控制分子130中的一個或多個結合到控制線116，所述多個控制分子130被配置用於捕獲分析物122、分析物-共軛物絡合物、共軛物分子或樣本中的其他材料中的一種或多種，以便提供測試的功效的可見指示。
參考圖1a，在第一時點處的實施例中，樣本120可以包括能夠攜帶所懷疑分析物122(例如，分散體、乳劑等)的任何物質或流體，諸如稀釋或未稀釋的血液、血清、尿液、唾液、粘液或來自測試對象的其他樣本。樣本120，包括其中的任何分析物122經由移液管、滴管、澆注、浸漬或其他任何適合的技術來施加到樣本襯墊106上。樣本120經由毛細作用從第一末端104朝向第二末端106攜帶。樣本120首先穿過共軛物襯墊110。
共軛物襯墊110在其至少一部分中包括共軛物材料124(例如，嵌入或另外分散在其中)。共軛物材料124可以被配製成與特定分析物(例如，抗原、分子等)反應以便得到特定分析物-共軛物絡合物或分子。典型的共軛物材料可以包括化學反應物、抗體125、生物活性劑、糖、鹽、可以包括光學吸收指示劑顆粒的指示劑顆粒126(例如，乳膠、膠體金、納米珠粒或其他適合的分子)、以及被配製成確保分析物與一種或多種共軛物成分或指示劑顆粒之間的滿意的反應或鍵合的其他材料。例如，分析物122可以是病毒或抗原，並且共軛物材料124可以含有針對病毒或抗原的抗體125，抗體可以具有鍵合到其上的光學吸收指示劑顆粒126。用於與在此所披露的光熱光譜系統的實施例一起使用的光學吸收指示劑顆粒吸收電磁能量，例如，光能，並且隨後發射熱能，例如，熱量。適合波長(包括可見波長和不可見波長兩者)的電磁輻射可以包括可見光、紅外輻射、紫外輻射、微波輻射或能夠遞送熱能的任何其他電磁輻射中的一種或多種。適合的光學吸收指示劑顆粒可以包括以下各項中的至少一項：銀納米板、金納米顆粒、金納米柱、金納米籠、多壁碳納米管、膠態磁鐵礦顆粒、鐵氧體納米顆粒或纖維素納米珠粒，諸如藍色纖維素納米珠粒。在暴露給樣本120時，共軛物材料124可以黏合到其中的分析物122上，從而形成分析物-共軛物絡合物140(圖1b)。
參考圖1b，在第二時點處，樣本120中的分析物122已經鍵合到共軛物材料124上，從而形成多個分析物-共軛物絡合物140。如圖所示，毛細作用使多個分析物-共軛物絡合物140朝向第二末端106移動穿過薄膜112。薄膜112可以包括任何親水性材料，具有包括硝化纖維的典型薄膜，諸如硝化纖維紙。薄膜112在其中包括測試線114。測試線114從lfa101的一側延伸到lfa101的另一側。測試線114可以由以線或其他適合的配置錨定到薄膜112從而形成測試線114的多個單獨捕獲分子128(例如，抗體或能夠保留分析物-共軛物絡合物140的其他分子)製成。單獨捕獲分子128黏合到單獨分析物-共軛物絡合物140的一部分上，從而保留分析物-共軛物絡合物140，包括其中的光學吸收指示劑顆粒。當足夠多個分析物-共軛物絡合物140結合到測試線114上時，可以確定陽性結果。陽性結果可以視覺確定或更準確地經由測定的包括以較大數量收集(諸如在測試線114處)的光學吸收指示劑顆粒126的區域的熱檢測確定。
參考圖1c，在第三時點處，多個分析物-共軛物絡合物140中的至少一些已經鍵合到多個捕獲分子128和其一部分上，並且任何未結合的共軛物材料124已經穿過測試線114，從而進一步朝向控制線116移動。控制線116從lfa101的一側延伸到lfa101的另一側，諸如平行於測試線114。控制線116由以線或其他適合的配置錨定到薄膜112從而共同地限定控制線116的多個單獨控制分子130(例如，抗體或能夠保留分析物122、共軛物材料124(包括指示劑顆粒)、分析物-共軛物絡合物140或未結合的指示劑顆粒中的一種或多種的其他分子)製成。典型地，單獨控制分子130黏合到共軛物材料124的一部分上。當足夠多個共軛物材料124結合到控制線116上時，可以做出lfa101已經適當地起作用的陽性確定。陽性確定可以視覺地做出或更準確地經由含有共軛物材料124中的以較大數量收集(諸如在控制線116處)的光學吸收指示劑顆粒126的區域的熱檢測做出。
圖2a和圖2b分別是lfa在結合到光學吸收指示劑顆粒126上的分析物122存在和不存在於其中時的光熱光譜(pts)響應的示意性表示。圖2a和圖2b中的pts響應之間的差別展示了可以如何經由熱成像觀察陽性(圖2a)和陰性(圖2b)測試結果。圖2a描繪了包括結合到測試線114中的多個捕獲分子128上的多個分析物-共軛物絡合物140的lfa101a。光在測試線114處輻照lfa101a的在光束位置230(例如，lfa的由光231輻照的區域)處包括多個分析物-共軛物絡合物140的至少一部分。圖2a還描繪了在光束位置230處的相應溫度輪廓。
與圖2a相比，圖2b描繪了多個捕獲分子128形成測試線114的lfa101b。光在測試線114處輻照lfa101a的至少一部分-光束位置230。圖2b也描繪了在光束位置230處的相應溫度輪廓。lfa101b缺乏分析物-共軛物絡合物140，這表示陰性樣本，並且因此由於缺乏光學吸收指示劑顆粒126而比lfa101a具有更低的熱容量。溫度輪廓展示了lfa101a實現比lfa101b更高的溫度。溫度輪廓差別是由於lfa101a中光學吸收指示劑顆粒的存在和lfa101b中光學吸收指示劑顆粒的缺乏而導致的。光學吸收指示劑顆粒126增加lfa吸收熱能的能力，如由光熱光譜所示。
光的波長、強度和曝光時間影響lfa或其部分(例如，光學吸收指示劑顆粒)中可以存儲的熱量的量。在更長時長內的曝光可以提供有用信息。例如，圖3a是針對具有對應地高和低的不同光學吸收指示劑顆粒濃度的樣本的溫度變化對時間的圖表。光學吸收指示劑顆粒在這個示例中是金納米顆粒。如圖所示，更高濃度的金納米顆粒(gnp)提供比更低濃度的金納米顆粒更大的溫度變化對時間。然而，高濃度溫度變化對時間曲線與低濃度溫度變化對時間曲線之間的關係(例如，比例)保持相對恆定。圖3b是針對具有對應地高和低的不同光學吸收指示劑顆粒濃度的樣本的根據時間變化的溫度變化對時間的圖表。在用於圖3b的測試中使用的光學吸收指示劑顆粒也是金納米顆粒。如圖所示，高濃度金納米顆粒的根據時間變化的溫度變化對時間曲線與低濃度金納米顆粒的根據時間變化的溫度變化對時間曲線具有變化的比例關係。圖3b的圖表展示了兩條根據時間變化的溫度變化對時間曲線之間的比率隨時間的推移而變化並且最終會聚。然而，在接近100ms處的兩條曲線之間比率表明可以實現與最低檢測極限關聯的最大熱效應的點。在這個測定結構的這個時點處觀察到的另一些樣本由於超過背景熱噪聲的最大對比度可以可靠地用於提供最早的檢測。例如，具有更低濃度分析物-共軛物絡合物140的樣本可以指示疾病或病症的出現或輕度情況。這種低濃度的檢測在lfa的背景熱噪聲時可以是偶然的。在理想檢測時間的確定和測試可以提供更低濃度的傳染性病原體(諸如病毒)或其他分析物可以可靠地被檢測為高於背景噪聲或溫度特性的時間。
光熱光譜測定讀取器可以檢測lfa的一個或多個部分的熱信號或熱特徵。典型的光熱光譜測定讀取器可以包括熱檢測器、熱照相機、照相機或紅外(ir)照相機，諸如來自系統的ir照相機。能夠捕獲高幀率信號(例如，以小於約110hz或多於約9幀每分鐘捕獲的熱信號)的光熱光譜測定讀取器是昂貴的並且經受進口和出口控制。當前美國出口法律(國際武器貿易條例(itar)和出口管理條例(ear))限制熱照相機可以合法操作的幀率。因此，為了合法觀察滿意的曲線準確度或解析度，不能使用標準光熱光譜測定讀取器系統，因為曲線幅值可能由於符合itar/ear的光熱光譜測定讀取器的必須減緩的幀率而被截斷或丟失。在此所披露的實施例涉及符合出口控制法律且比使用高幀率光熱光譜測定讀取器的系統更便宜的系統。
圖4a-4e示出了用於檢測分析物在lfa中的存在的系統的實施例。系統400包括具有託架420的支撐結構410、光源430、光熱光譜測定讀取器440和緊固到所述光熱光譜測定讀取器上的控制系統450。在使用過程中，託架420可重複地支撐工作位置中的一系列lfa中的每一個，其中，光源430可以輻照lfa在託架420中的至少一部分(例如，測試線)。託架420的工作位置還提供光熱光譜測定讀取器440的視野與lfa的受輻照區域(光束位置)的對齊，這樣使得光熱光譜測定讀取器440可以在光束位置處捕獲一個或多個熱信號。輻照和熱成像的同步可以由控制系統450完成。例如，控制系統450被配置用於使來自光熱光譜測定讀取器440的熱信號的捕獲時間與光源430的點火時間同步，以便提供一系列熱信號。控制系統450可以被配置用於提供來自光熱光譜測定讀取器440的一系列熱信號的捕獲時間與光源430的一系列光發射的時域偏移同步，以便提供一系列漸進地(例如，順序地更大)或遞減地(例如，順序地更小)時域延遲熱信號。
圖4a是系統400的等距視圖。支撐結構可以包括底座412；背部支撐構件414，所述背部支撐構件被耦接到底座412上並從其垂直延伸；以及上部構件416，所述上部構件在位於或接近背部支撐構件414的頂部處的位置處被耦接到背部支撐構件414上，上部構件416從所述背部支撐構件水平延伸。支撐結構410的一個或多個部分可以由陶瓷、金屬(例如，鋼、鋁、合金等)、塑料、地面石材或能夠在不顯著變形的情況下支撐系統400的組件的任何其他材料製成。圖4b是圖4a的系統400的側視圖。
底座412可以在適用於將任何數量的lfa順序地固持在工作位置中的一個位置中支撐託架420。工作位置將lfa的有待利用來自光源430的光輻照的所選擇部分與光熱光譜測定讀取器440的視野對齊，以便允許由光熱光譜測定讀取器440捕獲多個熱信號。託架可以被配置用於將一系列lfa可重複地保持在工作位置中。託架420可以包括託盤，所述託盤在其中具有狹槽。例如，託盤可以包括被配置用於將lfa固持在狹槽中的一個或多個固位特徵。固位特徵可以包括夾具、夾鉗、粘合劑、緊固件等等。狹槽可以被配置用於固持特定類型或大小的lfa或可以被配置成固持許多類型或大小的lfa。託架420還可以包括可調整的工作檯，託盤和/或lfa可以被安裝在所述工作檯上。可調整的工作檯可以包括適於允許所述臺在一個或多個方向上移動的任何適合的調整機制，諸如具有滑動件、滾珠絲槓、管孔或在x、y或z坐標平面中的一個或多個中延伸的其他調整構件。
光源430可以被配置用於發射一個或多個離散光脈衝，諸如一系列或多個光脈衝。適合的光源可以包括雷射源或能夠將聚焦光和/或熱能遞送到目標區域的任何其他高強度光源。例如，光源430可以被配置用於響應於接收多個光發射信號，諸如從控制電路系統發送的光發射信號中的一個或多個而發射多個光脈衝中的一個或多個。光源430可以基本上垂直於託架420和/或位於所述託架上的lfa定位，這樣使得從光源發射的光以約90度的角度撞擊lfa。在一些實施例中，光源430可以與託架420和/或位於所述託架上的lfa成角度定位，這樣使得從光源發射的光以約45度至約90度的入射角撞擊lfa。光源可以直接地或間接地安裝在背部支撐構件414或上部構件416上或耦接到其上。
光源430可以被配置用於發射具有不同持續時間的離散光脈衝。例如，光源430可以被配置用於發射持續約1ms或更多，諸如持續約5ms至約500ms、約50ms、約100ms、約150ms、約200ms、約750ms、約1s或約2s的光脈衝。光源430可以被配置用於發射不同強度的光，包括約50mw或更多，諸如約50mw至約1w、約101mw至約500mw、約100mw至約200mw、約150mw至約300mw或約150mw。光源430可以被配置用於發射具有任何不同平均光波長中的一者的光，諸如從約400nm至約800nm。在一個實施例中，光源430可以被配置用於發射綠光，所述綠光具有約495nm與約570nm之間，諸如約520nm與約550nm之間、約555nm或約535nm的平均波長。在一個實施例中，光源430可以被配置用於發射紅光，所述紅光具有約620nm與約750nm之間，諸如約630nm與約680nm之間或約650nm的平均波長。在一些實施例中，系統400可以包括可以被配置用於發射相同或不同特性的光(例如，平均波長、持續時間或光強)的兩個或更多個光源430。系統400可以被配置用於引起兩個或更多個光源基本上同時發射光，在替代方案中，或僅作為用於發射光的光源中的一個故障時的備用光源。
光熱光譜測定讀取器440可以被配置用於捕獲lfa的至少一部分的一個或多個熱信號或熱特徵，諸如一系列多個熱信號。光熱光譜測定讀取器440可以被配置用於確定每個熱信號中的一個或多個區域的溫度。適合的光熱光譜測定讀取器440可以包括熱照相機或紅外(ir)照相機，諸如來自俄勒岡的威爾遜維爾的系統公司(systems,inc.ofwilsonville,oregon)的用於熱圖形成像的紅外照相機。光熱光譜測定讀取器440可以相對於託架430上的lfa的上表面以一定的入射角定位。光熱光譜測定讀取器440可以與lfa的上表面成約10度或更大的入射角定位，諸如約10度至約80度、約30度至約60度，或如圖4b中所示，約45度。光熱光譜測定讀取器430可以直接地安裝在背部支撐構件414上或間接地耦接到其上。
系統400包括被配置用於使來自光源420的光發射與由光熱光譜測定讀取器440捕獲的熱信號之間的時間差同步的控制系統450。控制系統450可以被配置用於針對一系列光發射和相應的熱信號使來自光源420的每個光發射與由光熱光譜測定讀取器440捕獲的每個相應的熱信號之間的漸進地或遞減地增加的時域延遲同步。控制系統450可以被配置用於針對一系列光發射和相應的熱信號使由光熱光譜測定讀取器440捕獲的熱信號與來自光源420的每個相應的光發射之間的漸進地或遞減地偏移(例如，增加的或減少的)的時域延遲同步。控制系統可以包括控制電路系統452。包括控制電路系統452的控制系統450可操作地耦接到光源430和光熱光譜測定讀取器440中的一個或多個上。
控制系統450的一個或多個組件可以被配置用於將一個或多個信號發送到光源430或光熱光譜測定讀取器440中的一個或多個、從其接收、對所述一個或多個信號進行協調或處理。例如，控制電路系統452可以被配置用於向光源發送多個光發射信號，每個光發射信號有效觸發光源430從而發射光脈衝(例如，將雷射脈衝發射到lfa上)。控制電路系統452可以被配置用於向光熱光譜測定讀取器440發送多個捕獲信號，每個捕獲信號有效引起光熱光譜測定讀取器440捕獲熱信號(例如，lfa的受輻照部分的熱信號)。如在下文中更詳細討論的，控制系統450可以包括以下各項中的一項或多項：延時選通、存儲器、用戶接口、檢測器控制電路系統、捕獲觸發器、光源控制電路系統、發射觸發器、信號中繼器或同步信號單元。控制系統450的任何組件，諸如控制電路系統452可以經由無線連接或物理電連接(例如，硬布線)可操作地耦接到系統400的一個或多個組件上，諸如光源430、控制系統450的另一個組件或光熱光譜測定讀取器440。
圖4c示出了具有罩蓋460的圖4a、圖4b、圖4d和圖4e的系統，所述罩蓋圍繞支撐結構410延伸並封閉支撐結構410、託架420、光源430、光熱光耦測定讀取器440和控制系統450中的每一個的至少一部分。罩蓋460可以在底座412、背部支撐構件414或上部構件416中的一個或多個處緊固到支撐結構410上。罩蓋460可以由機械緊固件(例如，柱、螺釘、螺栓、夾具等)、粘合劑或磁體可移除地緊固到支撐結構410上。罩蓋460可以包括金屬板，諸如包括鋁、錫或鋼；塑料(例如，聚碳酸酯、聚甲醛樹脂或丙烯酸)；陶瓷或任何其他適合的材料中的一種或多種。罩蓋460可以包括被配置用於允許在使用過程中訪問系統400的至少一部分的埠462。埠462可以被定位在罩蓋的朝前部分上並徑向於託架420定位，這樣使得包括至少所述臺和狹槽(如果存在的話)的託架420經由埠462對於用戶是可訪問的。埠462可以從罩蓋460的前面的中點橫向延伸到罩蓋460的側面中間的點。埠462可以從基本上從託架420下方開始的前面的下部分垂直地延伸並延伸到罩蓋460的前面上方的更高部分，延伸到託架420上方但處於上部構件416中間的點。埠462可以包括能夠關閉以使罩蓋460的內部內容與外部環境基本上密封或屏蔽的門463。如圖所示，門463可以是滑門、鉸鏈門、旋轉門或用於埠462的任何其他適合的罩蓋。
雖然被描繪為具有基本上垂直的安排，但考慮系統400的組件的水平或其他安排。例如，工作示例(未示出)被構造為具有被配置用於在垂直取向上固持lfa的託架。雷射與lfa橫向地水平定位，並且紅外照相機以水平地橫向於lfa的入射角定位，這樣使得紅外照相機的焦點與lta上的雷射的光束位置對齊。
圖4d和圖4e是圖4a和圖4b中所示的系統400在使用過程中的不同時間的等距視圖。圖4d描繪了在來自光源430的光脈衝431的發射過程中的系統400。lfa401被定位在託架420上，這樣使得光431輻照lfa401的光束位置403處的所選擇部分(例如，利用光輻照的測試線)。光431可以誘導導致lfa401和其中的任何光學吸收指示劑顆粒的加熱的輻射吸收。
圖4e描繪了在lfa401的至少所選擇部分的熱信號的捕獲過程中的系統400。lfa401，包括其所選擇部分(例如，測試線)被定位在工作位置中，這樣使得來自光源420的光431輻照lfa401的光束位置403處的處於或接近焦點441或光熱光譜測定讀取器440的視野的所選擇部分。光束位置403和焦點441可以基本上共同延伸。光熱光譜測定讀取器440捕獲焦點441處的一個或多個熱信號。當熱信號是lfa401的受輻照部分的並且受輻照部分包括lfa401的測試線時，分析物在lfa中的存在可以由結合到分析物上的光學吸收指示劑顆粒的熱特徵確定。例如，光學吸收指示劑顆粒(例如，金納米顆粒)比測試線處的空的捕獲分子或在下面的薄膜材料保留更多的熱量。因此，陽性樣本的熱信號將以熱信號顯示為更熱，而陰性樣本的熱信號將比陽性樣本顯示更冷，因為不存在多至能夠保留經由光431施加的熱量的顆粒。另外地，一些光熱光譜測定讀取器能夠將熱信號的不同部分的溫度確定為在2攝氏度的準確度範圍內。在這種實施例中，光熱光譜測定讀取器440可以採用一個或多個熱信號的一個或多個部分的平均溫度讀數或一個或多個整體熱信號的平均溫度。控制系統450可以傳送或存儲與在如下文中更詳細討論的分析中使用的每個捕獲的熱信號關聯的此類溫度讀數。
應當注意，圖4a-4e中所示的系統400僅僅是許多不同實施例中的一個。用於系統的其他配置可以由本披露使用並考慮。
圖5a是用於檢測分析物在樣本中的存在的系統500a的實施例的示意圖。系統500a或其部分可以與系統400或其部分相同或類似。系統500a可以包括光源530、光熱光譜測定讀取器540和控制系統550a。控制系統550a可以經由一個或多個連接505可操作地連接到光源530或光熱光譜測定讀取器540中的一者或兩者上。連接505可以是無線連接或物理電連接(例如，接線或電路)。
在一個實施例中，系統500a是光源或控制電路系統調步(paced)系統，其中引導所述系統的每個光發射或信號啟動相應熱信號或引導所述系統的信號的捕獲。
控制系統550a包括控制電路系統552，所述控制電路系統可以直接耦接到光源530或光熱光譜測定讀取器540中的一個或多個上或經由一個或多個連接505耦接到其上。控制電路系統552可以包括信號中繼器554或延時選通556中的一個或多個，信號中繼器或延時選通中的每一個也被配置為在此所披露的適合的電路系統中的任一者。控制電路系統552可以被配置用於引導信號中繼器554，以便將多個光發射信號511中的一個或多個發送到光源530並將多個捕獲信號512中的一個或多個發送到光熱光譜測定讀取器。在一個實施例中，控制電路系統552被配置用於使發送一系列光發射信號511與一系列捕獲信號512同步，其中每個光發射信號511與相應的捕獲信號512同步。在一個實施例中，控制電路系統552被配置用於以與所述一系列光發射信號中的每個相應的光發射信號511的漸進地或遞減地偏移的時域間隔或延遲使發送每個後續捕獲信號512同步。例如，控制電路系統552可以被配置用於使捕獲一系列延時熱信號中的每個熱信號偏移其多倍(例如，固定時域延遲，之後是兩倍固定時域延遲，之後是三倍固定時域延遲等)固定時域延遲(例如，約5毫秒(ms)或約10ms)。例如，可以在將光發射信號511從信號中繼器554發送的同時將捕獲信號512從信號中繼器554發送，可以比將光發射信號511發送到光源530晚固定時域延遲來發送緊接的後續捕獲信號512，並且可以比將相應的光發射信號發送到光源530晚兩個固定時域延遲來發送之後的後續捕獲信號512，等等。類似地，信號之間的偏移可以遞減地偏移固定時域延遲(例如，30ms、然後25ms、然後20ms、然後15ms等)。適合的固定時域延遲可以是基於所懷疑的分析物類型、捕獲分子、使用的光學吸收指示劑顆粒、光源或光熱光譜測定讀取器中的一個或多個而選擇的。適合的固定時域延遲可以是1秒或更少，諸如約500ms或更少、約100ms或更少、約50ms或更少、約30ms或更少、約20ms或更少、約10ms或更少、約9ms或更少、約7ms或更少、約5ms或更少、約3ms或更少或約1ms。適合的固定時域可以是3ms或更多，諸如約5ms至約20ms、約5ms或更多、約7ms或更多、約10ms或更多、約15ms或更多、約20ms或更多或約30ms或更多。
在一個實施例中，控制電路系統552包括被配置用於接收、任選地偏移或延遲以及然後中繼一個或多個信號的延時選通556。延時選通556可以被配置用於使發送一系列信號中的每個後續信號漸進地或遞減地延遲固定時域延遲。延時選通556可以可操作地耦接到信號中繼器554和光熱光譜測定讀取器540上以及位於它們之間。例如，延時選通556可以被配置用於從信號中繼器554接收一系列捕獲信號512(每個與一系列光發射信號中的每一個基本上同時從信號中繼器發送)，並且使發送一系列延時捕獲信號中的每個後續延時捕獲信號513漸進地偏移或延遲固定時域延遲的漸進地增大的倍數(例如，5ms、然後10ms、然後15ms等)。
控制電路系統552或其一個或多個組件，諸如延時選通556或信號中繼器554可以包括定時器或計數器(例如，一個或多個單穩態電路系統)，所述定時器或計數器被配置用於使從其中穿過的信號傳輸延遲設定的時間段。時域間隔或時域延遲可以被編程或硬布線成控制電路系統552，諸如通過在其中具有一個或多個單穩態電路系統。適合的編程可以在如下文詳細描述的用戶接口處完成。
響應於接收所述一系列光發射信號中的每個光發射信號511，光源530將光脈衝531發射到lfa501的所選擇部分上，包括發射到在其中的任何光學吸收指示劑顆粒上。響應於接收所述一系列現在漸進地延時捕獲信號中的每個延時捕獲信號513，光熱光譜測定讀取器捕獲lfa501的包括在其中的任何光學吸收指示劑顆粒的所選擇部分的延時熱信號。在一個實施例中，固定時域延遲可以是10毫秒或更多，並且可以獲得一系列熱信號，由此每個熱信號的捕獲時間由於與相應的光發射相關而比先前的熱信號偏移晚10毫秒或更多。在一個實施例中，可以獲得或確定受輻照區域的一系列溫度，由此表明溫度的熱信號由於與相應的光發射相關而比先前的熱信號偏移晚10毫秒或更多。在一些實施例中，諸如通過利用電腦程式檢驗每個熱信號，可以確定流測定儀的利用一系列熱信號中的每個熱信號中的光輻照的部分的溫度，或直接從光熱光譜測定讀取器確定所述溫度。可以使用來自所述系列漸進地或遞減地延時熱信號的溫度數據來構造並分析溫度變化對時間的圖表(圖3a)或根據時間變化的溫度變化對時間圖表(圖3b)。
控制系統550a或其一個或多個組件可以可操作地耦接到光源530和光熱光譜測定讀取器540上。在一個實施例中，控制電路系統552可操作地耦接到光源530和光熱光譜測定讀取器540上。
在一個實施例中，光源530被配置用於響應於從控制電路系統552或其組件(例如，信號中繼器)接收光發射信號511來發射一個或多個光脈衝。控制系統550a或光源530可以包括光源控制電路系統532，所述光源控制電路系統被配置用於控制光源530，諸如控制、調節、發送或接收來自光源或在其中的信號和數據(例如，控制或啟動光發射，包括光的強度、持續時間、光束寬度或平均波長中的一個或多個)。此類控制可以響應於接收一個或多個信號(例如，多個光發射信號中的一個)。在一個實施例中，光源控制電路系統532可以被布置在光源530中(如圖5a中所示)，在這個意義上，光源530還可以被認為包括光源控制電路系統532。在一個實施例中(未示出)，光源控制電路系統532可以被布置在光源530外側的一個位置處，諸如在相關聯的控制箱中或在控制電路系統532中。如圖所示，光源控制電路系統532可以包括發射觸發器534，所述發射觸發器被配置用於響應於從控制電路系統552或其組件(例如，信號中繼器)接收光發射信號511來控制(例如，啟動)一個或多個光脈衝的發射。發射觸發器534可以諸如經由光源控制電路系統532可操作地耦接到控制電路系統552和光源530上，以便與它們通信(例如，發送或接收信號)。
在一個實施例中，光熱光譜測定讀取器540被配置用於響應於從控制電路系統552或其組件(例如，信號中繼器或延時選通)接收捕獲信號512或513來捕獲一個或多個熱信號。控制系統550a或光熱光譜測定讀取器540可以包括檢測器控制電路系統542，所述檢測器控制電路系統被配置用於控制光熱光譜測定讀取器540，諸如控制、發送和接收來自光熱光譜測定讀取器或在其中的信號和數據(例如，控制或啟動熱信號捕獲或熱信號數據)。例如，檢測器控制電路系統542可以被配置用於控制多個熱信號中的每個連續熱信號之間的重複的固定時域間隔。固定時域間隔是類似動作之間(諸如熱信號的捕獲之間)的時間上的固定間距。在一個實施例中，檢測器控制電路系統542可以被布置在光熱光譜測定讀取器540中(如圖5a中所示)，在這個意義上，光熱光譜測定讀取器540還可以被認為包括檢測器控制電路系統542。在一個實施例中(未示出)，檢測器控制電路系統542可以被布置在光熱光譜測定讀取器外側的一個位置處，諸如在相關聯的控制箱中或在控制電路系統542中。如圖所示，檢測器控制電路系統542可以包括捕獲觸發器544，所述捕獲觸發器被配置用於響應於從控制電路系統552或其組件接收捕獲信號512或513來控制(例如，啟動)一個或多個熱信號的捕獲。例如，捕獲觸發器544還可以被配置為在此所披露的適合的電路系統中的任一者。捕獲觸發器544可以諸如經由檢測器控制電路系統542可操作地耦接到控制電路系統552和光熱光譜測定讀取器540上，以便與它們通信(例如，發送或接收信號)。檢測器控制電路系統542可以被配置用於將多個熱信號中的每個熱信號發送到控制電路系統552或存儲器單元558。
在一個實施例中，在操作過程中，控制電路系統552或其組件，諸如信號中繼器554可以用固定或等距時域間隔將一系列光發射信號發送到光源530或其組件(例如，光源控制電路系統532或發射觸發器534)。控制電路系統552或其組件，諸如信號中繼器554或延時選通556可以與相應的光發射信號隔開以漸進地或遞減地偏移的時域間隔或延遲將一系列捕獲信號發送到光熱光譜測定讀取器540或其組件(例如，檢測器控制電路系統542或捕獲觸發器544)。
在一個實施例中，控制電路系統552或其組件可以被配置用於將一系列光發射信號發送到光源530並將一系列捕獲信號發送到檢測器控制電路系統542。每個光發射信號具有相應的且與其基本上同時發送的捕獲信號。所述一系列捕獲信號中的每個後續捕獲信號可以包括隨其漸進地更大或更小的時域延遲，所述時域延遲有效引起檢測器控制電路系統542或捕獲觸發器使捕獲熱信號偏移由時域延遲指示的時間間距，這樣使得相應的熱信號以比緊接的先前熱信號漸進地更大或更小的延時捕獲。
在一個實施例中，控制系統550a可以包括存儲器單元558，所述存儲器單元被配置用於將熱信號、光發射特性、操作程序或其他數據存儲在其上。存儲器單元558可以包括非瞬態存儲器設備，諸如硬碟驅動器、固態存儲器設備或能夠允許數據存儲在其上和檢索數據的任何其他適合的電子介質。存儲器單元558可以包括存儲在其上的一個或多個樣本類型或相關操作程序。操作程序可以包括在操作程序執行時用於執行特定組過程參數的計算機指令。操作參數包括定時程序，這些定時程序包括以下各項中的一項或多項：光發射信號之間的固定時域間隔、諸如與光發射信號中的每一個相對應的後續捕獲信號之間的漸進或遞減的時域延遲；強度、持續時間或從光源530發射的光波長中的一個或多個；所懷疑分析物或樣本類型與諸如查詢表中的前述參數中的任一者的關係；或它們的組合。
在一個實施例中，在操作過程中，所懷疑分析物可以在查詢表中與可以基於特定的所懷疑分析物(例如，基於將特定的所懷疑分析物輸入控制系統550a中)手動地或自動地選擇的一組操作參數關聯。在一個實施例中，控制電路系統552被配置用於確定或選擇定時程序，包括所希望的固定時域間隔、時域延遲或偏移時域間隔或延遲中的一個或多個。控制電路系統552可以響應於由用戶選擇的樣本類型來選擇定時程序，諸如通過將樣本類型與存儲在存儲器單元558中的查詢表中的與所述樣本類型相對應的時間信息進行比較。在一個實施例中，控制電路系統552可以包括比較分析電路，所述比較分析電路被配置用於使所選擇樣本類型與存儲器中的一個或多個定時程序關聯並且響應於所述關聯來執行關聯的一個或多個定時程序。
在一個實施例中，在操作過程中，lfa類型或結構可以在查詢表中與可以基於特定測定(例如，基於將特定測定型號輸入控制系統550a中)手動地或自動地選擇的一組操作參數關聯。在一個實施例中，控制電路系統552被配置用於確定或選擇定時程序，包括所希望的固定時域間隔、時域延遲或偏移時域間隔或延遲中的一個或多個。控制電路系統552可以響應於由用戶選擇的測定類型來選擇定時程序，諸如通過將測定類型與存儲在存儲器單元558中的查詢表中的與所述測定類型相對應的時間信息進行比較。在一個實施例中，控制電路系統552可以包括比較分析電路，所述比較分析電路被配置用於使所選擇測定類型與存儲器中的一個或多個定時程序關聯並且響應於所述關聯來執行關聯的一個或多個定時程序。
控制系統550a可以包括可操作地耦接到其上的用戶接口559。用戶接口559可以可操作地耦接到控制電路系統552或存儲器單元558上。用戶接口559可以被緊固到系統500a上，集成到支撐結構510中，無線連接到系統500a的一個或多個組件上或以其他方式可操作地耦接到其上。在一個實施例中，用戶接口559包括屏幕，所述屏幕被配置用於顯示一個或多個熱信號、基於熱信號的圖表或針對分析物的測試的陽性/陰性結果。在一個實施例中，用戶接口559可以包括以下各項中的一項或多項：小鍵盤、屏幕、個人計算設備(例如，膝上型計算機或臺式計算機、平板計算機、蜂窩電話等)、開關、選擇器或功率控制器。在一個實施例中，在使用過程中，用戶可以經由用戶接口559將指令、數據或操作程序(例如，定時或光特性程序)輸入到控制系統550a中，其中，數據被發送到存儲器單元558或控制電路系統。在一個實施例中，用戶接口559可以用於輸出或檢索存儲的信息，諸如來自存儲器558的熱信號數據。響應於用戶輸入，諸如所懷疑分析物類型，控制電路系統558可以使所懷疑分析物類型與具有經選擇以提供特定所懷疑分析物類型的滿意分析的操作參數(例如，時域延遲、光發射強度、光發射持續時間、相應的光發射-熱信號對的數量等)的相應操作程序相關。在一個實施例中，響應於用戶輸入，系統500a可以啟動操作。在一個實施例中，響應於用戶輸入，系統500a可以設定或調整一個或多個操作參數。
在一個實施例中，控制電路系統552可以被配置用於分析熱信號或與熱信號相對應的溫度數據中的每一個並且基於其中的一系列延時熱信號、溫度和定時數據構建圖表；所述圖表具有包括表示一系列延時熱信號中的每個延時熱信號的數據點的曲線(例如，根據時間變化的溫度變化對時間曲線)。在一個實施例中，控制電路系統552可以被配置用於分析曲線並且諸如通過識別根據時間變化的溫度變化對時間曲線的峰值來針對所懷疑分析物確定理想檢測時間(例如，根據時間變化的溫度變化的最大值發生的時間)。在一個實施例中，控制電路系統552可以被配置用於分析曲線並且諸如通過識別根據時間變化的溫度變化對時間曲線的峰值來針對lfa的特定結構、類型或模型確定理想檢測時間(例如，根據時間變化的溫度變化的最大值發生的時間)。控制電路系統552可以將與延時特信號相對應的數據(例如，圖表、理想檢測時間或測試的陽性/陰性結果)輸出到用戶接口559或存儲器單元558中的一者或兩者。在一個實施例中，響應於確定理想檢測時間，控制電路系統558可以將固定測試延遲時間自動地設定為理想檢測時間，這樣使得任何數量的後續測試樣本僅在理想檢測時間時測試，以便在每次測試結果中提供更大的靈敏度和可信度。
系統500a還可以包括可操作地耦接到系統500a的一個或多個組件上的電源(未示出)。電源可以直接地或間接地可操作地耦接到系統500a或其任何組件上。電源可以包括被配置用於與電力插座(例如，壁裝電力插座)或一個或多個電池配合的電力電纜。
圖5b是用於檢測分析物在樣本中的存在的系統500b的示意圖。系統500b可以包括光源530、光熱光譜測定讀取器540和控制系統550b。控制系統550b可以經由一個或多個連接505可操作地連接到光源530或光熱光譜測定讀取器540中的一者或兩者上。連接505可以是無線連接或物理電連接(例如，接線或電路)。系統500b的具有與系統500的用相同標號標示的組件相對應的參考標號的組件可以與用相同標號標示的組件類似或相同，包括在其中的所有組件。例如，系統500b的光源530與上文所描述的光源530相同或類似，包括相關聯的光源控制電路系統532或發射觸發器534。
在一個實施例中，系統500b是光熱光譜測定讀取器540調步系統，其中熱信號的每次捕獲啟動相關光發射。
控制系統550b包括控制電路系統552，所述控制電路系統可以直接耦接到光源530或光熱光譜測定讀取器540中的一個或多個上或經由一個或多個連接505耦接到其上。控制系統500b可以進一步包括基本上如上文所描述的存儲器單元558和用戶接口559。控制電路系統552可以包括或可操作地連接到信號中繼器554、延時選通556、存儲器單元558或用戶接口559中的一個或多個上。控制電路系統552可以被配置用於引導信號中繼器554，以便將多個光發射信號511中的一個或多個發送到光源530，將多個捕獲信號512中的一個或多個發送到光熱光譜測定讀取器540，並且接收一個或多個同步信號514。
在一個實施例中，光熱光譜測定讀取器540被配置用於響應於從控制電路系統552或其組件(例如，信號中繼器)接收光捕獲信號來捕獲一個或多個熱信號。控制系統550b或光熱光譜測定讀取器540可以包括檢測器控制電路系統542，所述檢測器控制電路系統被配置用於控制光熱光譜測定讀取器540，諸如控制、發送和接收來自光熱光譜測定讀取器或在其中的信號和數據(例如，控制或啟動熱信號捕獲或熱信號數據，或控制與熱信號的捕獲相對應的同步信號)。在一個實施例中，檢測器控制電路系統542可以被布置在光熱光譜測定讀取器540中(如圖5b中所示)，在這個意義上，光熱光譜測定讀取器540還可以被認為包括檢測器控制電路系統542。在一個實施例中(未示出)，檢測器控制電路系統542可以被布置在光熱光譜測定讀取器外側的一個位置處，諸如在相關聯的控制箱中或在控制電路系統542中。如所示，檢測器控制電路系統542可以包括捕獲觸發器544，所述捕獲觸發器被配置用於響應於從控制電路系統552或其組件接收捕獲信號來控制(例如，啟動)一個或多個熱信號的捕獲。捕獲觸發器544可以諸如經由檢測器控制電路系統542可操作地耦接到控制電路系統552和光熱光譜測定讀取器540上。控制電路系統552或捕獲觸發器544可以被配置用於以每100ms或更多均勻隔開的固定時域間隔引導一系列熱信號的捕獲，諸如每110ms至每500ms、每120ms至每200ms、每110ms、每150ms、每110ms或更多、每120ms或更多、每150ms或更多、每200ms或更多、每500ms或更多或每1秒或更多。
控制系統550b或光熱光譜讀取器540可以包括可操作地耦接到其上的同步信號單元546，諸如位於檢測器控制電路系統542的一部分中。例如，同步信號單元546還可以被配置為在此所披露的適合的電路系統中的任一者。同步信號單元546可以直接地或諸如經由檢測器控制電路系統542間接地可操作地耦接到以下各項中的一項或多項上：控制電路系統552、光熱光譜測定讀取器540、檢測器控制電路系統542或捕獲觸發器544。同步信號單元546被配置用於將多個同步信號514，諸如一系列中的一個或多個發送到控制電路系統552或其中的組件。每個同步信號514指示熱信號的捕獲的發生或時間。檢測器控制電路系統542或捕獲觸發器544可以被編程來執行或接收由固定時域偏移隔開的捕獲信號，從而以均勻隔開的間隔有效觸發多個熱信號的捕獲。在捕獲每個熱信號時，同步信號單元546被配置用於將報告熱信號捕獲的同步信號514基本上同時發送到控制電路系統552。
在一個實施例中，並且如在下文中更詳細討論的，控制電路系統552被配置用於響應於一系列同步信號514中的每一個使將一系列光發射信號511發送到光源530同步，其中每個光發射信號511與相應的同步信號514同步。在一個實施例中，控制電路系統552被配置用於以與所述一系列同步信號中的每個相應的同步信號514的漸進地或遞減地偏移的時域延遲使發送每個後續延時光發射信號511'同步。例如，控制電路系統552可以被配置用於使發送一系列光發射信號中的每個光發射信號偏移漸進地或遞減地偏移的時域延遲(例如，約5mms或約10毫秒)的多倍。在一個實施例中，控制電路系統552可以包括可操作地耦接到信號中繼器和光源530或其組件上的延時選通556。延時選通556可以被配置用於使發送一系列光發射信號中的每個光發射信號與每個相應的連續同步信號偏移漸進地偏移的時域延遲。
控制電路系統552可以被配置用於從同步信號單元546接收多個同步信號中的每一個，並且響應於所述接收，將同步信號514中的每一個的相應光發射信號511中繼到光源530。在一個實施例中，控制電路系統552可以包括信號中繼器554，所述信號中繼器被配置用於從其接收或發送一個或多個信號。信號中繼器554可以被配置用於從同步信號單元546接收多個同步信號514中的每一個，並且響應於所述接收，將同步信號514中的每一個的相應光發射信號511中繼到光源530。
在一個實施例中，控制系統550b可以包括延時選通556。延時選通556可以可操作地耦接到控制電路系統552和光源530上或位於它們之間。例如，延時選通556可以被定位在信號中繼器556與光源控制電路系統532或其中的發射觸發器534之間或耦接到其上。在一個實施例中，延時選通556被配置用於從控制電路系統552(例如，信號中繼器)接收一系列光發射信號511並中繼一系列漸進地或遞減地延時光發射信號511'，所選擇時域延遲後的每一個已經佔用。例如，延時選通556可以被配置用於從信號中繼器556接收光發射信號511並使發送相應的延時光發射信號511'延遲固定時域延遲，諸如10ms或更多，並且在接收後續光發射信號511'後，使相應的延時光發射信號511'延遲後續倍數的固定時域延遲，諸如20ms等。延時選通可以由控制電路系統552引導或從控制電路系統552接收編程指令，從而引導或編程其中的所選擇固定時域延遲。適合的固定時域延遲可以是基於分析物、捕獲分子、使用的光學吸收指示劑顆粒、光源或光熱光譜測定讀取器中的一個或多個而選擇的。適合的固定時域延遲可以是1ms或更多，諸如約3ms至約20ms、約5ms或更多、約7ms或更多、約9ms或更多、約10ms或更多、約15ms或更多、約20ms或更多或約30ms或更多。
在一個實施例中，光源530被配置成與上文參考系統500a所描述的光源530相同或類似。控制系統550b或光源530可以包括被配置成與上文參考系統500a所描述的光源控制電路系統532相同或類似的光源控制電路系統532。如圖所示，光源控制電路系統532可以包括被配置成與上文參考系統500a所描述的發射觸發器534相同或類似的發射觸發器534。
響應於接收所述一系列現在漸進地延時光發射信號中的每個延時光發射信號511'，光源530利用光輻照lfa501的所選擇部分。隨後地，光熱光譜測定讀取器540捕獲lfa501的在其中包括任何光學吸收指示劑顆粒的所選擇部分的延時熱信號。在一個實施例中，固定時域延遲可以是10毫秒或更多，並且可以獲得一系列熱信號，由此每個熱信號的捕獲時間由於與相應的光發射相關而比先前的熱信號偏移晚10毫秒。在一個實施例中，可以獲得受輻照區域的一系列溫度，由此觀測溫度由於與相應的光發射相關而比先前測量的觀測溫度偏移晚10毫秒。可以使用來自所述系列漸進地或遞減地延時熱信號的溫度數據來構造並分析溫度變化對時間的圖表(圖3a)或根據時間變化的溫度變化對時間圖表(圖3b)。
在一個實施例中，控制系統550b可以包括存儲器單元558，所述存儲器單元可以與參考系統300a所描述的存儲器單元558類似或相同。存儲器單元558可以包括存儲在其上的一個或多個操作程序，所述一個或多個操作程序可以另外包括用於光熱光譜測定讀取器的固定時域間隔或用於控制電路系統的固定時域延遲。
控制系統550b可以包括可操作地耦接到其上的用戶接口559。用戶接口559可以與參考系統500a所描述的用戶接口559相同或類似。在一個實施例中，響應於用戶輸入，系統500b可以啟動操作。在一個實施例中，響應於用戶輸入，系統500b可以設定或調整一個或多個操作參數。
在一個實施例中，控制電路系統552可以被配置用於分析熱信號或與熱信號相對應的溫度數據中的每一個；基於其中的一系列延時熱信號、溫度和定時數據構建圖表；分析所構造的圖表；或與如上文所描述的相同或類似地輸出與其相關的結果或數據。
系統500b還可以包括可操作地耦接到系統500b的一個或多個組件上的電源(未示出)。電源可以直接地或間接地可操作地耦接到系統500b或其任何組件上。電源可以包括被配置用於與電力插座(例如，壁裝電力插座)或一個或多個電池配合的電力電纜。
圖6是用於檢測分析物在樣本中的存在的方法600的實施例的流程圖。方法600包括捕獲lfa的已經利用由一系列光發射的光輻照的一部分(在其中包括任何光學吸收指示劑顆粒)的時域延遲熱信號，以便確定用於確定樣本中的分析物的檢測的最靈敏且最準確時間的理想時間(如與輻照時間相關)，以及然後基於從熱信號搜集的數據確定分析物是否存在於樣本中。方法600包括動作610，所述動作將在其中包括多個光學吸收指示劑顆粒的流測定儀提供或緊固到檢測裝置的託架上。在一個實施例中，檢測裝置可以是在此所描述的系統中的任一者。在一個實施例中，流測定儀可以與在此所描述的任何流測定儀(包括lfa)類似或相同。將流測定儀緊固到託架上可以包括將流測定儀插入託架上的狹槽中，以便將流測定儀定位在工作位置中。將流測定儀緊固到託架可以包括以下各項中的一項或多項：夾緊夾具、夾緊夾鉗、使用粘合劑、夾緊緊固件或調整託架的臺的位置。
方法600包括動作620，所述動作啟動包括光源和光熱光譜測定讀取器的檢測裝置的操作，所述光熱光譜測定讀取器被配置用於捕獲在其中包括多個光學吸收指示劑顆粒的流測定儀的多個熱信號。在一個實施例中，啟動檢測裝置的操作可以包括開啟檢測裝置(例如，系統400、500a或500b)，按下起動按鈕或提供用戶指令以起動檢測裝置(例如，在用戶接口處提供起動命令)。在一個實施例中，檢測裝置被配置用於響應於檢測到工作位置中的lfa而自動地啟動。在一個實施例中，光源可以與在此所描述的任何光源類似或相同，並且光熱光譜測定讀取器可以與在此所披露的任何光熱光譜測定讀取器類似或相同。
方法600包括動作630，所述動作將多個光脈衝從光源發射到流測定儀的至少一部分上。在一個實施例中，將多個光脈衝發射到流測定儀的至少一部分上包括將多個光脈衝發射到處於或接近測試線的流測定儀上。在一個實施例中，將多個光脈衝發射到流測定儀的至少一部分上包括將一系列光脈衝發射到流測定儀上。在一個實施例中，將多個光脈衝發射到流測定儀的至少一部分上包括將一系列延時光脈衝(如與熱信號捕獲時間或同步信號相關)發射到流測定儀上。在一個實施例中，將多個光脈衝發射到流測定儀的至少一部分上包括從雷射源發射多個雷射脈衝，諸如具有在綠色可見光區域或紅色可見光區域中的平均波長的雷射。將多個光脈衝從光源發射到流測定儀的至少一部分上可以包括發射在此所披露的光波長、脈衝光的持續時間、光強度或光的光束寬度中的任何的一個或多個。
方法600包括動作640，所述動作以漸進地偏移的時域間隔或延遲使多個熱信號的捕獲基本上同步，所述多個熱信號是流測定儀的利用多個光脈衝輻照的至少一部分的。在一個實施例中，以漸進地偏移的時域間隔使多個熱信號的捕獲基本上同步包括將多個光發射信號從控制電路系統發送到光源，多個光發射信號中的每一個光發射信號響應於所述發送而有效觸發來自光源的至少一個光脈衝。在一個實施例中，以漸進地偏移的時域間隔使多個熱信號的捕獲基本上同步包括以多個光發射信號中的每個連續光發射信號之間的漸進地偏移的時域延遲將多個捕獲信號從控制電路系統發送到光熱光譜測定讀取器以及發送(例如，中繼)與光發射信號相對應的捕獲信號。多個捕獲信號中的每一個有效引起光熱光譜測定讀取器響應於所述發送來測量流測定儀的所述部分的溫度或捕獲流測定儀的所述部分的熱信號。
在一個實施例中，以漸進地偏移的時域間隔或延遲使多個熱信號的捕獲基本上同步，流測定儀的利用多個光脈衝輻照的至少一部分的多個熱信號可以包括將多個同步信號從光熱光譜測定讀取器發送到控制電路系統。多個同步信號中的每一個指示相應的熱信號的捕獲時間。以漸進地偏移的時域間隔使多個熱信號的捕獲基本上同步可以包括，響應於多個同步信號中的每一個，將一個或多個光發射信號從控制電路系統發送到光源。多個光發射信號中的每一個光發射信號可以從相應的同步信號以漸進地偏移的時域間隔發送並且有效觸發從所述光源發射光脈衝。
在此參考圖4a-5b、圖7a和圖7b進一步描述用於以漸進地偏移的時域間隔或延遲使多個熱信號的捕獲基本上同步的技術或系統。
方法600包括動作650，所述動作捕獲流測定儀的利用多個光脈衝輻照的至少一部分的多個熱信號中的一個或多個。在一個實施例中，捕獲流測定儀的利用多個光脈衝輻照的至少一部分的多個熱信號中的一個或多個響應於接收一系列捕獲信號，每個捕獲信號有效引起相應熱信號的捕獲。在一個實施例中，捕獲流測定儀的利用多個光脈衝輻照的至少一部分的多個熱信號中的一個或多個包括將報告熱信號捕獲的同步信號514發送到控制電路系統552。
在一個實施例中，捕獲流測定儀的利用多個光脈衝輻照的至少一部分的多個熱信號中的一個或多個包括以與一系列光脈衝的每個連續光脈衝的漸進地更大的偏移時域間隔或延遲捕獲一系列熱信號。例如，在多個光脈衝中的每個連續光發射後，偏移時域間隔可以增加至少1ms，諸如約3ms、5ms、10ms、15ms、20ms或約30ms。
在一個實施例中，捕獲流測定儀的利用多個光脈衝輻照的至少一部分的多個熱信號中的一個或多個包括以與一系列光脈衝的每個連續光脈衝的漸進地更小(例如，遞減)的偏移時域間隔捕獲一系列熱信號。例如，在多個光脈衝中的每個連續光發射後，偏移時域間隔可以減小至少1ms，諸如約3ms、5ms、10ms、15ms、20ms或約30ms。
捕獲多個熱信號中的一個或多個的動作可以包括關於在此所描述的捕獲熱信號的細節中的任一者。
方法600包括動作660，所述動作至少部分地基於多個熱信號確定分析物在樣本中的存在。例如，確定分析物的存在可以包括檢驗樣本的一個或多個熱信號以及將來自一個或多個熱信號的溫度信息與所確定檢測極限(例如，噪聲水平)進行比較，以便確定來自一個或多個熱信號的熱信息是否高於檢測極限。在一個實施例中，用戶可以通過以下方式確定分析物在樣本中的存在：如在此所描述的採用樣本的利用光輻照的一系列時域延遲熱信號並構造溫度變化對時間變化曲線或根據時間變化的溫度變化對時間曲線。隨後地並且如在下文中參考圖8a和圖8b更詳細解釋的，用戶或計算設備可以從曲線確定理想檢測時間或噪聲極限。用戶可以在理想檢測時間處測試樣本或附加樣本，以便得到結果的最高靈敏度或準確度。例如，如果在所確定的理想檢測時間處進行採樣的測試展示超過所確定的檢測極限的溫度、溫度變化、根據時間變化的溫度變化，那麼樣本可被可靠地認為是陽性的。如熱信號所示，來自光源的輻射由光學吸收指示劑顆粒的吸收展示一個溫度，所述溫度高於被確定為噪聲或背景熱量的溫度。如果測試數據低於噪聲極限，那麼樣本可以被可靠地認為是陰性的。
在一個實施例中，至少部分地基於多個熱信號確定分析物在樣本中的存在可以包括基於一系列偏移時域熱信號構建曲線，以及將樣本曲線與標準或已知的曲線進行比較，以便確定其間是否存在陽性結果的相應指示。例如，曲線的形狀(例如，指示溫度變化對時間或根據時間變化的溫度變化對時間)可以在其中具有更多光學吸收指示劑顆粒的陽性樣本與其中不具有或具有背景量的光學吸收指示劑顆粒的陰性樣本之間不同。
圖7a是根據實施例的來自用於檢測分析物在樣本中的存在的系統的信號之間的漸進地增加的時域延遲的圖形表示。參考圖7a和圖5a的系統500a，在一個實施例中，可以將光發射信號511a從控制電路系統552發送到光源530，以便從所述光源觸發光發射531。可以將相應的捕獲信號512a基本上同時從控制電路系統552發送到光熱光譜測定讀取器540，以便觸發熱信號的捕獲。後續光發射信號511b在固定時域間隔(例如，100ms)已經佔用後從控制電路系統552發送，相應的捕獲信號512b在另外時域延遲後發送。時域延遲可以是在此所披露的任何時域延遲，諸如10ms或更多。在相應光發射之後10ms或初始熱信號被捕獲之後110ms，所產生的熱信號被捕獲。隨後地，第三光發射信號511c可以在另一個固定時域間隔已經過去(例如，另一個100ms)後被發送，相應捕獲信號512c在隨後多倍時域延遲後被發送，諸如20ms(例如，10ms時域延遲的兩倍)。在相應光發射20ms後或第二熱信號被捕獲110ms後，所產生的熱信號被捕獲。可以執行以上技術的另一次重複，光發射信號511d與捕獲信號512d之間的時域延遲是30ms，再次與先前熱信號捕獲隔開110ms。以此方式，漸進偏移的時域間隔或延遲可以在每個光發射與一系列熱信號中的相應熱信號之間觀察到，如由先前觀測偏移所示。
在一個實施例中(未示出)，可以將初始光發射信號511a從控制電路系統552發送到光源530，以便從光源觸發光發射531。可以將相應的捕獲信號512a基本上同時從控制電路系統552發送到光熱光譜測定讀取器540，以便觸發熱信號的捕獲。後續光發射信號511b在固定時域間隔(例如，250ms)已經佔用後從控制電路系統552發送，相應的捕獲信號512b在小於時域延遲的另外固定時域間隔時段後被隔開發送。時域延遲可以是在此所披露的任何時域延遲，諸如25ms。在第一光發射信號511a之後225ms或第二光發射信號511b之前25ms，所產生的熱信號被捕獲。隨後地，第三光發射信號511c可以在另一個固定時域間隔已經過去(例如，另一個250ms)後被發送，相應捕獲信號512c與第二光發射信號511b隔開小於隨後倍數的時域延遲的固定時域間隔，諸如50ms(例如，25ms時域延遲的兩倍)。在光發射信號511b之後200ms或光發射信號511c之前50ms，所產生的熱信號被捕獲。可以執行以上技術的另一次重複，光發射信號511c與捕獲信號512d之間的間距是175ms。捕獲信號之間的間距保持為225ms，而光發射與熱信號捕獲時間之間的間距重複地減少。以此方式，遞減地偏移的時域間隔或延遲可以在每個光發射與一系列熱信號中的相應熱信號之間觀察到。
圖7b是根據一個實施例的來自用於檢測分析物在流測定儀內的樣本中的存在的系統的信號之間的漸進地偏移的時域間隔的圖形表示。參考圖7b和圖5b中的系統500b，在一個實施例中，來自一系列同步信號的同步信號514a可以被發送到控制電路系統552，並且第二同步信號514b被發送到控制電路系統552，由此控制電路系統552可以確定同步信號之間的固定時域間隔或發送光發射信號511a。為了本披露的目的，術語光發射信號511的使用可以包括如上下文指定的延時光發射信號511'。每個同步信號514a-d與由光熱光譜測定讀取器進行的熱信號的捕獲相對應。響應於所確定的固定時域間隔，控制電路系統可以將光發射信號511a發送到光源530，這可以與第二同步信號514b的接收基本上同時發生，以便從而展示第一觀測偏移等於固定時域間隔。後續光發射信號可以與下一個不同信號漸進地或遞減地偏移固定時域延遲，如由控制電路系統552使用所確定固定時域間隔預測或確定的。例如，控制電路系統552被配置用於使發送下一個相應的光發射信號511b偏移漸進地或遞減地偏移的時域延遲，諸如10ms，這樣使得由光發射信號511b觸發的光發射531與由後續同步信號514c指出的所捕獲熱信號之間的觀測延時或觀測偏移是約10ms。在相同技術的另外重複時，同步信號511c與下一個相應的捕獲信號514d之間的觀測延時是約20ms等。
換言之，同步信號(例如，514a)與相應發射信號(例如，511a)之間的偏移時域延遲比後續同步信號(例如，514b)與相應發射信號(例如，511b)之間的偏移時域延遲大下一個倍數的固定時域延遲，而光發射信號(例如，511a-c)與後續同步信號(例如，514b-d)之間的觀測偏移增加相同的量。通過這種技術，可以捕獲一系列延時熱信號，所述一系列熱信號捕獲光發射與所述一系列熱信號中的相應熱信號之間的漸進地增加的觀測偏移或延時。
在一個實施例中(未示出)，以110ms間隔從同步信號單元546發送報告相應熱信號捕獲的一系列同步信號。可以利用每個同步信號之間的固定時域間隔(例如，等距隔開110ms)將來自一系列同步信號的同步信號514a-514d發送到控制電路系統552。響應於同步信號514a，控制電路系統552可以在等於110ms的固定時域間隔的時域延遲之後將光發射信號511a發送到光源530，這樣使得光發射511與下一個預測的同步信號514b重合。響應於接收緊接的後續同步信號514b，控制電路系統被配置用於使相應光發射信號511b偏移固定時域延遲(例如，10ms)加110ms的固定時域間隔(例如，下一個預測的同步信號514c之後10ms)。響應於接收緊接的後續同步信號514c，控制電路系統被配置用於使相應光發射信號511與下一個預測的同步信號514d偏移固定時域延遲的倍數(例如，2倍從而導致20ms)加110ms的固定時域間隔(例如，下一個預測的同步信號514c之後20ms)。可以執行以上動作的更多重複直到觀察到熱信號之間的滿意的觀測偏移或延時。通過這種技術，可以捕獲一系列延時熱信號，所述一系列熱信號捕獲光發射與所述一系列熱信號中的相應熱信號之間的漸進地減少的觀測偏移或時域延遲。
在一個實施例中，以每個後續光發射信號511與相應捕獲信號512之間的漸進地偏移的延時將多個捕獲信號512從控制電路系統552發送到光熱光譜測定讀取器540可以包括以至少約110ms的偏移時域延遲發送每個捕獲信號512。
在一個實施例中，系統400、500a或500b可以被配置用於以在此所描述的方式中的一種或多種操作(例如，控制漸進地或遞減地偏移的時域延遲，由如圖5a中的控制電路系統調步或由如圖5b中的光熱光譜測定讀取器調步)。在在此的實施例中的任何中，光熱光譜測定讀取器可以直接確定流測定儀的一部分的溫度，或可以捕獲流測定儀的所述部分的一系列熱信號，並且控制系統可以包括被配置用於確定所述一系列熱信號中的每一個中的溫度的可執行程序。
在此所描述的技術中的任一種如所希望的或所需要的執行許多次重複，以便使用離散時點作為曲線上的點構建具有根據時間變化的溫度變化對時間的曲線的圖表。例如，用戶可以使用5次或更多次重複，諸如10次重複、20次重複或30次重複。固定時域間隔可以是100ms或更多，諸如約110ms或更多、約150ms、約200ms、約250ms、約300ms、約500ms、約1s或約1分鐘或更多分鐘。雖然在此考慮更小的固定時域間隔，但具有約110ms或更多的間距的時域間隔對於本申請的目的尤其有用。時域延遲或固定時域間隔可以是約1ms或更多，諸如約3ms約5ms、約10ms、約15ms、約25ms、約50ms、約100ms、約1秒或更多或約1分鐘或更多。
雖然以上實施例中的後續熱信號之間的時域間隔保持不變(例如，110ms)，但一些實施例可以包括一系列熱信號中的後續熱信號之間的漸進地增加或減少的時域間隔。例如，在一系列熱信號中的熱信號之間的時域延遲可以在所述一系列熱信號中的每個後續熱信號之後漸進地增加5ms或更多，諸如110ms，然後115ms，之後120ms等。時域間隔可以漸進地偏移5ms或更多，諸如約5ms至約1s、約10ms至約500ms、約20ms至約100ms、約5ms、約10ms或約20ms。
雖然在此的時域間隔、延遲和偏移時域間隔已經被描述為漸進地偏移，但在一些實施例中，時域間隔或時域延遲間隔可以隨機地偏移，只要光源發射與後續熱信號捕獲之間的關係是已知的或已記錄的。例如，一系列隨機時域偏移熱信號(例如，具有光源發射與熱信號捕獲之間的隨機隔開的偏移時域延遲的熱信號)可以被引導並捕獲，並且隨後地，熱信號可以諸如由用戶或由在此所描述的系統的控制系統自動地用每個熱信號的偏移時域延遲的順序被放置。可以使用每個離散時點作為曲線上的點來構建根據時間變化的溫度變化對時間或溫度變化對時間的圖表。
圖8a是根據時間變化的溫度變化對時間曲線的圖表，所述圖表具有利用由任意量隔開的測量點構造的比較曲線。圖表基於以剛好處於110ms的間隔採取的測量示出了高幀率的根據時間變化的溫度變化曲線。圖表基於以由約100ms的任意偏移隔開的時間採取的根據時間變化的溫度變化測量示出了所構造的曲線。圖表基於以由約100ms的任意偏移隔開但在沿著時間軸線的不同點處的時間採取的根據時間變化的溫度變化測量示出了所構造的曲線。如圖所示，所構造曲線兩者錯過高幀率曲線的峰值處的真實理想檢測時間點。此外，隨著時間進展，所有曲線以與圖3b中所示的高和低納米顆粒濃度曲線的類似方式會聚到背景或噪聲水平，高於所述背景或噪聲水平的準確檢測可能是不可能的。由於這個原因，在此所披露技術的示出充分靠近其間的時域偏移的足夠數量的重複允許示出或至少緊密逼近根據時間變化的溫度變化對時間的峰值(例如，理想檢測時間)的圖表的構造。
圖8b是時間上的離散時域延遲點用於構建根據時間變化的溫度變化曲線對時間曲線的一組圖表。圖8b中的每個單獨圖表表示針對低和高濃度納米顆粒的布置在根據時間變化的溫度變化對時間的真實曲線上的根據時間變化的溫度變化的離散點。每個圖表在時間上偏移9ms。如圖所示，9ms的偏移允許真實曲線的準確構造或逼近。如圖所示，理想檢測時間或峰值是在光發射與熱信號捕獲之間的約84ms處。流測定儀可以在這個時間被測試以得到超過噪聲或背景水平的最可靠的峰值，並針對甚至低濃度納米顆粒給出最高峰值。以上文方式進行的測試允許超過噪聲或背景水平的低濃度(例如，輕度或初期疾病)的檢測。在確定理想檢測時間後，用戶可以對系統進行編程或系統可以利用這個偏移時域延遲自動地測試後續樣本以得到最靈敏且準確的結果。
在一個實施例中，用戶可以運行足夠的重複以確定理想檢測時間和噪聲水平，高於所述噪聲水平的準確檢測可能是不可能的。噪聲水平可以是lfa的具有低濃度、高濃度或無濃度納米顆粒展示彼此不可區分的基線熱輻射的水平(在圖3b和圖8a的右側示出)。這種噪聲點可以通過檢驗針對高濃度樣本和低濃度樣本的對應根據時間變化的溫度變化對時間曲線在何處會聚來確定。這個點示出了檢測極限(例如，低於測試數據不應該被信任為指示陽性結果的點)。在一些實施例中，基於多個熱信號確定分析物在樣本中的存在包括在理想檢測時間捕獲分析物測試信號並確定熱特徵(例如，溫度特性，諸如溫度、給定時間的溫度變化或給定時間根據時間變化的溫度變化)是否高於由所確定噪聲水平指示的檢測極限。
在此所描述的方法和系統可以用於通過以與在此參考測試線所描述的類似或相同的方式檢驗處於或接近控制線的熱特徵來確定測試是否已經適當地起作用。
讀者將認識到，現有技術已經進展到系統的各方面的硬體與軟體實現方式之間剩下極小區別；硬體和軟體的使用總體上(但不總是，因為在某些背景下，硬體與軟體之間的選擇可以變得重要)是表示成本比效率折中的設計選擇。讀者將理解，存在各種載體(例如，硬體、軟體和/或固件)，在此所描述的過程和/或系統和/或其他技術會受到這些載體的影響，並且優選的載體將隨其中部署了這些過程和/或系統和/或其他技術的環境而變化。例如，如果執行者確定速度和準確度是重要的，執行者可選取主要硬體和/或固件載體；可替代地，如果靈活性是重要的，執行者可選取主要軟體實現方式；或又可替代地，執行者可選取硬體、軟體和/或固件的一些組合。因此，存在若干可能的載體，在此所描述的過程和/或設備和/或其他技術可以通過這些載體來進行，它們中的任何一個都不在本質上優於另一個，這是因為任何有待利用的載體都是取決於載體將被部署的環境以及執行者的具體關注點(例如，速度、靈活性或可預測性)(它們中的任一個都可以變化)的選擇。讀者將認識到，實現方式的各個光學方面將典型地採用光學定向的硬體、軟體和或固件。
前述詳細描述已經通過使用框圖、流程圖和/或示例陳述了設備和/或過程的各種實施例。到此為止，這些框圖、流程圖和/或示例含有一個或多個功能和/或操作，本領域的普通技術人員將認識到，這些框圖、流程圖或示例中的每一個功能和/或操作都可以通過廣泛範圍的硬體、軟體、固件或幾乎其任何組合來單獨地和/或共同地實現。在一個實施例中，可以經由專用集成電路(asic)、現場可編程門陣列(fpga)、數位訊號處理器(dsp)、或者其他集成格式來實施在此描述的標的物的若干部分。然而，本領域的普通技術人員將認識到，在此披露的實施例的一些方面的整體或一部分可以等效地在集成電路系統中實施為在一個或多個計算機上運行的一個或多個電腦程式(例如，在一個或多個計算機系統上運行的一個或多個程序)、在一個或多個處理器上運行的一個或多個程序(例如，在一個或多個微處理器上運行的一個或多個程序)、作為固件、或作為以上各項的幾乎任何組合，並且根據本發明披露內容，設計電路系統系統和/或編寫軟體和或固件的代碼將屬於本領域的普通技術人員的技能之內。另外，讀者將理解，在此所描述的主題的機制能夠以多種形式作為程序產品來發布，並且在此所描述的主題的說明性實施例都適用，而不考慮用來實際上進行所述發布的信號承載介質的具體類型。信號承載介質的示例包括但不限於以下各項：可記錄類型的介質，諸如軟盤、硬碟驅動器、光碟(cd)、數字視頻光碟(dvd)、數字磁帶、計算機存儲器等；以及傳輸類型的介質，諸如數字和/或模擬通信介質(例如，纖維光纜、波導、有線通信鏈路、無線通信鏈路等)。
在一般性意義上,可以由各種類型的具有廣泛範圍的電氣組件(諸如硬體、軟體、固件和/或其幾乎任何組合)；以及可賦予機械力或運動的廣泛範圍的部件(諸如剛性主體、彈簧或扭轉主體、液力學和電磁致動的設備或其幾乎任何組合)的機電系統來單獨地和/或共同地實現在此所描述的各種實施例。因此，如在此所使用的「機電系統」包括但是不限於：可運行地耦接到換能器(例如，致動器、電機、壓電晶體等)的電路系統，具有至少一個離散電路系統的電路系統，具有至少一個集成電路系統的電路系統，具有至少一個專用集成電路系統的電路系統，形成由電腦程式配置的通用計算設備的電路系統(例如，由電腦程式配置的通用計算機，它至少部分地執行在此所描述的過程和/或設備；或者由電腦程式配置的微處理器，它至少部分地執行在此所描述的過程和/或設備)，形成存儲設備的電路系統(例如，隨機存取存儲器的形式)，形成通信設備的電路系統(例如，數據機、通信交換機或光電設備)，和任意非電子的類似物，諸如光學或其他的類似物。本領域技術人員還應了解，機電系統的示例包括但不限於多種消費電子系統以及其他系統如機動化運輸系統、工廠自動化系統、安全系統以及通信/計算系統。本領域技術人員將認識到，如在此所使用的機電不必限於同時具有電氣和機械致動的系統，除非上下文可能以其他方式指明。
在一般性意義上，在此所描述的可以通過大範圍的硬體、軟體、固件或其任何組合來獨立地和/或共同地實施的不同方面可以看作由不同類型的「電路系統」組成。因此，如在此所用的「電路系統」包括但是不限於：具有至少一個離散電路系統的電路系統，至少具有一個集成電路系統的電路系統，至少具有一個專用集成電路系統的電路系統，形成由電腦程式配置的通用計算設備的電路系統(例如，由電腦程式配置的通用計算機，它至少部分地執行在此所描述的過程和/或設備；或者由電腦程式配置的微處理器，它至少部分地執行在此所描述的過程和/或設備)，形成存儲設備的電路系統(例如，隨機存取存儲器的形式)，和/或形成通信設備的電路系統(例如，數據機、通信交換機或光電設備)。在此所描述的主題可以用模擬或數字或二者的某個結合的形式實施。
在此所描述的組件(例如步驟)、設備和對象以及伴隨它們的討論被用作為了概念清楚的示例。因此，如在此所使用，所陳述的具體示例和所附討論旨在代表它們的更多的通用類型。一般來說，任何具體示例在此的使用還旨在代表它的類別，並且在此的這類具體部件(例如，步驟)、設備和物件的不包括不應該被看做是指明了希望有限制。
關於在此使用的基本上任何複數和/或單數術語，讀者應根據上下文和/或應用的需要將複數翻譯成單數和/或將單數翻譯成複數。為了清晰起見，各種單數/複數的轉換在此並沒有清晰地闡述。
在此所描述的主題有時說明的是不同的其他組件內含有的不同組件或與不同的其他組件連接的不同組件。應理解到，這種所描繪的架構僅是示例性的，並且實際上，可以實現達到相同功能性的許多其他架構。在概念性意義上，任何實現相同功能性的組件的安排都是有效地「相關聯的」，這樣使得所期望的功能性得以實現。因此，在此被組合來實現具體功能性的任何兩個組件都可以被視為彼此「相關聯」，這樣使得所期望的功能性得以實現，而與架構或中間組件無關。同樣，如此相關聯的任何兩個組件也可以被視為彼此「可操作地連接的」，或「可操作地耦接的」，以達成所希望的功能性，並且任何能夠如此相關聯的兩個組件也可以被視為彼此「可操作地可耦接的」，以達成所希望的功能性。能以可操作方式聯接的具體示例包含但不限於能在物理上配合和/或在物理上進行交互的部件，和/或能以無線方式交互和/或以無線方式進行交互的部件，和/或在邏輯上進行交互和/或能在邏輯上交互的部件。
在一些示例中，一個或多個組件在此可被稱為「被配置用於」。讀者將認識到，「被配置用於」可以通常涵蓋主動狀態組件和/或被動狀態組件和/或待機狀態組件，除非上下文另外要求。
雖然已經示出並且說明了在此所描述的本發明的主題的多個具體方面，但本領域的普通技術人員應清楚，基於在此的教授內容，在不背離在此描述的主題和它的更廣泛方面的情況下，可以進行更改和改變，並且因此所附權利要求書將在其範圍內涵蓋所有此類更改和改變，就如同處於在此處描述的主題的真正精神和範圍內一般。此外，應該理解本發明由所附權利要求書界定。大體上，在此以及尤其在所附權利要求書(例如，所附權利要求書的主體)中使用的術語大體上旨在作為「開放」術語(例如，術語「包括」應該被理解為「包括但不限於，」術語「具有」應該被理解為「至少具有，」術語「包括」應該被理解為「包括但不限於，」等)。本領域的普通技術人員另外將認識到的是，如果意指特定數目的一種所引入的權利要求陳述，那麼將在所述權利要求中明確陳述這種意圖，並且在無這類陳述的存在下，不呈現這種意圖。例如，為了幫助理解，以下所附權利要求書可能含有引入性短語「至少一個」和「一個或多個」來引入權利要求陳述。然而，這些短語的使用不應當解釋為暗示權利要求的陳述通過不定冠詞「一個」或「一種」的引入，限制任意具體權利要求包含這樣引入的權利要求陳述的發明，只包含一個這樣的陳述，甚至當相同的權利要求包含所述引導短語「一個或多個」，或「至少一個」時，而用不定冠詞「一個」或「一種」(例如，「一個」和/或「一種」應該代表性地解釋為「一個或多個」，或「至少一個」)；這同樣對於用來介紹權利要求陳述的定冠詞的使用有效。另外，即使明確地陳述一個所引入的權利要求陳述的特定數目，此陳述也典型地應當解釋為意味著至少所述陳述的數目(例如，沒有其他修飾語的「兩個陳述，」典型地意味著至少兩個陳述，或者兩個或更多個陳述)。此外，在使用類似於「a、b和c中的至少一項等等」的慣例的情況下，通常，這種構造旨在所述慣例的意義上(例如，「一個系統具有a、b和c中的至少一項」將包括但是不限於系統單獨具有a、單獨具有b、單獨具有c、a與b一起、a與c一起、b與c一起和/或a、b和c三者一起，等等)。在使用類似於「a、b或c中的至少一項等等」的慣例的情況下，通常，這種構造旨在所述慣例的意義上(例如，「一個系統具有a、b或c中的至少一項」將包括但是不限於系統單獨具有a、單獨具有b、單獨具有c、a與b一起、a與c一起、b與c一起和/或a、b和c三者一起，等等)。無論是在說明書、權利要求書還是附圖中，呈現兩個或更多個替代性術語的幾乎任何分隔性詞語和/或短語都應當被理解為考慮到了包括這些術語中的一個、這些術語中的任一個或這兩個術語的可能性。例如，短語「a或b」將被理解為包括「a」或「b」或「a和b」的可能性。
關於所附權利要求書，其中所陳述的操作一般可以按照任何順序執行。這樣交替順序的示例可以包括重疊、交錯、中斷、重排、增量、預備、補充、同時、逆向或其他不同的順序，除非上下文以其他方式指明。關於上下文，即使是「對應於，」「關於，」或者其他過去式形容詞通常不是為了排除這樣的變化，除非上下文另有暗示。
在此所描述的主題的各方面在以下編號的條款中陳述：
1.一種用於檢測分析物在布置於流測定儀中的樣本中的存在的系統，所述流測定儀中具有光學吸收指示劑顆粒，所述系統包括：
光源，所述光源被定位並被配置用於輻照所述流測定儀和其中的所述光學吸收指示劑顆粒的至少一部分；
光熱光譜測定讀取器，所述光熱光譜測定讀取器被配置用於捕獲包括所述光學吸收指示劑顆粒的所述流測定儀的多個熱信號；以及
控制系統，所述控制系統包括可操作地耦接到所述光源和所述光熱光譜測定讀取器上的控制電路系統，所述控制電路系統被配置用於以漸進地偏移的時間間隔使所述光源與所述光熱光譜測定讀取器的操作同步。
2.如條款1所述的系統，進一步包括：
支撐結構，所述支撐結構支撐所述光源、所述光熱光譜測定讀取器以及託架；並且
其中，所述託架被配置用於將所述流測定儀保持在工作位置中，以便允許輻照所述流測定儀的一部分中的所述光學吸收指示劑顆粒以及允許所述流測定儀的所述部分處於所述光熱光譜測定讀取器的視野內，這樣使得所述流測定儀的所述部分的所述多個熱信號能夠被捕獲。
3.如條款2所述的系統，其中，所述託架被配置用於將一系列流測定儀可重複地保持在所述工作位置中。
4.如條款1所述的系統，其中，光學吸收指示劑顆粒包括金納米顆粒。
5.如條款1所述的系統，其中，所述光源包括雷射器。
6.如條款5所述的系統，其中，所述雷射器被配置用於發射多個光脈衝。
7.如條款5所述的系統，其中，所述雷射器被配置用於發射具有處於綠色光譜中的平均波長的光。
8.如條款5所述的系統，其中，所述雷射器被配置用於發射具有處於紅色光譜中的平均波長的光。
9.如條款1所述的系統，其中，所述光熱光譜測定讀取器包括紅外照相機。
10.如條款1所述的系統，其中：
所述控制電路系統被配置用於將多個光發射信號發送到所述光源，並且將多個捕獲信號發送到所述光熱光譜測定讀取器；
所述光源被配置用於響應於從所述控制電路系統接收所述多個光發射信號中的一個或多個而發射多個光脈衝；並且
所述光熱光譜測定讀取器被配置用於響應於從所述控制電路系統接收所述多個捕獲信號中的一個或多個而捕獲所述流測定儀的所述多個熱信號中的一個或多個。
11.如條款10所述的系統，其中：
所述光源包括可操作地耦接到其上的發射觸發器，所述發射觸發器被配置用於響應於接收所述多個光發射信號中的所述一個或多個而引起從所述光源發射多個光脈衝中的一個或多個；並且
所述光熱光譜測定讀取器包括可操作地耦接到其上的捕獲觸發器，所述捕獲觸發器被配置用於響應於接收所述多個捕獲信號中的所述一個或多個而引起所述光熱光譜測定讀取器捕獲所述多個熱信號中的一個或多個。
12.如條款10所述的系統，其中，所述控制電路系統被配置用於在時域中使發送所述多個捕獲信號中的所述一個或多個與所述多個光發射信號中的每一個漸進地偏移更小的時間間隔。
13.如條款10所述的系統，其中，所述控制電路系統被配置用於在時域中使發送所述多個捕獲信號中的所述一個或多個與所述多個光發射信號中的每一個漸進地偏移更大的時間間隔。
14.如條款1所述的系統，其中：
所述控制系統包括：
發射觸發器，所述發射觸發器可操作地耦接到所述光源上，所述發射觸發器被配置用於響應於從所述控制電路系統接收多個光發射信號而引起從所述光源發射多個光脈衝；
捕獲觸發器，所述捕獲觸發器可操作地耦接到所述光熱光譜測定讀取器上，所述捕獲觸發器被配置用於響應於接收多個捕獲信號中的一個或多個而引起所述光熱光譜測定讀取器捕獲多個熱信號中的一個或多個；並且
所述控制電路系統被配置用於：
將多個光發射信號發送到所述發射觸發器，所述多個光發射信號中的每一個光發射信號有效觸發從所述光源發射多個光脈衝中的一個或多個；並且
將多個捕獲信號發送到所述捕獲觸發器，所述多個捕獲信號中的每一個有效引起所述光熱光譜測定讀取器捕獲所述多個熱信號中的一個或多個；並且
所述控制電路系統包括延時選通，所述延時選通被配置用於使發送與所述多個光發射信號中的每一個相對應的所述多個捕獲信號中的一個或多個以漸進地更大的偏移時域間隔偏移，以便捕獲所述流測定儀的多個順序延時熱信號。
15.如條款14所述的系統，其中，所述控制電路系統包括信號中繼器，所述信號中繼器被配置用於發送所述多個捕獲信號中的一個或多個以及所述多個光發射信號中的一個或多個。
16.如條款14所述的系統，其中，所述控制電路系統被無線地耦接到所述捕獲觸發器、所述光熱光譜測定讀取器、所述發射觸發器或所述光源中的一項或多項上。
17.如條款14所述的系統，其中，所述控制電路系統被硬布線到所述捕獲觸發器、所述光熱光譜測定讀取器、所述發射觸發器或所述光源中的一項或多項上。
18.如條款14所述的系統，其中：
所述控制系統包括存儲器，所述存儲器可操作地耦接到所述控制電路系統上；並且
所述光熱光譜測定讀取器被配置用於將所述多個熱信號中的每一個發送到所述存儲器以便存儲在其中。
19.如條款18所述的系統，進一步包括：
用戶接口，所述用戶接口可操作地耦接到所述控制系統上，所述用戶接口被配置用於將所述多個熱信號顯示給用戶，使能用戶指令的輸入，使能操作程序的輸入或輸出熱信號數據。
20.如條款19所述的系統，其中，所述用戶接口包括個人計算設備。
21.如條款14所述的系統，其中，所述光熱光譜測定讀取器包括檢測器控制電路系統，所述檢測器控制電路系統被配置用於將所述多個熱信號中的每一個中繼到所述控制系統。
22.如條款21所述的系統，其中，所述檢測器控制電路系統被配置用於將所述多個熱信號中的每一個發送到可操作地耦接到所述控制電路系統上的存儲器以便存儲在其中。
23.如條款21所述的系統，其中，所述光源包括光源控制電路系統，所述光源控制電路系統被配置用於響應於接收所述多個光發射信號中的一個而調節並控制從所述光源發射的光的強度、持續時間、寬度或平均色譜中的一項或多項。
24.如條款1所述的系統，其中：
所述控制系統包括可操作地耦接到所述光熱光譜測定讀取器和所述控制電路系統上的檢測器控制電路系統，所述檢測器控制電路系統被配置用於生成多個同步信號，所述多個同步信號中的每一個報告所述多個熱信號中的一個或多個的捕獲時間；
所述控制電路系統被配置用於響應於接收所述多個同步信號中的每一個而將多個光發射信號發送到所述光源；並且
所述光源被配置用於響應於從所述控制電路系統接收所述多個光發射信號中的一個或多個而發射多個光脈衝。
25.如條款24所述的系統，其中，所述控制電路系統被配置用於在時域中使發送所述多個光發射信號中的一個與所述多個同步信號中的每個連續同步信號漸進地偏移更小的間隔。
26.如條款24所述的系統，其中，所述控制電路系統被配置用於在時域中使發送所述多個光發射信號中的一個與所述多個同步信號中的每個連續同步信號漸進地偏移更大的時間間隔。
27.如條款24所述的系統，其中：
所述檢測器控制電路系統包括同步信號單元，所述同步信號單元被配置用於將所述多個同步信號中的每一個發送到所述控制電路系統；
所述控制電路系統包括信號中繼器，所述信號中繼器被配置用於接收所述多個同步信號中的每一個，並且響應於所述接收而將所述多個光發射信號中的一個或多個發送到所述光源；並且
所述光源包括可操作地耦接到其上的發射觸發器，所述發射觸發器被配置用於響應於接收所述多個光發射信號中的所述一個或多個而引起從所述光源發射多個光脈衝。
28.如條款27所述的系統，其中，所述控制系統包括可操作地耦接到所述光源的所述光發射觸發器和所述控制電路系統上的光源控制電路系統，所述光源控制電路系統被配置用於響應於接收所述多個光發射信號中的一個或多個而調節並控制從所述光源發射的所述多個光脈衝中的一個或多個的強度、持續時間、寬度或平均色譜中的一項或多項。
29.如條款27所述的系統，其中：
所述光熱光譜測定讀取器被配置用於以重複時域間隔捕獲一系列熱信號；
所述同步信號單元被配置用於以與所述一系列熱信號中的每個熱信號相對應的所述重複時域間隔將同步信號發送到所述控制電路系統；並且
所述控制電路系統包括延時選通，所述延時選通可操作地耦接到所述信號中繼器上並被配置用於以漸進地偏移的時域間隔使發送與所述一系列同步信號中的每個連續同步信號相對應的每個光發射信號偏移，以便捕獲所述流測定儀的具有在其間漸進地偏移的時域延遲的一系列熱信號。
30.如條款29所述的系統，其中，所述漸進地偏移的時域間隔是漸進地更大的時域間隔。
31.如條款29所述的系統，其中，所述檢測器控制電路系統被配置用於控制所述多個熱信號中的每一個之間的所述重複時域間隔。
32.如條款31所述的系統，其中，所述檢測器控制電路系統在其中包括所述同步信號單元。
33.如條款29所述的系統，其中，所述控制系統包括可操作地耦接到所述控制電路系統上的存儲器，所述存儲器被配置用於在其中存儲一個或多個定時程序以及所述多個熱信號中的一個或多個。
34.如條款33所述的系統，其中，所述檢測器控制電路系統被配置用於將所述多個熱信號中的每一個發送到所述存儲器。
35.如條款29所述的系統，進一步包括：
用戶接口，所述用戶接口可操作地耦接到所述控制系統上，所述用戶接口被配置用於將所述多個熱信號中的一個或多個顯示給用戶，使能輸入用戶指令，使能輸入定時程序或輸出熱信號數據。
36.如條款35所述的系統，其中，所述用戶接口包括個人計算設備。
37.一種檢測分析物在樣本中的存在的方法，所述方法包括：
將在其中包括多個光學吸收指示劑顆粒的流測定儀提供到檢測裝置的託架；
啟動檢測裝置的操作，所述檢測裝置包括：
光源；以及
光熱光譜測定讀取器，所述光熱光譜測定讀取器被配置用於捕獲在其中包括所述多個光學吸收指示劑顆粒的所述流測定儀的多個熱信號；
將多個光脈衝從所述光源發射到所述流測定儀的至少一部分上；
以漸進偏移的時域間隔使多個熱信號的捕獲基本上同步，所述多個熱信號是所述流測定儀的利用所述多個光脈衝輻照的所述至少一部分的；
捕獲所述流測定儀的利用所述多個光脈衝輻照的所述至少一部分的所述多個熱信號中的一個或多個；並且
至少部分地基於所述多個熱信號確定所述分析物在所述樣本中的存在。
38.如條款37所述的方法，其中：
所述多個光脈衝包括一系列光脈衝；並且
捕獲所述多個熱信號中的一個或多個包括以與所述一系列光脈衝中的每個連續光脈衝的漸進地更小的偏移時域間隔捕獲一系列熱信號。
39.如條款38所述的方法，進一步包括在所述一系列光脈衝中的每個連續光脈衝後使所述偏移時域間隔減少20毫秒或更少。
40.如條款39所述的方法，進一步包括在所述一系列光脈衝中的每個連續光脈衝後使所述偏移時域間隔減少10毫秒或更多。
41.如條款37所述的方法，其中：
所述多個光脈衝包括一系列光脈衝；並且
捕獲所述多個熱信號中的一個或多個包括以與所述一系列光脈衝中的每個連續光脈衝的漸進地更大的偏移時域間隔捕獲一系列熱信號中的每個熱信號。
42.如條款41所述的方法，進一步包括在所述一系列光脈衝中的每個連續光脈衝後使所述偏移時域間隔增加3毫秒或更多。
43.如條款42所述的方法，進一步包括在所述一系列光脈衝中的每個連續光脈衝後使所述偏移時域間隔增加10毫秒或更多。
44.如條款37所述的方法，進一步包括：
確定所述流測定儀的所述至少一部分在所述多個熱信號中的每一個中的溫度；
至少部分地基於所述多個熱信號構造根據時間變化的所述溫度變化對捕獲時間的圖表；並且
通過識別來自所述圖表的與根據時間變化的溫度變化的最大值相對應的捕獲時間來確定理想檢測時間。
45.如條款44所述的方法，其中，至少部分地基於所述多個熱信號確定分析物在樣本中的存在包括在所述理想檢測時間利用所述光熱光譜測定讀取器捕獲分析物測試信號並確定所述分析物測試信號中的熱特徵是否高於檢測極限。
46.如條款37所述的方法，其中：
所述檢測裝置進一步包括控制電路系統，所述控制電路系統可操作地耦接到所述光源和所述光熱光譜測定讀取器上；並且
以漸進偏移的時域間隔使多個熱信號的捕獲基本上同步，所述流測定儀的利用所述多個光脈衝輻照的所述至少一部分的所述多個熱信號包括：
將多個光發射信號從所述控制電路系統發送到所述光源，所述多個光發射信號中的每一個光發射信號響應於所述發送而有效觸發來自所述光源的至少一個光脈衝；並且
以所述多個光發射信號中的每個連續光發射信號與對應於其的捕獲信號之間的漸進地偏移的時域延遲將多個捕獲信號從所述控制電路系統發送到所述光熱光譜測定讀取器，其中，所述多個捕獲信號中的每一個捕獲信號響應於所述發送而有效引起所述光熱光譜測定讀取器捕獲所述流測定儀的所述部分的熱信號。
47.如條款46所述的方法，進一步包括：
其中，所述光源包括具有發射觸發器的光源控制電路系統，所述發射觸發器被配置用於響應於接收所述多個光發射信號中的所述一個或多個而引起從所述光源發射多個光脈衝中的一個或多個；
其中，所述光熱光譜測定讀取器包括具有捕獲觸發器的檢測器控制電路系統，所述捕獲觸發器被配置用於響應於接收所述多個捕獲信號中的所述一個或多個而引起所述光熱光譜測定讀取器捕獲所述多個熱信號中的一個或多個；並且
利用所述發射觸發器接收所述多個光發射信號中的每一個；並且
利用所述捕獲觸發器接收所述多個捕獲信號中的每一個。
48.如條款47所述的方法，其中，捕獲所述流測定儀的利用多個光脈衝輻照的所述至少一部分的所述多個熱信號中的一個或多個包括以與一系列光脈衝的每個連續脈衝的漸進地更大的偏移時域間隔捕獲一系列熱信號中的每個熱信號。
49.如條款47所述的方法，其中，以每個後續光發射信號與相應的捕獲信號之間的漸進地偏移的延時將多個捕獲信號從所述控制電路系統發送到所述光熱光譜測定讀取器包括以至少約110毫秒的偏移時域間隔發送所述多個捕獲信號中的每個捕獲信號。
50.如條款47所述的方法，進一步包括使每個連續光發射信號與相應的捕獲信號之間的所述偏移時域間隔增加3毫秒或更多毫秒。
51.如條款47所述的方法，進一步包括使每個連續光發射信號與相應的捕獲信號之間的所述偏移時域間隔增加10毫秒或更多。
52.如條款47所述的方法，進一步包括使每個連續光發射信號與相應的捕獲信號之間的所述偏移時域間隔增加5毫秒或更多。
53.如條款37所述的方法，其中：
所述檢測裝置包括控制系統，所述控制系統具有可操作地耦接到所述光源和所述光熱光譜測定讀取器上的控制電路系統；並且
以漸進偏移的時域間隔使多個熱信號的捕獲基本上同步，所述流測定儀的利用所述多個光脈衝輻照的所述至少一部分的所述多個熱信號包括：
將多個同步信號從所述光熱光譜測定讀取器發送到所述控制電路系統，所述多個同步信號中的每一個指示相應熱信號的捕獲時間；
響應於所述多個同步信號中的所述每一個，將一個或多個光發射信號從所述控制電路系統發送到所述光源，所述多個光發射信號中的每一個光發射信號以與所述相應同步信號的漸進地偏移的時域間隔發送並且有效觸從所述光源的發射光脈衝。
54.如條款53所述的方法，其中，所述多個同步信號中的每一個大致相等地隔開至少約110毫秒的時域間隔。
55.如條款53所述的方法，其中，所述控制電路系統包括延時選通，所述延時選通被配置用於使發送與所述多個同步信號中的每一個相對應的光發射信號中的所述一個或多個中的每一個以漸進地更大的時域間隔偏移，以便捕獲所述流測定儀的順序延時熱信號。
56.如條款53所述的方法，進一步包括使所述一個或多個光發射信號中的每個連續光發射信號與相應捕獲信號之間的所述偏移時域間隔增加3毫秒或更多。
57.如條款53所述的方法，進一步包括使所述多個光發射信號中的所述一個或多個光發射信號中的每個連續光發射信號與所述多個捕獲信號中的相應捕獲信號之間的所述偏移時域間隔增加10毫秒或更多。
58.如條款53所述的方法，進一步包括使所述一個或多個光發射信號中的每個連續光發射信號與所述多個捕獲信號中的相應捕獲信號之間的所述偏移時域間隔增加5毫秒或更多。
59.如條款53所述的方法，其中，所述控制電路系統包括延時選通，所述延時選通被配置用於使發送與所述多個同步信號中的每一個相對應的所述一個或多個光發射信號中的每一個以漸進地更小的時域間隔偏移，以便捕獲所述流測定儀的順序延時熱信號。
60.如條款53所述的方法，進一步包括使所述一個或多個光發射信號中的每個連續光發射信號與相應捕獲信號之間的所述偏移時域間隔減少3毫秒或更多毫秒。
61.如條款53所述的方法，進一步包括使所述一個或多個光發射信號中的每個連續光發射信號與所述多個捕獲信號中的相應捕獲信號之間的所述偏移時域間隔減少10毫秒或更多。
62.如條款53所述的方法，進一步包括使所述一個或多個光發射信號中的每個連續光發射信號與所述多個捕獲信號中的相應捕獲信號之間的所述偏移時域間隔減少5毫秒或更多。
63.如條款53所述的方法，進一步包括：
確定所述流測定儀的所述至少一部分在所述多個熱信號中的每一個中的溫度；
基於所述多個熱信號構造根據時間變化的溫度變化對捕獲時間的圖表；並且
通過識別來自所述圖表的與根據時間變化的溫度變化的最大值相對應的捕獲時間來確定理想檢測時間。
64.如條款63所述的方法，其中，至少部分地基於所述多個熱信號確定分析物在樣本中的存在包括在所述理想檢測時間利用所述光熱光譜測定讀取器捕獲分析物測試信號並確定所述分析物測試信號中的熱特徵是否高於檢測極限。
65.如條款53所述的方法：
其中，所述控制系統包括：
光源控制電路系統，所述光源控制電路系統可操作地耦接到所述控制電路系統和所述光源上，所述光源控制電路系統具有發射觸發器，所述發射觸發器被配置用於響應於接收所述多個光發射信號中的所述一個或多個而引起所述從所述光源發射所述多個光脈衝中的一個或多個；
同步信號單元，所述同步信號單元可操作地耦接到所述控制電路系統上並被配置用於將多個同步信號發送到所述控制電路系統；
信號中繼器，所述信號中繼器可操作地耦接到所述控制電路系統和所述同步信號單元上；並且
利用所述信號中繼器接收所述多個同步信號中的每一個，並且響應於所述接收而將所述多個光發射信號中的一個或多個發送到所述光源；並且
利用所述發射觸發器接收所述多個光發射信號中的每一個。
66.一種用於檢測在布置於流測定儀上的樣本中的分析物的系統，所述流測定儀中具有光學吸收指示劑顆粒，所述系統包括：
雷射源，所述雷射源被配置用於發射雷射；
紅外照相機，所述紅外照相機被配置用於捕獲包括所述光學吸收指示劑顆粒的所述流測定儀的多個熱信號；
控制系統，所述控制系統具有可操作地耦接到所述雷射源和所述紅外照相機上的控制電路系統，所述控制系統包括：
檢測器控制電路系統，所述檢測器控制電路系統可操作地耦接到所述控制電路系統和所述紅外照相機上；
光源控制電路系統，所述光源控制電路系統可操作地耦接到所述控制電路系統和所述雷射源上；
信號中繼器，所述信號中繼器可操作地耦接所述控制電路系統、所述雷射源和所述檢測器控制電路系統，所述信號中繼器被配置用於將多個光發射信號發送到所述光源控制電路系統，所述多個光發射信號中的每一個有效引起所述雷射源發射雷射脈衝，所述信號中繼器進一步被配置用於在所述雷射源發射的所述雷射脈衝中的每個連續雷射脈衝後以漸進地偏移的時域間隔將多個捕獲信號發送到所述紅外照相機以便捕獲所述流測定儀的多個熱信號；以及
存儲器，所述存儲器被配置用於將所述多個熱信號中的一個或多個存儲在其中；以及
支撐結構，所述支撐結構支撐所述雷射源、所述紅外照相機和託架，所述託架被配置用於將所述流測定儀保持在工作位置中，所述工作位置允許從所述流測定儀上的所述雷射源發射的雷射在所述紅外照相機的視野內。
67.如條款66所述的系統，其中，所述託架被配置用於將一個或多個流測定儀可重複地保持在工作位置中，以便允許輻照所述光學吸收指示劑顆粒並且允許所述紅外照相機捕獲一個或多個流測定儀和其中的光學吸收指示劑顆粒的所述多個熱信號。
68.如條款66所述的系統，其中，所述控制電路系統包括延時選通，所述延時選通被配置用於使將所述捕獲信號發送到所述紅外照相機漸進地偏移所述漸進地偏移的時域間隔。
69.如條款66所述的系統，其中，所述控制系統包括用戶接口，所述延時間隔是通過所述用戶接口選擇的。
70.如條款66所述的系統，其中，所述控制系統包括用戶接口，樣本類型是通過所述用戶接口選擇的，並且其中，所述控制電路系統被配置用於基於所述所選擇樣本類型來確定一個或多個偏移時域間隔。
71.如條款70所述的系統，其中：
所述存儲器包括存儲在其上的一個或多個定時程序；並且
所述控制電路系統包括比較分析電路，所述比較分析電路被配置用於使所述所選擇樣本類型與所述存儲器中的一個或多個定時程序關聯並且響應於所述關聯而執行所述關聯的一個或多個定時程序。
雖然已經在此披露了不同方面和實施例，但在此披露的不同方面以及實施例是為了說明的目的，而且並不旨在進行限制，其中真實的範圍以及精神是由以下權利要求書指示的。